CN215678582U - 一种微针测试设备 - Google Patents
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Abstract
本实用新型属于测试治具领域,涉及一种微针测试设备,包括:箱体、上压组件、载板组件及固定板,所述上压组件、所述载板组件及所述固定板从上至下依次安装于所述箱体内,所述测试设备还包括:若干测试组件及屏蔽盒,所述若干屏蔽盒固定安装于所述载板组件上,若干所述的测试组件均安装于若干所述屏蔽盒的侧壁上,所述载板组件可水平移动的安装于所述固定板上,所述上压组件可上下移动的安装于所述固定板上,所述箱体的一侧还设有开口,以使所述载板组件能够经过所述开口从所述箱体内滑出或经过所述开口进入所述箱体内。其优点在于,能够将侧放的待测产品进行测试,使得待测设备同时能够对多个待测产品的测试,从而提升用户对待测产品的测试效率。
Description
技术领域
本实用新型属于测试治具领域,涉及一种微针测试设备。
背景技术
治具是机械、电控以及其他一些手工艺品的大类工具,主要是作为协助控制位置或动作的一种工具。治具可以分为工艺装配类治具、项目测试类治具和线路板测试类治具三类,现有的智能装入载板数据测试治具在上面气缸向后拉时通过机构上模升起,侧面气缸推出载板;从而完成带待测对待测产品的测试,使得测试治具对待侧产品测试时,只能够测试待测产品上下两面的针点,不能够对满足对待侧产品侧放时进行测试,从而使得待测产品的测试方式过于单一;并且对待侧产品测试时,由于待测产品水平放置,会占用载盘较大的测试空间,使得测试治具一次性仅能够测试一个待测产品,从而导致测试效率低下。
发明内容
本实用新型的目的在于针对现有技术的不足,提供一种微针测试设备,能够将侧放的待测产品进行测试,使得待测设备同时能够对多个待测产品的测试,从而提升用户对待测产品的测试效率。
为了实现上述目的,本实用新型采用了以下技术方案:
一种微针测试设备,包括:箱体、上压组件、载板组件及固定板,所述上压组件、所述载板组件及所述固定板从上至下依次安装于所述箱体内,所述测试设备还包括:若干测试组件及屏蔽盒,所述若干屏蔽盒固定安装于所述载板组件上,若干所述的测试组件均安装于若干所述屏蔽盒的侧壁上,且若干所述测试组件的位置、数量与若干所述屏蔽盒的数量位置一一对应,所述载板组件可水平移动的安装于所述固定板上,所述上压组件可上下移动的安装于所述固定板上,所述固定板上安装有用于驱动上压组件靠近或远离所述载板组件移动的第一驱动装置,所述固定板上还安装有用于驱动载板组件在固定板上水平移动的第二驱动装置,所述箱体的一侧还设有开口,以使所述载板组件能够经过所述开口从所述箱体内滑出或经过所述开口进入所述箱体内。
进一步的,所述测试组件包括:固定于所述屏蔽盒侧壁上的下模组件及可转动安装于所述下模组件上的上模组件。
进一步的,所述下模组件包括:
底板,与所述屏蔽盒的侧壁固定;
第一基座,固定于所述底板上;
载盘,固定于所述底板上,且位于所述第一基座的一侧,形成有用于安装待测产品的安装槽;
所述上模组件包括:
第二基座,可转动安装于所述第一基座上;
上模压头,通过弹性件安装于所述第二基座上,且所述上模压头的一端穿过所述第二基座位于所述安装槽上方,以使所述上模压头能够下压固定安装槽上的待测产品。
进一步的,所述测试组件还包括:预压块,所述预压块可转动安装于所述第一基座上,且所述预压块的一端靠近所述载盘用于预压放置于所述安装槽处的待测产品。
进一步的,所述预压块包括:第一转动部及从所述第一转动部上延伸出的压紧部,所述第一转动部与所述第一基座转动连接,所述压紧部靠近所述载盘;其中,预压块转动时,压紧部能够进入至所述安装槽内以预压固定位于安装槽内的待测产品。
进一步的,预压块还包括:第一磁吸部及第二磁吸部,所述第一磁吸部及第二磁吸部分别位于所述第一转动部的两侧,相应的,第一基座上还设有第三磁吸部及第四磁吸部,所述第三磁吸部与所述第一磁吸部的位置相适应,所述第四磁吸部与第二磁吸部的位置相适应;其中,压紧部预压固定待测产品时,第一磁吸部与所述第三磁吸部磁吸固定,压紧部未预压固定待测产品时,第二磁吸部与所述第四磁吸部磁吸固定。
进一步的,所述底板上还固定安装有支撑件,所述支撑件位于所述载盘的一侧用于支撑上模组件,以防止上模组件过压所述待测产品。
进一步的,所述测试组件还包括:
联动件,可转动安装于所述第一基座上,所述联动件位于所述预压块的一侧,且所述联动件能够与所述预压块勾接以带动所述预压块从所述待测产品上脱离;
勾接件,固定于所述第二基座的侧壁上,且所述勾接件的一端延伸有卡钩部用于勾接所述联动件以带动所述联动件在第一基座上转动。
进一步的,所述联动件包括:与所述第二基座转动连接的第二转动部及从所述第二转动部延伸处的第一连接部,所述第一连接部与所述勾接件勾接。
进一步的,所述联动件上靠近所述预压块的一侧延伸有第二连接部,相应的,所述预压块上靠近所述联动件的一侧延伸有抵挡部,所述抵挡部位于所述第二连接部上侧。
本实用新型的有益效果:
通过将待测产品侧放,使得在测试待测产品是,测试设备上一次性能够安装多个待测产品,一方面使得对待测产品测试的方式更加多样化,另一方面还能够一次性完成对多个待测产品的测试,从而提升待测产品的测试效率;通过设置上模组件及下模组件,能够将待测产品稳定的安装在屏蔽盒的侧壁上,防止待测产品从屏蔽盒的侧壁上脱离;通过设置预压块,能够对待测产品预压在安装槽处,从而保证待测产品能够更加方便的固定于安装槽内;通过设置第一磁吸部、第二磁吸部、第三磁吸部及第四磁吸部,在安装待测产品时,使得只需要转动预压块,第一磁吸部与所述第三磁吸部磁吸固定,压紧部既能够预压固定待测产品,当从安装槽内取出待测产品时,反向转动预压块,第二磁吸部与所述第四磁吸部磁吸固定,即可将待测产品从安装槽内取出,从而使得待测产品的安装或取出更加方便;通过设置支撑件,能够防止上模组件的上模压头过压待测产品而将待测产品压坏;通过设置联动件及勾接件,使得转动上模组件时,勾接件能够朝着远离载盘的方向移动,并且勾接件带动联动件在第一基座上转动,进一步的,联动件带动预压块在第一基座上转动,从而使得第一磁吸部与所述第三磁吸部脱离固定,第二磁吸部与所述第四磁吸部磁吸固定,保证测试完成后,测试人员能够更加方便的将待测产品从安装槽内取下。
附图说明
附图1是本实用新型的爆炸结构示意图;
附图2是本实用新型测试组件的爆炸结构示意图;
附图3是本实用新型测试组件的结构示意图;
附图4是本实用新型测试组件的剖面示意图;
附图5是本实用新型预压块的结构示意图;
附图6是本实用新型的结构示意图;
附图7是附图6中的A处的放大示意图。
图中标识:100-箱体,110-开口,120-下壳体,130-上壳体;200-上压组件,210-轴套;300-载板组件;400-固定板,410-导向柱;500-测试组件,510-下模组件,511-底板,5111-支撑件,512-第一基座,5121-第三磁吸部,5122-第四磁吸部,513-载盘,5131-安装槽;520-上模组件,521-第二基座,522-上模压头,530-预压块,531-第一转动部,532-压紧部,533-第一磁吸部,534-第二磁吸部,535-抵挡部,540-联动件,541-第二转动部,542-第一连接部,543-第二连接部,550-勾接件,551-卡钩部;600-屏蔽盒;700-第二驱动装置。
具体实施方式
下面详细描述本实用新型的实施例,所述实施例的示例在附图中示出,其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的,旨在用于解释本实用新型,而不能理解为对本实用新型的限制。
在本实用新型的描述中,需要理解的是,术语“长度”、“宽度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本实用新型和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本实用新型的限制。
此外,术语“第一”、“第二”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本实用新型的描述中,“多个”的含义是两个或两个以上,除非另有明确具体的限定。
在本实用新型实施例中,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或成一体;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言,可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
参考附图1~附图7,一种微针测试设备,包括:箱体100、上压组件200、载板组件300及固定板400,上压组件200、载板组件300及固定板400从上至下依次安装于箱体100内,测试设备还包括:若干测试组件500及屏蔽盒600,若干屏蔽盒600固定安装于载板组件300上,若干的测试组件500均安装于若干屏蔽盒600的侧壁上,且若干测试组件500的位置、数量与若干屏蔽盒600的数量位置一一对应,载板组件300可水平移动的安装于固定板400上,上压组件200可上下移动的安装于固定板400上,固定板400上安装有用于驱动上压组件200靠近或远离载板组件300移动的第一驱动装置,固定板400上还安装有用于驱动载板组件300在固定板400上水平移动的第二驱动装置700,箱体100的一侧还设有开口110,以使载板组件300能够经过开口110从箱体100内滑出或经过开口110进入箱体100内。
上述实施例中,测试组件500包括:固定于屏蔽盒600侧壁上的下模组件510及可转动安装于下模组件510上的上模组件520,具体的,下模组件510包括:底板511、第一基座512及载盘513底板511,与屏蔽盒600的侧壁固定,第一基座512固定于底板511上,载盘513固定于底板511上,且载盘513位于第一基座512的一侧,在载盘513上形成有用于安装待测产品的安装槽5131,进一步的,在屏蔽盒600内还设有5G模组,5G模组上还安装有微针组,微针组远离5G模组的一端穿过屏蔽盒600、底板511及载盘513位于安装槽5131内。
上模组件520包括:第二基座521及上模压头522,第二基座521可转动安装于第一基座512上;上模压头522通过弹性件安装于第二基座521上,且上模压头522的一端穿过第二基座521位于安装槽5131上方,以使上模压头522能够下压固定安装槽5131上的待测产品。
上述实施例中,测试组件500还包括:预压块530,预压块530可转动安装于第一基座512上,且预压块530的一端靠近载盘513用于预压放置于安装槽5131处的待测产品,具体的,预压块530包括:第一转动部531及从第一转动部531上延伸出的压紧部532,第一转动部531与第一基座512转动连接,压紧部532靠近载盘513;其中,预压块530转动时,压紧部532能够进入至安装槽5131内以预压固定位于安装槽5131内的待测产品,更进一步的,预压块530还包括:第一磁吸部533及第二磁吸部534,第一磁吸部533及第二磁吸部534分别位于第一转动部531的两侧,相应的,第一基座512上还设有第三磁吸部5121及第四磁吸部5122,第三磁吸部5121与第一磁吸部533的位置相适应,第四磁吸部5122与第二磁吸部534的位置相适应;其中,压紧部532预压固定待测产品时,第一磁吸部533与第三磁吸部5121磁吸固定,压紧部532未预压固定待测产品时,第二磁吸部534与第四磁吸部5122磁吸固定。
上述实施例中,底板511上还固定安装有支撑件5111,支撑件5111位于载盘513的一侧用于支撑上模组件520,以防止上模组件520过压待测产品。
上述实施例中,测试组件500还包括:联动件540及勾接件550,联动件540可转动安装于第一基座512上,联动件540位于预压块530的一侧,且联动件540能够与预压块530勾接以带动预压块530从待测产品上脱离,具体的,联动件540包括:与第二基座521转动连接的第二转动部541及从第二转动部541延伸处的第一连接部542,第一连接部542与勾接件550勾接,勾接件550固定于第二基座521的侧壁上,且勾接件550的一端延伸有卡钩部551用于勾接联动件540以带动联动件540在第一基座512上转动。
上述实施例中,联动件540上靠近预压块530的一侧延伸有第二连接部543,相应的,预压块530上靠近联动件540的一侧延伸有抵挡部535,抵挡部535位于第二连接部543上侧。
上述实施例中,在固定板上还安装有滑轨组件,载板组件300通过滑轨组件可水平移动安装于固定板上,第二驱动装置700通过驱动滑轨组件工作以使在载板组件300能够在固定板上水平移动,在固定板的四周边缘还设有导向柱410,相应的,在上压组件200的四周边缘还安装有轴套210,导向柱410位于轴套210内,从而使得第一驱动装置能够驱动上压组件200能够驱动上压组件200相对于固定板上下移动,本实施例中,第一驱动装置及第二驱动装置700均为气缸。
上述实施例中,箱体100上还设有用于控制测试设备工作的操作面板。
上述实施例中,箱体由下壳体120及封装于所述下壳体120上的上壳体130组成。
工作原理:先控制操作面板,使得载板组件300能够从箱体100的开口110处滑出,然后转动上模组件520时,勾接件550能够朝着远离载盘513的方向移动,并且勾接件550带动联动件540在第一基座512上转动,进一步的,联动件540带动预压块530在第一基座512上转动,使得第一磁吸部533与所述第三磁吸部5121脱离固定,使得第一磁吸部533与所述第三磁吸部5121脱离固定,直到第二磁吸部534与第四磁吸部5122磁吸固定,然后将待测产品安装于安装槽5131内,此时反向转动预压块530,使得第二磁吸部534与第四磁吸部5122脱离固定,第一磁吸部533与所述第三磁吸部5121磁吸固定,从而能够防止待测产品从安装槽5131处脱离,然后反向转动上模组件520,使得上模压头522朝向安装槽5131的方向移动,并下压待测产品的连接器,使得连接器能够与微针组电连接,当支撑件5111与第二基座521接触时,上模压头522恰好能够压紧位于安装槽5131内的待测产品,然后操作控制面板,使得第二驱动组装置能够驱动滑轨组件工作以带动载板组件300进入箱体100内,气缸能够驱动上压组件200向下移动,使得上压组件200的电连接部与载板组件300上的电连接部能够导通,从而对箱体100内的待测产品进行测试。
以上所述的实施例,只是本实用新型的较优选的具体方式之一,本领域的技术员在本实用新型技术方案范围内进行的通常变化和替换都应包含在本实用新型的保护范围内。
Claims (10)
1.一种微针测试设备,包括:箱体(100)、上压组件(200)、载板组件(300)及固定板(400),所述上压组件(200)、所述载板组件(300)及所述固定板(400)从上至下依次安装于所述箱体(100)内,其特征在于,所述测试设备还包括:若干测试组件(500)及屏蔽盒(600),所述若干屏蔽盒(600)固定安装于所述载板组件(300)上,若干所述的测试组件(500)均安装于若干所述屏蔽盒(600)的侧壁上,且若干所述测试组件(500)的位置、数量与若干所述屏蔽盒(600)的数量位置一一对应,所述载板组件(300)可水平移动的安装于所述固定板(400)上,所述上压组件(200)可上下移动的安装于所述固定板(400)上,所述固定板(400)上安装有用于驱动上压组件(200)靠近或远离所述载板组件(300)移动的第一驱动装置,所述固定板(400)上还安装有用于驱动载板组件(300)在固定板(400)上水平移动的第二驱动装置(700),所述箱体(100)的一侧还设有开口(110),以使所述载板组件(300)能够经过所述开口(110)从所述箱体(100)内滑出或经过所述开口(110)进入所述箱体(100)内。
2.根据权利要求1所述的一种微针测试设备,其特征在于,所述测试组件(500)包括:固定于所述屏蔽盒(600)侧壁上的下模组件(510)及可转动安装于所述下模组件(510)上的上模组件(520)。
3.根据权利要求2所述的一种微针测试设备,其特征在于,所述下模组件(510)包括:
底板(511),与所述屏蔽盒(600)的侧壁固定;
第一基座(512),固定于所述底板(511)上;
载盘(513),固定于所述底板(511)上,且位于所述第一基座(512)的一侧,形成有用于安装待测产品的安装槽(5131);
所述上模组件(520)包括:
第二基座(521),可转动安装于所述第一基座(512)上;
上模压头(522),通过弹性件安装于所述第二基座(521)上,且所述上模压头(522)的一端穿过所述第二基座(521)位于所述安装槽(5131)上方,以使所述上模压头(522)能够下压固定安装槽(5131)上的待测产品。
4.根据权利要求3所述的一种微针测试设备,其特征在于,所述测试组件(500)还包括:预压块(530),所述预压块(530)可转动安装于所述第一基座(512)上,且所述预压块(530)的一端靠近所述载盘(513)用于预压放置于所述安装槽(5131)处的待测产品。
5.根据权利要求4所述的一种微针测试设备,其特征在于,所述预压块(530)包括:第一转动部(531)及从所述第一转动部(531)上延伸出的压紧部(532),所述第一转动部(531)与所述第一基座(512)转动连接,所述压紧部(532)靠近所述载盘(513);其中,预压块(530)转动时,压紧部(532)能够进入至所述安装槽(5131)内以预压固定位于安装槽(5131)内的待测产品。
6.根据权利要求5所述的一种微针测试设备,其特征在于,预压块(530)还包括:第一磁吸部(533)及第二磁吸部(534),所述第一磁吸部(533)及第二磁吸部(534)分别位于所述第一转动部(531)的两侧,相应的,第一基座(512)上还设有第三磁吸部(5121)及第四磁吸部(5122),所述第三磁吸部(5121)与所述第一磁吸部(533)的位置相适应,所述第四磁吸部(5122)与第二磁吸部(534)的位置相适应;其中,压紧部(532)预压固定待测产品时,第一磁吸部(533)与所述第三磁吸部(5121)磁吸固定,压紧部(532)未预压固定待测产品时,第二磁吸部(534)与所述第四磁吸部(5122)磁吸固定。
7.根据权利要求6所述的一种微针测试设备,其特征在于,所述底板(511)上还固定安装有支撑件(5111),所述支撑件(5111)位于所述载盘(513)的一侧用于支撑上模组件(520),以防止上模组件(520)过压所述待测产品。
8.根据权利要求7所述的一种微针测试设备,其特征在于,所述测试组件(500)还包括:
联动件(540),可转动安装于所述第一基座(512)上,所述联动件(540)位于所述预压块(530)的一侧,且所述联动件(540)能够与所述预压块(530)勾接以带动所述预压块(530)从所述待测产品上脱离;
勾接件(550),固定于所述第二基座(521)的侧壁上,且所述勾接件(550)的一端延伸有卡钩部(551)用于勾接所述联动件(540)以带动所述联动件(540)在第一基座(512)上转动。
9.根据权利要求8所述的一种微针测试设备,其特征在于,所述联动件(540)包括:与所述第二基座(521)转动连接的第二转动部(541)及从所述第二转动部(541)延伸处的第一连接部(542),所述第一连接部(542)与所述勾接件(550)勾接。
10.根据权利要求9所述的一种微针测试设备,其特征在于,所述联动件(540)上靠近所述预压块(530)的一侧延伸有第二连接部(543),相应的,所述预压块(530)上靠近所述联动件(540)的一侧延伸有抵挡部(535),所述抵挡部(535)位于所述第二连接部(543)上侧。
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Date | Code | Title | Description |
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GR01 | Patent grant | ||
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