CN215525882U - 集成电路测试安装架 - Google Patents

Abstract

本实用新型适用于集成电路测试领域，提供了一种集成电路测试安装架，用于固定集成电路测试设备，集成电路测试设备包括机头、主机和探针台，集成电路测试安装架包括：机架主体，具有用于固定探针台的第一固定面和用于固定主机的第二固定面，第一固定面和第二固定面为机架主体的相邻的两侧表面；测试载板，用于承载机头，测试载板置于机架主体上，测试载板与机架主体滑接连接而能够进入或离开位于探针台上方的操作空间。本实用新型提供的集成电路测试安装架，为机头提供固定支撑，测试载板将机头悬置于探针台上而有利于降低集成电路测试设备整体的占地面积，测试载板与机架主体滑接，而能够在不影响探针台的使用的情况下提高生产车间空间利用率。

Description

集成电路测试安装架

技术领域

本实用新型属于集成电路测试技术领域，更具体地说，是涉及一种集成电路测试安装架。

背景技术

集成电路(Integrated Circuit简称IC)是一种微型电子器件或部件。采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等电子元件互相连接在一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个塑封体内，成为具有所需电路功能的单元模块；由于集成电路中所有元件在结构上已组成一个整体，使电子元件向着微小型化、低功耗、智能化和高可靠性方面迈进了一大步，所以在电子领域得到广泛应用。

集成电路在生产过程中，需要用到集成电路测试设备进行电性能测试，以保证产品在出厂前满足设计要求。而集成电路测试设备针对的是各种各样的产品，通常一款测试设备必须能满足各种电性能测试的需求，因此测试机的体积相对较大，根据型号及规模的不同，重量在几十千克到1000千克不等。由于测试设备本身体积及重量的原因，为了确保安全可靠，所以集成电路测试设备的安装装置通常比较大，占用了生产线更大的空间。

在半导体行业，集成电路测试设备包括测试机和探针台，测试机包括机头和主机，探针台主要实现集成电路上的接触点与测试机之间的电连接，因此在生产线车间，测试机与探针台都是一比一配套的。这带来的问题是，在生产线车间布局时，两台探针台之间，必须留出足够的空间间隔，用于安装测试机，通常预留的空间在2米左右，空间的利用率极低，这造成了空间的极大浪费。

发明内容

本实用新型的目的在于克服上述现有技术的不足，提供了一种集成电路测试安装架，其旨在解决现有生产车间空间利用率低的问题。

为实现上述目的，本实用新型实施例提供了如下技术方案：

一种集成电路测试安装架，用于固定集成电路测试设备，集成电路测试设备包括机头、主机和探针台，所述集成电路测试安装架包括：

机架主体，具有用于固定探针台的第一固定面和用于固定主机的第二固定面，所述第一固定面和第二固定面为所述机架主体的相邻的两侧表面；

测试载板，用于承载机头，所述测试载板置于所述机架主体上，所述测试载板与所述机架主体滑接连接而能够进入或离开位于所述探针台上方的操作空间。

可选的，所述测试载板通过滑接结构与所述机架主体连接，所述滑接结构包括固定于所述机架主体的上方的承重板、设于所述承重板上的滑轨和固定于所述测试载板的下表面的滑块，所述滑块滑接所述滑轨而带动所述测试载板进入或离开位于所述探针台上方的操作空间；所述滑轨和所述滑块有两个并配套设置。

可选的，两个所述滑块位于所述测试载板重心的两侧。

可选的，其中一所述滑块设于所述测试载板的中心位置。

可选的，所述滑接结构还包括锁止件和锁止孔，所述锁止件与其中一所述滑块连接，所述锁止孔开设于所述承重板，所述锁止孔有多个并顺次排列，所述锁止件随所述滑块沿所述滑轨移动而顺次经过各所述锁止孔，且在与所述锁止孔正对时能够置入所述锁止孔而限制所述滑块的移动。

可选的，所述测试载板开设有多个散热通孔。

可选的，所述测试载板与所述承重板留有散热间隙。

可选的，所述测试载板上设有用于限制机头移动的挡板。

可选的，所述集成电路测试安装架还包括置物架，所述置物架包括可拆卸连接探针台的连接件、连接所述连接件并沿上下延伸的连接轴和套接所述连接轴的支撑板，所述支撑板与所述连接轴转动连接，所述支撑板用于固定显示屏。

可选的，所述置物架还包括套设于所述连接轴的固定环和第一载台，所述固定环与所述连接轴固定连接并用于支撑所述第一载台，所述第一载台能够绕连接轴转动，所述第一载台用于放置键盘。

本实用新型提供的集成电路测试安装架，为机头提供固定支撑，测试载板将机头悬置于探针台上而有利于降低集成电路测试设备整体的占地面积，测试载板与机架主体滑接，而能够在不影响探针台的使用的情况下提高生产车间空间利用率。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型实施例提供的集成电路测试安装架与集成电路测试设备的连接的示意图一；

图2为图1结构的俯视图；

图3为本实用新型实施例提供的集成电路测试安装架的局部结构示意图；

图4为图3所示结构的拆解示意图；

图5为本实用新型实施例中测试载板与机架主体的连接示意图；

图6为本实用新型实施例中滑接结构的示意图；

图7为本实用新型实施例中置物架的示意图。

其中，图中各附图标记：

10、安装架；11、机架主体；101、第一固定面；102、第二固定面；12、测试载板；103、散热通孔；104、散热间隙；13、滑接结构；131、承重板；132、滑轨；133、滑块；121、挡板；134、锁止件；105、锁止孔；14、置物架；141、连接件；142、连接轴；143、支撑板；144、固定环；145、第一载台；146、第二载台；147、撑杆；15、重型脚杯；20、机头；30、主机；40、探针台；51、第一显示屏；52、第二显示屏；53、键盘。

具体实施方式

为了使本实用新型所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

需要说明的是，当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者间接在该另一个元件上。当一个元件被称为是“连接于”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或间接连接至该另一个元件上。

还需要说明的是，本实用新型实施例中，按照图1中所建立的XYZ直角坐标系定义：位于X轴正方向的一侧定义为前方，位于X轴负方向的一侧定义为后方；位于Y轴正方向的一侧定义为左方，位于Y轴负方向的一侧定义为右方；位于Z轴正方向的一侧定义为上方，位于Z轴负方向的一侧定义为下方。

需要理解的是，术语“长度”、“宽度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本实用新型的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。

请参照图1至图7，现对本申请提供的集成电路测试安装架10进行示例性说明。本实施例提供的集成电路测试安装架10用于固定集成电路测试设备。集成电路测试设备包括机头20、主机30和探针台40。机头20、主机30和探针台40为独立结构，并通过线缆实现电连接。

请参照图1至图3，集成电路测试安装架10包括机架主体11和测试载板 12。

机架主体11具有用于固定探针台40的第一固定面101和用于固定主机30 的第二固定面102，第一固定面101和第二固定面102为机架主体11的相邻的两侧表面；

测试载板12用于承载机头20，测试载板12置于机架主体11上，测试载板12与机架主体11滑接连接而能够进入或离开位于探针台40上方的操作空间。

以图示方向为例，机架主体11大体呈长方体状，其长度方向为前后方向。机架主体11的左侧表面用于固定探针台40，前侧表面用于固定主机30，上表面连接有测试载板12。换言之，探针台40固定于机架主体11的左侧，主机30 固定于机架主体11的前侧，机头20通过测试载板12设于机架主体11的上方。请结合图3，测试载板12连接机架主体11并向左方延伸而呈悬臂状。机头20 固定于测试载板12时，位于探针台40的正上方。结合各结构的尺寸，探针台 40尺寸较大，通过集成电路测试安装架10的设置，将机头20置于探针台40 的上方而能充分利用探针台40上方空间，从而减小固定集成电路测试设备整体的占地面积。

本实施例中，机架主体11位于探针台40的一侧。为减小整体设备的占地面积，机架主体11尺寸尽量减小，尤其是左右方向的厚度，而将测试载板12 以悬臂的方式与机架主体11连接。该情况下，机头20的重心位于机架主体11 之外(图示为机架主体11的左方)，而存在不稳定的隐患。针对该问题，本实施例中，机架主体11与探针台40固定连接，使得机架主体11和探针台40连接成一体而具有多个对地支撑点，达到共同支撑机头20的效果，而确保机头 20的稳固性。

主机30固定于机架主体11的前侧并位于探针台40的右侧(第一固定面 101和第二固定面102为机架主体11的相邻的两侧表面)。结合设备尺寸，探针台40尺寸较大，机架主体11和主机30的长度之和小于探针台40的长度，因此，将机架主体11和主机30设于探针台40同一侧，布置合理，有利于减小安装架10和测试设备整体的占地尺寸。

测试载板12与机架主体11滑接而能够进入或离开位于探针台40上方的操作空间。探针台40具有从上方打开的盖板，在维修保养时，从探针台40的上方将盖板打开而对操作台内部进行维修。探针台40上方的操作空间指的是盖板打开所需要的操作空间，为盖板正上方的空间。测试载板12进入该操作空间，包括测试载板12局部或全部进入盖板正上方的空间。请结合图2，本实施例中，测试载板12进入该操作空间为测试载板12局部进入盖板正上方的空间。本实施例中，测试载板12能够相对机架主体11前后移动而进入或离开该操作空间。在其它实施例中，测试载板12也可以设为相对机架主体11左右移动而进入或离开该操作空间。该设置能够在不影响探针台40的使用的情况下降低集成电路测试设备整体占地面积。

由上，本实施例提供的集成电路测试安装架10，为机头20提供固定支撑，测试载板12将机头20悬置于探针台40上而有利于降低集成电路测试设备整体的占地面积，测试载板12与机架主体11滑接，而能够在不影响探针台40的使用的情况下提高生产车间空间利用率。

本实施例中，机架主体11与探针台40之间采用螺接连接，以简化结构，降低成本。在其它实施例中，机架主体11和探针台40也可以采用焊接等固定连接方式，或采用卡接等其它可拆卸连接方式，在此不作唯一限定。

本实施例中，机架主体11为中空结构，主机30和机头20之间的线缆能够经机架主体11内部穿过，在线缆较长的情况下，也可以将多余的线缆收容于机架主体11内部，而达到美观效果。

本实施例中，机架主体11和主机30之间采用螺接连接。请参照图1和图 3，本实施例中，机架主体11的底板向前延伸，底板上设有容置主机30的安装座，主机30放置于安装座上。在其它实施例中，也可以通过其它结构将主机 30固定在底座的前侧表面，在此不作唯一限定。

在本申请另一实施例中，请参照图4，测试载板12通过滑接结构13与机架主体11连接，滑接结构13包括固定于机架主体11的上方的承重板131、设于承重板131上的滑轨132和固定于测试载板12的下表面的滑块133，滑块133 滑接滑轨132而带动测试载板12进入或离开位于探针台40上方的操作空间。通过滑块133和滑轨132的配合，实现测试载板12与机架主体11的滑接，有利于简化结构。

本实施例中，滑轨132和滑块133有两个并配套设置。图4所示结构中，滑轨132沿前后方向延伸。滑轨132有两个并左右间隔设置。两个滑轨132和两个滑块133的配合设置，使得测试载板12在左右方向上具有两个相互分离的支撑点，而有利于提高测试载板12的稳定性。

在其中一个优选实施例中，两个滑块133位于测试载板12重心的两侧。机头20置于测试载板12上，机头20的重心与测试载板12的重心在水平投影上接近乃至重合。两个滑块133位于机头20和测试载板12重心的两侧而有利于降低测试载板12背离机架主体11一端的弯矩并提高测试载板12移动的稳定性。

在其中另一个优选实施例中，请参照图4和图5，两个滑块133中有一个滑块133设于测试载板12的中心位置。该设置在确保机头20稳定性的同时减少承重板131的尺寸。

在本申请另一实施例中，请参照图5，测试载板12开设有多个散热通孔103。机头20为集成电路测试设备主要产热的部件，在测试载板12上开设散热通孔 103进行散热，结构简单，成本低。

在本申请另一实施例中，请参照图5，测试载板12与承重板131留有散热间隙104以利于散热。

请参照图1，测试载板12与探针台40之间留有间距，以利于散热。

在本申请另一实施例中，请参照图5，测试载板12上设有用于限制机头20 移动的挡板121。图示结构中，挡板121有四个，以限制机头20在前后左右方向的移动。本领域技术人员可以根据实际需要设置挡板121的数量、形状和尺寸，在此不作唯一限定。

在本申请另一实施例中，请参照图6，滑接结构13还包括锁止件134和锁止孔105，锁止件134与其中一滑块133连接，锁止孔105开设于承重板131，锁止孔105有多个并顺次排列，锁止件134随滑块133沿滑轨132移动而顺次经过各锁止孔105，且在与锁止孔105正对时能够置入锁止孔105而限制滑块 133的移动。本实施例中，锁止件134为插销，滑块133连接有配合件，配合件开设有装配孔，锁止件134穿过装配孔插入锁止孔105而限制滑块133的移动。操作人员将锁止件134向上抬离锁止孔105而解除对滑块133移动的限制。图6所示结构夅，滑块133和装配件为独立件，并通过卡接连接。在其它实施例中，滑块133和装配件也可以一体设置。

在本申请另一实施例中，请参照图1和图7，集成电路测试安装架10还包括置物架14，置物架14包括可拆卸连接探针台40的连接件141、连接连接件 141并沿上下延伸的连接轴142和套接连接轴142的支撑板143，支撑板143 与连接轴142转动连接，支撑板143用于固定显示屏。

图7所示结构中，显示屏有两个，分别命名为第一显示屏51和第二显示屏 52。第一显示屏51与主机30电连接以显示产品测试信息，第二显示屏52与探针台40电连接以显示探针台40运行情况。此外，主机30还连接有键盘53，以便于对集成电路板的测试进行控制操作。

置物架14用于固定显示屏和键盘53。图1所示结构中，置物架14与探针台40可拆卸连接。在其它实施例中，置物架14也可以与机架主体11可拆卸连接或固定连接。

本实施例中，置物架14包括连接件141、连接轴142和支撑板143，连接件141可拆卸连接探针台40，连接轴142与连接件141固定连接，支撑板143 与连接轴142转动连接，支撑板143用于固定第一显示屏51。可以理解，支撑板143也可以用于固定第二显示屏52。支撑板143与连接轴142转动连接使得第一显示屏51能够绕连接轴142转动，从而便利操作人员查看第一显示屏51 所显示的信息。

图7所示结构中，置物架14还包括套设于连接轴142的固定环144和第一载台145，固定环144与连接轴142固定连接并用于支撑第一载台145，第一载台145能够绕连接轴142转动，第一载台145用于放置键盘53。操作人员可以推动第一载台145使其绕连接轴142转动而调整键盘53的位置，以方便操作。尤其是，操作人员通过键盘53调整好主机30的运行参数后，可以将键盘53 旋转到安全的位置，以防止误操作，同时也不会妨碍到操作人员在探针台40 上进行其他操作。本实施例中，第一载台145和固定环144的配合设置，相比于轴承结构，能够简化结构、降低生产成本。需要说明的是，固定环144与连接轴142固定连接指的是固定环144与连接轴142相对固定，可以为不可拆卸的固定连接，也可以为可拆卸的固定连接。固定环144与连接轴142可拆卸连接时，固定环144可通过销件与开设于连接轴142的连接孔配合，实现固定环 144与连接轴142的可拆卸固定连接，并能够通过多个连接孔的设计，使得固定环144的高度可调节。

在本实施例中，置物架14还包括用于固定第二显示屏52的撑杆147，撑杆147与连接件141独立设置，撑杆147固定于探针台40。在其它实施例中，撑杆147也可以与连接件141或连接轴142连接，在此不作限定。

在本实施例中，置物架14还包括用于固定扫码器的第二载台146。第二载台146与连接件141固定连接。图示结构中，第二载台146与连接件141一体设置。在产品量产时，操作人员可以通过扫码器自动读取产品信息，操作更便捷。

在本申请另一实施例中，机架主体11下表面设有多个重型脚杯15，以将机架主体11平稳的立于地板上。重型脚杯15的高度可调节以便于调整机架主体11的水平度。

以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种集成电路测试安装架，用于固定集成电路测试设备，集成电路测试设备包括机头、主机和探针台，其特征在于，所述集成电路测试安装架包括：

机架主体，具有用于固定探针台的第一固定面和用于固定主机的第二固定面，所述第一固定面和第二固定面为所述机架主体的相邻的两侧表面；

测试载板，用于承载机头，所述测试载板置于所述机架主体上，所述测试载板与所述机架主体滑接连接而能够进入或离开位于所述探针台上方的操作空间。

2.如权利要求1所述的集成电路测试安装架，其特征在于，所述测试载板通过滑接结构与所述机架主体连接，所述滑接结构包括固定于所述机架主体的上方的承重板、设于所述承重板上的滑轨和固定于所述测试载板的下表面的滑块，所述滑块滑接所述滑轨而带动所述测试载板进入或离开位于所述探针台上方的操作空间；所述滑轨和所述滑块有两个并配套设置。

3.如权利要求2所述的集成电路测试安装架，其特征在于，两个所述滑块位于所述测试载板重心的两侧。

4.如权利要求2所述的集成电路测试安装架，其特征在于，其中一所述滑块设于所述测试载板的中心位置。

5.如权利要求2所述的集成电路测试安装架，其特征在于，所述滑接结构还包括锁止件和锁止孔，所述锁止件与其中一所述滑块连接，所述锁止孔开设于所述承重板，所述锁止孔有多个并顺次排列，所述锁止件随所述滑块沿所述滑轨移动而顺次经过各所述锁止孔，且在与所述锁止孔正对时能够置入所述锁止孔而限制所述滑块的移动。

6.如权利要求1所述的集成电路测试安装架，其特征在于，所述测试载板开设有多个散热通孔。

7.如权利要求2所述的集成电路测试安装架，其特征在于，所述测试载板与所述承重板留有散热间隙。

8.如权利要求1所述的集成电路测试安装架，其特征在于，所述测试载板上设有用于限制机头移动的挡板。

9.如权利要求1所述的集成电路测试安装架，其特征在于，所述集成电路测试安装架还包括置物架，所述置物架包括可拆卸连接探针台的连接件、连接所述连接件并沿上下延伸的连接轴和套接所述连接轴的支撑板，所述支撑板与所述连接轴转动连接，所述支撑板用于固定显示屏。

10.如权利要求9所述的集成电路测试安装架，其特征在于，所述置物架还包括套设于所述连接轴的固定环和第一载台，所述固定环与所述连接轴固定连接并用于支撑所述第一载台，所述第一载台能够绕连接轴转动，所述第一载台用于放置键盘。

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