CN215728313U - 一种板卡插拔机构及老化测试柜 - Google Patents

一种板卡插拔机构及老化测试柜 Download PDF

Info

Publication number
CN215728313U
CN215728313U CN202122058612.4U CN202122058612U CN215728313U CN 215728313 U CN215728313 U CN 215728313U CN 202122058612 U CN202122058612 U CN 202122058612U CN 215728313 U CN215728313 U CN 215728313U
Authority
CN
China
Prior art keywords
plugging
butt joint
board
plug
plug section
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN202122058612.4U
Other languages
English (en)
Inventor
黄锐
丁浩
裴敬
邓标华
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Wuhan Jinghong Electronic Technology Co ltd
Wuhan Jingce Electronic Group Co Ltd
Original Assignee
Wuhan Jinghong Electronic Technology Co ltd
Wuhan Jingce Electronic Group Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Wuhan Jinghong Electronic Technology Co ltd, Wuhan Jingce Electronic Group Co Ltd filed Critical Wuhan Jinghong Electronic Technology Co ltd
Application granted granted Critical
Publication of CN215728313U publication Critical patent/CN215728313U/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2855Environmental, reliability or burn-in testing
    • G01R31/286External aspects, e.g. related to chambers, contacting devices or handlers
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/04Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G01R1/0408Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Environmental & Geological Engineering (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

本申请涉及一种板卡插拔机构及老化测试柜,板卡水平布置,且可移动地组设于第二安装架上,所述第二安装架的端部上设有与所述板卡对应的第一承载部,所述板卡上设有第一对接部;插拔机构包括第一插拔工具,所述第一插拔工具的一端为操作端,另一端上设置有与所述第一对接部相适配的第二对接部,所述第一插拔工具用于可拆卸地转动连接于所述第一承载部上;当所述第一插拔工具在所述第一承载部上朝外侧转动时,所述板卡在所述第一对接部与所述第二对接部的配合下被拔出。本申请可以解决相关技术中人工插拔带来的工人劳动量大、插拔效率低的问题。

Description

一种板卡插拔机构及老化测试柜
技术领域
本申请涉及半导体集成电路高低温老化测试技术领域,特别涉及一种板卡插拔机构及老化测试柜。
背景技术
半导体存储器有一定的失效概率,其失效概率与使用次数之间的关系符合浴缸曲线的特性,开始使用时存储器的失效概率高,当经过一定使用次数后失效概率大幅降低,直到接近或达到其使用寿命后,存储器的失效概率又会升高。至今无任何存储器制造商敢忽略半导体存储器的失效问题,一般通过老化测试(Test During burn-in,TDBI)来加速存储器失效概率的出现,直接让其进入产品稳定期来解决该问题。
芯片半导体老化测试的总体方案是向被测芯片半导体供给电源信号和测试信号,在高低温或常温下让被测芯片半导体连续不间断地工作设定的时间,此过程称为老化(burn-in),由此来加速半导体存储器的失效,筛选出良品。由于芯片半导体的种类很多,应用广泛,量大、性能较高且工作温度范围广,因此需要有一套容量灵活、可扩展性好、宽温度范围、功能丰富、架构可靠性和性价比均高的老化测试系统才能满足实际应用。
在相关技术中,是通过测试核心板向被测芯片半导体供给电源信号和测试信号,更换测试核心板时,通常是通过人工直接用手将测试核心板在安装架上进行插拔,这种方式增加了工人的劳动量,且效率低。
发明内容
本申请实施例提供一种板卡插拔机构及老化测试柜,以解决相关技术中人工插拔带来的工人劳动量大、插拔效率低的问题。
第一方面,提供了一种板卡插拔机构,板卡水平布置,且可移动地组设于第二安装架上,所述第二安装架的端部上设有与所述板卡对应的第一承载部,所述板卡上设有第一对接部;其包括:
第一插拔工具,所述第一插拔工具的一端为操作端,另一端上设置有与所述第一对接部相适配的第二对接部,所述第一插拔工具用于可拆卸地转动连接于所述第一承载部上;以及,
当所述第一插拔工具在所述第一承载部上朝外侧转动时,所述板卡在所述第一对接部和第二对接部的配合下被拔出。
一些实施例中,所述第一对接部采用插拔柱,所述第二对接部采用第三条形孔,所述第三条形孔的长度延伸方向与所述第一插拔工具的长度延伸方向大致垂直。
一些实施例中,所述第一承载部上开设有对接孔,所述第一插拔工具上设置有第一转轴,所述第一转轴与所述对接孔相适配。
一些实施例中,所述第一转轴与所述第三条形孔的布置方向,与所述第一插拔工具的长度延伸方向大致垂直。
一些实施例中,所述第一插拔工具呈L型,且其包括第一插拔段和第二插拔段,所述第一插拔段的一端为所述操作端,另一端大致垂直地连接于所述第二插拔段上,所述第一转轴与所述第三条形孔均设于所述第二插拔段上,且沿远离所述第一插拔段的方向依次布置。
一些实施例中,所述第一承载部上设置有第一转轴,所述第一插拔工具上开设有对接孔,所述第一转轴与所述对接孔相适配。
一些实施例中,所述对接孔与所述第三条形孔的布置方向,与所述第一插拔工具的长度延伸方向大致垂直;和/或,
所述第一插拔工具呈L型,且其包括第一插拔段和第二插拔段,所述第一插拔段的一端为所述操作端,另一端大致垂直地连接于所述第二插拔段上,所述对接孔与所述第三条形孔均设于所述第二插拔段上,且沿远离所述第一插拔段的方向依次布置。
第二方面,提供了一种老化测试柜,其包括:
第二安装架,其用于板卡可移动地水平安装,所述第二安装架的端部上设有与所述板卡对应的第一承载部;以及,
如上任一所述的板卡插拔机构。
一些实施例中,所述第二安装架的两个侧壁上自上而下依次地设有多个与所述板卡相适配的第二导槽;
所述第二安装架的两个侧壁上的第二导槽一一对应。
一些实施例中,所述第二安装架的端部两侧均设有第一承载部,每一个所述第二导槽与一个第一承载部相对应。
本申请提供的技术方案带来的有益效果包括:
本申请实施例提供的板卡插拔机构,第一插拔工具可拆卸地转动连接于第一承载部上,这样使得第一插拔工具安装在第一承载部上时,形成一个杠杆,比如当需要拔出板卡时,工人握住操作端,并朝外侧转动第一插拔工具,板卡便会在第一对接部与第二对接部的配合下被拔出,相对于直接人工用手插拔,采用这种方式,大大地减小了工人施加的作用力,减轻了工人的劳动量;由于板卡通常上下排布较多,相邻两个板卡之间的空间较小,不好容纳人手,所以采用该插拔机构,还可以方便地插拔,从而提高了工作效率。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本申请实施例提供的测试核心板和第二安装架的布置示意图;
图2为本申请实施例提供的测试核心板和第二安装架、第一插拔工具的布置示意图;
图3为本申请实施例提供的第一插拔工具插拔测试核心板时的示意图。
图中:4、测试核心板;40、插拔柱;6、第二安装架;60、第二导槽;61、第一承载部;610、对接孔;62、第一插拔工具;620、第三条形孔;621、第一转轴。
具体实施方式
为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本申请实施例中的附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本申请的一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例,都属于本申请保护的范围。
本申请实施例提供了一种板卡插拔机构,其能解决相关技术中人工插拔带来的工人劳动量大、插拔效率低的问题。
参见图1、图2和图3所示,本申请实施例提供的一种板卡插拔机构,其中,板卡可以是测试核心板4,也可以是其他板卡,本实施例中采用测试核心板4进行示意,板卡处于水平布置状态,且可移动地组设于第二安装架6上,也即板卡可以采用滑动方式设置在第二安装架6上,也可以采用滚动方式安装在第二安装架6上,第二安装架6的端部上设有与板卡对应的第一承载部61,同时板卡上设有第一对接部;该插拔机构包括第一插拔工具62,第一插拔工具62的一端为操作端,供工人用手操作,另一端上设置有第二对接部,第一插拔工具62用于可拆卸地转动连接于第一承载部61上;当第一插拔工具62在第一承载部61上朝外侧转动时,板卡在第一对接部和第二对接部的配合下被拔出。
本申请实施例提供的板卡插拔机构,第一插拔工具62可拆卸地转动连接于第一承载部61上,这样使得第一插拔工具62安装在第一承载部61上时,形成一个杠杆,比如当需要拔出板卡时,工人握住操作端,并朝外侧转动第一插拔工具62,板卡便会在第一对接部和第二对接部的配合下被拔出,相对于直接人工用手插拔,采用这种方式,大大地减小了工人施加的作用力,减轻了工人的劳动量;由于板卡通常上下排布较多,相邻两个板卡之间的空间较小,不好容纳人手,所以采用该插拔机构,还可以方便地插拔,从而提高了工作效率。
第一插拔工具62采用可拆卸的方式与第一承载部61连接,其好处是,在使用时就安装上去,不使用就不安装,避免因为装配了第一插拔工具62而造成整机设备太大,占用空间太大,同时,一个第一插拔工具62完全可以实现对多个板卡的插拔,可以降低成本。
第一对接部和第二对接部的配合,可以采用多种方式,比如参见图3,第一对接部采用插拔柱40,第二对接部采用第三条形孔620,第三条形孔620的宽度与插拔柱40相适配,使得插拔柱40可以在第三条形孔620内沿着第三条形孔620的长度方向移动,第三条形孔620的长度延伸方向与第一插拔工具62的长度延伸方向大致垂直。
还比如,第一对接部采用第三条形孔620,第二对接部采用插拔柱40。
为了实现第一插拔工具62可拆卸地转动连接于第一承载部61上,可以采用多种方案。
比如,在一个方案中,参见图3所示,第一承载部61上开设有对接孔610,第一插拔工具62上设置有第一转轴621,第一转轴621与对接孔610相适配,使用时,第一转轴621插入对接孔610中即可,在不使用时,第一转轴621从对接孔610中拔出即可,当然了,在制造时,要保证上下相邻的两个第一承载部61之间的距离要合适,以使第一插拔工具62和第一转轴621可以进入上下相邻的两个第一承载部61之间的空间中。
进一步地,第一转轴621与第三条形孔620的布置方向,与第一插拔工具62的长度延伸方向大致垂直,使得第一插拔工具形成一个杠杆结构,第一插拔工具62呈L型,且其包括第一插拔段和第二插拔段,第一插拔段的一端为操作端,另一端大致垂直地连接于第二插拔段上,第一转轴621与第三条形孔620均设于第二插拔段上,且沿远离第一插拔段的方向依次布置,为了使工人操作时更加省力,第一插拔段的长度大于第二插拔段的长度,比如第一插拔段的长度是第二插拔段的长度的数倍,如3倍、5倍等。
还比如,在另一个方案中,第一承载部61上设置有第一转轴621,第一插拔工具62上开设有对接孔610,第一转轴621与对接孔610相适配,使用时,使对接孔610与第一转轴621对插即可,在不使用时,从第一转轴621上取下第一插拔工具62即可,当然了,在制造时,要保证第一转轴621顶部与其上的第一承载部61之间的距离要合适,以使第一插拔工具62可以进入第一转轴621顶部与其上的第一承载部61之间的空间中。
进一步地,对接孔610与第三条形孔620的布置方向,与第一插拔工具62的长度延伸方向大致垂直,使得第一插拔工具形成一个杠杆结构,第一插拔工具62呈L型,且其包括第一插拔段和第二插拔段,第一插拔段的一端为操作端,另一端大致垂直地连接于第二插拔段上,对接孔610与第三条形孔620均设于第二插拔段上,且沿远离第一插拔段的方向依次布置,为了使工人操作时更加省力,第一插拔段的长度大于第二插拔段的长度,比如第一插拔段的长度是第二插拔段的长度的数倍,如3倍、5倍等。
本申请实施例还提供了一种老化测试柜,该老化测试柜包括第二安装架6,以及上述任一实施例提供的板卡插拔机构,第二安装架6用于板卡可移动地水平安装,第二安装架6的端部上设有与板卡对应的第一承载部61。在需要进行插拔板卡时,才使用插拔工具,不需要进行插拔时,可以将插拔工具收起来。
参见图2所示,在一些优选的实施方式中,第二安装架6的两个侧壁上自上而下依次地设有多个与板卡相适配的第二导槽60,第二安装架6的两个侧壁上的第二导槽60一一对应,板卡的两端分别与第二安装架6的两个侧壁上的第二导槽60相配合,实现滑动,这样可以使得板卡可以水平地安装在第二安装架6上,为了降低摩擦阻力,在第二导槽60和板卡之间可以设置滚轮。
第二安装架6的端部两侧均设有第一承载部61,每一侧的第一承载部61自上而下依次间隔地分布,每一个第二导槽60与一个第一承载部61相对应,当板卡水平地安装在第二安装架6上时,板卡两侧各对应有一个第一承载部61,在进行插拔时,可以同时使用两个第一插拔工具62对板卡进行插拔,这样不仅可以提高工作效率,还可以防止只有一侧插拔时板卡因受力不对称而出现偏位,避免对板卡造成损伤。
需要说明的是,使用两个第一插拔工具62对板卡的左右两侧进行插拔时,这两个第一插拔工具62在结构上是相同的,但是呈手性对称。
在本申请的描述中,需要说明的是,术语“上”、“下”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本申请和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本申请的限制。除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言,可以根据具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。
需要说明的是,在本申请中,诸如“第一”和“第二”等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来,而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个……”限定的要素,并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
以上所述仅是本申请的具体实施方式,使本领域技术人员能够理解或实现本申请。对这些实施例的多种修改对本领域的技术人员来说将是显而易见的,本文中所定义的一般原理可以在不脱离本申请的精神或范围的情况下,在其它实施例中实现。因此,本申请将不会被限制于本文所示的这些实施例,而是要符合与本文所申请的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。

Claims (10)

1.一种板卡插拔机构,板卡水平布置,且可移动地组设于第二安装架(6)上,所述第二安装架(6)的端部上设有与所述板卡对应的第一承载部(61),所述板卡上设有第一对接部;其特征在于,其包括:
第一插拔工具(62),所述第一插拔工具(62)的一端为操作端,另一端上设置有与所述第一对接部相适配的第二对接部,所述第一插拔工具(62)用于可拆卸地转动连接于所述第一承载部(61)上;以及,
当所述第一插拔工具(62)在所述第一承载部(61)上朝外侧转动时,所述板卡在所述第一对接部和第二对接部的配合下被拔出。
2.如权利要求1所述的板卡插拔机构,其特征在于:
所述第一对接部采用插拔柱(40),所述第二对接部采用第三条形孔(620),所述第三条形孔(620)的长度延伸方向与所述第一插拔工具(62)的长度延伸方向大致垂直。
3.如权利要求2所述的板卡插拔机构,其特征在于:
所述第一承载部(61)上开设有对接孔(610),所述第一插拔工具(62)上设置有第一转轴(621),所述第一转轴(621)与所述对接孔(610)相适配。
4.如权利要求3所述的板卡插拔机构,其特征在于:
所述第一转轴(621)与所述第三条形孔(620)的布置方向,与所述第一插拔工具(62)的长度延伸方向大致垂直。
5.如权利要求3所述的板卡插拔机构,其特征在于:
所述第一插拔工具(62)呈L型,且其包括第一插拔段和第二插拔段,所述第一插拔段的一端为所述操作端,另一端大致垂直地连接于所述第二插拔段上,所述第一转轴(621)与所述第三条形孔(620)均设于所述第二插拔段上,且沿远离所述第一插拔段的方向依次布置。
6.如权利要求2所述的板卡插拔机构,其特征在于:
所述第一承载部(61)上设置有第一转轴(621),所述第一插拔工具(62)上开设有对接孔(610),所述第一转轴(621)与所述对接孔(610)相适配。
7.如权利要求6所述的板卡插拔机构,其特征在于:
所述对接孔(610)与所述第三条形孔(620)的布置方向,与所述第一插拔工具(62)的长度延伸方向大致垂直;和/或,
所述第一插拔工具(62)呈L型,且其包括第一插拔段和第二插拔段,所述第一插拔段的一端为所述操作端,另一端大致垂直地连接于所述第二插拔段上,所述对接孔(610)与所述第三条形孔(620)均设于所述第二插拔段上,且沿远离所述第一插拔段的方向依次布置。
8.一种老化测试柜,其特征在于,其包括:
第二安装架(6),其用于板卡可移动地水平安装,所述第二安装架(6)的端部上设有与所述板卡对应的第一承载部(61);以及,
如权利要求1至7任一所述的板卡插拔机构。
9.如权利要求8所述的老化测试柜,其特征在于:
所述第二安装架(6)的两个侧壁上自上而下依次地设有多个与所述板卡相适配的第二导槽(60);
所述第二安装架(6)的两个侧壁上的第二导槽(60)一一对应。
10.如权利要求9所述的老化测试柜,其特征在于:
所述第二安装架(6)的端部两侧均设有第一承载部(61),每一个所述第二导槽(60)与一个第一承载部(61)相对应。
CN202122058612.4U 2021-06-18 2021-08-27 一种板卡插拔机构及老化测试柜 Active CN215728313U (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202121359818 2021-06-18
CN2021213598184 2021-06-18

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN215728313U true CN215728313U (zh) 2022-02-01

Family

ID=78961520

Family Applications (7)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202122054490.1U Active CN215812912U (zh) 2021-06-18 2021-08-27 一种半导体老化测试架体
CN202111000529.XA Active CN113835014B (zh) 2021-06-18 2021-08-27 一种自动插拔设备
CN202122058615.8U Active CN215813109U (zh) 2021-06-18 2021-08-27 老化测试柜
CN202122058614.3U Active CN215812914U (zh) 2021-06-18 2021-08-27 一种老化测试柜及其机架结构
CN202122054489.9U Active CN215813167U (zh) 2021-06-18 2021-08-27 一种半导体测试设备的板卡插拔机构
CN202122058612.4U Active CN215728313U (zh) 2021-06-18 2021-08-27 一种板卡插拔机构及老化测试柜
CN202122044138.XU Active CN215812910U (zh) 2021-06-18 2021-08-27 一种老化测试板用的架体

Family Applications Before (5)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202122054490.1U Active CN215812912U (zh) 2021-06-18 2021-08-27 一种半导体老化测试架体
CN202111000529.XA Active CN113835014B (zh) 2021-06-18 2021-08-27 一种自动插拔设备
CN202122058615.8U Active CN215813109U (zh) 2021-06-18 2021-08-27 老化测试柜
CN202122058614.3U Active CN215812914U (zh) 2021-06-18 2021-08-27 一种老化测试柜及其机架结构
CN202122054489.9U Active CN215813167U (zh) 2021-06-18 2021-08-27 一种半导体测试设备的板卡插拔机构

Family Applications After (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202122044138.XU Active CN215812910U (zh) 2021-06-18 2021-08-27 一种老化测试板用的架体

Country Status (1)

Country Link
CN (7) CN215812912U (zh)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN215812912U (zh) * 2021-06-18 2022-02-11 武汉精鸿电子技术有限公司 一种半导体老化测试架体

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3786325B2 (ja) * 1997-12-02 2006-06-14 エスペック株式会社 コネクタ着脱装置
JP3392783B2 (ja) * 1999-07-08 2003-03-31 エスペック株式会社 バーンインボードの挿抜装置
JP5179041B2 (ja) * 2006-10-24 2013-04-10 日本エンジニアリング株式会社 対象物移動装置
KR100929219B1 (ko) * 2007-02-09 2009-12-01 주식회사 씨어테크 보드착탈장치
CN102749547B (zh) * 2012-08-01 2015-02-04 东莞市冠佳电子设备有限公司 机械手式自动老化测试设备
CN105098565B (zh) * 2015-08-14 2017-04-05 京东方科技集团股份有限公司 插接治具及实现显示面板和连接器的自动插接的方法
CN211626860U (zh) * 2020-03-09 2020-10-02 深圳市奥宇达电子有限公司 一种操作方便的晶振检测治具
CN112068016A (zh) * 2020-10-12 2020-12-11 东莞阿李自动化股份有限公司 自插拔式分容柜
CN112173623A (zh) * 2020-10-15 2021-01-05 东莞市冠佳电子设备有限公司 一种老化产品运输机构
CN215812912U (zh) * 2021-06-18 2022-02-11 武汉精鸿电子技术有限公司 一种半导体老化测试架体

Also Published As

Publication number Publication date
CN113835014B (zh) 2024-07-30
CN113835014A (zh) 2021-12-24
CN215813167U (zh) 2022-02-11
CN215812910U (zh) 2022-02-11
CN215812914U (zh) 2022-02-11
CN215813109U (zh) 2022-02-11
CN215812912U (zh) 2022-02-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN215728313U (zh) 一种板卡插拔机构及老化测试柜
CN206181670U (zh) 主板与电器盒的组合结构及电器设备
CN108594969B (zh) 一种电子设备其转接装置
CN210376668U (zh) 一种雷达高低温测试装置
CN113740566B (zh) 一种电子接头拆装辅助工具
CN112130054B (zh) 一种服务器管理板的测试装置
CN211785921U (zh) 一种具有转接板的半导体测试板及半导体测试设备
CN202977883U (zh) 插头组件
CN202975054U (zh) 用于承载待测试电子装置的治具
CN211577232U (zh) 一种用于自动驾驶芯片测试的垂直探针卡、插接安装结构和定位结构
CN216991503U (zh) 一种pdu测试快插工装
CN111273098A (zh) 一种检测手机sim卡和tf卡的检测装置及测试方法
US6597784B1 (en) Compact distributing frame with automated interconnection capability
CN219799724U (zh) 便携式网线对线装置
CN220543597U (zh) 测试装置和测试系统
CN218938287U (zh) 检测支撑装置及拉力检测设备
CN218727773U (zh) 可调节的测试站
CN212675056U (zh) 一种多通道变频模块测试工装
CN220490982U (zh) 一种线路板贴片测试底盘
CN215116380U (zh) 一种钢带接线端子
CN216485318U (zh) 线束导通测试模块及线束导通测试设备
CN221174710U (zh) 一种多路电池放电检测数据处理器壳体束线结构
CN210199739U (zh) 测试转接机构
CN219872883U (zh) 一种固态硬盘测试治具
CN212163462U (zh) 扩展盒及扩展式数据采集设备

Legal Events

Date Code Title Description
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant