CN216015297U - 一种芯片多工位测试系统 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种芯片多工位测试系统，包括齿槽、T型块、放置槽、侧方槽、滑架、紧固螺柱、底面槽、吸盘、无尘室、十字安装板和测试探针，通过工作台、可升降支撑、底座对工作台的高度进行调整便于操作；通过齿槽、T型块、放置槽、侧方槽、滑架、紧固螺柱、底面槽、吸盘对不同的芯片进行卡紧固定并在T型块移动齿轮和滑轮的作用下移动至无尘室中进行检测；通过无尘室、十字安装板和测试探针对芯片对十字放置台上的芯片进行检测，实现四个芯片同时进行检测，提高检测效率，并且构建无尘室以及水冷机和U型管保证良好的检测环境；通过测试探针和架体对不需要特殊环境检测的封装芯片进行检测。
Description
技术领域
本实用新型涉及芯片检测技术领域，具体为一种芯片多工位测试系统。
背景技术
随着科技水平的不断提升，电子芯片在我国也正在进行着快速发展与提升，在电子芯片的生产中，常常要对芯片进行检测，芯片检测是将经过切割、减薄后的独立芯片进行检测，放置于检测平台利用探针探到芯片中事先确定的测试点，通过探针上的直流电流和交流信号对其进行各种电器参数的测试，将不良品挑出，由于芯片的特殊性，对其检测环境具有较高的要求，芯片检测还包括了对封装芯片的检测，将探针从管脚连接直接进行测试，此时的环境要求较低。
目前在对芯片进行检测时工位较为单一，将单个芯片进行固定而后逐个进行检测，不仅效率较低，芯片固定方式也不够稳定，由于芯片的各种规格有所不同，在进行多工位检测实现提高效率的同时，针对不同尺寸芯片也要做到适应性的卡紧方便检测。
实用新型内容
鉴于现有技术中所存在的问题，本实用新型公开了一种芯片多工位测试系统，采用的技术方案是，包括工作台、可升降支撑、底座、T型槽、齿槽、T 型块、平板、转动支撑柱、十字放置台、指示灯、放置槽、适应性卡紧结构、无尘室、封闭槽、封闭门、顶部凸板、降温装置、封闭门升降结构、架体、升降柱、十字安装板和测试探针，工作台下部固定有可升降支撑对工作台的高度进行调节，并利用底部的底座进行放置，工作台中部左右方向开有T型槽并在其底面设置齿槽在其中配合放置T型块使其沿着齿槽进行移动带动其上面固定的平板进行移动，平板上安装转动支撑柱并在其输出端上安装十字放置台，通过转动支撑柱对十字放置台进行转动，便于位于工作台右侧的工作人员对每个芯片进行放置，十字放置台的外侧面具有指示灯，对不良品所在放置区域进行标识，后续分类，十字放置台上开有放置槽对芯片进行放置并利用适应性卡紧结构对不同规格的芯片实现卡紧，利于后续检测，工作台中部安装无尘室，其左右侧均开有封闭槽，封闭门通过封闭门升降结构安装在封闭槽中，检测时对无尘室进行封闭，封闭门的底部具有顶部凸板对封闭槽进行封闭，避免从此处进入灰尘，无尘室中还设置有降温装置，无尘室左侧具有架体，无尘室内顶部和架体上均通过升降柱安装十字安装板，并在其下表面设置有测试探针对芯片进行检测。
作为本实用新型的一种优选技术方案，适应性卡紧结构包括侧方槽、滑架、紧固螺柱、底面槽和吸盘，放置槽的外侧面开有侧方槽并在其中活动放置滑架，在其上安装有紧固螺柱并在其下端部安装防静电压块，对由于规格不同放置在放置槽中不同位置的芯片进行压紧，并且防静电，放置槽底面开有底面槽，可配合放置阻隔板，对于芯片水平放置位置进行卡紧，底面槽之间的放置槽底面安装吸盘通过平板内部气泵进行驱动，对芯片进行吸紧，芯片放置更为稳定。
作为本实用新型的一种优选技术方案，降温装置包括水冷机和U型管，无尘室上面安装水冷机，无尘室内侧壁设置U型管与水冷机连通。
作为本实用新型的一种优选技术方案，封闭门升降结构包括封闭门齿槽和齿轮电机，封闭门前后侧面设置封闭门齿槽，齿轮电机输出端安装齿轮与封闭门齿槽啮合，齿轮驱动后可实现对封闭门进行升降。
作为本实用新型的一种优选技术方案，T型块下部靠外侧开有槽口并安装T型块移动齿轮，T型块移动齿轮由驱动轴和T型块内部电机进行驱动，平板前后侧下端面固定有挡板并在其中设置有滑轮，滑轮接触工作台表面，使平台在移动过程中较为平稳。
本实用新型的有益效果：通过工作台、可升降支撑、底座对工作台的高度进行调整便于操作；通过齿槽、T型块、放置槽、侧方槽、滑架、紧固螺柱、底面槽、吸盘对不同的芯片进行卡紧固定并在T型块移动齿轮和滑轮的作用下移动至无尘室中进行检测；通过无尘室、十字安装板和测试探针对芯片对十字放置台上的芯片进行检测，实现四个芯片同时进行检测，提高检测效率，并且构建无尘室以及水冷机和U型管保证良好的检测环境；通过测试探针和架体对不需要特殊环境检测的封装芯片进行检测。
附图说明
图1为本实用新型结构示意图；
图2为本实用新型的左视结构示意图；
图3为本实用新型的部分结构示意图。
图中：工作台1、可升降支撑2、底座3、T型槽4、挡板41、滑轮42、齿槽5、T型块6、槽口61、T型块移动齿轮62、驱动轴63、平板7、转动支撑柱8、十字放置台9、指示灯10、放置槽11、侧方槽12、滑架13、紧固螺柱14、底面槽15、吸盘16、无尘室17、封闭槽18、封闭门19、顶部凸板 20、水冷机21、U型管211、封闭门齿槽22、齿轮电机23、架体24、升降柱 25、十字安装板26、测试探针27。
具体实施方式
实施例1
如图1至图3所示，本实用新型公开了一种芯片多工位测试系统，采用的技术方案是，包括工作台1、可升降支撑2、底座3、T型槽4、齿槽5、T型块6、平板7、转动支撑柱8、十字放置台9、指示灯10、放置槽11、适应性卡紧结构、无尘室17、封闭槽18、封闭门19、顶部凸板20、降温装置、封闭门升降结构、架体24、升降柱25、十字安装板26和测试探针27,工作台1通过可升降支撑2以及其底部的底座3放置于地面并可根据需求对工作台1的高度进行调整，工作台1中部左右方向开有T型槽4并在其底面设置齿槽5，放置其中的T型块6通过其内部结构与齿槽5进行配合使其沿着齿槽5进行移动，T型块6上面固定有平板7，转动支撑柱8安装在平板7上面中心处，并在其输出端上安装十字放置台9用以对芯片进行放置，十字放置台9的外侧面具有指示灯10，对于检测结果是否为良品进行区别显示，十字放置台9上开有放置槽11并在其中设置适应性卡紧结构，对于不同规格芯片进行适应性卡进，便于后续进行检测，工作台1中部安装无尘室17，并在其中设置有降温装置以构建良好的检测环境，无尘室17左右侧均开有封闭槽18，封闭门19通过封闭门升降结构安装在封闭槽18中对无尘室17进行启闭，封闭门19的底部具有顶部凸板20对封闭槽18口进行封闭，无尘室17左侧具有架体24，无尘室17内顶部和架体24上均通过升降柱25安装十字安装板26并在其下表面设置有测试探针27对十字放置台9上放置的芯片进行同时检测。
作为本实用新型的一种优选技术方案，放置槽11的外侧面开有侧方槽 12并在其中活动放置滑架13，其上安装有紧固螺柱14并在其下端部安装防静电压块，对芯片进行压紧的同时防止静电产生，放置槽11底面开有底面槽15，在其中可配合放置阻隔板对芯片位置进行调节阻隔，底面槽15之间的放置槽11底面安装吸盘16通过平板7内部气泵进行驱动，对放入的芯片进行吸紧。
作为本实用新型的一种优选技术方案，无尘室17上面安装水冷机21对无尘室17内侧壁设置的U型管211进行供能。
作为本实用新型的一种优选技术方案，封闭门19前后侧面设置封闭门齿槽22，其输出端安装齿轮与封闭门齿槽22啮合，在齿轮转动下带动封闭门 19进行升降。
作为本实用新型的一种优选技术方案，T型块移动齿轮62由驱动轴63 和T型块6内部电机进行驱动，平板7前后侧下端面固定有挡板41并在其中设置有滑轮42，滑轮42接触工作台1表面，使T型块的移动更为稳定。
本实用新型的工作原理：使用时，将芯片放入至放置槽11，利用阻隔板插入至底面槽15中对其水平位置进行定位避免移动，然后利用吸盘16和气泵对其地面进行吸紧，移动滑架13的位置，利用紧固螺柱14和其底面的防静电压块对芯片进行压紧，而后开启T型块6中的电机，在T型块移动齿轮62和齿槽5的啮合下使其沿着T型槽4进行移动，移动至无尘室17内后，封闭门 19对无尘室17进行封闭，利用其内部的升降柱25和测试探针27对芯片进行检测并根据检测结果亮起指示灯10进行识别，检测过程为四个位置芯片同时利用四组探针进行同时检测，检测效率高并且构建的低温无尘环境保证良好的检测效果，对封装芯片的检测对环境的要求度不高，因此可直接移动至架体24 下方直接利用探针对管脚进行连线对封装芯片直接进行检测。
本实用新型涉及的电路连接为本领域技术人员采用的惯用手段，可通过有限次试验得到技术启示，属于广泛使用的现有技术。
本文中未详细说明的部件为现有技术。
上述虽然对本实用新型的具体实施例作了详细说明，但是本实用新型并不限于上述实施例，在本领域普通技术人员所具备的知识范围内，还可以在不脱离本实用新型宗旨的前提下做出各种变化，而不具备创造性劳动的修改或变形仍在本实用新型的保护范围以内。
Claims (5)
1.一种芯片多工位测试系统，其特征在于：包括工作台(1)、可升降支撑(2)、底座(3)、T型槽(4)、齿槽(5)、T型块(6)、平板(7)、转动支撑柱(8)、十字放置台(9)、指示灯(10)、放置槽(11)、适应性卡紧结构、无尘室(17)、封闭槽(18)、封闭门(19)、顶部凸板(20)、降温装置、封闭门升降结构、架体(24)、升降柱(25)、十字安装板(26)和测试探针(27)；所述工作台(1)下部固定有可升降支撑(2)；所述可升降支撑(2)底部设置底座(3)；所述工作台(1)中部左右方向开有T型槽(4)并在其底面设置齿槽(5)；所述T型块(6)放置于T型槽(4)并与齿槽(5)配合移动；所述T型块(6)上面固定有平板(7)；所述平板(7)上安装转动支撑柱(8)并在其输出端上安装十字放置台(9)；所述十字放置台(9)的外侧面具有指示灯(10)；所述十字放置台(9)上开有放置槽(11)并在其中设置适应性卡紧结构；所述工作台(1)中部安装无尘室(17)；所述无尘室(17)左右侧均开有封闭槽(18)；所述封闭门(19)通过封闭门升降结构安装在封闭槽(18)中；所述封闭门(19)的底部具有顶部凸板(20)；
所述无尘室(17)中还设置有降温装置；所述无尘室(17)左侧具有架体(24)；所述无尘室(17)内顶部和架体(24)上均通过升降柱(25)安装十字安装板(26)；所述十字安装板(26)的下表面设置有测试探针(27)。
2.根据权利要求1所述的一种芯片多工位测试系统，其特征在于：所述适应性卡紧结构包括侧方槽(12)、滑架(13)、紧固螺柱(14)、底面槽(15)和吸盘(16)；所述放置槽(11)的外侧面开有侧方槽(12)并在其中活动放置滑架(13)；所述滑架(13)上安装有紧固螺柱(14)并在其下端部安装防静电压块；所述放置槽(11)底面开有底面槽(15)；
所述底面槽(15)中可配合放置阻隔板；所述底面槽(15)之间的放置槽(11)底面安装吸盘(16)通过平板(7)内部气泵进行驱动。
3.根据权利要求1所述的一种芯片多工位测试系统，其特征在于：所述降温装置包括水冷机(21)和U型管(211)；所述无尘室(17)上面安装水冷机(21)；所述无尘室(17)内侧壁设置U型管(211)与水冷机(21)连通。
4.根据权利要求1所述的一种芯片多工位测试系统，其特征在于：所述封闭门升降结构包括封闭门齿槽(22)和齿轮电机(23)；所述封闭门(19)前后侧面设置封闭门齿槽(22)；所述齿轮电机(23)输出端安装齿轮与封闭门齿槽(22)啮合。
5.根据权利要求1所述的一种芯片多工位测试系统，其特征在于：所述T型块(6)下部靠外侧开有槽口(61)并安装T型块移动齿轮(62)；所述T型块移动齿轮(62)由驱动轴(63)和T型块(6)内部电机进行驱动；所述平板(7)前后侧下端面固定有挡板(41)并在其中设置有滑轮(42)；所述滑轮(42)接触工作台(1)表面。
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Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN114944351A (zh) * | 2022-04-24 | 2022-08-26 | 济南鲁晶半导体有限公司 | 一种半导体晶圆芯片分类装置 |
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2021
- 2021-08-25 CN CN202122038706.5U patent/CN216015297U/zh not_active Expired - Fee Related
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