CN214703822U - 电子产品老化测试设备 - Google Patents

电子产品老化测试设备 Download PDF

Info

Publication number
CN214703822U
CN214703822U CN202120572750.1U CN202120572750U CN214703822U CN 214703822 U CN214703822 U CN 214703822U CN 202120572750 U CN202120572750 U CN 202120572750U CN 214703822 U CN214703822 U CN 214703822U
Authority
CN
China
Prior art keywords
test
cylinder
testing arrangement
electric motor
linear electric
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
CN202120572750.1U
Other languages
English (en)
Inventor
黄本涛
程传博
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shenzhen Weilaixin Technology Co ltd
Original Assignee
Shenzhen Weilaixin Technology Co ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shenzhen Weilaixin Technology Co ltd filed Critical Shenzhen Weilaixin Technology Co ltd
Priority to CN202120572750.1U priority Critical patent/CN214703822U/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN214703822U publication Critical patent/CN214703822U/zh
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

本实用新型提供电子产品老化测试设备,涉及老化测试领域,包括测试装置,所述测试装置内部设有测试分区,且测试分区固定安装在测试装置内部,每个所述测试分区内部均固定安装有温控器,所述测试装置内部设有直线电机,所述直线电机的两端均设有导向槽,且导向槽嵌于测试装置内壁,且直线电机的两端和导向槽滑动连接,所述直线电机表面设有第一气缸,且第一气缸和直线电机内部滑块固定连接。设置测试分区,每个测试分区内部均设置温控器,可以根据测试要求在不同温度下测试电子产品进行老化测试,设计不同的温度梯度,设计寿命较长的电子产品在不同高温环境下测试,可以判断出电子产品在不同环境下的运行状态。

Description

电子产品老化测试设备
技术领域
本实用新型涉及老化测试技术领域,尤其涉及电子产品老化测试设备。
背景技术
大部分电子产品在生产出来之后都需要进行性能检测,最常用的检测手段是让产品连续通电运行一段时间,期间反复检查产品是否工作正常,这种检测方式称为老化测试。普通电子产品一般都只需在室温下作老化测试,但对于实际工作环境较为恶劣或者设计寿命较长的电子产品则需要在高温环境下进行。因此,多数上规模的电子产品生产厂家都配备有高温老化测试设备。这些老化测试设备常由一个具有发热功能的密闭房间和一些测试架组成。测试架上有多个工位,每个工位都装有电源插座。产品组装完成后,测试人员就将它们摆放到测试架上,再接上电源让产品上电工作,如果需要高温老化,测试人员还会打开房间的发热装置加热空气。
传统的老化测试设备的测试系统当遇到需要使用的低压直流作输入电源的产品,就只能临时在每个供电插座上插上一个电源适配器,才能让产品工作,不能自动更换测试孔,并且测试效率低,不能更加精确的测试出电子产品工作的温度环境。
实用新型内容
本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在的缺点,而提出的电子产品老化测试设备。
为了实现上述目的,本实用新型采用了如下技术方案:电子产品老化测试设备,包括测试装置,所述测试装置内部设有测试分区,且测试分区固定安装在测试装置内部,每个所述测试分区内部均固定安装有温控器,所述测试装置内部设有直线电机,所述直线电机的两端均设有导向槽,且导向槽嵌于测试装置内壁,且直线电机的两端和导向槽滑动连接,所述直线电机表面设有第一气缸,且第一气缸和直线电机内部滑块固定连接。
优选的,所述第一气缸的伸缩杆端部设有手指气缸,且手指气缸和第一气缸的伸缩杆端部固定连接,且手指气缸位于测试装置内部。
优选的,所述直线电机的正下方设有第二气缸,且第二气缸位于测试装置内部,且第二气缸的伸缩杆的端部和直线电机底面中心固定连接,所述第二气缸的底部固定有支撑板,且支撑板和测试装置内壁固定连接。
优选的,相邻所述测试分区之间设有横板,且横板和测试装置内壁固定连接,每个所述测试分区内部均固定安装有测试组件,所述测试组件表面开设有测试孔,且测试孔和测试组件电性连接。
优选的,所述测试装置侧面设有上料装置,所述上料装置包括支撑框架,所述支撑框架表面两端固定有固定板,所述固定板之间设有传送辊子,所述传送辊子之间设有传送带,且传送辊子通过传送带活动连接,所述支撑框架内部底面固定安装有电机,且电机的输出轴通过传送带和传送辊子活动连接。
优选的,所述测试装置内部顶面固定安装有温度传感器,且温度传感器和温控器电性连接。
优选的,所述测试装置和测试分区表面均为透明材质。
有益效果
本实用新型中,设置测试分区,每个测试分区内部均设置温控器,可以根据测试要求在不同温度下测试电子产品进行老化测试,设计不同的温度梯度,设计寿命较长的电子产品在不同高温环境下测试,可以判断出电子产品在不同环境下的运行状态,因而将对应的电子产品应用于对应的环境中,有效的解决了电子产品测试效率和测试效果,提高了电子产品的应用率。
本实用新型中,采用半自动化形式对电子产品测试,通过上料装置将电子产品传送到测试装置一侧,通过人工将电子产品放置在测试装置内部,并且由手指气缸夹装,在测试过程中,由于在密闭的环境下,工作人员不便于打开测试装置,因而采用直线电机、第一气缸、第二气缸的配合,在测试时,通过手指气缸驱动电子产品和测试孔之间的连接,并且可以通过直线电机和气缸改变电子产品所在的测试分区和测试孔,使测试更加精确,测试效率更高。
附图说明
图1为本实用新型的轴测图;
图2为本实用新型的局部剖视图;
图3为本实用新型的侧视剖视图;
图4为本实用新型的正视图。
图例说明:
1、测试装置;2、上料装置;201、电机;202、支撑框架;203、传送辊子;204、传送带;205、固定板;3、直线电机;4、横板;5、测试组件;6、导向槽;7、第一气缸;8、支撑板;9、第二气缸;10、测试分区;11、温度传感器;12、温控器;13、手指气缸;14、测试孔。
具体实施方式
为了使本实用新型实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解,下面结合具体实施例和附图,进一步阐述本实用新型,但下述实施例仅仅为本实用新型的优选实施例,并非全部。基于实施方式中的实施例,本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得其它实施例,都属于本实用新型的保护范围。
下面结合附图描述本实用新型的具体实施例。
具体实施例:
参照图1-4,电子产品老化测试设备,包括测试装置1,测试装置1内部设有测试分区10,且测试分区10的固定安装在测试装置1内部,每个测试分区10内部均固定安装有温控器12,测试装置1内部设有直线电机3,直线电机3的两端均设有导向槽6,且导向槽6嵌于测试装置1内壁,且直线电机3 的两端和导向槽6滑动连接,直线电机3表面设有第一气缸7,且第一气缸7 和直线电机3内部滑块固定连接,测试装置1和测试分区10表面均为透明材质
第一气缸7的伸缩杆端部设有手指气缸13,且手指气缸13和第一气缸7 的伸缩杆端部固定连接,且手指气缸13位于测试装置1内部,直线电机3的正下方设有第二气缸9,且第二气缸9位于测试装置1内部,且第二气缸9的伸缩杆的端部和直线电机3底面中心固定连接,第二气缸9的底部固定有支撑板8,且支撑板8和测试装置1内壁固定连接。
相邻测试分区10之间设有横板4,且横板4和测试装置1内壁固定连接,每个测试分区10内部均固定安装有测试组件5,测试组件5表面开设有测试孔14,且测试孔14和测试组件5电性连接。
测试装置1侧面设有上料装置2,上料装置2包括支撑框架202,支撑框架202表面两端固定有固定板205,固定板205之间设有传送辊子203,传送辊子203之间设有传送带204,且传送辊子203通过传送带204活动连接,支撑框架202内部底面固定安装有电机201,且电机201的输出轴通过传送带204 和传送辊子203活动连接,测试装置1内部顶面固定安装有温度传感器11,且温度传感器11和温控器12电性连接。
本实用新型的工作原理:设置测试分区10,每个测试分区10内部均设置温控器12,可以根据测试要求在不同温度下测试电子产品进行老化测试,设计不同的温度梯度,设计寿命较长的电子产品在不同高温环境下测试,可以判断出电子产品在不同环境下的运行状态,因而将对应的电子产品应用于对应的环境中,有效的解决了电子产品测试效率和测试效果,提高了电子产品的应用率。采用半自动化形式对电子产品测试,通过上料装置2将电子产品传送到测试装置1一侧,通过人工将电子产品放置在测试装置1内部,并且由手指气缸 13夹装,在测试过程中,由于在密闭的环境下,工作人员不便于打开测试装置1,因而采用直线电机3、第一气缸7、第二气缸9的配合,在测试时,通过手指气缸13驱动电子产品和测试孔14之间的连接,并且可以通过直线电机 3和气缸改变电子产品所在的测试分区10和测试孔14,使测试更加精确,测试效率更高。
在本实用新型中,除非另有明确的规定和限定,第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触,也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且,第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方,或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方,或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。
以上显示和描述了本实用新型的基本原理、主要特征和本实用新型的优点。本行业的技术人员应该了解,本实用新型不受上述实施例的限制,上述实施例和说明书中描述的仅为本实用新型的优选例,并不用来限制本实用新型,在不脱离本实用新型精神和范围的前提下,本实用新型还会有各种变化和改进,这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内。本实用新型要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。

Claims (7)

1.电子产品老化测试设备,包括测试装置(1),其特征在于:所述测试装置(1)内部设有测试分区(10),且测试分区(10)固定安装在测试装置(1)内部,每个所述测试分区(10)内部均固定安装有温控器(12),所述测试装置(1)内部设有直线电机(3),所述直线电机(3)的两端均设有导向槽(6),且导向槽(6)嵌于测试装置(1)内壁,且直线电机(3)的两端和导向槽(6)滑动连接,所述直线电机(3)表面设有第一气缸(7),且第一气缸(7)和直线电机(3)内部滑块固定连接。
2.根据权利要求1所述的电子产品老化测试设备,其特征在于:所述第一气缸(7)的伸缩杆端部设有手指气缸(13),且手指气缸(13)和第一气缸(7)的伸缩杆端部固定连接,且手指气缸(13)位于测试装置(1)内部。
3.根据权利要求1所述的电子产品老化测试设备,其特征在于:所述直线电机(3)的正下方设有第二气缸(9),且第二气缸(9)位于测试装置(1)内部,且第二气缸(9)的伸缩杆的端部和直线电机(3)底面中心固定连接,所述第二气缸(9)的底部固定有支撑板(8),且支撑板(8)和测试装置(1)内壁固定连接。
4.根据权利要求1所述的电子产品老化测试设备,其特征在于:相邻所述测试分区(10)之间设有横板(4),且横板(4)和测试装置(1)内壁固定连接,每个所述测试分区(10)内部均固定安装有测试组件(5),所述测试组件(5)表面开设有测试孔(14),且测试孔(14)和测试组件(5)电性连接。
5.根据权利要求1所述的电子产品老化测试设备,其特征在于:所述测试装置(1)侧面设有上料装置(2),所述上料装置(2)包括支撑框架(202),所述支撑框架(202)表面两端固定有固定板(205),所述固定板(205)之间设有传送辊子(203),所述传送辊子(203)之间设有传送带(204),且传送辊子(203)通过传送带(204)活动连接,所述支撑框架(202)内部底面固定安装有电机(201),且电机(201)的输出轴通过传送带(204)和传送辊子(203)活动连接。
6.根据权利要求1所述的电子产品老化测试设备,其特征在于:所述测试装置(1)内部顶面固定安装有温度传感器(11),且温度传感器(11)和温控器(12)电性连接。
7.根据权利要求1所述的电子产品老化测试设备,其特征在于:所述测试装置(1)和测试分区(10)表面均为透明材质。
CN202120572750.1U 2021-03-22 2021-03-22 电子产品老化测试设备 Expired - Fee Related CN214703822U (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202120572750.1U CN214703822U (zh) 2021-03-22 2021-03-22 电子产品老化测试设备

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202120572750.1U CN214703822U (zh) 2021-03-22 2021-03-22 电子产品老化测试设备

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN214703822U true CN214703822U (zh) 2021-11-12

Family

ID=78572027

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202120572750.1U Expired - Fee Related CN214703822U (zh) 2021-03-22 2021-03-22 电子产品老化测试设备

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN214703822U (zh)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN113791297A (zh) 一种具有热应力测试的多功能测试设备及其测试方法
CN203132509U (zh) 尺寸测试装置
CN214703822U (zh) 电子产品老化测试设备
CN209542792U (zh) 一种电气自动化检测仪
CN107589355A (zh) 一种逆变器性能测试装置
CN208991276U (zh) 一种气密检测设备中的转盘机构
CN211697907U (zh) 电子烟老化柜
CN210294468U (zh) 一种印刷电路板老化测试柜
CN209279820U (zh) 汽车零部件孔位置度自动检测装置
CN204495967U (zh) 高低温环境下接近开关检测装置
CN209291478U (zh) 一种气密检测设备中的机械手分料设备
CN207817149U (zh) 一种pcba组件测试治具
CN202600058U (zh) 老化装置
CN216144896U (zh) 一种故障指示器检测线
CN212675048U (zh) 共模测试装置及手机充电器自动化检测线
CN212664216U (zh) 自动共模测试系统及手机充电器自动化检测线
CN210071184U (zh) 载具及采用该载具的mems压力传感器模组校准设备
CN208568473U (zh) 一种手机质量检测治具
CN111007403A (zh) Pos机电池漏电检测装置及pos机生产线
CN209590251U (zh) 一种ocv自动校准装置
CN216748008U (zh) 电池包测试装置及电池包测试系统
CN217084969U (zh) 一种剑麻硬挺度测试仪
CN218567483U (zh) 一种电容老化装置
CN216310157U (zh) 一种导通测试机构
CN221387608U (zh) 一种高压继电器通电测试装置

Legal Events

Date Code Title Description
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20211112

CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee