CN211870677U - 一种芯片检测装置的进料装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及芯片检测设备领域，具体为一种芯片检测装置的进料装置，包括升降平台、转运托盘、固定平台和转动驱动装置、升降驱动装置。升降驱动装置用以驱动升降平台升降，转动驱动装置用以驱动转运托盘转动。本实用新型通过转动方式实现空芯片盘与新芯片盘位置的调换，进而实现进出料。本实用新型具有提高进料的效率，进而具有提高生产效率的有益效果。

Description

一种芯片检测装置的进料装置

技术领域

本实用新型涉及芯片检测设备领域，具体为一种芯片检测装置的进料装置。

背景技术

通常情况下，芯片的检测设备为一个箱体或者柜体。在箱体或者柜体的内部进行生产和检测工作以保证工人的安全以及生产效率的提高。然而在箱体内部的芯片检测完之后需要从新入料，即将空的芯片盘拿出来在将新的芯片盘放进去。现在较为常用的往复的移动式，首先将空的芯片盘通过皮带或者辊道推出，然后取走，在放入新的芯片盘，在推入。一出一入会浪费时间降低效率，因此设计一种出入同时发生的装置成为提高效率的一种迫切的要求。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题是：提供了具有快速进行芯片盘更换的一种芯片检测装置的进料装置。

本实用新型要解决的技术问题的技术方案是：一种芯片检测装置的进料装置，其特征在于：包括升降平台、转运托盘、固定平台和转动驱动装置、升降驱动装置；所述固定平台中部设有上下贯通的空腔，空腔四周设有稳固孔，所述升降平台下部对应稳固孔的位置设有稳固杆，所述稳固杆滑动插接在稳固孔中，所述升降平台对应空腔的位置设有转轴孔；所述转运托盘的下部设有与其固定连接的托盘转动轴，所述托盘转动轴的中部插设于固定平台的空腔和升降平台的转轴孔中，并且与转轴孔转动连接；所述升降驱动装置为直线运动驱动装置，升降驱动装置与升降平台连接用以驱动升降平台升降；所述转动驱动装置为圆周运动驱动装置，转动驱动装置与托盘转动轴的下端连接，用以驱动转运托盘转动。

更好的，所述固定平台上部设有限位支柱。

更好的，所述限位支柱为管状，所述限位支柱的管腔与稳固孔上下重合。

更好的，所述升降驱动装置为电动推杆，所述电动推杆的壳体和固定平台固定连接，所述电动推杆的推杆上端和升降平台固定连接或铰接连接。

更好的，所述升降驱动装置包括滑台、气缸、顶杆；所述滑台与固定平台固定连接，所述气缸设于滑台上，所述固定平台内侧设有水平的位移槽，所述顶杆的上部与升降平台的下部铰接连接，所述顶杆的下部与气缸的推杆铰接连接，所述顶杆下端设有凸起并滑动设置在位移槽内部。

更好的，所述转动驱动装置包括电机、联动管，所述联动管管腔截面形状为非圆形，所述电机和固定平台固定连接，所述托盘转动轴的下端的截面形状与联动管的管腔的截面形状相同，并且插接在联动管的管腔内部，所述电机的转轴与联动管连接，或者电机的转轴通过减速器和联动管连接。

更好的，所述转动驱动装置包括电机、U形联动架、转轴固定座；所述U形联动架的闭合端中部设有联动轴，所述联动轴与转轴固定座连接；所述托盘转动轴的下部插接在U形联动架的开口端的中部，托盘转动轴的两侧通过直线轴承和U形联动架的两分支滑动连接；所述电机驱动联动轴转动，进而带动通过U形联动架带动托盘转动轴转动。

更好的，所述转运托盘的两端设有定位凸起，用以限定芯片盘。

更好的，该装置应用于一种芯片检测设备，芯片检测设备设有框形的芯片盘托架，芯片盘托架一端设于检测设备内部，另一端设于检测设备外部，升降平台位于芯片盘托架的内部，需要进行进出料时：升降驱动装置将升降平台抬起，升降平台将转运托盘抬起，转运托盘将检测设备内部已检测完的芯片盘和位于检测设备外部未检测的芯片盘托起并脱离芯片盘托架；转动驱动装置驱动转运托盘转动180度，使检测设备内部和外部芯片盘转换位置；升降驱动装置将升降平台落下，升降平台将转运托盘落下，转运托盘将检测设备外部未检测的芯片盘放置在芯片盘托架位于检测设备内部的一端，完成芯片盘的更换。

本实用新型的有益效果为：

提高芯片盘更换效率，达到提高生产效率有益效果。

附图说明

图1是本实用新型一种实施例的俯视图

图2是本实用一种实施例的立体图

图中：

553、顶杆；551、气缸；552、滑台；540、转动驱动装置；521、托盘转动轴；520、转运托盘；510、升降平台；531、限位支柱；530、固定平台；700、芯片盘托架；

具体实施方式

为使本实用新型的技术方案和有益效果更加清楚，下面对本实用新型的实施方式做进一步的详细解释。

该实用新型为一种芯片检测装置的进料装置，主要应用于芯片检测设备，为了保证安全芯片检测设备一般设计为闭合的柜体。柜体设有一端设于检测设备内部一端设于检测设备外部的芯片盘托架700，芯片盘托架的主体形状为框形，即芯片盘托架700中部设有缺口。其两端可以支撑芯片盘。

转运托盘520正好嵌设在缺口内部，在需要进行芯片盘更换的时候，转运托盘升起，与芯片盘托架700处于两个平面，因此可以通过转动实现转运托盘两端的位置的调换，进而实现新的芯片盘的进入，空的芯片盘的退出。转动完成之后，转运托盘落入缺口中，芯片盘架设在芯片盘托架上。

为了实现上述升降和转动功能，本实用新型包括升降平台510、转运托盘520、固定平台530和转动驱动装置540、升降驱动装置550。

转运托盘520、升降平台510、固定平台530由上之下依次设置。固定平台530中部设有上下贯通的空腔。固定平台530可为矩形框，或者其中部镂空，镂空部分的外周设有稳固孔。稳固孔的轴向方向为上下方向。由于升降平台510要与固定平台530之间产生上下方向的位移，因此在升降平台510对应稳固孔的位置设置了稳固杆511，稳固杆511插接在稳固孔中，并且可以在稳固孔中上下滑动。为了保证升降平台510上下滑动顺利，减少升降驱动装置550的压力，在固定平台530与升降平台510之间设置了限位支柱531。本实施例中限位支柱531和固定平台530固定连接。更好的，为了节约成本，限位支柱531为管状，并且限位支柱的管腔与稳固孔上下重合，稳固杆插接在限位支柱的管腔和稳固孔中，并在其中滑动。

为了便于托盘转动轴521的安装，除了固定平台530中部设有空腔外，升降平台510对应固定平台530的空腔的位置设有转轴孔。托盘转动轴521中部设于固定平台530的空腔内并且与空腔的壁不接触。托盘转动轴521插设在转轴孔中并且与转轴孔通过轴承转动连接。通过轴承连接之后，形成了对托盘转动轴521的固定作用。托盘转动轴521的上端与转运托盘520固定连接，以驱动转运托盘520转动。

升降驱动装置550为直线运动驱动装置，升降驱动装置550与升降平台510连接用以驱动升降平台510升降。

升降驱动装置550可为电动推杆。电动推杆和固定平台530固定连接。电动推杆的上端和升降平台510固定连接。电动推杆便可实现对升降平台升降的控制。

更好的，升降驱动装置550包括滑台552、气缸551、顶杆553。

滑台552与固定平台530固定连接，滑台为一安装平台，气缸551设于滑台552上。顶杆553的上部与升降平台510的下部铰接连接，顶杆553的下部与气缸551的推杆铰接连接。为了限定顶杆的运动轨迹，固定平台530内侧设有水平的位移槽，顶杆下端设有凸起并滑动设置在位移槽内部。顶杆在推杆的作用下，顶杆的下部在位移槽内水平滑动。在顶杆下端靠近气缸的位置时，顶杆倾斜设置，推杆推动顶杆之后，顶杆由倾斜向竖直变化，并将升降平台顶起。

转动驱动装置540为圆周运动驱动装置，转动驱动装置540与托盘转动轴521连接，用以驱动转运托盘520转动。

转动驱动装置540包括电机、联动管。联动管管腔截面形状为非圆形。电机和固定平台530固定连接。托盘转动轴521的下端的截面形状与联动管的管腔的截面形状相同，并且插接在联动管的管腔内部。电机的转轴与联动管连接，或者电机的转轴通过减速器和联动管连接。托盘转动轴521插入联动管的长度大于升降平台510最大的升起高度。

或者，转动驱动装置540包括电机、U形联动架、转轴固定座。U形联动架的闭合端的中部设有联动轴，联动轴与U形联动架固定连接。联动轴通过轴承与转轴固定座连接。转轴固定座用以保持联动轴和盒U形联动架的稳定。转轴固定座通过矩形板等支架与固定平台连接，矩形板长度方向为上下方向，转动固定座设于矩形板的下部，并与托盘转动轴转动连接。或者转轴固定座安装在其他固定的结构上，如检测设备的箱体或者柜体上。托盘转动轴521的下部插接在U形联动架542的开口端的中部，托盘转动轴521的两侧通过直线轴承和U形联动架的两端滑动连接。此时，既可以实现两者的上下方向的相对滑动，U形联动架还可带动托盘转动轴转动。电机与联动轴通过皮带或者齿轮联动。或者电机的转轴直接与联动轴连接来驱动其转动。联动轴通过U形联动架542带动托盘转动轴521转动。该结构可以大大的提高托盘转动轴的稳定性。电机可以通过支架与固定平台530，也可以固定在其他设备上。

更好的，为了保持在转动过程中，芯片盘的稳定，在转运托盘的两端设置了定位凸起。相应的，芯片盘对应的位置可以设置定位凹槽。通过该定位凸起，不仅可以实现定位的功能，还可实现稳固作用，防止在转动的过程中，芯片盘与转运托盘发生相对移动，致使芯片盘进入后无法到达指定的位置。

该装置应用于一种芯片检测设备，芯片检测设备设有框形的芯片盘托架，芯片盘托架700一端设于检测设备内部，另一端设于检测设备外部，升降平台510位于芯片盘托架700的内部。本实用新型在工作过程中，转运托盘520和芯片盘托架相同，一端位于芯片检测设备的内部，另一端位于芯片检测设备的外，通过转动的方式，将位于芯片检测设备内部的空芯片盘与位于芯片检测设备外部的新的芯片盘进行位置的调换，在出料的同时，完成了进料，进而实现芯片盘的进出，具体的：

升降驱动装置550将升降平台510抬起，升降平台510将转运托盘520抬起，转运托盘520将检测设备内部已检测完的芯片盘和位于检测设备外部未检测的芯片盘托起并脱离芯片盘托架700；

转动驱动装置540驱动转运托盘520转动180度，使检测设备内部和外部芯片盘转换位置；

升降驱动装置550将升降平台510落下，升降平台510将转运托盘520落下，转运托盘520将检测设备外部未检测的芯片盘放置在芯片盘托架700位于检测设备内部的一端，完成芯片盘的更换。

与传统的推入推出的方式可以大大提高效率。同时优化了工作流程，工作人员只需将位于芯片检测设备外部的空的芯片盘更换为新的芯片盘即可，无需在设备处等待，因此具有提高工作效率的有益效果，一人可以看管多台设备。

综上所述，仅为本实用新型的较佳实施例而已，并非用来限定本实用新型的范围，通过上述的说明内容，相关工作人员完全可以在不偏离本项实用新型技术思想的范围内，进行多样的变更以及修改。本实用新型的技术性范围并不局限于说明书上的内容，凡依本实用新型的要求范围所述的形状、构造、特征及精神所谓的均等变化与修饰，均应包括与本实用新型的权利要求范围内。

Claims (8)

1.一种芯片检测装置的进料装置，其特征在于：

包括升降平台(510)、转运托盘(520)、固定平台(530)和转动驱动装置(540)、升降驱动装置(550)；

所述固定平台(530)中部设有上下贯通的空腔，空腔四周设有稳固孔，所述升降平台(510)下部对应稳固孔的位置设有稳固杆(511)，所述稳固杆(511)滑动插接在稳固孔中，所述升降平台(510)对应空腔的位置设有转轴孔；

所述转运托盘(520)的下部设有与其固定连接的托盘转动轴(521)，所述托盘转动轴(521)的中部插设于固定平台(530)的空腔和升降平台(510)的转轴孔中，并且与转轴孔转动连接；

所述升降驱动装置(550)为直线运动驱动装置，升降驱动装置(550)与升降平台(510)连接用以驱动升降平台(510)升降；

所述转动驱动装置(540)为圆周运动驱动装置，转动驱动装置(540)与托盘转动轴(521)的下端连接，用以驱动转运托盘(520)转动。

2.根据权利要求1所述的一种芯片检测装置的进料装置，其特征在于：

所述固定平台(530)上部设有限位支柱(531)。

3.根据权利要求2所述的一种芯片检测装置的进料装置，其特征在于：

所述限位支柱(531)为管状，所述限位支柱(531)的管腔与稳固孔上下重合。

4.根据权利要求1所述的一种芯片检测装置的进料装置，其特征在于：

所述升降驱动装置(550)为电动推杆，所述电动推杆的壳体和固定平台(530)固定连接，所述电动推杆的推杆上端和升降平台(510)固定连接或铰接连接。

5.根据权利要求1所述的一种芯片检测装置的进料装置，其特征在于：

所述升降驱动装置(550)包括滑台(552)、气缸(551)、顶杆(553)；

所述滑台(552)与固定平台(530)固定连接，所述气缸(551)设于滑台(552)上，所述固定平台(530)内侧设有水平的位移槽，

所述顶杆的上部与升降平台(510)的下部铰接连接，所述顶杆(553)的下部与气缸(551)的推杆铰接连接，所述顶杆下端设有凸起并滑动设置在位移槽内部。

6.根据权利要求1所述的一种芯片检测装置的进料装置，其特征在于：

所述转动驱动装置(540)包括电机、联动管，所述联动管管腔截面形状为非圆形，所述电机和固定平台(530)固定连接，所述托盘转动轴(521)的下端的截面形状与联动管的管腔的截面形状相同，并且插接在联动管的管腔内部，所述电机的转轴与联动管连接，或者电机的转轴通过减速器和联动管连接。

7.根据权利要求1所述的一种芯片检测装置的进料装置，其特征在于：

所述转动驱动装置(540)包括电机、U形联动架、转轴固定座；

所述U形联动架的闭合端中部设有联动轴，所述联动轴与转轴固定座连接；

所述托盘转动轴(521)的下部插接在U形联动架(542)的开口端的中部，托盘转动轴(521)的两侧通过直线轴承和U形联动架的两分支滑动连接；

所述电机驱动联动轴转动，进而带动通过U形联动架(542)带动托盘转动轴(521)转动。

8.根据权利要求1所述的一种芯片检测装置的进料装置，其特征在于：

所述转运托盘(520)的两端设有定位凸起，用以限定芯片盘。

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