CN213364602U - 一种半导体产品测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开一种半导体产品测试装置，属于半导体测试技术领域。所述半导体产品测试装置包括测试器本体和测试站，所述测试器本体和所述测试站之间通过导线连接；所述测试器本体正面固定连接有安装平台；所述安装平台远离所述测试器本体的一端通过AOI固定块固定连接有AOI监视器；所述安装平台靠近所述测试器本体的一端固定安装有显示屏；所述AOI监视器和所述显示屏均与所述测试器本体电连接。该半导体产品测试装置通过AOI监视器监测显示屏的波形图，实现自动筛选，替代传统人工测试，提高测试效率的同时，提高测试的准确率。
Description
技术领域
本实用新型涉及半导体测试技术领域，特别涉及一种半导体产品测试装置。
背景技术
在半导体测试领域，通常为人工取放材料进行测试，观察测试器显示屏上显示的波形进行区分，速度约为5s/颗，效率低下，工人劳动强度大易出错。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种半导体产品测试装置，以解决现有的人工测试半导体效率低下，工人劳动强度大易出错的问题。
为解决上述技术问题，本实用新型提供一种半导体产品测试装置，包括测试器本体和测试站，所述测试器本体和所述测试站之间通过导线连接；
所述测试器本体正面固定连接有安装平台；
所述安装平台远离所述测试器本体的一端通过AOI固定块固定连接有AOI监视器；
所述安装平台靠近所述测试器本体的一端固定安装有显示屏；所述AOI监视器和所述显示屏均与所述测试器本体电连接。
可选的，所述安装平台上沿中线开有若干个调节槽，所述AOI固定块与所述调节槽通过螺栓固定连接。
可选的，所述AOI固定块及与其固定连接的AOI监视器与所述安装平台垂直连接。
可选的，所述安装平台上固定安装有遮光罩。
可选的，所述遮光罩从所述显示屏端开始延伸至所述AOI监视器。
在本实用新型中提供了一种半导体产品测试装置，包括测试器本体和测试站，所述测试器本体和所述测试站之间通过导线连接；所述测试器本体正面固定连接有安装平台；所述安装平台远离所述测试器本体的一端通过AOI固定块固定连接有AOI监视器；所述安装平台靠近所述测试器本体的一端固定安装有显示屏；所述AOI监视器和所述显示屏均与所述测试器本体电连接。该半导体产品测试装置通过AOI监视器监测显示屏的波形图，实现自动筛选，替代传统人工测试，提高测试效率的同时，提高测试的准确率。
附图说明
图1是本实用新型提供的一种半导体产品测试装置的整体结构示意图；
图2是本实用新型提供的一种半导体产品测试装置测试屏幕显示的波形图。
具体实施方式
以下结合附图和具体实施例对本实用新型提出的一种半导体产品测试装置作进一步详细说明。根据下面说明和权利要求书，本实用新型的优点和特征将更清楚。需说明的是，附图均采用非常简化的形式且均使用非精准的比例，仅用以方便、明晰地辅助说明本实用新型实施例的目的。
实施例一
本实用新型提供了一种半导体产品测试装置，如图1所示，包括测试器本体1和测试站2，所述测试器本体1和所述测试站2之间通过导线3连接；所述测试器本体1正面固定连接有安装平台4；所述安装平台4远离所述测试器本体1的一端通过AOI固定块5固定连接有AOI监视器6；所述安装平台4靠近所述测试器本体1的一端固定安装有显示屏7；所述AOI监视器6和所述显示屏7均与所述测试器本体1电连接；所述安装平台4上沿中线开有若干个调节槽8，所述AOI固定块5与所述调节槽8通过螺栓固定连接，当需要调节所述AOI监视器6与所述显示屏7之间的距离即调整所述AOI监视器6的焦距时，只需沿所述安装平台4的中心线的所述调节槽8中前后移动所述AOI固定块5，清晰后，通过螺栓将所述AOI固定块5与所述安装平台4固定连接；所述AOI固定块5及与其固定连接的AOI监视器6与所述安装平台4垂直连接，沿水平方向监视所述显示屏7，从而获得最为准确的图像；所述安装平台4上固定安装有遮光罩9，所述遮光罩9从所述显示屏7端开始延伸至所述AOI监视器6，所述遮光罩9采用不透光材料制成，屏蔽周围光线，保证所述AOI监视器6捕捉到最为准确的图像。
具体的，在使用时，半导体产品由吸嘴送到所述测试站后，通电对半导体产品进行测试，测试信号通过所述导线3传输到所述测试器本体，此时在所述显示屏上显示波形图，波形经过设定的5个点时判定材料是否为良品，如图2所示，如果呈现良品波形图，所述AOI监视器6发出信号进入下一站封装，如果呈现不良品波形图，所述AOI监视器6发出信号将不良品排入排料站，以此循环工作；该装置的速度约为300ms/颗，跟原先人工速度5s/颗相比，工作效率有了显著提高，且所述AOI监视器6的出错率远远低于人工在劳动强度较大情况下的出错率，进一步提高的测试的准确率。
上述描述仅是对本实用新型较佳实施例的描述，并非对本实用新型范围的任何限定，本实用新型领域的普通技术人员根据上述揭示内容做的任何变更、修饰，均属于权利要求书的保护范围。
Claims (5)
1.一种半导体产品测试装置，其特征在于，包括测试器本体（1）和测试站（2），所述测试器本体（1）和所述测试站（2）之间通过导线（3）连接；
所述测试器本体（1）正面固定连接有安装平台（4）；
所述安装平台（4）远离所述测试器本体（1）的一端通过AOI固定块（5）固定连接有AOI监视器（6）；
所述安装平台（4）靠近所述测试器本体（1）的一端固定安装有显示屏（7）；
所述AOI监视器（6）和所述显示屏（7）均与所述测试器本体（1）电连接。
2.如权利要求1所述的一种半导体产品测试装置，其特征在于，所述安装平台（4）上沿中线开有若干个调节槽（8），所述AOI固定块（5）与所述调节槽（8）通过螺栓固定连接。
3.如权利要求2所述的一种半导体产品测试装置，其特征在于，所述AOI固定块（5）及与其固定连接的AOI监视器（6）与所述安装平台（4）垂直连接。
4.如权利要求1所述的一种半导体产品测试装置，其特征在于，所述安装平台（4）上固定安装有遮光罩（9）。
5.如权利要求4所述的一种半导体产品测试装置，其特征在于，所述遮光罩（9）从所述显示屏（7）端开始延伸至所述AOI监视器（6）。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202022557148.9U CN213364602U (zh) | 2020-11-06 | 2020-11-06 | 一种半导体产品测试装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202022557148.9U CN213364602U (zh) | 2020-11-06 | 2020-11-06 | 一种半导体产品测试装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN213364602U true CN213364602U (zh) | 2021-06-04 |
Family
ID=76134001
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202022557148.9U Active CN213364602U (zh) | 2020-11-06 | 2020-11-06 | 一种半导体产品测试装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN213364602U (zh) |
-
2020
- 2020-11-06 CN CN202022557148.9U patent/CN213364602U/zh active Active
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