CN216747990U - 一种霍尔集成电路性能检测装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种霍尔集成电路性能检测装置，涉及霍尔集成电路性能检测技术领域，包括底座，底座顶部前侧固定连接有治具，底座顶部后侧固定连接有直角弯板，直角弯板上设有升降组件，所述升降组件底端固定连接有移动组件，所述移动组件上固定连接有检测针，所述治具内部通过缓冲机构连接有霍尔集成电路，所述缓冲机构包括限位组件、弹簧组件和安装组件，所述限位组件固定连接在治具内部，所述安装组件通过弹簧组件连接在限位组件上，所述安装组件与弹簧组件均位于治具内部，相对于现有技术，本实用新型可有效对霍尔集成电路受到的过度挤压力进行缓冲，即可有效对霍尔集成电路进行防护，避免霍尔集成电路被压损，从而避免经济损失。

Description

一种霍尔集成电路性能检测装置

技术领域

本实用新型涉及霍尔集成电路性能检测技术领域，具体为一种霍尔集成电路性能检测装置。

背景技术

在一个结晶片中形成有霍尔传感器及放大并控制其输出电压的电路而具有磁场-电气变换机能的固态组件称为霍尔集成电路，霍尔集成电路可分为线性型和开关型两大类，线性型集成电路是将霍尔元件和恒流源、线性差动放大器等做在一个芯片上，输出电压为伏级，比直接使用霍尔元件方便的多，开关型霍尔集成电路是将霍尔元件、稳压电路、放大器、施密特触发器、OC门等电路做在同一个芯片上，当外加磁场强度超过规定的工作点时，OC门由高阻态变为导通状态，输出变为低电平，当外加磁场强度低于释放点时，OC门重新变为高阻态，输出高电平。

现有的霍尔集成电路在制成后需要对其进行性能测试以保证产品质量，但是现有的用于霍尔集成电路性能测试的检测装置大多是将霍尔集成电路刚性连接在治具上，当霍尔集成电路未平整放置或者操作人员将检测针下压过度，很容易出现霍尔集成电路被压损的情况，从而造成经济损失，因此需要研发一种霍尔集成电路性能检测装置很有必要。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种霍尔集成电路性能检测装置，以解决上述背景技术中提出的现有的用于霍尔集成电路性能测试的检测装置大多是将霍尔集成电路刚性连接在治具上，当霍尔集成电路未平整放置或者操作人员将检测针下压过度，很容易出现霍尔集成电路被压损的情况，从而造成经济损失的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种霍尔集成电路性能检测装置，包括底座，底座顶部前侧固定连接有治具，底座顶部后侧固定连接有直角弯板，直角弯板上设有升降组件，所述升降组件底端固定连接有移动组件，所述移动组件上固定连接有检测针，所述治具内部通过缓冲机构连接有霍尔集成电路；

所述缓冲机构包括限位组件、弹簧组件和安装组件，所述限位组件固定连接在治具内部，所述安装组件通过弹簧组件连接在限位组件上，所述安装组件与弹簧组件均位于治具内部。

优选的，所述限位组件包括支撑板，所述支撑板水平焊接在治具内部中间位置，所述支撑板上等距设有三个限位孔，三个所述限位孔内部均贯穿有限位杆，所述限位杆数量为三个，三个所述限位杆顶端固定连接有安装组件，所述霍尔集成电路放置在安装组件上，所述弹簧组件数量为三个，三个所述限位杆与三个弹簧组件分别一一相对应。

优选的，所述安装组件包括安装板，三个所述限位杆顶端均焊接在安装板下表面，所述霍尔集成电路放置在安装板上表面。

优选的，所述弹簧组件包括弹簧，所述弹簧数量为三个，三个所述弹簧与三个限位杆分别一一相对应，所述限位杆顶端贯穿相对应的弹簧。

优选的，三个所述限位杆底端均焊接有限位板，所述限位板数量为三个，三个所述限位板均位于治具内部，且三个限位板均位于支撑板下方。

优选的，所述升降组件包括气动升降装置，所述气动升降装置底部固定连接在直角弯板顶部上表面，所述气动升降装置输出端固定连接有升降杆，所述直角弯板顶部设有通孔，所述升降杆底端竖直贯穿通孔，且升降杆底端固定连接有移动组件，所述检测针位于霍尔集成电路上方。

优选的，所述移动组件包括移动基座，所述升降杆底端焊接在移动基座顶部中心位置，所述移动基座底部设有限位滑槽，所述移动基座右端固定连接有伺服电机，所述伺服电机输出端固定连接有螺杆，所述螺杆左端转动连接在移动基座内壁左侧，所述螺杆杆身螺纹连接有移动块，所述移动块底部固定连接有限位滑板，所述限位滑板底端贯穿限位滑槽，且限位滑板底端焊接有连接板，所述检测针顶部固定连接在连接板下表面。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

1.通过设有的缓冲机构的配合使用，当霍尔集成电路未平整放置或者检测针下压过度时，受到过度挤压力的霍尔集成电路会下移，使得安装板带动限位杆在限位孔中下移，当安装板下移时，会压缩弹簧，使得弹簧发生弹性形变产生弹力，从而对霍尔集成电路受到的挤压力进行有效缓冲，所以相对于现有技术，本实用新型可使得受到过度挤压力的霍尔集成电路有一定程度下移余量，从而有效对霍尔集成电路受到的过度挤压力进行缓冲，即可有效对霍尔集成电路进行防护，避免霍尔集成电路被压损，从而避免经济损失；

2.通过设有的移动组件的配合使用，使得检测人员可通过控制伺服电机的正反向转动，控制连接板的左右移动，从而控制检测针的左右移动，从而方便检测人员将检测针调整到合适的检测位置，使用效果较佳。

附图说明

图1为本实用新型的三维结构示意图；

图2为本实用新型的主视剖视图；

图3为图2中的A处放大图；

图4为本实用新型的结构主视图。

图中：1、底座；2、治具；3、直角弯板；4、检测针；5、霍尔集成电路；6、气动升降装置；7、升降杆；8、通孔；9、移动基座；10、限位滑槽；11、伺服电机；12、螺杆；13、移动块；14、限位滑板；15、连接板；16、支撑板；17、限位孔；18、限位杆；19、安装板；20、弹簧；21、限位板。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

本实用新型提供如下技术方案：请参阅图1-4，一种霍尔集成电路性能检测装置，包括底座1，底座1顶部前侧固定连接有治具2，底座1顶部后侧固定连接有直角弯板3，直角弯板3上设有升降组件，升降组件底端固定连接有移动组件，移动组件上固定连接有检测针4，治具2内部通过缓冲机构连接有霍尔集成电路5，升降组件包括气动升降装置6，气动升降装置6底部固定连接在直角弯板3顶部上表面，气动升降装置6输出端固定连接有升降杆7，直角弯板3顶部设有通孔8，升降杆7底端竖直贯穿通孔8，且升降杆7底端固定连接有移动组件，所以当气动升降装置6做功时，可通过升降杆7带动移动组件上下移动，移动组件包括移动基座9，升降杆7底端焊接在移动基座9顶部中心位置，所以气动升降装置6可通过升降杆7带动移动基座9上下移动，移动基座9底部设有限位滑槽10，移动基座9右端固定连接有伺服电机11，伺服电机11输出端固定连接有螺杆12，螺杆12左端转动连接在移动基座9内壁左侧，螺杆12杆身螺纹连接有移动块13，移动块13底部固定连接有限位滑板14，限位滑板14底端贯穿限位滑槽10，且限位滑板14底端焊接有连接板15，检测针4顶部固定连接在连接板15下表面，所以当伺服电机11做功时，可带动螺杆12正反向转动，在限位滑板14的限位滑槽10的限位作用下，当螺杆12正反向转动时，会带动移动块10在移动基座9内部左右移动，从而通过限位滑板14带动连接板15左右移动，从而带动检测针4左右移动，所以本实用新型方便检测人员将检测针4调整到合适的检测位置，使用效果较佳，检测针4位于霍尔集成电路5上方，缓冲机构包括限位组件、弹簧组件和安装组件，限位组件固定连接在治具2内部，安装组件通过弹簧组件连接在限位组件上，安装组件与弹簧组件均位于治具2内部；

限位组件包括支撑板16，支撑板16水平焊接在治具2内部中间位置，支撑板16上等距设有三个限位孔17，三个限位孔17内部均贯穿有限位杆18，限位杆18数量为三个，三个限位杆18顶端固定连接有安装组件，霍尔集成电路5放置在安装组件上，弹簧组件数量为三个，三个限位杆18与三个弹簧组件分别一一相对应，安装组件包括安装板19，三个限位杆18顶端均焊接在安装板19下表面，霍尔集成电路5放置在安装板19上表面，弹簧组件包括弹簧20，弹簧20数量为三个，三个弹簧20与三个限位杆18分别一一相对应，限位杆18顶端贯穿相对应的弹簧20，所以当霍尔集成电路5未平整放置在安装板19上或者检测针4在升降组件的作用下下压过度时，受到过度挤压力的霍尔集成电路5会下移，使得安装板19带动限位杆18在限位孔17中下移，当安装板19下移时，会压缩弹簧20，使得弹簧20发生弹性形变产生弹力，从而对霍尔集成电路5受到的过度挤压力进行有效缓冲，所以相对于现有技术，本实用新型可使得受到过度挤压力的霍尔集成电路5有一定程度的下移余量，从而有效对霍尔集成电路5受到的过度挤压力进行缓冲，即可有效对霍尔集成电路5进行防护，避免霍尔集成电路5被压损，从而避免经济损失，三个限位杆18底端均焊接有限位板21，限位板21数量为三个，三个限位板21均位于治具2内部，且三个限位板21均位于支撑板16下方，三个限位板21可对限位杆18进行限位，从而对安装板19进行限位，使得本实用新型结构设计合理。

工作原理：检测人员首先将所需性能检测的霍尔集成电路5放置在治具2内部的安装板19上表面，然后打开气动升降装置6，使得气动升降装置6带动检测针4下移，当下移到靠近霍尔集成电路5时，工作人员打开伺服电机11，当伺服电机11做功时，可带动螺杆12正反向转动，在限位滑板14的限位滑槽10的限位作用下，当螺杆12正反向转动时，会带动移动块10在移动基座9内部左右移动，从而通过限位滑板14带动连接板15左右移动，从而带动检测针4左右移动，即可对检测针4进行微调，当检测针4调整到合适位置时，检测人员再打开气动升降装置6，继续控制检测针4下移，使得检测针4与所需性能检测的霍尔集成电路5相接触，从而对其进行检测作业，所以本实用新型方便检测人员将检测针4调整到合适的检测位置，使用效果较佳；

当霍尔集成电路5未平整放置在安装板19上或者检测针4在升降组件的作用下下压过度时，受到过度挤压力的霍尔集成电路5会下移，使得安装板19带动限位杆18在限位孔17中下移，当安装板19下移时，会压缩弹簧20，使得弹簧20发生弹性形变产生弹力，从而对霍尔集成电路5受到的过度挤压力进行有效缓冲，所以相对于现有技术，本实用新型可使得受到过度挤压力的霍尔集成电路5有一定程度的下移余量，从而有效对霍尔集成电路5受到的过度挤压力进行缓冲，即可有效对霍尔集成电路5进行防护，避免霍尔集成电路5被压损，从而避免经济损失。

虽然在上文中已经参考实施例对本实用新型进行了描述，然而在不脱离本实用新型的范围的情况下，可以对其进行各种改进并且可以用等效物替换其中的部件。尤其是，只要不存在结构冲突，本实用新型所披露的实施例中的各项特征均可通过任意方式相互结合起来使用，在本说明书中未对这些组合的情况进行穷举性的描述仅仅是出于省略篇幅和节约资源的考虑。因此，本实用新型并不局限于文中公开的特定实施例，而是包括落入权利要求的范围内的所有技术方案。

Claims (7)

1.一种霍尔集成电路性能检测装置，包括底座(1)，底座(1)顶部前侧固定连接有治具(2)，底座(1)顶部后侧固定连接有直角弯板(3)，直角弯板(3)上设有升降组件，其特征在于：所述升降组件底端固定连接有移动组件，所述移动组件上固定连接有检测针(4)，所述治具(2)内部通过缓冲机构连接有霍尔集成电路(5)；

所述缓冲机构包括限位组件、弹簧组件和安装组件，所述限位组件固定连接在治具(2)内部，所述安装组件通过弹簧组件连接在限位组件上，所述安装组件与弹簧组件均位于治具(2)内部。

2.根据权利要求1所述的一种霍尔集成电路性能检测装置，其特征在于：所述限位组件包括支撑板(16)，所述支撑板(16)水平焊接在治具(2)内部中间位置，所述支撑板(16)上等距设有三个限位孔(17)，三个所述限位孔(17)内部均贯穿有限位杆(18)，所述限位杆(18)数量为三个，三个所述限位杆(18)顶端固定连接有安装组件，所述霍尔集成电路(5)放置在安装组件上，所述弹簧组件数量为三个，三个所述限位杆(18)与三个弹簧组件分别一一相对应。

3.根据权利要求2所述的一种霍尔集成电路性能检测装置，其特征在于：所述安装组件包括安装板(19)，三个所述限位杆(18)顶端均焊接在安装板(19)下表面，所述霍尔集成电路(5)放置在安装板(19)上表面。

4.根据权利要求2所述的一种霍尔集成电路性能检测装置，其特征在于：所述弹簧组件包括弹簧(20)，所述弹簧(20)数量为三个，三个所述弹簧(20)与三个限位杆(18)分别一一相对应，所述限位杆(18)顶端贯穿相对应的弹簧(20)。

5.根据权利要求2所述的一种霍尔集成电路性能检测装置，其特征在于：三个所述限位杆(18)底端均焊接有限位板(21)，所述限位板(21)数量为三个，三个所述限位板(21)均位于治具(2)内部，且三个限位板(21)均位于支撑板(16)下方。

6.根据权利要求1所述的一种霍尔集成电路性能检测装置，其特征在于：所述升降组件包括气动升降装置(6)，所述气动升降装置(6)底部固定连接在直角弯板(3)顶部上表面，所述气动升降装置(6)输出端固定连接有升降杆(7)，所述直角弯板(3)顶部设有通孔(8)，所述升降杆(7)底端竖直贯穿通孔(8)，且升降杆(7)底端固定连接有移动组件，所述检测针(4)位于霍尔集成电路(5)上方。

7.根据权利要求6所述的一种霍尔集成电路性能检测装置，其特征在于：所述移动组件包括移动基座(9)，所述升降杆(7)底端焊接在移动基座(9)顶部中心位置，所述移动基座(9)底部设有限位滑槽(10)，所述移动基座(9)右端固定连接有伺服电机(11)，所述伺服电机(11)输出端固定连接有螺杆(12)，所述螺杆(12)左端转动连接在移动基座(9)内壁左侧，所述螺杆(12)杆身螺纹连接有移动块(13)，所述移动块(13)底部固定连接有限位滑板(14)，所述限位滑板(14)底端贯穿限位滑槽(10)，且限位滑板(14)底端焊接有连接板(15)，所述检测针(4)顶部固定连接在连接板(15)下表面。

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