CN116351738A - 一种用于双向高压台面tvs芯片的测试设备及工艺 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种用于双向高压台面TVS芯片的测试设备及工艺，一种用于双向高压台面TVS芯片的测试设备，包括机架，所述机架内侧上部一端设置有滑动设置的供料机构，所述机架内侧靠近供料机构下部位置处设置有横向设置的输送带组件，所述机架内侧一端设置有用于驱动供料机构横向往复运动的驱动机构，所述输送带组件包括转动设置在机架内侧两端的两个皮带辊，所述机架外侧固定有第一电机，所述第一电机的输出轴与其中一个皮带辊通过联轴器连接。本发明可以实现不良品TVS芯片和良品TVS芯片分类，提高了工作效率，丰富了装置功能。

Description

一种用于双向高压台面TVS芯片的测试设备及工艺

技术领域

本发明涉及TVS芯片的测试技术领域，尤其涉及一种用于双向高压台面TVS芯片的测试设备及工艺。

背景技术

瞬态二极管（Transient Voltage Suppressor）简称TVS，TVS是一种二极管形式的高效能保护器件。当TVS二极管的两极受到反向瞬态高能量冲击时，它能以10的负12次方秒量级的速度，将其两极间的高阻抗变为低阻抗，吸收高达数千瓦的浪涌功率，使两极间的电压箝位于一个预定值，有效地保护电子线路中的精密元器件，免受各种浪涌脉冲的损坏，常规的TVS芯片为长方体结构，两端设置有贴片引脚，TVS芯片生产过程中需要进行检测，以保证其良品率，现有的检查装置不能很好的分离不良品，检测效率不高，所以现提出一种用于双向高压台面TVS芯片的测试设备及工艺。

发明内容

基于背景技术存在的技术问题，本发明提出了一种用于双向高压台面TVS芯片的测试设备及工艺。

本发明提出的一种用于双向高压台面TVS芯片的测试设备，包括机架，所述机架内侧上部一端设置有滑动设置的供料机构，所述机架内侧靠近供料机构下部位置处设置有横向设置的输送带组件，所述机架内侧一端设置有用于驱动供料机构横向往复运动的驱动机构；

所述输送带组件包括转动设置在机架内侧两端的两个皮带辊，所述机架外侧固定有第一电机，所述第一电机的输出轴与其中一个皮带辊通过联轴器连接，两个所述皮带辊上套设有同一个皮带，且皮带中间位置处设置有等距离呈环形分布的矩形孔，所述皮带内侧靠近矩形孔位置处设置有保存架，所述保存架靠近矩形孔一侧为开口结构，所述机架内侧靠近皮带内侧上部位置处设置有接电机构，所述接电机构包括固定在机架内侧两边呈对称分布的绝缘支撑板，且两个绝缘支撑板相对一侧设置有第一导电组和第二导电组，所述绝缘支撑板包括分别固定在两个绝缘支撑板上的第一正极导电柱和第一负极导电柱，所述第二导电组包括分别固定在两个绝缘支撑板上的第二正极导电柱和第二负极导电柱，所述第一正极导电柱和第二正极导电柱位于不同侧，所述保存架两侧分别设置有与第一导电组相适配的弧形豁口，所述机架内侧远离供料机构一端下部设置有分料组件，所述皮带辊外周面设置有与保存架相适配的环形沟道，所述第一导电组和绝缘支撑板通过导线连接有TVS测试仪。

设置的保存架可以刚好容纳一枚TVS芯片，并且TVS芯片的两极会对齐两个弧形豁口，随着皮带的移动，载有TVS芯片的保存架移动到接电机构位置，首先TVS芯片的两极与第一导电组接触，再与第二导电组接触，可以实现对TVS芯片两极进行两次不同电流方向的检查，符合TVS芯片单向导通的特性，这样落入到保存架的TVS芯片无需保持特定的极性方向，提升了检测的效率。

作为本技术方案的进一步优化，本发明一种用于双向高压台面TVS芯片的测试设备，所述分料组件包括固定设置在机架内侧靠近其中一个皮带辊下部的弧形导向板，所述弧形导向板下侧连接有支撑板，所述支撑板远离弧形导向板一端设置有楞板，所述楞板两端均设置有导向孔，且两个导向孔内均插设有第一导向杆，两个所述第一导向杆上固定设置有同一个活动板，所述第一导向杆远离活动板一端设置有限位帽，且第一导向杆外周面靠近限位帽和楞板之间位置处套设有第一弹簧件，所述活动板两侧均开有矩形豁口，且矩形豁口内均铰接有卡接组件，所述卡接组件包括转动设置在矩形豁口内的锁紧块，所述锁紧块下侧设置有扇形块，所述扇形块上设置有斜孔，所述斜孔斜向支撑板一侧倾斜，所述锁紧块上部设置有齿牙，所述皮带上设置有与齿牙相适配的联动槽，且联动槽与矩形孔位置相对应，两个所述斜孔内插设有同一个横杆，所述活动板下部固定有气缸，且气缸的伸缩端与横杆连接。

本优选方案中，设置的弧形导向板，避免在倾斜状态下的保存架中的TVS芯片掉落，当检测结果为良品的情况下，载有TVS芯片的保存架依次经过支撑板和活动板，然后重力作用下掉落，当检测结果为不良品的情况下，通过单片机控制，当载有不良品TVS芯片的保存架快要到达锁紧块位置处时，控制气缸伸长，配合设置的横杆和斜孔，推动锁紧块上旋，将齿牙卡入到载有不良品TVS芯片保存架之前的一个保存架对应的联动槽内，随着皮带移动此时活动板会跟随其一起运动，活动板和支撑板之间会产生一个间隙，随着继续的移动，不良品TVS芯片会通过间隙掉落，实现良品和不良品的掉落位置不同，可以对良品和不良品进行分类，计时一段时间后控制气缸收缩，齿牙和联动槽分离，活动板在第一弹簧件的作用下复位。

作为本技术方案的进一步优化，本发明一种用于双向高压台面TVS芯片的测试设备，所述机架上部向一端延伸形成横平部，所述机架内侧远离横平部一端上部设置有安装板，且机架内侧靠近安装板上部位置处固定有盖板。

作为本技术方案的进一步优化，本发明一种用于双向高压台面TVS芯片的测试设备，所述供料机构包括储料斗，所述储料斗上部和下部均为开口结构，所述储料斗两侧均设置有滑轨组件，所述储料斗通过滑轨组件与机架形成滑动连接，所述储料斗内侧下部位置处设置有抖料组件，所述抖料组件包括横插板，所述储料斗远离分料组件一侧设置有供横插板穿过的条形通道，所述横插板靠近储料斗内侧一边设置有斜向分料组件一侧弯曲的第二折弯部，所述横插板远离储料斗一侧向下弯折形成第一折弯部，所述横插板靠近第二折弯部位置处设置有横向设置的横轴，所述储料斗两侧均设置有横向延伸的条形孔，且所述横轴分别滑动设置在两个条形孔内，所述机架其中一侧靠近条形孔上部位置处固定有触发条，且触发条上设置有等距离分布的锯齿槽，所述储料斗侧壁靠近触发条位置处转动设置有联动臂。

作为本技术方案的进一步优化，本发明一种用于双向高压台面TVS芯片的测试设备，所述联动臂上端远离储料斗一侧设置有凸销，所述凸销置于锯齿槽内，所述联动臂侧壁远离凸销一端设置有腰型孔，所述横轴其中一端插设在腰型孔内。

本优选方案中，这里随着驱动机构的作用实现供料机构横向的往复运动，运动过程中储料斗上转动设置的联动臂跟随一起运动，凸销在不同锯齿槽内滑动，带动联动臂摆动，从而带动插设在腰型孔内的横轴在条形孔内做往复的运动，从而带动横插板往复的移动，可以推动TVS芯片移动，将多余的TVS芯片从矩形孔位置处刮走。

作为本技术方案的进一步优化，本发明一种用于双向高压台面TVS芯片的测试设备，所述滑轨组件包括固定在机架内侧的直线导轨，且直线导轨上滑动设置有滑块，所述滑块通过螺栓与储料斗侧壁固定连接。

作为本技术方案的进一步优化，本发明一种用于双向高压台面TVS芯片的测试设备，所述第一折弯部上设置有圆形插孔，且圆形插孔内插设有第二导向杆，所述第二导向杆远离第一折弯部一端与储料斗侧壁固定连接，所述第二导向杆外周面靠近第一折弯部和储料斗之间套设有第二弹簧件。

作为本技术方案的进一步优化，本发明一种用于双向高压台面TVS芯片的测试设备，所述驱动机构包括固定在安装板上的第二电机，且第二电机的伸缩端固定有转盘，所述转盘上部靠近边缘位置处转动设置有金属臂，所述储料斗靠近转盘一侧设置有连接块，所述金属臂远离转盘一端与连接块转动连接。

作为本技术方案的进一步优化，本发明一种用于双向高压台面TVS芯片的测试设备，所述机架顶部靠近供料机构位置处固定有机罩，所述TVS测试仪设置在机罩上。

本发明提出的一种用于双向高压台面TVS芯片的测试工艺，使用如上述所述的一种用于双向高压台面TVS芯片的测试设备，其包括如下步骤：

S1：上料，将需要进行检测的TVS芯片投放到储料斗内，并在机架下部靠近分料组件位置处摆放两个用于存放测试后TVS芯片的收纳盒；

S2：测试，通过控制驱动机构中的第二电机工作，带动转盘旋转，配合设置的金属臂，实现储料斗在机架内横向的往复运动，运动过程中抖料组件中的联动臂上的凸销会在触发条上的锯齿槽内滑动，滑动过程中会带动联动臂交替的摆动，从而带动横轴在条形孔内往复的移动，从而带动横插板做往复运动，从而带动第二折弯部推动储料斗中的TVS芯片移动，有助于TVS芯片落入到矩形孔内，在此过程中第一电机的作用下，带动皮带匀速的旋转，当TVS芯片落入到保存架中，随着皮带的运动，载有TVS芯片的保存架移动到两个绝缘支撑板之间，首先TVS芯片的引脚会与第一导电组接触，通过TVS测试仪进行阻值的检测，并随着皮带的运动，载有TVS芯片的保存架处于第二导电组之间，再通过TVS测试仪进行阻值的检测；

S3：下料，通过单片机与TVS测试仪进行通讯，当检测阻值结果在合理的阈值范围内，判断对应TVS测试仪为良品，随着皮带的移动，良品的TVS测试仪会经过分料组件，然后在重力作用下，从保存架中掉落到对应的收纳盒内，当检测阻值结果超过设定的阈值，则判断TVS测试仪为不良品，此时会触发定时程序，控制气缸伸出，配合横杆和斜孔，带动锁紧块旋转，在不良品的TVS测试仪快要到达锁紧块位置处时，将齿牙上移卡入不良品TVS芯片所在保存架之前的一个保存架对应的联动槽内，随着皮带的旋转，带动活动板一起移动，不良品的TVS测试仪会从活动板和支撑板之间的间隙掉落到另外一个收纳盒内，实现不良品TVS芯片和良品TVS芯片分类。

综上可知，本发明中的有益效果为：

通过设置的分料组件，可以实现不良品TVS芯片和良品TVS芯片分类，提高了工作效率，丰富了装置功能，同时配合设置的接电机构和保存架，可以对TVS芯片两极进行交替的检测，检测的结果更加可靠，同时配合设置的驱动机构和供料机构，可以提高TVS芯片落入到保存架中的成功率，配合设置的抖料组件，机械联动巧妙，节约动力源，有助于TVS芯片进入到保存架中，以及多余的TVS芯片离开保存架。

附图说明

图1为本发明提出的一种用于双向高压台面TVS芯片的测试设备的结构示意图；

图2为本发明提出的一种用于双向高压台面TVS芯片的测试设备机架的结构示意图；

图3为本发明提出的一种用于双向高压台面TVS芯片的测试设备去除机架的结构示意图；

图4为本发明提出的一种用于双向高压台面TVS芯片的测试设备输送带组件和分料组件的结构示意图；

图5为本发明提出的一种用于双向高压台面TVS芯片的测试设备分料组件的结构示意图；

图6为本发明提出的一种用于双向高压台面TVS芯片的测试设备锁紧块的结构示意图；

图7为本发明提出的一种用于双向高压台面TVS芯片的测试设备保存架的结构示意图；

图8为本发明提出的一种用于双向高压台面TVS芯片的测试设备接电机构的结构示意图；

图9为本发明提出的一种用于双向高压台面TVS芯片的测试设备供料机构的结构示意图；

图10为本发明提出的一种用于双向高压台面TVS芯片的测试设备横插板的结构示意图。

图中：1、机架；101、横平部；102、安装板；103、盖板；2、输送带组件；201、第一电机；202、皮带辊；2021、环形沟道；203、皮带；2031、矩形孔；2032、联动槽；204、保存架；2041、弧形豁口；3、分料组件；301、弧形导向板；302、支撑板；303、楞板；304、第一导向杆；3041、限位帽；305、第一弹簧件；306、气缸；307、横杆；308、锁紧块；3081、扇形块；3082、斜孔；3083、齿牙；309、活动板；4、机罩；5、供料机构；501、储料斗；5011、连接块；5012、第二导向杆；5013、条形孔；502、直线导轨；503、滑块；504、抖料组件；5041、横插板；50411、第一折弯部；50412、第二折弯部；50413、横轴；5042、第二弹簧件；5043、联动臂；50431、腰型孔；50432、凸销；5044、触发条；50441、锯齿槽；6、驱动机构；601、转盘；602、金属臂；603、第二电机；7、接电机构；701、绝缘支撑板；702、第一导电组；703、第二导电组。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图1-图10，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

参照图1-10，一种用于双向高压台面TVS芯片的测试设备，包括机架1，所述机架1内侧上部一端设置有滑动设置的供料机构5，所述机架1内侧靠近供料机构5下部位置处设置有横向设置的输送带组件2，所述机架1内侧一端设置有用于驱动供料机构5横向往复运动的驱动机构6；

所述输送带组件2包括转动设置在机架1内侧两端的两个皮带辊202，所述机架1外侧固定有第一电机201，所述第一电机201的输出轴与其中一个皮带辊202通过联轴器连接，两个所述皮带辊202上套设有同一个皮带203，且皮带203中间位置处设置有等距离呈环形分布的矩形孔2031，所述皮带203内侧靠近矩形孔2031位置处设置有保存架204，所述保存架204靠近矩形孔2031一侧为开口结构，所述机架1内侧靠近皮带203内侧上部位置处设置有接电机构7，所述接电机构7包括固定在机架1内侧两边呈对称分布的绝缘支撑板701，且两个绝缘支撑板701相对一侧设置有第一导电组702和第二导电组703，所述绝缘支撑板701包括分别固定在两个绝缘支撑板701上的第一正极导电柱和第一负极导电柱，所述第二导电组703包括分别固定在两个绝缘支撑板701上的第二正极导电柱和第二负极导电柱，所述第一正极导电柱和第二正极导电柱位于不同侧，所述保存架204两侧分别设置有与第一导电组702相适配的弧形豁口2041，所述机架1内侧远离供料机构5一端下部设置有分料组件3，所述皮带辊202外周面设置有与保存架204相适配的环形沟道2021，所述第一导电组702和绝缘支撑板701通过导线连接有TVS测试仪，设置的保存架204可以刚好容纳一枚TVS芯片，并且TVS芯片的两极会对齐两个弧形豁口2041，随着皮带203的移动，载有TVS芯片的保存架204移动到接电机构7位置，首先TVS芯片的两极与第一导电组702接触，再与第二导电组703接触，可以实现对TVS芯片两极进行两次不同电流方向的检查，符合TVS芯片单向导通的特性，这样落入到保存架204的TVS芯片无需保持特定的极性方向，提升了检测的效率。

参照附图3、附图4、附图5和附图6，所述分料组件3包括固定设置在机架1内侧靠近其中一个皮带辊202下部的弧形导向板301，所述弧形导向板301下侧连接有支撑板302，所述支撑板302远离弧形导向板301一端设置有楞板303，所述楞板303两端均设置有导向孔，且两个导向孔内均插设有第一导向杆304，两个所述第一导向杆304上固定设置有同一个活动板309，所述第一导向杆304远离活动板309一端设置有限位帽3041，且第一导向杆304外周面靠近限位帽3041和楞板303之间位置处套设有第一弹簧件305，所述活动板309两侧均开有矩形豁口，且矩形豁口内均铰接有卡接组件，所述卡接组件包括转动设置在矩形豁口内的锁紧块308，所述锁紧块308下侧设置有扇形块3081，所述扇形块3081上设置有斜孔3082，所述斜孔3082斜向支撑板302一侧倾斜，所述锁紧块308上部设置有齿牙3083，所述皮带203上设置有与齿牙3083相适配的联动槽2032，且联动槽2032与矩形孔2031位置相对应，两个所述斜孔3082内插设有同一个横杆307，所述活动板309下部固定有气缸306，且气缸306的伸缩端与横杆307连接，设置的弧形导向板301，避免在倾斜状态下的保存架204中的TVS芯片掉落，当检测结果为良品的情况下，载有TVS芯片的保存架204依次经过支撑板302和活动板309，然后重力作用下掉落，当检测结果为不良品的情况下，通过单片机控制，当载有不良品TVS芯片的保存架204快要到达锁紧块308位置处时，控制气缸306伸长，配合设置的横杆307和斜孔3082，推动锁紧块308上旋，将齿牙3083卡入到载有不良品TVS芯片保存架204之前的一个保存架204对应的联动槽2032内，随着皮带203移动此时活动板309会跟随其一起运动，活动板309和支撑板302之间会产生一个间隙，随着继续的移动，不良品TVS芯片会通过间隙掉落，实现良品和不良品的掉落位置不同，可以对良品和不良品进行分类，计时一段时间后控制气缸收缩，齿牙3083和联动槽2032分离，活动板309在第一弹簧件305的作用下复位。

参照附图2，所述机架1上部向一端延伸形成横平部101，所述机架1内侧远离横平部101一端上部设置有安装板102，且机架1内侧靠近安装板102上部位置处固定有盖板103。

参照附图3、附图9和附图10，所述供料机构5包括储料斗501，所述储料斗501上部和下部均为开口结构，所述储料斗501两侧均设置有滑轨组件，所述储料斗501通过滑轨组件与机架1形成滑动连接，所述储料斗501内侧下部位置处设置有抖料组件504，所述抖料组件504包括横插板5041，所述储料斗501远离分料组件3一侧设置有供横插板5041穿过的条形通道，所述横插板5041靠近储料斗501内侧一边设置有斜向分料组件3一侧弯曲的第二折弯部50412，所述横插板5041远离储料斗501一侧向下弯折形成第一折弯部50411，所述横插板5041靠近第二折弯部50412位置处设置有横向设置的横轴50413，所述储料斗501两侧均设置有横向延伸的条形孔5013，且所述横轴50413分别滑动设置在两个条形孔5013内，所述机架1其中一侧靠近条形孔5013上部位置处固定有触发条5044，且触发条5044上设置有等距离分布的锯齿槽50441，所述储料斗501侧壁靠近触发条5044位置处转动设置有联动臂5043，所述联动臂5043上端远离储料斗501一侧设置有凸销50432，所述凸销50432置于锯齿槽50441内，所述联动臂5043侧壁远离凸销50432一端设置有腰型孔50431，所述横轴50413其中一端插设在腰型孔50431内，这里随着驱动机构6的作用实现供料机构5横向的往复运动，运动过程中储料斗501上转动设置的联动臂5043跟随一起运动，凸销50432在不同锯齿槽50441内滑动，带动联动臂5043摆动，从而带动插设在腰型孔50431内的横轴50413在条形孔5013内做往复的运动，从而带动横插板5041往复的移动，可以推动TVS芯片移动，将多余的TVS芯片从矩形孔2031位置处刮走。

参照附图3，所述滑轨组件包括固定在机架1内侧的直线导轨502，且直线导轨502上滑动设置有滑块503，所述滑块503通过螺栓与储料斗501侧壁固定连接。

参照附图9，所述第一折弯部50411上设置有圆形插孔，且圆形插孔内插设有第二导向杆5012，所述第二导向杆5012远离第一折弯部50411一端与储料斗501侧壁固定连接，所述第二导向杆5012外周面靠近第一折弯部50411和储料斗501之间套设有第二弹簧件5042。

所述驱动机构6包括固定在安装板102上的第二电机603，且第二电机603的伸缩端固定有转盘601，所述转盘601上部靠近边缘位置处转动设置有金属臂602，所述储料斗501靠近转盘601一侧设置有连接块5011，所述金属臂602远离转盘601一端与连接块5011转动连接，所述机架1顶部靠近供料机构5位置处固定有机罩4，所述TVS测试仪设置在机罩4上。

一种用于双向高压台面TVS芯片的测试工艺，使用如上述所述的一种用于双向高压台面TVS芯片的测试设备，其包括如下步骤：

S1：上料，将需要进行检测的TVS芯片投放到储料斗501内，并在机架1下部靠近分料组件3位置处摆放两个用于存放测试后TVS芯片的收纳盒；

S2：测试，通过控制驱动机构6中的第二电机603工作，带动转盘601旋转，配合设置的金属臂602，实现储料斗501在机架1内横向的往复运动，运动过程中抖料组件504中的联动臂5043上的凸销50432会在触发条5044上的锯齿槽50441内滑动，滑动过程中会带动联动臂5043交替的摆动，从而带动横轴50413在条形孔5013内往复的移动，从而带动横插板5041做往复运动，从而带动第二折弯部50412推动储料斗501中的TVS芯片移动，有助于TVS芯片落入到矩形孔2031内，在此过程中第一电机201的作用下，带动皮带203匀速的旋转，当TVS芯片落入到保存架204中，随着皮带203的运动，载有TVS芯片的保存架204移动到两个绝缘支撑板701之间，首先TVS芯片的引脚会与第一导电组702接触，通过TVS测试仪进行阻值的检测，并随着皮带203的运动，载有TVS芯片的保存架204处于第二导电组703之间，再通过TVS测试仪进行阻值的检测；

S3：下料，通过单片机与TVS测试仪进行通讯，当检测阻值结果在合理的阈值范围内，判断对应TVS测试仪为良品，随着皮带203的移动，良品的TVS测试仪会经过分料组件3，然后在重力作用下，从保存架204中掉落到对应的收纳盒内，当检测阻值结果超过设定的阈值，则判断TVS测试仪为不良品，此时会触发定时程序，控制气缸306伸出，配合横杆307和斜孔3082，带动锁紧块308旋转，在不良品的TVS测试仪快要到达锁紧块308位置处时，将齿牙3083上移卡入不良品TVS芯片所在保存架204之前的一个保存架204对应的联动槽2032内，随着皮带203的旋转，带动活动板309一起移动，不良品的TVS测试仪会从活动板309和支撑板302之间的间隙掉落到另外一个收纳盒内，实现不良品TVS芯片和良品TVS芯片分类。

为了便于描述，在这里可以使用空间相对术语，如“在……之上”、“在……上方”、“在……上表面”、“上面的”等，用来描述如在图中所示的一个器件或特征与其他器件或特征的空间位置关系。应当理解的是，空间相对术语旨在包含除了器件在图中所描述的方位之外的在使用或操作中的不同方位。例如，如果附图中的器件被倒置，则描述为“在其他器件或构造上方”或“在其他器件或构造之上”的器件之后将被定位为“在其他器件或构造下方”或“在其他器件或构造之下”。因而，示例性术语“在……上方”可以包括“在……上方”和“在……下方”两种方位。该器件也可以其他不同方式定位(转90度或处于其他方位)，并且对这里所使用的空间相对描述作出相应解释。

需要注意的是，这里所使用的术语仅是为了描述具体实施方式，而非意图限制根据本申请的示例性实施方式。如在这里所使用的，除非上下文另外明确指出，否则单数形式也意图包括复数形式，此外，还应当理解的是，当在本说明书中使用术语“包含”和/或“包括”时，其指明存在特征、步骤、操作、器件、组件和/或它们的组合。

需要说明的是，本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本申请的实施方式例如能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。

以上所述，仅为本发明较佳的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种用于双向高压台面TVS芯片的测试设备，包括机架（1），其特征在于，所述机架（1）内侧上部一端设置有滑动设置的供料机构（5），所述机架（1）内侧靠近供料机构（5）下部位置处设置有横向设置的输送带组件（2），所述机架（1）内侧一端设置有用于驱动供料机构（5）横向往复运动的驱动机构（6）。

2.根据权利要求1所述的一种用于双向高压台面TVS芯片的测试设备，其特征在于，所述输送带组件（2）包括转动设置在机架（1）内侧两端的两个皮带辊（202），所述机架（1）外侧固定有第一电机（201），所述第一电机（201）的输出轴与其中一个皮带辊（202）通过联轴器连接，两个所述皮带辊（202）上套设有同一个皮带（203），且皮带（203）中间位置处设置有等距离呈环形分布的矩形孔（2031），所述皮带（203）内侧靠近矩形孔（2031）位置处设置有保存架（204），所述保存架（204）靠近矩形孔（2031）一侧为开口结构，所述机架（1）内侧靠近皮带（203）内侧上部位置处设置有接电机构（7），所述接电机构（7）包括固定在机架（1）内侧两边呈对称分布的绝缘支撑板（701），且两个绝缘支撑板（701）相对一侧设置有第一导电组（702）和第二导电组（703），所述绝缘支撑板（701）包括分别固定在两个绝缘支撑板（701）上的第一正极导电柱和第一负极导电柱，所述第二导电组（703）包括分别固定在两个绝缘支撑板（701）上的第二正极导电柱和第二负极导电柱，所述第一正极导电柱和第二正极导电柱位于不同侧，所述保存架（204）两侧分别设置有与第一导电组（702）相适配的弧形豁口（2041），所述机架（1）内侧远离供料机构（5）一端下部设置有分料组件（3），所述皮带辊（202）外周面设置有与保存架（204）相适配的环形沟道（2021），所述第一导电组（702）和绝缘支撑板（701）通过导线连接有TVS测试仪。

3.根据权利要求2所述的一种用于双向高压台面TVS芯片的测试设备，其特征在于，所述分料组件（3）包括固定设置在机架（1）内侧靠近其中一个皮带辊（202）下部的弧形导向板（301），所述弧形导向板（301）下侧连接有支撑板（302），所述支撑板（302）远离弧形导向板（301）一端设置有楞板（303），所述楞板（303）两端均设置有导向孔，且两个导向孔内均插设有第一导向杆（304），两个所述第一导向杆（304）上固定设置有同一个活动板（309），所述第一导向杆（304）远离活动板（309）一端设置有限位帽（3041），且第一导向杆（304）外周面靠近限位帽（3041）和楞板（303）之间位置处套设有第一弹簧件（305），所述活动板（309）两侧均开有矩形豁口，且矩形豁口内均铰接有卡接组件，所述卡接组件包括转动设置在矩形豁口内的锁紧块（308），所述锁紧块（308）下侧设置有扇形块（3081），所述扇形块（3081）上设置有斜孔（3082），所述斜孔（3082）斜向支撑板（302）一侧倾斜，所述锁紧块（308）上部设置有齿牙（3083），所述皮带（203）上设置有与齿牙（3083）相适配的联动槽（2032），且联动槽（2032）与矩形孔（2031）位置相对应，两个所述斜孔（3082）内插设有同一个横杆（307），所述活动板（309）下部固定有气缸（306），且气缸（306）的伸缩端与横杆（307）连接。

4.根据权利要求3所述的一种用于双向高压台面TVS芯片的测试设备，其特征在于，所述机架（1）上部向一端延伸形成横平部（101），所述机架（1）内侧远离横平部（101）一端上部设置有安装板（102），且机架（1）内侧靠近安装板（102）上部位置处固定有盖板（103）。

5.根据权利要求4所述的一种用于双向高压台面TVS芯片的测试设备，其特征在于，所述供料机构（5）包括储料斗（501），所述储料斗（501）上部和下部均为开口结构，所述储料斗（501）两侧均设置有滑轨组件，所述储料斗（501）通过滑轨组件与机架（1）形成滑动连接，所述储料斗（501）内侧下部位置处设置有抖料组件（504），所述抖料组件（504）包括横插板（5041），所述储料斗（501）远离分料组件（3）一侧设置有供横插板（5041）穿过的条形通道，所述横插板（5041）靠近储料斗（501）内侧一边设置有斜向分料组件（3）一侧弯曲的第二折弯部（50412），所述横插板（5041）远离储料斗（501）一侧向下弯折形成第一折弯部（50411），所述横插板（5041）靠近第二折弯部（50412）位置处设置有横向设置的横轴（50413），所述储料斗（501）两侧均设置有横向延伸的条形孔（5013），且所述横轴（50413）分别滑动设置在两个条形孔（5013）内，所述机架（1）其中一侧靠近条形孔（5013）上部位置处固定有触发条（5044），且触发条（5044）上设置有等距离分布的锯齿槽（50441），所述储料斗（501）侧壁靠近触发条（5044）位置处转动设置有联动臂（5043）。

6.根据权利要求5所述的一种用于双向高压台面TVS芯片的测试设备，其特征在于，所述联动臂（5043）上端远离储料斗（501）一侧设置有凸销（50432），所述凸销（50432）置于锯齿槽（50441）内，所述联动臂（5043）侧壁远离凸销（50432）一端设置有腰型孔（50431），所述横轴（50413）其中一端插设在腰型孔（50431）内。

7.根据权利要求6所述的一种用于双向高压台面TVS芯片的测试设备，其特征在于，所述滑轨组件包括固定在机架（1）内侧的直线导轨（502），且直线导轨（502）上滑动设置有滑块（503），所述滑块（503）通过螺栓与储料斗（501）侧壁固定连接。

8.根据权利要求7所述的一种用于双向高压台面TVS芯片的测试设备，其特征在于，所述第一折弯部（50411）上设置有圆形插孔，且圆形插孔内插设有第二导向杆（5012），所述第二导向杆（5012）远离第一折弯部（50411）一端与储料斗（501）侧壁固定连接，所述第二导向杆（5012）外周面靠近第一折弯部（50411）和储料斗（501）之间套设有第二弹簧件（5042）。

9.根据权利要求5所述的一种用于双向高压台面TVS芯片的测试设备，其特征在于，所述驱动机构（6）包括固定在安装板（102）上的第二电机（603），且第二电机（603）的伸缩端固定有转盘（601），所述转盘（601）上部靠近边缘位置处转动设置有金属臂（602），所述储料斗（501）靠近转盘（601）一侧设置有连接块（5011），所述金属臂（602）远离转盘（601）一端与连接块（5011）转动连接；所述机架（1）顶部靠近供料机构（5）位置处固定有机罩（4），所述TVS测试仪设置在机罩（4）上。

10.一种用于双向高压台面TVS芯片的测试工艺，使用如权利要求9所述的一种用于双向高压台面TVS芯片的测试设备，其特征在于，包括如下步骤：

S1：上料，将需要进行检测的TVS芯片投放到储料斗（501）内，并在机架（1）下部靠近分料组件（3）位置处摆放两个用于存放测试后TVS芯片的收纳盒；

S2：测试，通过控制驱动机构（6）中的第二电机（603）工作，带动转盘（601）旋转，配合设置的金属臂（602），实现储料斗（501）在机架（1）内横向的往复运动，运动过程中抖料组件（504）中的联动臂（5043）上的凸销（50432）会在触发条（5044）上的锯齿槽（50441）内滑动，滑动过程中会带动联动臂（5043）交替的摆动，从而带动横轴（50413）在条形孔（5013）内往复的移动，从而带动横插板（5041）做往复运动，从而带动第二折弯部（50412）推动储料斗（501）中的TVS芯片移动，有助于TVS芯片落入到矩形孔（2031）内，在此过程中第一电机（201）的作用下，带动皮带（203）匀速的旋转，当TVS芯片落入到保存架（204）中，随着皮带（203）的运动，载有TVS芯片的保存架（204）移动到两个绝缘支撑板（701）之间，首先TVS芯片的引脚会与第一导电组（702）接触，通过TVS测试仪进行阻值的检测，并随着皮带（203）的运动，载有TVS芯片的保存架（204）处于第二导电组（703）之间，再通过TVS测试仪进行阻值的检测；

S3：下料，通过单片机与TVS测试仪进行通讯，当检测阻值结果在合理的阈值范围内，判断对应TVS测试仪为良品，随着皮带（203）的移动，良品的TVS测试仪会经过分料组件（3），然后在重力作用下，从保存架（204）中掉落到对应的收纳盒内，当检测阻值结果超过设定的阈值，则判断TVS测试仪为不良品，此时会触发定时程序，控制气缸（306）伸出，配合横杆（307）和斜孔（3082），带动锁紧块（308）旋转，在不良品的TVS测试仪快要到达锁紧块（308）位置处时，将齿牙（3083）上移卡入不良品TVS芯片所在保存架（204）之前的一个保存架（204）对应的联动槽（2032）内，随着皮带（203）的旋转，带动活动板（309）一起移动，不良品的TVS测试仪会从活动板（309）和支撑板（302）之间的间隙掉落到另外一个收纳盒内，实现不良品TVS芯片和良品TVS芯片分类。

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