CN113835014A - 一种自动插拔设备 - Google Patents

一种自动插拔设备 Download PDF

Info

Publication number
CN113835014A
CN113835014A CN202111000529.XA CN202111000529A CN113835014A CN 113835014 A CN113835014 A CN 113835014A CN 202111000529 A CN202111000529 A CN 202111000529A CN 113835014 A CN113835014 A CN 113835014A
Authority
CN
China
Prior art keywords
moving
plugging device
automatic plugging
driving
strip
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN202111000529.XA
Other languages
English (en)
Other versions
CN113835014B (zh
Inventor
曹锐
丁浩
裴敬
邓标华
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Wuhan Jinghong Electronic Technology Co ltd
Wuhan Jingce Electronic Group Co Ltd
Original Assignee
Wuhan Jinghong Electronic Technology Co ltd
Wuhan Jingce Electronic Group Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Wuhan Jinghong Electronic Technology Co ltd, Wuhan Jingce Electronic Group Co Ltd filed Critical Wuhan Jinghong Electronic Technology Co ltd
Publication of CN113835014A publication Critical patent/CN113835014A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN113835014B publication Critical patent/CN113835014B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2855Environmental, reliability or burn-in testing
    • G01R31/286External aspects, e.g. related to chambers, contacting devices or handlers
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/04Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G01R1/0408Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Environmental & Geological Engineering (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

本申请涉及一种自动插拔设备,其包括自动插拔装置,自动插拔装置包括两个固定部、两个移动机构、两个第三移动部、第一驱动机构和第二驱动机构,两个固定部用于间隔地布置于小背板的两侧,小背板用于与水平布置的老化测试板对接;两个移动机构分别可移动地组设于两个固定部上,两个第三移动部分别可移动地组设于两个移动机构上,第一驱动机构与两个第三移动部相连,并用于驱动第三移动部竖直运动,以与老化测试板连接或分离,第二驱动机构与两个移动机构相连,并用于驱动移动机构运动,以使第三移动部与第一驱动机构在水平方向上发生相对运动,并插拔老化测试板。本申请能够解决相关技术中人工插拔带来的工人劳动量大、插拔效率低的问题。

Description

一种自动插拔设备
技术领域
本申请涉及半导体集成电路高低温老化测试技术领域,特别涉及一种自动插拔设备。
背景技术
半导体存储器有一定的失效概率,其失效概率与使用次数之间的关系符合浴缸曲线的特性,开始使用时存储器的失效概率高,当经过一定使用次数后失效概率大幅降低,直到接近或达到其使用寿命后,存储器的失效概率又会升高。至今无任何存储器制造商敢忽略半导体存储器的失效问题,一般通过老化测试(TestDuringburn-in,TDBI) 来加速存储器失效概率的出现,直接让其进入产品稳定期来解决该问题。
芯片半导体老化测试的总体方案是向被测芯片半导体供给电源信号和测试信号,在高低温或常温下让被测芯片半导体连续不间断地工作设定的时间,此过程称为老化(burn-in),由此来加速半导体存储器的失效,筛选出良品。由于芯片半导体的种类很多,应用广泛,量大、性能较高且工作温度范围广,因此需要有一套容量灵活、可扩展性好、宽温度范围、功能丰富、架构可靠性和性价比均高的老化测试系统才能满足实际应用。
在相关技术中,更换老化测试板时,通常是通过人工直接用手将老化测试板在安装架上进行插拔,这种方式增加了工人的劳动量,且效率低。
发明内容
本申请实施例提供一种自动插拔设备,以解决相关技术中人工插拔带来的工人劳动量大、插拔效率低的问题。
本申请实施例提供了一种自动插拔设备,其包括自动插拔装置,所述自动插拔装置包括:
两个固定部,其用于间隔地布置于小背板的两侧,所述小背板用于与水平布置的老化测试板对接;
两个移动机构,其分别可移动地组设于两个所述固定部上;
两个第三移动部,其分别可移动地组设于两个所述移动机构上;
第一驱动机构,其与两个所述第三移动部相连,并用于驱动所述第三移动部竖直运动,以与老化测试板连接或分离;
第二驱动机构,其与两个所述移动机构相连,并用于驱动所述移动机构运动,以使所述第三移动部与第一驱动机构在水平方向上发生相对运动,并插拔老化测试板。
一些实施例中,所述移动机构包括:
两个第一移动部,其分别可移动地组设于两所述固定部上,所述第一移动部的侧壁上开设有倾斜布置的第一条形孔;
两个第二移动部,其分别可移动地组设于两所述固定部上,且所述第二移动部上设有销体,所述销体穿设于其所在侧的第一移动部上的第一条形孔;
以及,两个第三移动部分别可移动地组设于两所述第二移动部上,所述第二驱动机构与两所述第一移动部相连,并用于驱动所述第一移动部竖直运动,并在第一条形孔和销体配合下,驱使第二移动部水平运动。
一些实施例中,所述销体采用凸轮随动器,或者所述销体上还设有滚轮。
一些实施例中,两个第一移动部的顶端均连接在第二连接件上;
第二驱动机构设有两个,两个所述第二驱动机构安装在第三连接件上,且所述第二驱动机构的第二伸缩驱动轴竖直向下穿过第三连接件后连接在第二连接件上;
在所述第三连接件和第二连接件中,其中一个安装有导向轴,另一个安装有直线轴承,且导向轴套设于直线轴承中。
一些实施例中,所述第二移动部上设置有第六板,所述第三移动部可拆卸地组设于所述第六板上;
所述自动插拔设备还包括若干第一垫片,所述第一垫片用于垫设于所述第三移动部和第六板之间。
一些实施例中,所述第三移动部包括多个片段结构,每个片段结构设于所述第六板上,且所述片段结构上自上而下依次设置有若干个与老化测试板底部的第一卡勾槽相适配的第一卡勾。
一些实施例中,两个所述第三移动部通过第一连接件连接,第一连接件上设有第一安装板,所述第一安装板上开设有第二条形孔,所述第二条形孔沿老化测试板的插拔方向延伸;
所述第一驱动机构的第一伸缩驱动轴竖直穿设于所述第二条形孔,并可以在所述第二条形孔中沿老化测试板的插拔方向移动。
一些实施例中,所述第一伸缩驱动轴侧壁上内凹并形成有轴槽,所述第一伸缩驱动轴在轴槽处的宽度与第二条形孔的宽度相适配;或,
所述第一伸缩驱动轴上间隔设置有两个限位块,两个限位块分别位于第一安装板的上面和下面。
一些实施例中,所述自动插拔装置还包括上下布置的两个限位传感器,所述第一伸缩驱动轴上组设有探针,所述探针位于两个所述限位传感器之间。
一些实施例中,所述第三移动部上设有与老化测试板底部的第一卡勾槽相适配的第一卡勾。
本申请提供的技术方案带来的有益效果包括:
本申请实施例提供的自动插拔设备,当需要将老化测试板插接于小背板上时,通过第一驱动机构,驱动第三移动部在竖直方向上运动,从而与老化测试板连接,再通过第二驱动机构,驱动移动机构运动,以使第三移动部带着老化测试板朝小背板移动,以实现插接;当需要拔除老化测试板时,通过第一驱动机构,驱动第三移动部在竖直方向上运动,从而与老化测试板分离,再通过第二驱动机构,驱动移动机构运动,以使第三移动部朝远离小背板方向顶推老化测试板,以实现拔除。
相对于直接人工用手插拔,采用这种自动插拔设备,大大地减小了工人施加的作用力,减轻了工人的劳动量;由于老化测试板通常上下排布较多,相邻两个老化测试板之间的空间较小,不好容纳人手,所以采用该自动插拔设备,还可以方便地插拔,从而提高了工作效率。
本申请可以同时进行多个老化测试板的插拔,进一步地提高了工作效率。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本申请实施例提供的自动插拔设备与第一安装架的布置图;
图2为本申请实施例提供的固定部、第一移动部、第二移动部和第三移动部之间的装配示意图;
图3为本申请实施例提供的自动插拔设备示意图;
图4为本申请实施例提供的第一驱动机构的一个视角示意图;
图5为本申请实施例提供的第一驱动机构另一个视角示意图。
图中:2、第一安装架;3、老化测试板;31、小背板;312、防撞条;32、第一卡勾槽;5、自动插拔装置;50、固定部;500、第四板;501、第五板;51、第一移动部;510、第一条形孔;511、第二连接件;512、第三连接件;513、导向轴;514、直线轴承;515、加强板;52、第二移动部;520、凸轮随动器;53、第三移动部;530、第一卡勾;531、第一连接件;532、第一安装板;533、第二条形孔; 534、第六板;535、第一垫片;54、第一驱动机构;540、第一伸缩驱动轴;541、探针;55、第二驱动机构;550、第二伸缩驱动轴;56、限位传感器。
具体实施方式
为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本申请实施例中的附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本申请的一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例,都属于本申请保护的范围。
本申请实施例提供了一种自动插拔设备,其能解决相关技术中人工插拔带来的工人劳动量大、插拔效率低的问题。
参见图1、图2和图3所示,本申请实施例提供的一种自动插拔设备,其包括自动插拔装置5,自动插拔装置5包括两个固定部50、两个移动机构、两个第三移动部53、第一驱动机构54和第二驱动机构55。继续参见图1所示,第一安装架2上设置有小背板31,小背板31用于与水平布置的老化测试板3对接,通常老化测试板3滑动地组设于第三安装架(图中未示出)上,通过在第三安装架上朝小背板31滑动,以实现老化测试板3与小背板31的对接,两个固定部 50用于间隔地布置于小背板31的两侧,使用时,两个固定部50可以分别固定在第一安装架2的两侧;两个移动机构分别可移动地组设于两个固定部50上,两个第三移动部53分别可移动地组设于两个移动机构上,第一驱动机构54可以固定在第一安装架2上,并与两个第三移动部53相连,并用于驱动第三移动部53竖直运动,以与老化测试板3连接或分离;第二驱动机构55与两个移动机构相连,并用于驱动移动机构运动,以使第三移动部53与第一驱动机构54在水平方向上发生相对运动,并插拔老化测试板3。
本实施例提供的自动插拔设备,当需要将老化测试板3插接于小背板31上时,通过第一驱动机构54,驱动第三移动部53在竖直方向上运动,从而与老化测试板3连接,再通过第二驱动机构55,驱动移动机构运动,以使第三移动部53带着老化测试板3朝小背板31 移动,以实现插接;当需要拔除老化测试板3时,通过第一驱动机构 54,驱动第三移动部53在竖直方向上运动,从而与老化测试板3分离,再通过第二驱动机构55,驱动移动机构运动,以使第三移动部 53朝远离小背板31方向顶推老化测试板3,以实现拔除。
相对于直接人工用手插拔,采用这种自动插拔设备,大大地减小了工人施加的作用力,减轻了工人的劳动量;由于老化测试板通常上下排布较多,相邻两个老化测试板之间的空间较小,不好容纳人手,所以采用该自动插拔设备,还可以方便地插拔,从而提高了工作效率。
此外,本申请可以同时进行多个老化测试板的插拔,进一步地提高了工作效率。
参见图1所示,在一些优选的实施方式中,第三移动部53上设有与老化测试板3底部的第一卡勾槽32相适配的第一卡勾530,通过第一卡勾槽32和第一卡勾530实现二者的连接或分离。
参见图2和图3所示,在一些优选的实施方式中,固定部50呈 L型结构,两个固定部50间隔布置于第一安装架2的两侧,并与第一安装架2固定连接。具体地,固定部50包括互相垂直连接的第四板500和第五板501,移动机构包括两个第一移动部51和两个第二移动部52。
两个第一移动部51分别可移动地组设于两固定部50上,第一移动部51的侧壁上开设有倾斜布置的第一条形孔510,具体地,第一移动部51可以沿竖直方向移动地组设于第四板500上,第一移动部 51与第四板500之间通过滑槽与滑轨配合以实现滑动连接,或者再设置滚轮,以实现滚动连接。
两个第二移动部52,其分别可移动地组设于两固定部50上,且第二移动部52上设有销体,销体穿设于其所在侧的第一移动部51上的第一条形孔510;具体地,第二移动部52可沿水平方向移动地组设于第五板501上,更为具体地,在水平方向上,第二移动部52可以沿着靠近或者远离小背板31的方向移动,以实现老化测试板3的插拔,第二移动部52与第五板501之间通过滑槽与滑轨配合以实现滑动连接,或者再设置滚轮,以实现滚动连接。
两个第三移动部53分别可沿竖直方向移动地组设于两第二移动部52上,第三移动部53与第二移动部52之间通过滑槽与滑轨配合以实现滑动连接,或者再设置滚轮,以实现滚动连接,第二驱动机构 55与两第一移动部51相连,并用于驱动第一移动部51竖直运动,并在第一条形孔510和销体配合下,驱使第二移动部52水平运动。
需要说明的是,第二驱动机构55驱动第一移动部51上升或下降,以实现老化测试板3的插接或拔除,是由第一条形孔510的倾斜方向来决定,比如,参见图2、图3所示,第一条形孔510采用图中的倾斜方向时,第一移动部51上升,则驱使老化测试板3拔除,第一移动部51下降,则驱使老化测试板3插接。至于上升对应插接且下降对应拔除,还是上升对应拔除且下降对应插接,可以根据实际需要对第一条形孔510的倾斜方向进行设置。
在本实施例中,采用上升对应插接且下降对应拔除的方案。
这样,自动插拔装置5的工作原理为:
当需要插接老化测试板3时,通过第一驱动机构54,驱动第三移动部53上升,使第三移动部53上的第一卡勾530勾入老化测试板3的第一卡勾槽32中;再通过第二驱动机构55,驱动第一移动部51 下降,在第一条形孔510和销体的作用下,驱使第二移动部52在水平方向上,朝小背板31的方向移动,从而使得老化测试板3可以插接在对应的小背板31上。
当需要拔除老化测试板3时,通过第一驱动机构54,驱动第三移动部53下降,使第三移动部53上的第一卡勾530与老化测试板3 的第一卡勾槽32脱离;再通过第二驱动机构55,驱动第一移动部51 上升,在第一条形孔510和销体的作用下,驱使第二移动部52在水平方向上,朝远离小背板31的方向移动,通过第三移动部553顶推老化测试板3的端部,从而将老化测试板3从对应的小背板31上拔除。
参见图2所示,在一些优选的实施方式中,销体采用凸轮随动器 520,或者销体上还设有滚轮,采用滚动方式替换滑动方式,可以减小摩擦力,有利于将第一移动部51的竖直驱动力转变成第二移动部 52的水平驱动力。
参见图1所示,在一些优选的实施方式中,小背板31上还设有防撞条312,在插接老化测试板3时,通过防撞条312,可以防止第三移动部53对小背板31造成损伤。
参见图3所示,在一些优选的实施方式中,两个第一移动部51 的顶端均连接在第二连接件511上,第二驱动机构55设有两个,两个第二驱动机构55安装在第三连接件512上,且第二驱动机构55的第二伸缩驱动轴550竖直向下穿过第三连接件512后连接在第二连接件511上,在第三连接件512和第二连接件511中,其中一个安装有导向轴513,另一个安装有直线轴承514,且导向轴513套设于直线轴承514中,通过导向轴513和直线轴承514,实现导向和平衡稳定的作用。
参见图2所示,在一些优选的实施方式中,第一移动部51采用L型结构,在第一移动部51上自上而下间隔设置有多个加强板515,相邻两个加强板515之间有一个第一条形孔510,第三移动部53通过第六板534间接性地与第二移动部52连接,第三移动部53通过螺钉等方式可拆卸地固定在第六板534上,为了调节第一卡勾530的位置,使之与第一卡勾槽32相配合,在第三移动部53与第六板534之间还可以设置若干个第一垫片535。
参见图2和图3所示,在一些优选的实施方式中,第三移动部 53包括多个片段结构,每个片段结构设于第六板534上,且片段结构上自上而下依次设置有若干个(比如5个)与老化测试板3底部的第一卡勾槽32相适配的第一卡勾530。设置成多个片段结构,其好处是,在装配的时候,如果局部出现误差情况,可以单独地对相应的片段结构进行调整,减小第一卡勾530与第一卡勾槽32的装配误差,从而使得调节操作更加方便。
参见图4和图5所示,在一些优选的实施方式中,两个第三移动部53通过第一连接件531连接,第一连接件531上设有第一安装板 532,第一安装板532上开设有第二条形孔533,第二条形孔533沿老化测试板3的插拔方向延伸,第一驱动机构54的第一伸缩驱动轴540竖直穿设于第二条形孔533,并可以在第二条形孔533中沿老化测试板3的插拔方向移动。
具体地,第一伸缩驱动轴540侧壁上内凹并形成有轴槽,第一伸缩驱动轴540在轴槽处的宽度与第二条形孔533的宽度相适配,第一伸缩驱动轴540其余部分的宽度大于第二条形孔533的宽度,这样可以保证第一伸缩驱动轴540与第一安装板532在竖直方向上不会发生相对运动,通过第一伸缩驱动轴540在竖直方向上伸缩,可以驱使第一安装板532带动第三移动部53在竖直方向上运动。
或着,第一伸缩驱动轴540上间隔设置有两个限位块,两个限位块分别位于第一安装板532的上面和下面,这样也可以保证第一伸缩驱动轴540与第一安装板532在竖直方向上不会发生相对运动。
在安装固定第一驱动机构54时,可以固定在第一安装架2上,虽然第一驱动机构54固定在第一安装架2上,但是因为存在第二条形孔533,这个第二条形孔533可以起到避让第一伸缩驱动轴540的作用,第一伸缩驱动轴540与第一安装板532之间可以发生沿第二条形孔533长度方向的相对移动,因此,当第二移动部52沿水平方向上移动时,在第二条形孔533的避让下,使得第三移动部53带动第一安装板532沿水平方向移动,最终实现第三移动部53在水平方向上发生相对于第一驱动机构54的运动。
参见图5所示,在一些优选的实施方式中,自动插拔装置5还包括上下布置的两个限位传感器56,第一伸缩驱动轴540上组设有探针541,探针541位于两个限位传感器56之间。通过设置限位传感器56和探针541,可以指导第一卡勾530勾住老化测试板3的第一卡勾槽32,或者使二者脱离。
在本申请的描述中,需要说明的是,术语“上”、“下”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本申请和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本申请的限制。除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言,可以根据具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。
需要说明的是,在本申请中,诸如“第一”和“第二”等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来,而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个……”限定的要素,并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
以上所述仅是本申请的具体实施方式,使本领域技术人员能够理解或实现本申请。对这些实施例的多种修改对本领域的技术人员来说将是显而易见的,本文中所定义的一般原理可以在不脱离本申请的精神或范围的情况下,在其它实施例中实现。因此,本申请将不会被限制于本文所示的这些实施例,而是要符合与本文所申请的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。

Claims (10)

1.一种自动插拔设备,其特征在于,其包括自动插拔装置(5),所述自动插拔装置(5)包括:
两个固定部(50),其用于间隔地布置于小背板(31)的两侧,所述小背板(31)用于与水平布置的老化测试板(3)对接;
两个移动机构,其分别可移动地组设于两个所述固定部(50)上;
两个第三移动部(53),其分别可移动地组设于两个所述移动机构上;
第一驱动机构(54),其与两个所述第三移动部(53)相连,并用于驱动所述第三移动部(53)竖直运动,以与老化测试板(3)连接或分离;
第二驱动机构(55),其与两个所述移动机构相连,并用于驱动所述移动机构运动,以使所述第三移动部(53)与第一驱动机构(54)在水平方向上发生相对运动,并插拔老化测试板(3)。
2.如权利要求1所述的自动插拔设备,其特征在于,所述移动机构包括:
两个第一移动部(51),其分别可移动地组设于两所述固定部(50)上,所述第一移动部(51)的侧壁上开设有倾斜布置的第一条形孔(510);
两个第二移动部(52),其分别可移动地组设于两所述固定部(50)上,且所述第二移动部(52)上设有销体,所述销体穿设于其所在侧的第一移动部(51)上的第一条形孔(510);
以及,两个第三移动部(53)分别可移动地组设于两所述第二移动部(52)上,所述第二驱动机构(55)与两所述第一移动部(51)相连,并用于驱动所述第一移动部(51)竖直运动,并在第一条形孔(510)和销体配合下,驱使第二移动部(52)水平运动。
3.如权利要求2所述的自动插拔设备,其特征在于:
所述销体采用凸轮随动器(520),或者所述销体上还设有滚轮。
4.如权利要求2所述的自动插拔设备,其特征在于:
两个第一移动部(51)的顶端均连接在第二连接件(511)上;
第二驱动机构(55)设有两个,两个所述第二驱动机构(55)安装在第三连接件(512)上,且所述第二驱动机构(55)的第二伸缩驱动轴(550)竖直向下穿过第三连接件(512)后连接在第二连接件(511)上;
在所述第三连接件(512)和第二连接件(511)中,其中一个安装有导向轴(513),另一个安装有直线轴承(514),且导向轴(513)套设于直线轴承(514)中。
5.如权利要求2所述的自动插拔设备,其特征在于:
所述第二移动部(52)上设置有第六板(534),所述第三移动部(53)可拆卸地组设于所述第六板(534)上;
所述自动插拔设备还包括若干第一垫片(535),所述第一垫片(535)用于垫设于所述第三移动部(53)和第六板(534)之间。
6.如权利要求5所述的自动插拔设备,其特征在于:
所述第三移动部(53)包括多个片段结构,每个片段结构设于所述第六板(534)上,且所述片段结构上自上而下依次设置有若干个与老化测试板(3)底部的第一卡勾槽(32)相适配的第一卡勾(530)。
7.如权利要求1所述的自动插拔设备,其特征在于:
两个所述第三移动部(53)通过第一连接件(531)连接,第一连接件(531)上设有第一安装板(532),所述第一安装板(532)上开设有第二条形孔(533),所述第二条形孔(533)沿老化测试板(3)的插拔方向延伸;
所述第一驱动机构(54)的第一伸缩驱动轴(540)竖直穿设于所述第二条形孔(533),并可以在所述第二条形孔(533)中沿老化测试板(3)的插拔方向移动。
8.如权利要求7所述的自动插拔设备,其特征在于:
所述第一伸缩驱动轴(540)侧壁上内凹并形成有轴槽,所述第一伸缩驱动轴(540)在轴槽处的宽度与第二条形孔(533)的宽度相适配;或,
所述第一伸缩驱动轴(540)上间隔设置有两个限位块,两个限位块分别位于第一安装板(532)的上面和下面。
9.如权利要求7所述的自动插拔设备,其特征在于:
所述自动插拔装置(5)还包括上下布置的两个限位传感器(56),所述第一伸缩驱动轴(540)上组设有探针(541),所述探针(541)位于两个所述限位传感器(56)之间。
10.如权利要求1所述的自动插拔设备,其特征在于:
所述第三移动部(53)上设有与老化测试板(3)底部的第一卡勾槽(32)相适配的第一卡勾(530)。
CN202111000529.XA 2021-06-18 2021-08-27 一种自动插拔设备 Active CN113835014B (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202121359818 2021-06-18
CN2021213598184 2021-06-18

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN113835014A true CN113835014A (zh) 2021-12-24
CN113835014B CN113835014B (zh) 2024-07-30

Family

ID=78961520

Family Applications (7)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202111000529.XA Active CN113835014B (zh) 2021-06-18 2021-08-27 一种自动插拔设备
CN202122058615.8U Active CN215813109U (zh) 2021-06-18 2021-08-27 老化测试柜
CN202122054489.9U Active CN215813167U (zh) 2021-06-18 2021-08-27 一种半导体测试设备的板卡插拔机构
CN202122044138.XU Active CN215812910U (zh) 2021-06-18 2021-08-27 一种老化测试板用的架体
CN202122054490.1U Active CN215812912U (zh) 2021-06-18 2021-08-27 一种半导体老化测试架体
CN202122058612.4U Active CN215728313U (zh) 2021-06-18 2021-08-27 一种板卡插拔机构及老化测试柜
CN202122058614.3U Active CN215812914U (zh) 2021-06-18 2021-08-27 一种老化测试柜及其机架结构

Family Applications After (6)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202122058615.8U Active CN215813109U (zh) 2021-06-18 2021-08-27 老化测试柜
CN202122054489.9U Active CN215813167U (zh) 2021-06-18 2021-08-27 一种半导体测试设备的板卡插拔机构
CN202122044138.XU Active CN215812910U (zh) 2021-06-18 2021-08-27 一种老化测试板用的架体
CN202122054490.1U Active CN215812912U (zh) 2021-06-18 2021-08-27 一种半导体老化测试架体
CN202122058612.4U Active CN215728313U (zh) 2021-06-18 2021-08-27 一种板卡插拔机构及老化测试柜
CN202122058614.3U Active CN215812914U (zh) 2021-06-18 2021-08-27 一种老化测试柜及其机架结构

Country Status (1)

Country Link
CN (7) CN113835014B (zh)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113835014B (zh) * 2021-06-18 2024-07-30 武汉精鸿电子技术有限公司 一种自动插拔设备

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11160395A (ja) * 1997-12-02 1999-06-18 Tabai Espec Corp コネクタ着脱装置
JP2001021614A (ja) * 1999-07-08 2001-01-26 Tabai Espec Corp バーンインボードの挿抜装置
JP2008107143A (ja) * 2006-10-24 2008-05-08 Nippon Eng Kk 対象物移動装置
TW200833586A (en) * 2007-02-09 2008-08-16 Seer Technologies Inc Inserting or removing apparatus of board
CN102749547A (zh) * 2012-08-01 2012-10-24 东莞市冠佳电子设备有限公司 机械手式自动老化测试设备
US20170047678A1 (en) * 2015-08-14 2017-02-16 Boe Technology Group Co., Ltd. Plug device and method of automatically plugging display panel with connector
CN211626860U (zh) * 2020-03-09 2020-10-02 深圳市奥宇达电子有限公司 一种操作方便的晶振检测治具
CN112068016A (zh) * 2020-10-12 2020-12-11 东莞阿李自动化股份有限公司 自插拔式分容柜
CN112173623A (zh) * 2020-10-15 2021-01-05 东莞市冠佳电子设备有限公司 一种老化产品运输机构
CN215812914U (zh) * 2021-06-18 2022-02-11 武汉精鸿电子技术有限公司 一种老化测试柜及其机架结构

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11160395A (ja) * 1997-12-02 1999-06-18 Tabai Espec Corp コネクタ着脱装置
JP2001021614A (ja) * 1999-07-08 2001-01-26 Tabai Espec Corp バーンインボードの挿抜装置
JP2008107143A (ja) * 2006-10-24 2008-05-08 Nippon Eng Kk 対象物移動装置
TW200833586A (en) * 2007-02-09 2008-08-16 Seer Technologies Inc Inserting or removing apparatus of board
CN102749547A (zh) * 2012-08-01 2012-10-24 东莞市冠佳电子设备有限公司 机械手式自动老化测试设备
US20170047678A1 (en) * 2015-08-14 2017-02-16 Boe Technology Group Co., Ltd. Plug device and method of automatically plugging display panel with connector
CN211626860U (zh) * 2020-03-09 2020-10-02 深圳市奥宇达电子有限公司 一种操作方便的晶振检测治具
CN112068016A (zh) * 2020-10-12 2020-12-11 东莞阿李自动化股份有限公司 自插拔式分容柜
CN112173623A (zh) * 2020-10-15 2021-01-05 东莞市冠佳电子设备有限公司 一种老化产品运输机构
CN215812914U (zh) * 2021-06-18 2022-02-11 武汉精鸿电子技术有限公司 一种老化测试柜及其机架结构

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
张大为: ""半导体芯片老化测试座的应用及市场综述"", 《电子测试》, no. 17, pages 87 - 89 *

Also Published As

Publication number Publication date
CN215813109U (zh) 2022-02-11
CN215812914U (zh) 2022-02-11
CN215812912U (zh) 2022-02-11
CN215728313U (zh) 2022-02-01
CN215812910U (zh) 2022-02-11
CN113835014B (zh) 2024-07-30
CN215813167U (zh) 2022-02-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN113835014A (zh) 一种自动插拔设备
CN200969067Y (zh) 理线架固定装置
CN116093802A (zh) 一种抽屉柜开合装置
CN212255609U (zh) 自动测试装置和空调器
CN115016027A (zh) 一种汽车线束卡钉装测一体工装
CN210465110U (zh) 一种键帽抗拉拔性能测试机
IE980260A1 (en) Test board mount/dismount apparatus
CN111736072A (zh) 自动测试装置、测试方法和空调器
CN211178527U (zh) 一种高效电子元件安装检测传动机构
CN109787137B (zh) 一种抽屉柜
CN210305566U (zh) 一种便于拆装的搓丝机
CN209086279U (zh) 在线测试夹具
CN212785676U (zh) 链路检测型智能配线架
CN216055460U (zh) 一种电脑主板内存条自动插拔组件及装置
CN201156222Y (zh) 主板固定装置
CN218584946U (zh) 继电器用测试工装
CN219871445U (zh) 一种集成电路检测装置
CN221707538U (zh) 一种pcba主板测试工装
CN109814156B (zh) 端子脱落检测装置及检测方法
CN212363266U (zh) 一种金属检测的产品定位装置
CN216561761U (zh) 一种flash芯片测试分析装置
CN204719406U (zh) 碳粉盒
CN213336034U (zh) 一种电阻及针脚长度检测机构
CN115069325B (zh) 一种用于自动取放玻片盘的设备
CN220085338U (zh) 一种扩展板卡拔插加固装置

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant