CN212459944U - 一种集成电路的耐温性测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种集成电路的耐温性测试装置，属于集成电路技术领域，包括底板，所述底板的顶部安装有支撑柱、测试组件和传动带，所述支撑柱的顶部固定安装有轨道板，所述测试组件上设有定位台，所述定位台的顶部安装有两个竖板，两个竖板之间固定安装有多个水平设置的横轴，两个竖板转动安装有驱动杆，驱动杆位于横轴的下方，横轴上滑动套设有两个夹持板，夹持板与驱动杆螺纹连接，所述轨道板上滑动安装有竖直设置的驱动板，驱动板的一侧滑动安装有竖直设置的升降杆；本实用新型实现对集成电路的电动化固定，夹持稳定，方便测试的进行，实现流水线式测试，提高测试效率，极大的节省人工。
Description
技术领域
本实用新型属于集成电路技术领域，具体涉及一种集成电路的耐温性测试装置。
背景技术
集成电路测试是保证集成电路性能、质量的关键手段之一。集成电路测试技术是发展集成电路产业的三大支撑技术之一，因此，集成电路测试仪作为一个测试门类受到很多国家的高度重视，40年来，随着集成电路发展到第四代，集成电路测试仪也从最初测试小规模集成电路发展到测试中规模、大规模和超大规模集成电路；集成电路的测试一般采用集成电路测试仪，但是这种测试仪不方便固定集成电路主体，不方便操作。因此，需要一种集成电路的耐温性测试装置来解决以上问题。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种集成电路的耐温性测试装置，以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种集成电路的耐温性测试装置，包括底板，所述底板的顶部安装有支撑柱、测试组件和传动带，所述支撑柱的顶部固定安装有轨道板，所述测试组件上设有定位台，所述定位台的顶部安装有两个竖板，两个竖板之间固定安装有多个水平设置的横轴，两个竖板转动安装有驱动杆，驱动杆位于横轴的下方，横轴上滑动套设有两个夹持板，夹持板与驱动杆螺纹连接，所述轨道板上滑动安装有竖直设置的驱动板，驱动板的一侧滑动安装有竖直设置的升降杆，升降杆的底部固定连接有水平板，水平板的底部铰接有两个弧形板，所述水平板上固定安装有推杆电机，推杆电机的推杆固定连接有活动板，活动板的两端铰接有活动杆，活动杆与弧形板铰接。
作为一种优选的实施方式，所述驱动杆由左螺纹杆和右螺纹杆组成，左螺纹杆和右螺纹杆的螺纹方向相反，两个夹持板分别与左螺纹杆和右螺纹杆螺纹连接。
其中一个所述竖板上设有双向减速电机，双向减速电机的输出轴与驱动杆传动连接。
所述驱动板靠近升降杆的一侧开设有驱动槽，驱动槽内固定安装有电动伸缩杆，电动伸缩杆的活塞杆固定连接有升降块，升降块与驱动槽的内壁滑动连接，升降块与升降杆固定连接。
所述轨道板上开设有矩形通孔，驱动板与矩形通孔的内壁滑动连接，矩形通孔内转动安装有水平设置的丝杆，丝杆与驱动板螺纹连接。
所述轨道板的一端转动安装有水平设置的转动轴，转动轴的一端与丝杆传动连接,轨道板的一端设有双向电机，双向电机的输出轴与转动轴的另一端传动连接。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：
通过测试组件上的定位台对集成电路进行定位，通过两个夹持板相向运动夹持住集成电路，双向对集成电路的电动化固定，夹持稳定，使得集成电路稳定的放置在测试装置上给测试组件进行检测，方便测试的进行。
通过传动带的输送集成电路，两个弧形板合拢，夹持住传动带上输送的集成电路，升降杆升降和驱动板水平运动，实现流水线式测试，提高测试效率，极大的节省人工。
本实用新型实现对集成电路的电动化固定，夹持稳定，方便测试的进行，实现流水线式测试，提高测试效率，极大的节省人工。
附图说明
图1为本实用新型的结构示意图；
图2为图1中A处的结构示意图；
图3为图1中B处的结构示意图；
图4为本实用新型的轨道板和驱动板的剖视结构示意图。
图中：1、底板；2、支撑柱；3、轨道板；4、传动带；5、测试组件；6、定位台；7、竖板；8、横轴；9、驱动杆；10、夹持板；11、双向减速电机；12、驱动板；13、升降杆；14、水平板；15、弧形板；16、推杆电机；17、活动板；18、活动杆；19、电动伸缩杆；20、丝杆；21、双向电机。
具体实施方式
下面结合实施例对本实用新型做进一步的描述。
以下实施例用于说明本实用新型，但不能用来限制本实用新型的保护范围。实施例中的条件可以根据具体条件做进一步的调整，在本实用新型的构思前提下对本实用新型的方法简单改进都属于本实用新型要求保护的范围。
请参阅图1-4，本实用新型提供一种集成电路的耐温性测试装置，包括底板1，底板1的顶部安装有支撑柱2、测试组件5和传动带4，支撑柱2的顶部固定安装有轨道板3，测试组件5上设有定位台6，定位台6的顶部安装有两个竖板7，两个竖板7之间固定安装有多个水平设置的横轴8，两个竖板7转动安装有驱动杆9，驱动杆9位于横轴8的下方，横轴8上滑动套设有两个夹持板10，夹持板10与驱动杆9螺纹连接(见图1和图2)；通过测试组件5上的定位台6对集成电路进行定位，通过两个夹持板10相向运动夹持住集成电路，双向对集成电路的电动化固定，夹持稳定，使得集成电路稳定的放置在测试装置上给测试组件5进行检测，方便测试的进行。
轨道板3上滑动安装有竖直设置的驱动板12，驱动板12的一侧滑动安装有竖直设置的升降杆13，升降杆13的底部固定连接有水平板14，水平板14的底部铰接有两个弧形板15，水平板14上固定安装有推杆电机16，推杆电机16的推杆固定连接有活动板17，活动板17的两端铰接有活动杆18，活动杆18与弧形板15铰接(见图1和图3)；通过传动带4的输送集成电路，两个弧形板15合拢，夹持住传动带4上输送的集成电路，升降杆13升降和驱动板12水平运动，实现流水线式测试，提高测试效率，极大的节省人工。
驱动杆9由左螺纹杆和右螺纹杆组成，左螺纹杆和右螺纹杆的螺纹方向相反，两个夹持板10分别与左螺纹杆和右螺纹杆螺纹连接。其中一个竖板7上设有双向减速电机11，双向减速电机11的输出轴与驱动杆9传动连接(见图1和图2)；双向减速电机11带动驱动杆9转动使得左螺纹杆和右螺纹杆转动使得两个夹持板10相向运动夹持住集成电路，双向对集成电路的电动化固定，夹持稳定。
驱动板12靠近升降杆13的一侧开设有驱动槽，驱动槽内固定安装有电动伸缩杆19，电动伸缩杆19的活塞杆固定连接有升降块，升降块与驱动槽的内壁滑动连接，升降块与升降杆13固定连接(见图1和图4)；同时配合电动伸缩杆19带动升降块升降使得升降杆13升降。
轨道板3上开设有矩形通孔，驱动板12与矩形通孔的内壁滑动连接，矩形通孔内转动安装有水平设置的丝杆20，丝杆20与驱动板12螺纹连接(见图1和图4)；轨道板3的一端转动安装有水平设置的转动轴，转动轴的一端与丝杆20传动连接,轨道板3的一端设有双向电机21，双向电机21的输出轴与转动轴的另一端传动连接。
在使用时，通过测试组件5上的定位台6对集成电路进行定位，通过集成电路放置在横轴8上，然后双向减速电机11带动驱动杆9转动使得左螺纹杆和右螺纹杆转动使得两个夹持板10相向运动夹持住集成电路，双向对集成电路的电动化固定，夹持稳定，使得集成电路稳定的放置在测试装置上给测试组件5进行检测，方便测试的进行。通过传动带4的输送集成电路，通过推杆电机16带动活动板17上升使得活动杆18运动带动两个弧形板15合拢，夹持住传动带4上输送的集成电路，同时配合电动伸缩杆19带动升降块下降使得升降杆13下降对传动带4上的集成电路进行夹持，配合电动伸缩杆19带动升降块上升使得升降杆13上升带动集成电路上升，然后双向电机21带动丝杆20转动使得驱动板12向左运动把集成电路放置到横轴8上，实现流水线式测试，提高测试效率，极大的节省人工。
尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。
Claims (6)
1.一种集成电路的耐温性测试装置，包括底板(1)，其特征在于：所述底板(1)的顶部安装有支撑柱(2)、测试组件(5)和传动带(4)，所述支撑柱(2)的顶部固定安装有轨道板(3)，所述测试组件(5)上设有定位台(6)，所述定位台(6)的顶部安装有两个竖板(7)，两个竖板(7)之间固定安装有多个水平设置的横轴(8)，两个竖板(7)转动安装有驱动杆(9)，驱动杆(9)位于横轴(8)的下方，横轴(8)上滑动套设有两个夹持板(10)，夹持板(10)与驱动杆(9)螺纹连接，所述轨道板(3)上滑动安装有竖直设置的驱动板(12)，驱动板(12)的一侧滑动安装有竖直设置的升降杆(13)，升降杆(13)的底部固定连接有水平板(14)，水平板(14)的底部铰接有两个弧形板(15)，所述水平板(14)上固定安装有推杆电机(16)，推杆电机(16)的推杆固定连接有活动板(17)，活动板(17)的两端铰接有活动杆(18)，活动杆(18)与弧形板(15)铰接。
2.根据权利要求1所述的一种集成电路的耐温性测试装置，其特征在于：所述驱动杆(9)由左螺纹杆和右螺纹杆组成，左螺纹杆和右螺纹杆的螺纹方向相反，两个夹持板(10)分别与左螺纹杆和右螺纹杆螺纹连接。
3.根据权利要求2所述的一种集成电路的耐温性测试装置，其特征在于：其中一个所述竖板(7)上设有双向减速电机(11)，双向减速电机(11)的输出轴与驱动杆(9)传动连接。
4.根据权利要求1所述的一种集成电路的耐温性测试装置，其特征在于：所述驱动板(12)靠近升降杆(13)的一侧开设有驱动槽，驱动槽内固定安装有电动伸缩杆(19)，电动伸缩杆(19)的活塞杆固定连接有升降块，升降块与驱动槽的内壁滑动连接，升降块与升降杆(13)固定连接。
5.根据权利要求1所述的一种集成电路的耐温性测试装置，其特征在于：所述轨道板(3)上开设有矩形通孔，驱动板(12)与矩形通孔的内壁滑动连接，矩形通孔内转动安装有水平设置的丝杆(20)，丝杆(20)与驱动板(12)螺纹连接。
6.根据权利要求5所述的一种集成电路的耐温性测试装置，其特征在于：所述轨道板(3)的一端转动安装有水平设置的转动轴，转动轴的一端与丝杆(20)传动连接,轨道板(3)的一端设有双向电机(21)，双向电机(21)的输出轴与转动轴的另一端传动连接。
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| CN114281037A (zh) * | 2021-12-14 | 2022-04-05 | 江西艾普若科技有限责任公司 | 一种通讯终端在线调试系统 |
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2020
- 2020-03-09 CN CN202020277640.8U patent/CN212459944U/zh not_active Expired - Fee Related
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