CN215728620U - 一种电路板电参数性能评估测试设备 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种电路板电参数性能评估测试设备，涉及电路板检测设备技术领域，包括：PCB板夹持装置，所述PCB板夹持装置用于放置PCB板；校准载物台，所述校准载物台设置于所述PCB板夹持装置一侧；定位器载物台，所述定位器载物台为两个，分别设置于PCB板夹持装置相对的两侧；显微镜支架；所述显微镜支架为两组，分别设置于PCB板夹持装置相对的两侧；显微镜装置，所述显微镜装置设置于所述显微镜支架上，用于观测PCB板；气浮平台，所述平台用于承载，所述PCB板夹持装置、校准载物台、定位器载物台和显微镜支架。通过本实用新型的设置提供了一种能够对电路板进行电参数性能评估测试的设备。

Description

一种电路板电参数性能评估测试设备

技术领域

本实用新型涉及电路板检测设备技术领域，尤其涉及一种电路板电参数性能评估测试设备。

背景技术

随着社会经济不断向前发展和进步，伴随各种电子产品不端需要多功能化。然而，现有技术大部分电子设备都是由各种不同功能模块相互组装而成。而每个功能模块都是由不同电路板与该电路板周边电子器件组装而成。例如，控制板，测试板，综合板，以及继电器板等。由于所述每个电路板上接口采用不同型号接口构成，测试时，需要操作人员将电路板固定后，分别手持所需的测量仪器对电路板进行测量，但测量方式效率较低，还增加了操作人员的工作量。

为此我们提出一种电路板电参数性能评估测试设备。

实用新型内容

本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在的缺陷，而提出的一种电路板电参数性能评估测试设备。

为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：

一种电路板电参数性能评估测试设备，包括：

PCB板夹持装置，所述PCB板夹持装置用于放置PCB板；

校准载物台，所述校准载物台设置于所述PCB板夹持装置一侧；

定位器载物台，所述定位器载物台为两个，分别设置于PCB板夹持装置相对的两侧；

显微镜支架；所述显微镜支架为两组，分别设置于PCB板夹持装置相对的两侧；

显微镜装置，所述显微镜装置设置于所述显微镜支架上，用于观测PCB板；

气浮平台，所述平台用于承载，所述PCB板夹持装置、校准载物台、定位器载物台和显微镜支架。

进一步的，所述PCB板夹持装置包括，支撑立柱和旋转锁扣，所述支撑立柱固定连接于所述气浮平台上端面，所述支撑立柱上端设置有旋转锁扣。

进一步的，所述校准载物台包括校准器承载台和承载台立柱，所述承载台立柱固定连接于所述气浮平台上端面，所述校准器承载台设置于承载台立柱上端。

进一步的，所述定位器载物台包括载物台滑轨和定位器承载台，所述载物台滑轨对称的设置于所述PCB板夹持装置两侧，所述定位器承载台通过载物台支撑座和载物台滑块滑动连接于所述载物台滑轨上，所述载物台支撑座和所述载物台滑块固定连接，所述载物台滑块滑动连接于所述载物台滑轨上。

更进一步的，所述定位器承载台上端面固定连接有承载台滑轨，所述承载台滑轨上滑动连接有定位器安装座，所述定位器承载台一侧设置有承载台锁扣，所述承载台锁扣用于限制定位器承载台在承载台滑轨的位置。

进一步的，所述显微镜支架包括，立柱滑轨和伸缩立柱，所述立柱滑轨固定连接于所述气浮平台，且对称的设置在PCB板夹持装置的两侧，所述伸缩立柱滑动连接于所述立柱滑轨，所述伸缩立柱顶端设置有沿PCB板夹持装置方向延伸的水平杆，所述水平杆上设置有显微镜装置。

更进一步的，所述水平杆下端面设置有显微镜滑道，所述显微镜滑道上滑动连接有显微镜滑块，所述显微镜滑块上设置有用于固定显微镜的固定环。

相比于现有技术，本实用新型的有益效果在于：

通过本实用新型的设置，提供了一种能够对电路板进行电参数性能评估测试的设备；通过设置的气浮平台以保证表面平整度的同时，还可以避免低频振动带来的射频测试接触不稳定的情形发生；通过设置的校准载物台，用于放置射频校准片，用户在进行射频测试前通过在校准载物台上进行射频校准完成矢网端口到测试端面的延展；通过设置的显微镜装置，利用数字CCD呈像可实现对较大PCB较远测试点的同时观测及探测，该结构的设置解决了用户在进行较远测试点测试时大范围移动显微镜系统的问题。

附图说明

附图用来提供对本实用新型的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本实用新型的实施例一起用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的限制。

图1为本实用新型提出的一种电路板电参数性能评估测试设备的整体结构示意图。

图中：1、气浮平台；

21、定位器承载台；22、承载台滑轨；23、承载台锁扣；24、载物台支撑座；25、载物台滑块；26、载物台滑轨；

31、显微镜；32、固定环；33、显微镜锁扣；34、显微镜滑块；

41、PCB板夹持装置；42、PCB板；

51、显微镜滑道；52、立柱锁扣；53、立柱滑块；54、立柱滑轨；55、水平杆；56、伸缩立柱；

61、校准器承载台；62、承载台立柱。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

参照图1，一种电路板电参数性能评估测试设备，包括：

气浮平台1，平台用于承载，PCB板夹持装置35、校准载物台、定位器载物台和显微镜支架，装置整体设置在一块大型气浮平台1上，通过设置的气浮平台1以保证表面平整度的同时，还可以避免低频振动带来的射频测试接触不稳定的情形发生；

PCB板夹持装置35包括，支撑立柱和旋转锁扣，支撑立柱固定连接于气浮平台1上端面，支撑立柱上端转动连接有旋转锁扣，通过对旋转锁扣进行旋转即可实现对PCB板的夹持，在其他实施例中，支撑立柱上端面为磁性材料，旋转锁扣上设置有磁吸底座，同时磁吸底座上设置有开关便于用户随时调整夹持位置，其中PCB板夹持装置35与PCB板42的配合关系如图1所示；

校准载物台，校准载物台设置于PCB板夹持装置35一侧，包括校准器承载台61和承载台立柱62，承载台立柱62固定连接于气浮平台1上端面，校准器承载台61设置于承载台立柱62上端，校准载物台，用于放置射频校准片，用户在进行射频测试前通过在校准载物台上进行射频校准完成矢网端口到测试端面的延展；

定位器载物台，用于放置精密定位器，定位器载物台为两个，分别设置于PCB板夹持装置35相对的两侧；定位器载物台包括载物台滑轨26和定位器承载台21，载物台滑轨26为两个，对称的设置于PCB板夹持装置35前后方向，定位器承载台21为两个，对称的设置于PCB板夹持装置35左右方向；定位器承载台21下端面依次连接有载物台支撑座24和载物台滑块25，载物台支撑座24和载物台滑块25固定连接，载物台滑块25滑动连接于载物台滑轨26上，定位器承载台21上端面固定连接有承载台滑轨22，承载台滑轨22上滑动连接有定位器安装座，定位器承载台21一侧设置有承载台锁扣23，承载台锁扣23用于限制定位器承载台21在承载台滑轨22的位置，其中承载台锁扣23可以为旋钮结构，承载台锁扣23与定位器承载台21螺纹连接，通过旋转承载台锁扣23增大与承载台滑轨22摩擦力，实现锁紧；

显微镜支架包括，立柱滑轨54和伸缩立柱56，立柱滑轨54为两个，皆固定连接于气浮平台1上端面，且以PCB板夹持装置35对称，伸缩立柱56通过底部设置的立柱滑块53滑动连接于立柱滑轨54，立柱滑块53上设置有立柱锁扣，用于立柱滑块53在立柱滑轨54的位置，其中立柱锁扣可以为旋钮结构，立柱锁扣与立柱滑块53螺纹连接，通过旋转立柱锁扣增大与立柱滑轨54摩擦力，实现锁紧；

伸缩立柱56顶端设置有沿PCB板夹持装置35方向延伸的水平杆55，水平杆55下端面设置有显微镜滑道51，显微镜滑道51与显微镜滑块34相配合，显微镜滑块34上设置有用于固定显微镜31的固定环32,两套独立设置的显微镜，通过数字CCD呈像可实现对较大PCB较远测试点的同时观测及探测，该结构的设置解决了用户在进行较远测试点测试时大范围移动显微镜系统的问题，在其他实施例中，固定环设置于一板体结构上，板体结构可沿显微镜滑块34上下滑动，且板体结构上设置有在滑动后固定的显微镜锁扣33。

以上所述，仅为本实用新型较佳的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，根据本实用新型的技术方案及其实用新型构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。

Claims (7)

1.一种电路板电参数性能评估测试设备，其特征在于，包括：

PCB板夹持装置，所述PCB板夹持装置用于放置PCB板；

校准载物台，所述校准载物台设置于所述PCB板夹持装置一侧；

定位器载物台，所述定位器载物台为两个，分别设置于PCB板夹持装置相对的两侧；

显微镜支架；所述显微镜支架为两组，分别设置于PCB板夹持装置相对的两侧；

显微镜装置，所述显微镜装置设置于所述显微镜支架上，用于观测PCB板；

气浮平台，所述平台用于承载，所述PCB板夹持装置、校准载物台、定位器载物台和显微镜支架。

2.根据权利要求1所述的一种电路板电参数性能评估测试设备，其特征在于，所述PCB板夹持装置包括，支撑立柱和旋转锁扣，所述支撑立柱固定连接于所述气浮平台上端面，所述支撑立柱上端设置有旋转锁扣。

3.根据权利要求1所述的一种电路板电参数性能评估测试设备，其特征在于，所述校准载物台包括校准器承载台和承载台立柱，所述承载台立柱固定连接于所述气浮平台上端面，所述校准器承载台设置于承载台立柱上端。

4.根据权利要求1所述的一种电路板电参数性能评估测试设备，其特征在于，所述定位器载物台包括载物台滑轨和定位器承载台，所述载物台滑轨对称的设置于所述PCB板夹持装置两侧，所述定位器承载台通过载物台支撑座和载物台滑块滑动连接于所述载物台滑轨上，所述载物台支撑座和所述载物台滑块固定连接，所述载物台滑块滑动连接于所述载物台滑轨上。

5.根据权利要求4所述的一种电路板电参数性能评估测试设备，其特征在于，所述定位器承载台上端面固定连接有承载台滑轨，所述承载台滑轨上滑动连接有定位器安装座，所述定位器承载台一侧设置有承载台锁扣，所述承载台锁扣用于限制定位器承载台在承载台滑轨的位置。

6.根据权利要求1所述的一种电路板电参数性能评估测试设备，其特征在于，所述显微镜支架包括，立柱滑轨和伸缩立柱，所述立柱滑轨固定连接于所述气浮平台，且对称的设置在PCB板夹持装置的两侧，所述伸缩立柱滑动连接于所述立柱滑轨，所述伸缩立柱顶端设置有沿PCB板夹持装置方向延伸的水平杆，所述水平杆上设置有显微镜装置。

7.根据权利要求6所述的一种电路板电参数性能评估测试设备，其特征在于，所述水平杆下端面设置有显微镜滑道，所述显微镜滑道上滑动连接有显微镜滑块，所述显微镜滑块上设置有用于固定显微镜的固定环。

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