CN215005679U - 一种模拟集成电路测试仪 - Google Patents

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Abstract

本实用新型涉及集成电路技术领域,尤其为一种模拟集成电路测试仪,包括测试箱、液压机和单片机,所述测试箱的内侧下端固定连接有传送带,所述测试箱的内侧壁上端左侧固定连接有液压机,所述液压机的下端密封连接有液压杆,所述液压杆的下端固定连接有传动接头,所述传动接头的外侧转动连接有传动杆,所述传动杆的下端转动连接有驱动接头。本实用新型中,通过设置的传送带、液压杆和驱动接头,利用传送带对芯片主体进行输送,并通过液压杆的升降使传动杆能够带动驱动接头进行移动,从而使驱动接头能够与芯片主体进行连接,进而使芯片主体内的数据运行能够传入单片机内,从而实现对芯片的测试检验,并能够提升集成电路芯片的测试效率。

Description

一种模拟集成电路测试仪
技术领域
本实用新型涉及集成电路技术领域,具体为一种模拟集成电路测试仪。
背景技术
随着社会的发展,对集成电路的应用愈加广泛,集成电路是一种微型电子器件或部件,采用一定的工艺,把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起,制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上,然后封装在一个管壳内,成为具有所需电路功能的微型结构。其中所有元件在结构上已组成一个整体,使电子元件向着微小型化、低功耗、智能化和高可靠性方面迈进了一大步。
现有技术中,对于集成电路的测试只能够单个的对集成电路芯片进行连接检测,并且需要人工对集成电路芯片进行更换,从而降低集成电路芯片的测试效率,不便于大量的集成电路芯片测试;且在对集成电路芯片进行检测后,不能够快速的对未合格产品进行剔除,从而使未合格产品掺杂在合格产品内,不便于合格产品的包装和使用。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种模拟集成电路测试仪,以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:
一种模拟集成电路测试仪,包括测试箱、液压机和单片机,所述测试箱的内侧下端固定连接有传送带,所述传送带的外侧表面固定连接有放置槽板,所述测试箱的内侧壁上端左侧固定连接有液压机,所述液压机的下端密封连接有液压杆,所述液压杆的下端固定连接有传动接头,所述传动接头的外侧转动连接有传动杆,所述传动杆的下端转动连接有驱动接头,所述驱动接头的内侧滑动连接有芯片主体,所述芯片主体与放置槽板之间滑动连接,所述测试箱的后侧壁右侧固定连接有电机,所述电机的前端设有转动杆,所述转动杆通过输出轴与电机之间转动连接,所述转动杆的下端转动连接有驱动杆,所述驱动杆的下端转动连接有升降杆,所述升降杆的下端固定连接有推送板,所述推送板的内侧滑动连接有弹性接杆,所述弹性接杆的下侧表面外覆有弹簧,所述弹性接杆的下端固定连接有印章。
优选的,所述测试箱的下端固定连接有支腿,所述支腿的数量有四个,所述支腿关于测试箱的中心轴对称设置。
优选的,所述测试箱的上端左侧固定连接有单片机,所述单片机的右侧电性连接有测试机,所述测试机与测试箱之间固定连接。
优选的,所述升降杆的外侧设有固定板,所述升降杆与固定板之间滑动连接,所述固定板与测试箱之间固定连接。
优选的,所述液压机的下端外侧固定连接有支撑板,所述支撑板的内侧固定连接有伸缩杆,所述伸缩杆与驱动接头之间固定连接。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:
1、本实用新型中,通过设置的传送带、液压杆和驱动接头,利用传送带对芯片主体进行输送,并通过液压杆的升降使传动杆能够带动驱动接头进行移动,从而使驱动接头能够与芯片主体进行连接,进而使芯片主体内的数据运行能够传入单片机内,并通过测试机对芯片数据进行对比,从而实现对芯片的测试检验,并能够提升集成电路芯片的测试效率;
2、本实用新型中,通过设置的转动杆、升降杆和印章,利用转动杆的转动使驱动杆能够带动升降杆进行升降,从而使推送板能够带动弹性接杆进行升降,进而使印章能够对测试不合格的集成电路芯片进行盖章,便于工作人员对未合格产品进行去除,从而便于对合格产品进行收集。
附图说明
图1为本实用新型的整体安装结构剖视图;
图2为本实用新型液压机、传动杆和驱动接头的安装结构右视图;
图3为本实用新型图1的A处安装结构示意图;
图4为本实用新型图1的B处安装结构示意图。
图中:1、测试箱;2、传送带;3、放置槽板;4、液压机;5、液压杆;6、传动接头;7、传动杆;8、驱动接头;9、芯片主体;10、电机;11、转动杆;12、驱动杆;13、升降杆;14、推送板;15、弹性接杆;16、弹簧;17、印章;18、支腿;19、单片机;20、测试机;21、固定板;22、伸缩杆;23、支撑板。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
请参阅图1-图4,本实用新型提供一种技术方案:
一种模拟集成电路测试仪,包括测试箱1、液压机4和单片机19,测试箱1的内侧下端固定连接有传送带2,传送带2的外侧表面固定连接有放置槽板3,测试箱1的内侧壁上端左侧固定连接有液压机4,液压机4的下端密封连接有液压杆5,液压杆5的下端固定连接有传动接头6,传动接头6的外侧转动连接有传动杆7,传动杆7的下端转动连接有驱动接头8,驱动接头8的内侧滑动连接有芯片主体9,芯片主体9与放置槽板3之间滑动连接,测试箱1的后侧壁右侧固定连接有电机10,电机10的前端设有转动杆11,转动杆11通过输出轴与电机10之间转动连接,转动杆11的下端转动连接有驱动杆12,驱动杆12的下端转动连接有升降杆13,升降杆13的下端固定连接有推送板14,推送板14的内侧滑动连接有弹性接杆15,弹性接杆15的下侧表面外覆有弹簧16,弹性接杆15的下端固定连接有印章17。
测试箱1的下端固定连接有支腿18,支腿18的数量有四个,支腿18关于测试箱1的中心轴对称设置,便于对测试箱1进行支撑;测试箱1的上端左侧固定连接有单片机19,单片机19的右侧电性连接有测试机20,测试机20与测试箱1之间固定连接,便于对芯片主体9的运行数据进行对比,从而测试芯片主体9是否合格;升降杆13的外侧设有固定板21,升降杆13与固定板21之间滑动连接,固定板21与测试箱1之间固定连接,便于对升降杆13进行限位,从而使升降杆13能够直线升降,从而便于印章17的盖章处理;液压机4的下端外侧固定连接有支撑板23,支撑板23的内侧固定连接有伸缩杆22,伸缩杆22与驱动接头8之间固定连接,使驱动接头8能够水平进行移动,从而使驱动接头8能够顺利与芯片主体9连接。
工作流程:此装置采用室内220V电源进行供电,在对集成电路芯片进行测试时,将芯片主体9放置在放置槽板3内,并启动传送带2,使放置槽板3能够带动芯片主体9进行移动,从而使芯片主体9能够移动至驱动接头8的内侧,并在芯片主体9移动至驱动接头8的内侧后停止转动传送带2,同时启动液压机4,使液压杆5带动传动接头6向上移动,从而使传动杆7带动驱动接头8向内侧移动,进而利用驱动接头8与芯片主体9连接,从而使芯片主体9能够运行,并通过驱动接头8将集成电路芯片内的运行数据传入单片机19内,并通过测试机20对集成电路芯片内的数据进行对比测试。同时通过设置的伸缩杆22使驱动接头8能够水平移动,使驱动接头8能够顺利的与芯片主体9连接,并在集成电路芯片测试完成后启动液压机4使液压杆5带动传动接头6向下移动,从而使驱动接头8能够与芯片主体9断开连接,并再次转动传送带2,使放置槽板3带动测试后的芯片主体9向右侧移动,并在测试后的芯片主体9移动至印章17下端后,停止转动传送带2,并转动电机10,使转动杆11带动驱动杆12向下移动,从而使升降杆13带动推送板14向下移动,进而使弹性接杆15带动印章17向下移动,从而使印章17能够对测试不合格的芯片主体9进行盖章,便于对不合格的芯片主体9进行剔除,进而便于对合格的产品进行集中收集,并在盖章后再次启动传送带2即可。
尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例,对于本领域的普通技术人员而言,可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型,本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (5)

1.一种模拟集成电路测试仪,包括测试箱(1)、液压机(4)和单片机(19),其特征在于:所述测试箱(1)的内侧下端固定连接有传送带(2),所述传送带(2)的外侧表面固定连接有放置槽板(3);所述测试箱(1)的内侧壁上端左侧固定连接有液压机(4),所述液压机(4)的下端密封连接有液压杆(5),所述液压杆(5)的下端固定连接有传动接头(6),所述传动接头(6)的外侧转动连接有传动杆(7),所述传动杆(7)的下端转动连接有驱动接头(8),所述驱动接头(8)的内侧滑动连接有芯片主体(9),所述芯片主体(9)与放置槽板(3)之间滑动连接;所述测试箱(1)的后侧壁右侧固定连接有电机(10),所述电机(10)的前端设有转动杆(11),所述转动杆(11)通过输出轴与电机(10)之间转动连接,所述转动杆(11)的下端转动连接有驱动杆(12),所述驱动杆(12)的下端转动连接有升降杆(13),所述升降杆(13)的下端固定连接有推送板(14),所述推送板(14)的内侧滑动连接有弹性接杆(15),所述弹性接杆(15)的下侧表面外覆有弹簧(16),所述弹性接杆(15)的下端固定连接有印章(17)。
2.根据权利要求1所述的一种模拟集成电路测试仪,其特征在于:所述测试箱(1)的下端固定连接有支腿(18),所述支腿(18)的数量有四个,所述支腿(18)关于测试箱(1)的中心轴对称设置。
3.根据权利要求1所述的一种模拟集成电路测试仪,其特征在于:所述测试箱(1)的上端左侧固定连接有单片机(19),所述单片机(19)的右侧电性连接有测试机(20),所述测试机(20)与测试箱(1)之间固定连接。
4.根据权利要求1所述的一种模拟集成电路测试仪,其特征在于:所述升降杆(13)的外侧设有固定板(21),所述升降杆(13)与固定板(21)之间滑动连接,所述固定板(21)与测试箱(1)之间固定连接。
5.根据权利要求1所述的一种模拟集成电路测试仪,其特征在于:所述液压机(4)的下端外侧固定连接有支撑板(23),所述支撑板(23)的内侧固定连接有伸缩杆(22),所述伸缩杆(22)与驱动接头(8)之间固定连接。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN116351738A (zh) * 2023-06-02 2023-06-30 常州银河电器有限公司 一种用于双向高压台面tvs芯片的测试设备及工艺

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN116351738A (zh) * 2023-06-02 2023-06-30 常州银河电器有限公司 一种用于双向高压台面tvs芯片的测试设备及工艺
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