CN214623448U - 一种高抗干扰性能的ldo - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种高抗干扰性能的LDO,包括误差放大器、第一分压电阻、第二分压电阻、第一MOS管和第二MOS管。误差放大器的正向输入端与参考电压连接,负向输入端与第一分压电阻的一端和第二分压电阻的一端连接,输出端经由补偿网络与第二分压电阻的另一端连接。第一分压电阻的另一端接地。误差放大器的输出端还与第一MOS管的栅极相连。第一MOS的源极连接至输入电压,漏极连接至第二MOS的源极。第二MOS的栅极连接驱动电压信号,漏极连接至第二分压电阻的另一端口。LDO的输出端从第二分压电阻的另一端引出。本实用新型在主通路上多串联一个PMOS管,可以实现很高的抗干扰能力,而且不需要大幅增加LDO的开环增益以及带宽,以节省电路的电流和面积。
Description
技术领域
本发明涉及电子电路,尤其涉及一种高抗干扰性能的LDO(Low Dropoutregulator,低压差线性稳压器)。
背景技术
LDO是一种线性稳压器,使用在其饱和区域内运行的或场效应管(FET),从应用的输入电压中减去超额的电压,产生经过调节的输出电压。现有LDO中存在抗干扰性能不足的问题,制约了LDO在特定领域的应用。
发明内容
发明目的:为克服现有技术中的问题,本实用新型旨在提供一种高抗干扰性能的LDO。
技术方案:本实用新型公开了一种高抗干扰性能的LDO。该LDO包括误差放大器、第一分压电阻、第二分压电阻、第一MOS管和第二MOS管。所述误差放大器的正向输入端与参考电压连接,负向输入端与第一分压电阻的一端和第二分压电阻的一端连接,输出端经由补偿网络与第二分压电阻的另一端连接。第一分压电阻的另一端接地。所述误差放大器的输出端还与第一MOS管的栅极相连。所述第一MOS管的源极连接至输入电压,漏极连接至第二MOS管的源极。所述第二MOS管的栅极连接驱动电压信号,漏极连接至所述第二分压电阻的所述另一端口。所述LDO的输出端从所述第二分压电阻的所述另一端引出。
进一步地,所述第一MOS管和第二MOS管均为PMOS。
进一步地,所述第一MOS管为低压管。所述第二MOS管为高压管。
进一步地,所述误差放大器包括第三MOS管、第四MOS管、第五MOS管、第六MOS管。第三MOS管和第四MOS管的源极均连接至电流源。第三MOS 管和第四MOS管的栅极分别引出作为所述误差放大器的正向输入端和反向输入端。第三MOS管的漏极、第五MOS管的漏极和栅极以及第六MOS管的栅极连接于第一节点。第四MOS管和第六MOS管的漏极连接于第二节点。第五MOS 管和第六MOS管的源极均接地。所述第二节点引出作为所述误差放大器的输出端。
进一步地,第三MOS管M3和第四MOS管M4为PMOS管;第五MOS管 M5和第六MOS管M6为NMOS管。
进一步地,所述补偿网络包括第七MOS管、第八MOS管、第九MOS管、第十MOS管、第十一MOS管、第三分压电阻、电容。所述第三分压电阻的一端和第十MOS管的栅极连接至所述误差放大器的输出端。所述第三分压电阻的另一端、所述第七MOS管的漏极和栅极以及第八MOS管的栅极连接于第三节点。第七MOS管、第八MOS管和第十MOS管的源极接地。第八MOS管的漏极连接至第九MOS管的漏极。第九MOS管的栅极、第十一MOS管的栅极和漏极以及第十MOS管的漏极连接至第四节点,所述第四节点连接至所述LDO的输出端。第九MOS管的源极和第十一MOS管的源极均连接至外部电源。
进一步地,第九MOS管M9和第十一MOS管M11为PMOS管,第七MOS 管M7、第八MOS管M8和第十MOS管M10均为NMOS管。
有益效果:本发明与现有技术相比,其优点为:
(1)在主通路上多串联一个PMOS管,可以实现较高的PSRR,而且不需要大幅增加LDO的开环增益以及带宽,从而节省电路的电流和面积,也使得环路补偿比较容易实现。
(2)串联的PMOS管的gate驱动电压信号PISO是随着VIN变化可以快速跟随变化的,当VIN上有高频大幅度电压扰动时,不需要在PGATE和VIN之间连接一个大容量电容,就可以实现很高的抗干扰能力。
(3)更适用于VIN是高压的场合,上面的P管采用低压管,下面的P管采用高压管,由于低压管可以做在高压环里,而且本身需要的电路面积不大。在驱动同样负载电流的情况下,和只使用一个PMOS管的传统LDO架构相比,管子面积并不会大幅增大。
附图说明
图1是本实用新型一个实施例的结构示意图;
图2为本实用新型一个实施例中误差放大器的电路示意图;
图3为本实用新型一个实施例中补偿网络的电路示意图。
具体实施方式
如图1,本实施例中的高抗干扰性能的LDO包括误差放大器、第一分压电阻R1、第二分压电阻R2、第一MOS管M1和第二MOS管M2。误差放大器的正向输入端与参考电压VREF连接,负向输入端与第一分压电阻R1的一端和第二分压电阻R2的一端连接,输出端经由补偿网络与第二分压电阻R2的另一端连接。第一分压电阻R1的另一端接地。误差放大器的输出端还与第一MOS管 M1的栅极相连。第一MOS管M1的源极连接至输入电压VIN,漏极连接至第二MOS管M2的源极。第二MOS管M2的栅极连接驱动电压信号PISO,漏极连接至第二分压电阻的另一端口。LDO的输出端VOUT从第二分压电阻R2的另一端引出。其中,第一MOS管M1和第二MOS管M2均为PMOS,且第一 MOS管M1为低压管,第二MOS管M2为高压管。
如图2,误差放大器包括第三MOS管M3、第四MOS管M4、第五MOS 管M5、第六MOS管M6。第三MOS管M3和第四MOS管M4的源极均连接至电流源。第三MOS管M3和第四MOS管M4的栅极分别引出作为误差放大器的正向输入端和反向输入端。第三MOS管M3的漏极、第五MOS管M5的漏极和栅极以及第六MOS管M6的栅极连接于第一节点N1。第四MOS管M4和第六MOS管M6的漏极连接于第二节点N2。第五MOS管M5和第六MOS管 M6的源极均接地。第二节点N2引出作为误差放大器的输出端。第三和第四MOS 管M3和M4为PMOS管;第五和第六MOS管M5和M6为NMOS管。
如图3,补偿网络包括第七MOS管M7、第八MOS管M8、第九MOS管 M9、第十MOS管M10、第十一MOS管M11、第三分压电阻R3、电容。第三分压电阻R3的一端和第十MOS管M10的栅极连接至误差放大器的输出端。第三分压电阻R3的另一端、第七MOS管M7的漏极和栅极以及第八MOS管M8 的栅极连接于第三节点N3。第七MOS管M7、第八MOS管M8和第十MOS管 M10的源极接地。第八MOS管M8的漏极连接至第九MOS管M9的漏极。第九MOS管M9的栅极、第十一MOS管M11的栅极和漏极以及第十MOS管M10 的漏极连接至第四节点N4,第四节点N4连接至LDO的输出端VOUT。第九 MOS管M9的源极和第十一MOS管M11的源极均连接至外部电源VCC。第九和第十一MOS管M9和M11为PMOS管,第七、第八和第十MOS管M7、M8 和M10均为NMOS管。
在其他实施例中,补偿网络也可以根据实际情况作出其他调整。
Claims (7)
1.一种高抗干扰性能的LDO,其特征在于,包括误差放大器、第一分压电阻(R1)、第二分压电阻(R2)、第一MOS管(M1)和第二MOS管(M2);所述误差放大器的正向输入端与参考电压(VREF)连接,负向输入端与第一分压电阻(R1)的一端和第二分压电阻(R2)的一端连接,输出端经由补偿网络与第二分压电阻(R2)的另一端连接;第一分压电阻(R1)的另一端接地;所述误差放大器的输出端还与第一MOS管(M1)的栅极相连;所述第一MOS管(M1)的源极连接至输入电压(VIN),漏极连接至第二MOS管(M2)的源极;所述第二MOS管(M2)的栅极连接驱动电压信号(PISO),漏极连接至所述第二分压电阻的所述另一端口;所述LDO的输出端(VOUT)从所述第二分压电阻(R2)的所述另一端引出。
2.根据权利要求1所述的高抗干扰性能的LDO,其特征在于,所述第一MOS管(M1)和第二MOS管(M2)均为PMOS。
3.根据权利要求1所述的高抗干扰性能的LDO,其特征在于,所述第一MOS管(M1)为低压管;所述第二MOS管(M2)为高压管。
4.根据权利要求3所述的高抗干扰性能的LDO,其特征在于,所述误差放大器包括第三MOS管(M3)、第四MOS管(M4)、第五MOS管(M5)、第六MOS管(M6);第三MOS管(M3)和第四MOS管(M4)的源极均连接至电流源;第三MOS管(M3)和第四MOS管(M4)的栅极分别引出作为所述误差放大器的正向输入端和反向输入端;第三MOS管(M3)的漏极、第五MOS管(M5)的漏极和栅极以及第六MOS管(M6)的栅极连接于第一节点(N1);第四MOS管(M4)和第六MOS管(M6)的漏极连接于第二节点(N2);第五MOS管(M5)和第六MOS管(M6)的源极均接地;所述第二节点(N2)引出作为所述误差放大器的输出端。
5.根据权利要求4所述的高抗干扰性能的LDO,其特征在于,第三MOS管(M3)和第四MOS管(M4)为PMOS管;第五MOS管(M5)和第六MOS管(M6)为NMOS管。
6.根据权利要求4所述的高抗干扰性能的LDO,其特征在于,所述补偿网络包括第七MOS管(M7)、第八MOS管(M8)、第九MOS管(M9)、第十MOS管(M10)、第十一MOS管(M11)、第三分压电阻(R3)、电容;所述第三分压电阻(R3)的一端和第十MOS管(M10)的栅极连接至所述误差放大器的输出端;所述第三分压电阻(R3)的另一端、所述第七MOS管(M7)的漏极和栅极以及第八MOS管(M8)的栅极连接于第三节点(N3);第七MOS管(M7)、第八MOS管(M8)和第十MOS管(M10)的源极接地;第八MOS管(M8)的漏极连接至第九MOS管(M9)的漏极;第九MOS管(M9)的栅极、第十一MOS管(M11)的栅极和漏极以及第十MOS管(M10)的漏极连接至第四节点(N4),所述第四节点(N4)连接至所述LDO的输出端(VOUT);第九MOS管(M9)的源极和第十一MOS管(M11)的源极均连接至外部电源(VCC)。
7.根据权利要求6所述的高抗干扰性能的LDO,其特征在于,第九MOS管(M9)和第十一MOS管(M11)为PMOS管,第七MOS管(M7)、第八MOS管(M8)和第十MOS管(M10)均为NMOS管。
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CN202023179640.3U Active CN214623448U (zh) | 2020-12-25 | 2020-12-25 | 一种高抗干扰性能的ldo |
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- 2020-12-25 CN CN202023179640.3U patent/CN214623448U/zh active Active
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