CN213902273U - 光孔的垂直度检测装置以及光孔的垂直度检测系统 - Google Patents

Abstract

本申请涉及紧固件机械加工技术领域，尤其是涉及一种光孔的垂直度检测装置以及光孔的垂直度检测系统。一种光孔的垂直度检测装置，包括芯轴以及套设芯轴的套筒，套筒与芯轴能够相对滑动，套筒的端面与芯轴的轴线垂直；露出于套筒的芯轴用于穿设待测件；芯轴的长度设置在90‑120mm之间。本申请中的芯轴的长度设置在90‑120mm之间，相比于现有技术中的芯轴的尺寸过长，不易加工，且合格率较低而言，本申请的芯轴其容易加工且合格率高。

Description

光孔的垂直度检测装置以及光孔的垂直度检测系统

技术领域

本申请涉及紧固件机械加工技术领域，尤其是涉及一种光孔的垂直度检测装置以及光孔的垂直度检测系统。

背景技术

结合图1所示，现有的用于测量螺母的光孔垂直度检测装置包括芯轴101’以及套设在芯轴外侧的套筒102’，其中芯轴101’的长度设置在240mm-300mm之间，由于芯轴101’的长度过长，导致其不易加工且合格率低。

因此亟需一种光孔的垂直度检测装置以及光孔的垂直度检测系统，在一定程度上以解决现有技术中的问题。

实用新型内容

本申请的目的在于提供一种光孔的垂直度检测装置以及光孔的垂直度检测系统，在一定程度上提高芯轴的合格率，便于光孔垂直度检测装置的生产。

本申请提供了一种光孔的垂直度检测装置，包括芯轴以及套设所述芯轴的套筒，所述套筒与所述芯轴能够相对滑动，所述套筒的端面与所述芯轴的轴线垂直；露出于所述套筒的所述芯轴用于穿设待测件；所述芯轴的长度设置在90-120mm之间。

在上述技术方案中，进一步地，所述芯轴的长度为110mm。

在上述技术方案中，进一步地，所述芯轴包括检测部以及与所述检测部连接的连接部；

所述套筒套设所述连接部，并能够沿所述连接部的轴线方向移动；所述检测部用于穿设待测件。

在上述技术方案中，进一步地，所述检测部呈圆台状，且其大直径端部与所述连接部连接；

所述检测部具有预设锥度。

在上述技术方案中，进一步地，所述预设锥度为1:300。

在上述技术方案中，进一步地，所述套筒的端面开设有凹槽，所述凹槽与所述待测件的凸起相适配。

在上述技术方案中，进一步地，所述凹槽设置有多个，多个所述凹槽沿所述套筒的端面的周向方向间隔排布。

在上述技术方案中，进一步地，还包括锁紧件，所述锁紧件依次穿过所述套筒和所述连接部，所述锁紧件用于锁紧所述套筒和所述连接部。

本申请还提供一种光孔的垂直度检测系统，包括辅助件以及上述的光孔的垂直度检测装置；

当所述待测件套设在所述芯轴上并与所述套筒的端面抵接上时，所述待测件的端面与所述套筒的端面之间具有缝隙，所述辅助件插设于所述缝隙内，用于检测所述待测件的光孔的垂直度。

在上述技术方案中，进一步地，所述辅助件为塞尺。

与现有技术相比，本申请的有益效果为：

本申请提供的本申请提供了一种光孔的垂直度检测装置，包括芯轴以及套设所述芯轴的套筒，所述套筒与所述芯轴能够相对滑动，所述套筒的端面与所述芯轴的轴线垂直；露出于所述套筒的所述芯轴用于穿设待测件；所述芯轴的长度设置在90-120mm之间。

具体地，芯轴属于细长杆类结构，在加工过程中，容易产生变形，出现废品的情况，即如果芯轴的长度过长，其加工的精度越低。本申请中的所述芯轴的长度设置在90-120mm之间。相比于现有技术中的芯轴的尺寸过长，不易加工，且合格率较低而言，本申请的芯轴其容易加工且合格率高。

本申请还提供一种光孔的垂直度检测系统，包括辅助件以及上述的光孔的垂直度检测装置；

当所述待测件套设在所述芯轴上并与所述套筒的端面抵接上时，所述待测件的端面与所述套筒的端面之间具有缝隙，所述辅助件插设于所述缝隙内，用于检测所述待测件的光孔的垂直度。

本申请还提供的一种光孔的垂直度检测系统，包括上述方案所述的光孔的垂直度检测装置。基于上述分析可知，同样具有上述有益效果，具体地，芯轴其容易加工且合格率高，测量更加方便，光孔的垂直度检测系统其检测更加精准。

附图说明

为了更清楚地说明本申请具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本申请的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为现有技术中的光孔垂直度检测装置的结构示意图；

图2为本申请实施例一提供的光孔的垂直度检测装置的结构示意图；

图3为本申请实施例一提供的光孔的垂直度检测装置中的套筒的端面示意图；

图4为本申请实施例二提供的光孔的垂直度检测系统的第一种结构示意图；

图5为本申请实施例二提供的光孔的垂直度检测系统在第一种结构下的待测件的侧视图；

图6为本申请实施例二提供的光孔的垂直度检测系统在第一种结构下的待测件的端面示意图；

图7为本申请实施例二提供的光孔的垂直度检测系统的第二种结构示意图；

图8为本申请实施例二提供的光孔的垂直度检测系统在第二种结构下的待测件的侧视图；

图9为本申请实施例二提供的光孔的垂直度检测系统在第二种结构下的待测件的端面示意图。

图中：101’-芯轴；102’-套筒；101-芯轴；102-套筒；103-待测件；104-检测部；105-连接部；106-锁紧件；108-凹槽；109-凸起。

具体实施方式

提供以下具体实施方式以帮助读者获得对这里所描述的方法、设备和/或系统的全面理解。然而，在理解本申请的公开内容之后，这里所描述的方法、设备和/或系统的各种改变、修改及等同物将是显而易见的。例如，这里所描述的操作的顺序仅仅是示例，其并不限于这里所阐述的顺序，而是除了必须以特定顺序发生的操作之外，可做出在理解本申请的公开内容之后将是显而易见的改变。此外，为了提高清楚性和简洁性，可省略本领域中已知的特征的描述。

这里所描述的特征可以以不同的形式实施，并且不应被解释为局限于这里所描述的示例。更确切地说，已经提供了这里所描述的示例仅用于示出在理解本申请的公开内容之后将是显而易见的实现这里描述的方法、设备和/或系统的诸多可行方式中的一些方式。

在整个说明书中，当元件(诸如，层、区域或基板)被描述为“在”另一元件“上”、“连接到”另一元件、“结合到”另一元件、“在”另一元件“之上”或“覆盖”另一元件时，其可直接“在”另一元件“上”、“连接到”另一元件、“结合到”另一元件、“在”另一元件“之上”或“覆盖”另一元件，或者可存在介于它们之间的一个或更多个其他元件。相比之下，当元件被描述为“直接在”另一元件“上”、“直接连接到”另一元件、“直接结合到”另一元件、“直接在”另一元件“之上”或“直接覆盖”另一元件时，可不存在介于它们之间的其他元件。

如在此所使用的，术语“和/或”包括所列出的相关项中的任何一项和任何两项或更多项的任何组合。

尽管可在这里使用诸如“第一”、“第二”和“第三”的术语来描述各个构件、组件、区域、层或部分，但是这些构件、组件、区域、层或部分不受这些术语所限制。更确切地说，这些术语仅用于将一个构件、组件、区域、层或部分与另一构件、组件、区域、层或部分相区分。因此，在不脱离示例的教导的情况下，这里所描述的示例中所称的第一构件、组件、区域、层或部分也可被称为第二构件、组件、区域、层或部分。

为了易于描述，在这里可使用诸如“在……之上”、“上部”、“在……之下”和“下部”的空间关系术语，以描述如附图所示的一个元件与另一元件的关系。这样的空间关系术语意图除了包含在附图中所描绘的方位之外，还包含装置在使用或操作中的不同方位。例如，如果附图中的装置被翻转，则被描述为相对于另一元件位于“之上”或“上部”的元件随后将相对于另一元件位于“之下”或“下部”。因此，术语“在……之上”根据装置的空间方位而包括“在……之上”和“在……之下”两种方位。所述装置还可以以其他方式定位(例如，旋转90度或处于其他方位)，并将对在这里使用的空间关系术语做出相应的解释。

在此使用的术语仅用于描述各种示例，并非用于限制本公开。除非上下文另外清楚地指明，否则单数的形式也意图包括复数的形式。术语“包括”、“包含”和“具有”列举存在的所陈述的特征、数量、操作、构件、元件和/或它们的组合，但不排除存在或添加一个或更多个其他特征、数量、操作、构件、元件和/或它们的组合。

由于制造技术和/或公差，可出现附图中所示的形状的变化。因此，这里所描述的示例不限于附图中所示的特定形状，而是包括在制造期间出现的形状上的改变。

这里所描述的示例的特征可按照在理解本申请的公开内容之后将是显而易见的各种方式进行组合。此外，尽管这里所描述的示例具有各种各样的构造，但是如在理解本申请的公开内容之后将显而易见的，其他构造是可能的。

实施例一

结合图2和图3所示，本申请提供了一种光孔的垂直度检测装置，包括芯轴101以及套设所述芯轴101的套筒102，所述套筒102与所述芯轴101能够相对滑动，所述套筒102的端面与所述芯轴101的轴线垂直；露出于所述套筒102的所述芯轴101用于穿设待测件103；所述芯轴101的长度设置在90-120mm之间。

具体地，芯轴101属于细长杆类结构，在加工过程中，容易产生变形，出现废品的现象，即如果芯轴101的长度过长，其加工的精度越低。本申请中的所述芯轴101的长度设置在90-120mm之间，相比于现有技术中的芯轴的尺寸过长，不易加工，且合格率较低而言，本申请的芯轴101的长度适中，其容易加工且合格率高。

更具体地，在实际的使用过程中，将待测件103内孔的公差分成几个部分，然后制做数个相对应的芯轴101。即光孔的垂直度检测装置可以是由数个芯轴101构成的一组装置，且成组使用。

在实际的使用过程中，由于待测件103的光孔尺寸不同，为了使得本申请更具有实用性，可以生产不同型号的光孔的垂直度检测装置，其中芯轴101的直径不同，保证其长度在90-120mm之间即可。

根据实际的工况情况，所述芯轴101的长度优选为110mm。

在该实施例中，所述芯轴101包括检测部104以及与所述检测部104连接的连接部105，其中所述检测部104呈圆台状，所述连接部105为圆柱形；所述套筒102套设所述连接部105，并能够沿所述连接部105的轴线方向移动；所述检测部104用于穿设待测件103，当所述待测件103套设在所述检测部104上时，所述待测件103会位于所述检测部104的上面，即所述待测件103朝向所述套筒102的端面没有与所述套筒102朝向所述待测件103的端面接触，此时可以沿所述连接部105的轴线方向移动所述套筒102，使得所述套筒102的端面与所述待测件103的端面相抵接。

在实际的测量过程中，所述待测件103的光孔为圆柱形，优选地，所述检测部104呈圆台状，其具有大直径端部与小直径端部，且大直径端部与所述连接部105连接，所述连接部105为圆柱形，在实际的使用过程中，将待测件103从小直径端部套设进来，并逐渐向所述套筒102靠近。

在该实施例中，所述检测部104具有预设锥度，优选地，所述预设锥度为1:300，即大直径端部的直径与小直径端部的直径每差1mm，所述检测部104的高变化300mm。

在实际的光孔垂直度的检测过程中，考虑到所述待测件103朝向所述套筒102的端面会具有凸起109(具体是指焊接螺母，其在冷镦形成时直接在螺母的端面形成有凸起109)，为了防止此凸起109影响检测结果，在所述套筒102朝向所述待测件103的端面开设有凹槽108，所述凹槽108与所述待测件103的凸起109相适配，即所述凸起109会插设到所述凹槽108内。

优选地，所述凹槽108设置有三个，所述凹槽108沿所述套筒102的端面的周向方向间隔排布。

在该实施例中，由于本申请中的所述套筒102与芯轴101可以发生相对移动，当将所述待测件103套设在所述芯轴101上时，为了防止所述芯轴101与所述套筒102发生相对移动，导致待测件103难以稳定套设在芯轴101上，所述光孔的垂直度检测装置还包括锁紧件106，所述锁紧件106依次穿过所述套筒102和所述连接部105，所述锁紧件106用于锁紧所述套筒102和所述连接部105，即当将所述待测件103套设在所述芯轴101上时，所述锁紧件106锁紧所述套筒102和所述连接部105。

实施例二

结合图4-图9所示，本申请还提供一种光孔的垂直度检测系统，包括辅助件以及上述的光孔的垂直度检测装置；

当所述待测件103套设在所述芯轴101上并与所述套筒102的端面抵接上时，所述待测件103的端面与所述套筒102的端面之间具有缝隙，所述辅助件插设于所述缝隙内。

优选地，所述辅助件为塞尺，所述塞尺具有不同厚度级差的薄钢片组成的量规。

以塞尺具有0.1mm、0.5mm以及1mm的厚度为例，根据图纸上的加工需求，如果要求缝隙小于0.5mm为合格产品，那么利用厚度0.5mm的塞尺进行测试，如果厚度0.5mm的塞尺不能够塞进缝隙内，那么表明光孔的垂直度合格反之不合格。

最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本申请的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本申请进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本申请各实施例技术方案的范围。此外，本领域的技术人员能够理解，尽管在此的一些实施例包括其它实施例中所包括的某些特征而不是其它特征，但是不同实施例的特征的组合意味着处于本申请的范围之内并且形成不同的实施例。

Claims (10)

1.一种光孔的垂直度检测装置，包括芯轴以及套设所述芯轴的套筒，所述套筒与所述芯轴能够相对滑动，所述套筒的端面与所述芯轴的轴线垂直；露出于所述套筒的所述芯轴用于穿设待测件；其特征在于，所述芯轴的长度设置在90-120mm之间。

2.根据权利要求1所述的光孔的垂直度检测装置，其特征在于，所述芯轴的长度为110mm。

3.根据权利要求1所述的光孔的垂直度检测装置，其特征在于，所述芯轴包括检测部以及与所述检测部连接的连接部；

所述套筒套设所述连接部，并能够沿所述连接部的轴线方向移动；所述检测部用于穿设所述待测件。

4.根据权利要求3所述的光孔的垂直度检测装置，其特征在于，所述检测部呈圆台状，且其大直径端部与所述连接部连接；

所述检测部具有预设锥度。

5.根据权利要求4所述的光孔的垂直度检测装置，其特征在于，所述预设锥度为1:300。

6.根据权利要求1所述的光孔的垂直度检测装置，其特征在于，所述套筒的端面开设有凹槽，所述凹槽与所述待测件的凸起相适配。

7.根据权利要求6所述的光孔的垂直度检测装置，其特征在于，所述凹槽设置有多个，多个所述凹槽沿所述套筒的端面的周向方向间隔排布。

8.根据权利要求3所述的光孔的垂直度检测装置，其特征在于，还包括锁紧件，所述锁紧件依次穿过所述套筒和所述连接部，所述锁紧件用于锁紧所述套筒和所述连接部。

9.一种光孔的垂直度检测系统，其特征在于，包括辅助件以及权利要求1-8中任意一项所述的光孔的垂直度检测装置；

当所述待测件套设在所述芯轴上并与所述套筒的端面抵接上时，所述待测件的端面与所述套筒的端面之间具有缝隙，所述辅助件插设于所述缝隙内，用于检测所述待测件的光孔的垂直度。

10.根据权利要求9所述的光孔的垂直度检测系统，其特征在于，所述辅助件为塞尺。

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