CN215491641U - 一种晶体表面平整度检测设备 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种晶体表面平整度检测设备，包括工作台，所述工作台的上表面设置有限位机构，所述工作台的上表面固定连接有检测机构，所述工作台的表面固定连接有取下机构，所述工作台的表面固定连接有成品箱和次品箱，所述限位机构包括基座，所述基座的上表面开设有取放槽，所述基座的上表面固定连接有限位块。本实用新型，通过气缸二推动插板移动，进而使得插板插入取放槽内部，电动推杆带动插板上升，将晶体从限位块中取出，电动转轴一带动插板转动至成品箱或次品箱上方，电动转轴二带动插板翻转，将晶体放入成品箱或次品箱内部，不需人工取下，降低工作人员的劳动强度。

Description

一种晶体表面平整度检测设备

技术领域

本实用新型涉及晶体表面平整度检测技术领域，尤其涉及一种晶体表面平整度检测设备。

背景技术

对于加工后的晶体进行检测，一般需要对其平整度、纯度、耐压程度等进行检测。而晶体平整度的检测一般是利用光的干涉来检测晶体表面的平整度。

现有技术中的晶体表面平整度检测设备，一般通过人工分类，提升工作人员的劳动强度，且人工分类在疲劳时易发生分类错误的现象。

实用新型内容

本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种晶体表面平整度检测设备。

为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：一种晶体表面平整度检测设备，包括工作台，所述工作台的上表面设置有限位机构，所述工作台的上表面固定连接有检测机构，所述工作台的表面固定连接有取下机构，所述工作台的表面固定连接有成品箱和次品箱，所述限位机构包括基座，所述基座的上表面开设有取放槽，所述基座的上表面固定连接有限位块，所述基座的下表面设置有驱动机构，所述取下机构包括电动推杆，所述电动推杆的输出端固定连接有电动转轴一，所述电动转轴一的表面固定连接有气缸二，所述气缸二的输出端固定连接有电动转轴二，所述电动转轴二的表面固定连接有插板。

作为上述技术方案的进一步描述：

所述驱动机构包括移动槽，所述移动槽位于工作台的表面，所述移动槽的内壁滑动连接有连接座，所述工作台的下表面固定连接有气缸一。

作为上述技术方案的进一步描述：

所述连接座的上表面与基座固定连接，所述气缸一的输出端与连接座固定连接。

作为上述技术方案的进一步描述：

所述检测机构包括检测箱，所述检测箱的内壁固定连接有检测仪，所述检测箱的侧面开设有进口，所述检测箱在远离进口的侧面开设有出口。

作为上述技术方案的进一步描述：

所述出口和进口的形状均与限位机构适配，所述检测仪的位置与限位机构适配。

作为上述技术方案的进一步描述：

所述取下机构的数量有两个，两个所述取下机构的位置均与移动槽适配。

作为上述技术方案的进一步描述：

所述插板的形状与取放槽适配，所述插板的表面设置有防滑涂层。

作为上述技术方案的进一步描述：

所述工作台的下表面固定连接有支撑腿，所述支撑腿的一端固定连接有防滑垫。

本实用新型具有如下有益效果：

1、与现有技术相比，该一种晶体表面平整度检测设备，通过气缸二推动插板移动，进而使得插板插入取放槽内部，电动推杆带动插板上升，将晶体从限位块中取出，电动转轴一带动插板转动至成品箱或次品箱上方，电动转轴二带动插板翻转，将晶体放入成品箱或次品箱内部，不需人工取下，降低工作人员的劳动强度。

2、与现有技术相比，该一种晶体表面平整度检测设备，通过检测仪检测晶体的平整度，检测为不合格的晶体，从出口移动至次品箱处，通过取下机构将其装入次品箱内部，检测为合格品的晶体，向进口处移动，进行二次检测，若仍为合格，则通过取下机构将其放入成品箱内部，提升分类的精准度。

3、与现有技术相比，该一种晶体表面平整度检测设备，插板的表面设置有防滑涂层，提升插板与晶体的摩擦力，使得晶体不易从插板上掉落，防滑垫使得支撑腿不易打滑，从而使工作台更为稳定。

附图说明

图1为本实用新型提出的一种晶体表面平整度检测设备的整体结构示意图；

图2为本实用新型提出的一种晶体表面平整度检测设备的限位机构结构示意图；

图3为本实用新型提出的一种晶体表面平整度检测设备的取下机构结构示意图；

图4为本实用新型提出的一种晶体表面平整度检测设备的驱动机构结构仰视图；

图5为本实用新型提出的一种晶体表面平整度检测设备的检测结构内部结构示意图。

图例说明：

1、工作台；2、限位机构；3、驱动机构；4、检测机构；5、取下机构；6、成品箱；7、次品箱；8、支撑腿；201、基座；202、取放槽；203、限位块；301、移动槽；302、连接座；303、气缸一；401、检测箱；402、检测仪；403、进口；404、出口；501、电动推杆；502、电动转轴一；503、气缸二；504、电动转轴二；505、插板。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制；术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性，此外，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

参照图1-5，本实用新型提供的一种晶体表面平整度检测设备：包括工作台1，工作台1的上表面设置有限位机构2，在限位机构2上防止加工后的晶体，工作台1的上表面固定连接有检测机构4，通过检测机构4对加工后的晶体进行平整度检测，工作台1的表面固定连接有取下机构5，通过取下机构5将晶体取下，工作台1的表面固定连接有成品箱6和次品箱7，成品箱6内部放置合格产品，次品箱7放置不合格产品；

限位机构2包括基座201，基座201的上表面开设有取放槽202，基座201的上表面固定连接有限位块203，基座201的下表面设置有驱动机构3，通过驱动机构3驱动限位机构2移动，将晶体防止在基座201的上表面，限位块203限制晶体的位置；

取下机构5包括电动推杆501，电动推杆501的输出端固定连接有电动转轴一502，电动转轴一502的表面固定连接有气缸二503，气缸二503的输出端固定连接有电动转轴二504，电动转轴二504的表面固定连接有插板505，气缸二503推动插板505移动，进而使得插板505插入取放槽202内部，电动推杆501带动插板505上升，将晶体从限位块203中取出，电动转轴一502带动插板505转动至成品箱6或次品箱7上方，电动转轴二504带动插板505翻转，将晶体放入成品箱6或次品箱7内部；

驱动机构3包括移动槽301，移动槽301位于工作台1的表面，移动槽301的内壁滑动连接有连接座302，工作台1的下表面固定连接有气缸一303，连接座302的上表面与基座201固定连接，气缸一303的输出端与连接座302固定连接，气缸一303推动连接座302移动，移动槽301限制连接座302的移动路线，连接座302带动基座201移动；

检测机构4包括检测箱401，检测箱401将检测仪402隔开，降低外界因素的影响，检测箱401的内壁固定连接有检测仪402，检测箱401的侧面开设有进口403，检测箱401在远离进口403的侧面开设有出口404，出口404和进口403的形状均与限位机构2适配，检测仪402的位置与限位机构2适配，驱动机构3带动限位机构2从进口403处进入检测箱401，通过检测仪402检测晶体到检测仪402之间的距离，从而检测晶体的平整度；

取下机构5的数量有两个，两个取下机构5的位置均与移动槽301适配，检测为不合格的晶体，从出口404移动至次品箱7处，通过取下机构5将其装入次品箱7内部，检测为合格品的晶体，向进口403处移动，进行二次检测，若仍为合格，则通过取下机构5将其放入成品箱6内部；

插板505的形状与取放槽202适配，插板505易插入取放槽202中，插板505的表面设置有防滑涂层，提升插板505与晶体的摩擦力，使得晶体不易从插板505上掉落；

工作台1的下表面固定连接有支撑腿8，支撑腿8的一端固定连接有防滑垫，使得支撑腿8不易打滑。

工作原理：本实用新型使用时，将晶体防止在基座201的上表面，限位块203限制晶体的位置，气缸一303推动连接座302移动，移动槽301限制连接座302的移动路线，连接座302带动基座201移动，驱动机构3带动限位机构2从进口403处进入检测箱401，通过检测仪402检测晶体的平整度，检测为不合格的晶体，从出口404移动至次品箱7处，通过取下机构5将其装入次品箱7内部，检测为合格品的晶体，向进口403处移动，进行二次检测，若仍为合格，则通过取下机构5将其放入成品箱6内部。

最后应说明的是：以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换，凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (8)

1.一种晶体表面平整度检测设备，包括工作台(1)，其特征在于：所述工作台(1)的上表面设置有限位机构(2)，所述工作台(1)的上表面固定连接有检测机构(4)，所述工作台(1)的表面固定连接有取下机构(5)，所述工作台(1)的表面固定连接有成品箱(6)和次品箱(7)；

所述限位机构(2)包括基座(201)，所述基座(201)的上表面开设有取放槽(202)，所述基座(201)的上表面固定连接有限位块(203)，所述基座(201)的下表面设置有驱动机构(3)；

所述取下机构(5)包括电动推杆(501)，所述电动推杆(501)的输出端固定连接有电动转轴一(502)，所述电动转轴一(502)的表面固定连接有气缸二(503)，所述气缸二(503)的输出端固定连接有电动转轴二(504)，所述电动转轴二(504)的表面固定连接有插板(505)。

2.根据权利要求1所述的一种晶体表面平整度检测设备，其特征在于：所述驱动机构(3)包括移动槽(301)，所述移动槽(301)位于工作台(1)的表面，所述移动槽(301)的内壁滑动连接有连接座(302)，所述工作台(1)的下表面固定连接有气缸一(303)。

3.根据权利要求2所述的一种晶体表面平整度检测设备，其特征在于：所述连接座(302)的上表面与基座(201)固定连接，所述气缸一(303)的输出端与连接座(302)固定连接。

4.根据权利要求1所述的一种晶体表面平整度检测设备，其特征在于：所述检测机构(4)包括检测箱(401)，所述检测箱(401)的内壁固定连接有检测仪(402)，所述检测箱(401)的侧面开设有进口(403)，所述检测箱(401)在远离进口(403)的侧面开设有出口(404)。

5.根据权利要求4所述的一种晶体表面平整度检测设备，其特征在于：所述出口(404)和进口(403)的形状均与限位机构(2)适配，所述检测仪(402)的位置与限位机构(2)适配。

6.根据权利要求2所述的一种晶体表面平整度检测设备，其特征在于：所述取下机构(5)的数量有两个，两个所述取下机构(5)的位置均与移动槽(301)适配。

7.根据权利要求1所述的一种晶体表面平整度检测设备，其特征在于：所述插板(505)的形状与取放槽(202)适配，所述插板(505)的表面设置有防滑涂层。

8.根据权利要求1所述的一种晶体表面平整度检测设备，其特征在于：所述工作台(1)的下表面固定连接有支撑腿(8)，所述支撑腿(8)的一端固定连接有防滑垫。

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