CN215067075U - 一种用于半导体的检测装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种用于半导体的检测装置，本实用新型涉及半导体技术领域，用于半导体的检测装置包括：底座，底座内部开设有贯通其上表面的内槽，且内槽左右两侧内壁均开有内滑槽；本实用新型的有益效果在于：通过让电动缸二以推杆二推动支撑座上下移动，此时，螺纹杆左右两端会在内滑槽内随之上下移动，以此，便于根据半导体厚度的大小来调节对半导体的检测高度，同时通过皮带轮二、皮带和皮带轮一带动螺纹杆逆时针或是顺时针转动，能够让夹持杆向内槽内侧或是外侧移动，以此便能够根据半导体的大小来调节夹持间距，以便于较好的对半导体进行夹持，方便对半导体后续的检测，两者的相互结合能够更便于半导体进行检测。
Description
技术领域
本实用新型涉及半导体技术领域，尤其是涉及一种用于半导体的检测装置。
背景技术
半导体，指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料，半导体在收音机、电视机以及测温上有着广泛的应用，如二极管就是采用半导体制作的器件，半导体是指一种导电性可受控制，范围可从绝缘体至导体之间的材料，无论从科技或是经济发展的角度来看，半导体的重要性都是非常巨大的，目前现有半导体检测装置在对半导体进行检测时难以根据半导体的大小来调节夹持简便，不便于对半导体的检测，影响半导体检测装置的使用。
实用新型内容
本实用新型的目的是针对上述存在的问题和不足，提供一种用于半导体的检测装置，以解决难以根据半导体的大小来调节夹持简便，不便于对半导体的检测，影响半导体检测装置使用的问题。
为达到上述目的，所采取的技术方案是：
一种用于半导体的检测装置，所述用于半导体的检测装置包括：
底座，所述底座内部开设有贯通其上表面的内槽，所述内槽左右两侧内壁均开有内滑槽，所述内槽内部中间设有支撑座，所述支撑座下表面后侧偏左开有贯通其内部的连接槽，所述支撑座右侧表面后侧螺纹连接有贯穿其左侧表面后侧的螺纹杆，所述螺纹杆左端为正向螺纹，且所述螺纹杆右端为反向螺纹，所述螺纹杆中部偏偏左一端固定连接有皮带轮一，所述支撑座上表面后侧设有检测台，所述支撑座下表面后端固定安装有微型电机，所述微型电机输出端转动连接有转轴，所述转轴末端固定连接有皮带轮二，所述连接槽与皮带轮二上下对应，所述皮带轮一和皮带轮二之间嵌套有皮带，所述皮带贯通连接槽内部，所述支撑座上表面开有贯穿其前表面的滑动槽，所述内槽内部后侧上端设有两根夹持杆，两根所述夹持杆分别位于支撑座左右两侧表面后端，所述夹持杆下表面固定连接有连接杆二，所述连接杆二内部开有贯穿其内侧和外侧表面的通槽，所述螺纹杆贯通通槽内并与其螺纹连接，所述夹持杆内侧表面上端均粘接有垫块，所述垫块下表面高于检测台上表面，所述连接杆二内表面下端固定连接有限位伸缩杆，且所述限位伸缩杆位于通槽下端，所述限位伸缩杆靠内一端与支撑座左右两侧表面固定连接。
优选的，所述底座上表面偏后侧固定安装有安装壳，所述安装壳上表面中部活动连接有贯通其内部的连接杆一，所述连接杆一下端固定安装有检测板。
优选的，所述连接杆一上端与外部驱动装置固定连接，所述检测台与检测板上下对应。
优选的，所述螺纹杆左右两端活动嵌入内滑槽内，所述螺纹杆贯通连接槽内部上端，所述皮带轮一与连接槽相对应。
优选的，所述底座内部前侧上端固定安装有电动缸一，所述电动缸一输出端活动连接有贯通内侧的推杆一，所述推杆一后端活动嵌入滑动槽内，且所述推杆一后侧末端与检测台下表面固定连接。
优选的，所述内槽底部中间固定安装有电动缸二，所述电动缸二输出端活动连接有推杆二，所述推杆二上端与支撑座下表面中部固定连接，所述推杆二位于微型电机前端。
采用上述技术方案，所取得的有益效果是：
通过让电动缸二以推杆二推动支撑座上下移动，此时，螺纹杆左右两端会在内滑槽内随之上下移动，以此，便于根据半导体厚度的大小来调节对半导体的检测高度，同时通过皮带轮二、皮带和皮带轮一带动螺纹杆逆时针或是顺时针转动，能够让夹持杆向内槽内侧或是外侧移动，以此便能够根据半导体的大小来调节夹持间距，以便于较好的对半导体进行夹持，方便对半导体后续的检测，两者的相互结合能够更便于半导体进行检测，且操作简便。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例的技术方案，下文中将对本实用新型实施例的附图进行简单介绍。其中，附图仅仅用于展示本实用新型的一些实施例，而非将本实用新型的全部实施例限制于此。
图1为本实用新型的整体主视剖面结构示意图；
图2为本实用新型图1的A局部结构示意图；
图3为本实用新型的整体右视剖面结构示意图。
图中标记：底座1、内槽11、内滑槽12、安装壳2、连接杆一21、检测板22、夹持杆3、连接杆二31、通槽32、垫块33、限位伸缩杆34、支撑座4、连接槽41、螺纹杆42、皮带轮一421、检测台43、皮带轮二44、滑动槽45、微型电机46、皮带47、电动缸一5、推杆一51、电动缸二6、推杆二61。
具体实施方式
为了使得本实用新型的技术方案的目的、技术特征和技术效果更加清楚，下文中将结合本实用新型具体实施例的附图，对本实用新型实施例的示例方案进行清楚、完整地描述。
参见图1至图3，本申请是一种用于半导体的检测装置，所述用于半导体的检测装置包括：
底座1，所述底座1内部开设有贯通其上表面的内槽11，所述内槽11左右两侧内壁均开有内滑槽12，所述内槽11内部中间设有支撑座4，所述支撑座4下表面后侧偏左开有贯通其内部的连接槽41，所述支撑座4右侧表面后侧螺纹连接有贯穿其左侧表面后侧的螺纹杆42，所述螺纹杆42左端为正向螺纹，且所述螺纹杆42右端为反向螺纹，所述螺纹杆42中部偏偏左一端固定连接有皮带轮一421，所述支撑座4上表面后侧设有检测台43，所述支撑座4下表面后端固定安装有微型电机46，所述微型电机46输出端转动连接有转轴，所述转轴末端固定连接有皮带轮二44，所述连接槽41与皮带轮二421上下对应，所述皮带轮一421和皮带轮二44之间嵌套有皮带47，所述皮带47贯通连接槽41内部，所述支撑座4上表面开有贯穿其前表面的滑动槽45，所述内槽11内部后侧上端设有两根夹持杆3，两根所述夹持杆3分别位于支撑座4左右两侧表面后端，所述夹持杆3下表面固定连接有连接杆二31，所述连接杆二31内部开有贯穿其内侧和外侧表面的通槽32，所述螺纹杆42贯通通槽32内并与其螺纹连接，所述夹持杆3内侧表面上端均粘接有垫块33，所述垫块33下表面高于检测台43上表面，所述连接杆二31内表面下端固定连接有限位伸缩杆34，且所述限位伸缩杆34位于通槽32下端，所述限位伸缩杆34靠内一端与支撑座4左右两侧表面固定连接；
所述底座1上表面偏后侧固定安装有安装壳2，所述安装壳2上表面中部活动连接有贯通其内部的连接杆一21，所述连接杆一21下端固定安装有检测板22，所述连接杆一21上端与外部驱动装置固定连接，所述检测台43与检测板22上下对应，所述螺纹杆42左右两端活动嵌入内滑槽12内，所述螺纹杆42贯通连接槽41内部上端，所述皮带轮一421与连接槽41相对应，所述底座1内部前侧上端固定安装有电动缸一5，所述电动缸一5输出端活动连接有贯通内侧的推杆一51，所述推杆一51后端活动嵌入滑动槽45内，且所述推杆一51后侧末端与检测台43下表面固定连接，所述内槽11底部中间固定安装有电动缸二6，所述电动缸二6输出端活动连接有推杆二61，所述推杆二61上端与支撑座4下表面中部固定连接，所述推杆二61位于微型电机46前端；
具体的，首先使电动缸一5通电并让其通过推杆一51带动检测台43向前移动，在这个过程中推杆一51会沿着滑动槽45滑动，且检测台43会随之移动至支撑座4上表面前端，接着将需要进行检测的半导体放置在检测台43上，随后通过让微型电机46通电并使其通过皮带轮二44、皮带47和皮带轮一421带动螺纹杆42转动，因为螺纹杆42左端为正向螺纹且其右端为反向螺纹，所以在螺纹杆42逆时针或是顺时针转动的时候，通过与螺纹杆42螺纹连接的连接杆二31会让夹持杆3向内槽11内侧或是外侧移动，以此便能够根据半导体的大小来调节夹持间距，在调整好夹持间距之后便可以再次让电动缸一5上的推杆一51推动检测台43向支持座4后端移动，而检测台43上端的半导体也会随之一起移动，因为夹持杆3通过限位伸缩杆34与支撑座4固定连接，所以在检测台43被推杆一51推动移动时，夹持杆3前后位置不会发生变化，当检测台43移动至支撑座4上表面后端并与检测板22上下对应的时候，再次让微型电机46皮带轮一421、皮带47和皮带轮二44带动螺纹杆42逆时针或是顺时针转动，随后夹持杆3便会随着螺纹杆42的转动而对检测台43上的半导体进行夹持固定，接着便可通过外部的驱动装置带动连接杆一21推动检测板22向下移动，当检测板22下表面与半导体上表面接触时便可停止推动检测板22，随后便可进行对检测台43上半导体的检测，操作简便，当完成检测之后便可通过微型电机46和螺纹杆42使夹持杆3分别向内槽11左右两侧移动，之后便可如上述操作般通过推杆一51和检测台43将半导体移动至支撑座4前端，以此便可将完成检测的半导体取出，操作简便，便于将完成检测的半导体取出；
进一步的，通过让电动缸二6以推杆二61推动支撑座4上下移动，此时，螺纹杆42左右两端会在内滑槽12内随之上下移动，以此，便于根据半导体厚度的大小来调节对半导体的检测高度，同时通过皮带轮二44、皮带47和皮带轮一421带动螺纹杆42逆时针或是顺时针转动，能够让夹持杆3向内槽11内侧或是外侧移动，以此便能够根据半导体的大小来调节夹持间距，以便于较好的对半导体进行夹持，方便对半导体后续的检测，两者的相互结合能够更便于半导体进行检测，且操作简便。
上文中参照优选的实施例详细描述了本实用新型的示范性实施方式，然而本领域技术人员可理解的是，在不背离本实用新型理念的前提下，可以对上述具体实施例做出多种变型和改型，且可以对本实用新型提出的各技术特征、结构进行多种组合，而不超出本实用新型的保护范围，本实用新型的保护范围由所附的权利要求确定。
Claims (6)
1.一种用于半导体的检测装置，其特征在于，所述用于半导体的检测装置包括：
底座(1)，所述底座(1)内部开设有贯通其上表面的内槽(11)，所述内槽(11)左右两侧内壁均开有内滑槽(12)，所述内槽(11)内部中间设有支撑座(4)，所述支撑座(4)下表面后侧偏左开有贯通其内部的连接槽(41)，所述支撑座(4)右侧表面后侧螺纹连接有贯穿其左侧表面后侧的螺纹杆(42)，所述螺纹杆(42)左端为正向螺纹，且所述螺纹杆(42)右端为反向螺纹，所述螺纹杆(42)中部偏偏左一端固定连接有皮带轮一(421)，所述支撑座(4)上表面后侧设有检测台(43)，所述支撑座(4)下表面后端固定安装有微型电机(46)，所述微型电机(46)输出端转动连接有转轴，所述转轴末端固定连接有皮带轮二(44)，所述连接槽(41)与皮带轮二(421)上下对应，所述皮带轮一(421)和皮带轮二(44)之间嵌套有皮带(47)，所述皮带(47)贯通连接槽(41)内部，所述支撑座(4)上表面开有贯穿其前表面的滑动槽(45)，所述内槽(11)内部后侧上端设有两根夹持杆(3)，两根所述夹持杆(3)分别位于支撑座(4)左右两侧表面后端，所述夹持杆(3)下表面固定连接有连接杆二(31)，所述连接杆二(31)内部开有贯穿其内侧和外侧表面的通槽(32)，所述螺纹杆(42)贯通通槽(32)内并与其螺纹连接，所述夹持杆(3)内侧表面上端均粘接有垫块(33)，所述垫块(33)下表面高于检测台(43)上表面，所述连接杆二(31)内表面下端固定连接有限位伸缩杆(34)，且所述限位伸缩杆(34)位于通槽(32)下端，所述限位伸缩杆(34)靠内一端与支撑座(4)左右两侧表面固定连接。
2.根据权利要求1所述的一种用于半导体的检测装置，其特征在于：所述底座(1)上表面偏后侧固定安装有安装壳(2)，所述安装壳(2)上表面中部活动连接有贯通其内部的连接杆一(21)，所述连接杆一(21)下端固定安装有检测板(22)。
3.根据权利要求2所述的一种用于半导体的检测装置，其特征在于：所述连接杆一(21)上端与外部驱动装置固定连接，所述检测台(43)与检测板(22)上下对应。
4.根据权利要求1所述的一种用于半导体的检测装置，其特征在于：所述螺纹杆(42)左右两端活动嵌入内滑槽(12)内，所述螺纹杆(42)贯通连接槽(41)内部上端，所述皮带轮一(421)与连接槽(41)相对应。
5.根据权利要求1所述的一种用于半导体的检测装置，其特征在于：所述底座(1)内部前侧上端固定安装有电动缸一(5)，所述电动缸一(5)输出端活动连接有贯通内侧的推杆一(51)，所述推杆一(51)后端活动嵌入滑动槽(45)内，且所述推杆一(51)后侧末端与检测台(43)下表面固定连接。
6.根据权利要求1所述的一种用于半导体的检测装置，其特征在于：所述内槽(11)底部中间固定安装有电动缸二(6)，所述电动缸二(6)输出端活动连接有推杆二(61)，所述推杆二(61)上端与支撑座(4)下表面中部固定连接，所述推杆二(61)位于微型电机(46)前端。
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