CN216369809U - 一种模芯的检测结构 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种模芯的检测结构,所述模芯包括上模、下模和导柱,所述上模开设有上导柱孔和上型面,所述下模开设有下导柱孔和下型面;所述上模设置有第一基准平面,所述下模设置有第二基准平面;所述上型面具有一第一预设点位,所述第一预设点位在所述上型面所成切线与所述第一基准平面的夹角为第一预设值;所述下型面具有一第二预设点位,所述第二预设点位在所述下型面所成切线与所述第二基准平面的夹角为第二预设值。本申请中,通过检测第一基准平面和第二基准平面以得出上型面和下型面的位置是否正确,避免了直接对曲面进行检测,简化检测过程,提高检测结果的准确度。
Description
技术领域
本实用新型涉及冲切技术领域,尤其涉及一种模芯的检测结构。
背景技术
在汽车水切、饰条翻边模具制造调试过程中,当上模芯和下模芯的机加工型面跟慢走丝导柱孔在产品断面方向的相对位置出现偏差时,会导致上模芯和下模芯的型面跟产品上/下表面不贴合,因此需要在使用前对模具进行检测并修正。
然而,由于翻边上模芯和下模芯的型面是三维曲面且导柱孔为圆柱状,型面跟导柱孔的检测较为困难,过程繁琐且检测结果不准确,最终导致只能通过钳工对型面进行修剪,效率非常低且精度也不高。
发明内容
针对现有技术的上述不足,本实用新型所要解决的技术问题在于,提出一种模芯的检测结构,用于解决现有技术中三维曲面与导柱孔在断面方向的相对位置的检测困难等问题。
本实用新型解决其技术问题采用的技术方案是一种模芯的检测结构,所述模芯包括上模、下模和导柱,所述上模开设有上导柱孔和上型面,所述下模开设有下导柱孔和下型面,所述导柱同时穿设于所述上导柱孔和下导柱孔:
所述上模设置有第一基准平面,所述下模设置有第二基准平面;所述上型面具有一第一预设点位,所述第一预设点位在所述上型面所成切线与所述第一基准平面的夹角为第一预设值;所述下型面具有一第二预设点位,所述第二预设点位在所述下型面所成切线与所述第二基准平面的夹角为第二预设值;
还包括检测组件,其套设在所述导柱上,并用于检测第一基准平面和第二基准平面的位置。
进一步地,所述上模具有底面和第一侧面,所述上型面开设在所述底面上;所述第一侧面设置有第一凹槽,所述第一基准平面设置在所述第一凹槽的底部。
进一步地,所述下模具有顶面,所述顶面上设置一凸起;所述下型面开设在所述凸起的顶部,所述凸起的侧壁开设有第二凹槽,所述第二基准平面设置在所述第二凹槽的底部。
进一步地,所述第一基准平面和所述第二基准平面设置在所述模芯的同一侧。
进一步地,所述检测组件包括:
检测块,其套设在所述导柱上,所述检测块开设有第一检测通孔和第二检测通孔,所述第一检测通孔的轴线与所述第一基准平面相交,所述第二检测通孔的轴线与所述第二基准平面相交;
百分表,其安装在所述第一检测通孔和/或所述第二检测通孔中,用于检测第一基准平面和第二基准平面的位置。
进一步地,所述检测块上开设有多个导柱孔,所述导柱同时穿设于所述上模、所述检测块和所述下模。
与现有技术相比,本实用新型至少具有以下有益效果:
在上模上设置第一基准平面,并使第一基准平面和上型面的相对位置确定,在下模上设置第二基准平面,并使第二基准平面与下型面的相对位置确定,进而可通过检测第一基准平面和第二基准平面以得出上型面和下型面的位置是否正确,避免了直接对曲面进行检测,简化检测过程,提高检测结果的准确度。
附图说明
图1为实施例中检测结构的示意图;
图2为实施例中模芯的结构示意图;
图中:
100、上模;110、上型面;120、第一基准平面;
200、下模;210、下型面;220、第二基准平面;
300、检测块;310、百分表;
400、导柱。
具体实施方式
以下是本实用新型的具体实施例并结合附图,对本实用新型的技术方案作进一步的描述,但本实用新型并不限于这些实施例。
请参照图1-图2,本实用新型公开了一种模芯的检测结构,所述模芯包括上模100、下模200和导柱400,所述上模100开设有上导柱孔和上型面110,所述下模200开设有下导柱孔和下型面210,所述导柱400同时穿设于所述上导柱孔和下导柱孔:
所述上模100设置有第一基准平面120,所述下模200设置有第二基准平面220;所述上型面110具有一第一预设点位,所述第一预设点位在所述上型面110所成切线与所述第一基准平面120的夹角为第一预设值;所述下型面210具有一第二预设点位,所述第二预设点位在所述下型面210所成切线与所述第二基准平面220的夹角为第二预设值;
还包括检测组件,其套设在所述导柱400上,并用于检测第一基准平面120和第二基准平面220的位置。
在对模芯进行加工时,导柱孔是通过慢走丝加工的,而上型面110和下型面210是通过CNC加工的,两个部件加工形成后,在产品断面方向上的相对位置存在偏差,导致上型面110/下型面210无法与产品的上下表面贴合,导致其无法直接使用。因此,需要对上型面110与上导柱孔,下型面210与下导柱孔的相对位置进行检测,而直接检测曲面和圆孔的过程非常繁琐,且检测结果不准确。
由此,本实施例中提出,在上模100上设置第一基准平面120,并使第一基准平面120和上型面110的相对位置确定,在下模200上设置第二基准平面220,并使第二基准平面220与下型面210的相对位置确定,进而可通过检测第一基准平面120和第二基准平面220以得出上型面110和下型面210的位置是否正确,避免了直接对曲面进行检测,简化检测过程,提高检测结果的准确度。
具体地,在上型面110取第一预设点位(可理解为,多个模芯中,在上型面110所取的点位为同一点),并使第一预设点位在上型面110的切线与第一基准平面120的夹角为第一预设值(即,该夹角为固定值),使得上型面110与第一基准平面120的相对位置是固定的,进而可通过检测第一基准平面120以表示上型面110的位置。
同理,在下型面210取第二预设点位(可理解为,多个模芯中,在下型面210所取的点位为同一点),并使第二预设点位在下型面210的切线与第二基准平面220的夹角为第二预设值(即,该夹角为固定值),使得下型面210与第二基准平面220的相对位置是固定的,进而可通过检测第二基准平面220以表示下型面210的位置。
更进一步地,检测组件是套设在导柱400上的,且导柱400是同时穿设在上模100和下模200中的,可首先固定检测组件相对于上导柱孔和下导柱孔的位置;然后通过检测组件对第一基准平面120和第二基准平面220进行检测,即可表示第一基准平面120相对于上导柱孔的位置,亦可表示第二基准平面220相对于下导柱孔的位置,最终得出上型面110相对于上导柱孔的位置,以及下型面210相对于下导柱孔的位置。
进一步地,所述上模100具有底面和第一侧面,所述上型面110开设在所述底面上;所述第一侧面设置有第一凹槽,所述第一基准平面120设置在所述第一凹槽的底部。
需说明的是,为了保证第一基准平面120和上型面110的相对位置确定,在加工时,使第一基准平面120和上型面110在同一工序中加工完成,使加工这两个面的刀具的基准面是同一个,这样可避免不同工序造成的位置误差,使得无论生产多个个模芯,上型面110与第一基准平面120的位置永远是确定的。
进一步地,所述下模200具有顶面,所述顶面上设置一凸起;所述下型面210开设在所述凸起的顶部,所述凸起的侧壁开设有第二凹槽,所述第二基准平面220设置在所述第二凹槽的底部。
同理,为了保证第二基准平面220和下型面210的相对位置确定,在加工时,使第二基准平面220和下型面210在同一工序中加工完成,使加工这两个面的刀具的基准面是同一个,这样可避免不同工序造成的位置误差,使得无论生产多个个模芯,下型面210与第二基准平面220的位置永远是确定的。
进一步地,所述第一基准平面120和所述第二基准平面220设置在所述模芯的同一侧。
具体地,将第一基准平面120和第二基准平面220设置在模芯的同一侧,进而可通过一个检测组件对两个基准平面进行检测,简化检测的结构,还可避免不同检测组件之间的差异带来的检测误差。
进一步地,所述检测组件包括:
检测块300,其套设在所述导柱400上,所述检测块300开设有第一检测通孔和第二检测通孔,所述第一检测通孔的轴线与所述第一基准平面120相交,所述第二检测通孔的轴线与所述第二基准平面220相交;
百分表310,其安装在所述第一检测通孔和/或所述第二检测通孔中,用于检测第一基准平面120和第二基准平面220的位置。
通过百分表310对第一基准平面120和第二基准平面220打表,即可判断出上型面110和下型面210的位置是否合格。
进一步地,所述检测块300上开设有多个导柱孔,所述导柱400同时穿设于所述上模100、所述检测块300和所述下模200。
需要说明,本实用新型实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等,如果该特定姿态发生改变时,则该方向性指示也相应地随之改变。
另外,在本实用新型中如涉及“第一”、“第二”、“一”等的描述仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本实用新型的描述中,“多个”的含义是至少两个,例如两个,三个等,除非另有明确具体的限定。
在本实用新型中,除非另有明确的规定和限定,术语“连接”、“固定”等应做广义理解,例如,“固定”可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或成一体;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系,除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言,可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
另外,本实用新型各个实施例之间的技术方案可以相互结合,但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础,当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在,也不在本实用新型要求的保护范围之内。
Claims (6)
1.一种模芯的检测结构,所述模芯包括上模、下模和导柱,所述上模开设有上导柱孔和上型面,所述下模开设有下导柱孔和下型面,所述导柱同时穿设于所述上导柱孔和下导柱孔,其特征在于:
所述上模设置有第一基准平面,所述下模设置有第二基准平面;所述上型面具有一第一预设点位,所述第一预设点位在所述上型面所成切线与所述第一基准平面的夹角为第一预设值;所述下型面具有一第二预设点位,所述第二预设点位在所述下型面所成切线与所述第二基准平面的夹角为第二预设值;
还包括检测组件,其套设在所述导柱上,并用于检测第一基准平面和第二基准平面的位置。
2.根据权利要求1所述的一种模芯的检测结构,其特征在于,所述上模具有底面和第一侧面,所述上型面开设在所述底面上;所述第一侧面设置有第一凹槽,所述第一基准平面设置在所述第一凹槽的底部。
3.根据权利要求1所述的一种模芯的检测结构,其特征在于,所述下模具有顶面,所述顶面上设置一凸起;所述下型面开设在所述凸起的顶部,所述凸起的侧壁开设有第二凹槽,所述第二基准平面设置在所述第二凹槽的底部。
4.根据权利要求1所述的一种模芯的检测结构,其特征在于,所述第一基准平面和所述第二基准平面设置在所述模芯的同一侧。
5.根据权利要求1所述的一种模芯的检测结构,其特征在于,所述检测组件包括:
检测块,其套设在所述导柱上,所述检测块开设有第一检测通孔和第二检测通孔,所述第一检测通孔的轴线与所述第一基准平面相交,所述第二检测通孔的轴线与所述第二基准平面相交;
百分表,其安装在所述第一检测通孔和/或所述第二检测通孔中,用于检测第一基准平面和第二基准平面的位置。
6.根据权利要求5所述的一种模芯的检测结构,其特征在于,所述检测块上开设有多个导柱孔,所述导柱同时穿设于所述上模、所述检测块和所述下模。
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