CN211552690U - 一种用于检测探针z轴深度的装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及电路板检测技术领域，公开了一种用于检测探针Z轴深度的装置，包括底座，固定在底座上的滑轨，与滑轨滑动配合的探针安装座，及与探针安装座联动的指针件；所述底座沿滑轨的长度方向设置标尺，底座上对应滑轨的一端固定连接移动调节块；所述指针件由探针安装座带动并沿滑轨移动，移动调节块上对应探针安装座成形的抵触壁抵挡探针的针尖，指针件指示出标尺上的刻度值。应用本实用新型的技术方案，通过该用于检测探针Z轴深度的装置，方便检测探针的Z轴深度，并可快速进行比对，判定探针是否合格，效率高。同时，也避免了人工检测中可能存在较大误差，出现误判现象。

Description

一种用于检测探针Z轴深度的装置

技术领域

本实用新型涉及电路板检测技术领域，特别是涉及一种用于检测探针Z轴深度的装置，经过该装置检测合格的探针安装在测试机上用于检测电路板。

背景技术

电路板在测试中可利用飞针测试机进行飞针测试，飞针测试是目前电气测试一些主要问题的最新解决办法。它用探针来取代针床，使用多个由马达驱动的、能够快速移动的电气探针同器件的引脚进行接触并进行电气测量。其中，飞针测试机上使用的探针需要检测其长度，符合标准范围值后方可使用。现有技术中，探针的长度检测是通过手工进行的，检测不便且效率低，人工成本偏高。

实用新型内容

本实用新型旨在提供一种用于检测探针Z轴深度的装置，以解决现有技术中探针检测不便的上述技术问题。

为了实现上述目的，本实用新型采用的技术方案为：

一种用于检测探针Z轴深度的装置，包括底座，固定在底座上的滑轨，与滑轨滑动配合的探针安装座，及与探针安装座联动的指针件；所述底座沿滑轨的长度方向设置标尺，底座上对应滑轨的一端固定连接移动调节块；所述指针件由探针安装座带动并沿滑轨移动，移动调节块上对应探针安装座成形的抵触壁抵挡探针的针尖，指针件指示出标尺上的刻度值。

根据本实用新型的用于检测探针Z轴深度的装置，所述探针安装座上固定有探针定位销，探针定位销设有两根。

根据本实用新型的用于检测探针Z轴深度的装置，所述滑轨滑动连接滑块，滑块的上方固定有连接块，连接块固接在探针安装座的下方。

根据本实用新型的用于检测探针Z轴深度的装置，所述底座上对应滑轨的两端固定有限位件。

根据本实用新型的用于检测探针Z轴深度的装置，所述限位件为限位销钉。

根据本实用新型的用于检测探针Z轴深度的装置，所述底座上固定连接垫高座，垫高座位于移动调节块的下方。

根据本实用新型的用于检测探针Z轴深度的装置，所述移动调节块上开设有滑移槽，滑移槽的长度方向沿滑轨长度方向设置；所述滑移槽内插入紧固螺栓，并通过紧固螺栓固定。

本实用新型的有益效果：

应用本实用新型的技术方案，标准探针固定在探针安装座上，探针安装座带动标准探针在滑轨上朝向移动调节块移动，标准探针的针尖受到移动调节块的抵触壁抵挡而停止并固定住；此时，观察指针件指向标尺的位置并读取数据，测得标准探针的Z轴深度值(长度值)。之后，将标准探针取下，换上待测探针，以相同方法检测并读取该待测探针的Z轴深度值(长度值)，将该待测探针的Z轴深度值与标准探针的Z轴深度值比对，当在允许的范围内，视待测探针(的长度)合格，可正常使用该探针。通过该用于检测探针Z轴深度的装置，方便检测探针的Z轴深度，并可快速进行比对，判定探针是否合格，效率高。同时，也避免了人工检测中可能存在较大误差，出现误判现象。

附图说明

图1是本实用新型优选实施例的结构示意图；

图2是图1中A部的局部放大示意图；

图3是图1的俯视示意图；

图4是图1的前视示意图；

图5是图1的左视示意图；

图6是移动调节块的结构示意图；

附图标记：

底座1、限位销钉2、滑轨3、滑块4、连接块5、探针安装座6、标尺7、指针件8、垫高座9、移动调节块10、紧固螺栓11、抵触壁12、探针定位销13、指针固定板14、指针本体15、滑移槽16。

具体实施方式

以下由特定的具体实施例说明本实用新型的实施方式，熟悉此技术的人士可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本实用新型的其他优点及功效。

请参阅附图。须知，本说明书所附图式所绘示的结构、比例、大小等，均仅用以配合说明书所揭示的内容，以供熟悉此技术的人士了解与阅读，并非用以限定本实用新型可实施的限定条件，故不具技术上的实质意义，任何结构的修饰、比例关系的改变或大小的调整，在不影响本实用新型所能产生的功效及所能达成的目的下，均应仍落在本实用新型所揭示的技术内容得能涵盖的范围内。同时，本说明书中所引用的如“上”、“下”、“左”、“右”、“中间”及“一”等的用语，亦仅为便于叙述的明了，而非用以限定本实用新型可实施的范围，其相对关系的改变或调整，在无实质变更技术内容下，当亦视为本实用新型可实施的范畴。

实施例

请参阅图1-图6，本实用新型提供了一种用于检测探针Z轴深度的装置，包括底座1，固定在底座1上的滑轨3，与滑轨3滑动配合的探针安装座6，及与探针安装座6联动的指针件8；所述底座1沿滑轨3的长度方向设置标尺7，底座1上对应滑轨3的一端固定连接移动调节块10；所述指针件8由探针安装座6带动并沿滑轨3移动，移动调节块10上对应探针安装座6成形的抵触壁12抵挡探针的针尖，指针件8指示出标尺7上的刻度值。

所述探针安装座6上固定有探针定位销13，探针定位销13设有两根。

探针定位销13垂直于探针安装座6的顶面。待测探针上开设有两个对位孔，探针定位销13配合对位孔设置，待测探针插入探针定位销13上，并固定住。

另外，可以在所述滑轨3上滑动连接滑块4，滑块4的上方通过螺栓固定有连接块5，连接块5通过螺栓固接在探针安装座6的下方。滑轨3通过螺栓固定在底座1上。

滑块4可设置多块，提高其在滑轨3上滑行的流畅性、稳定性。通过设置滑块4、连接块5便于控制探针安装座6的安装高度，也有利于结构稳定性。

如图2，所述指针件8为弯折状态，其分为指针固定板14，及成形在指针固定板14上的指针本体15。所述指针本体15设于底座1的上方并与底座1平行；指针本体15还可设置为垂直于底座1。指针固定板14可以通过螺栓安装固定在探针安装座6、连接块5、滑块4中至少一个零件的侧面。

所述底座1上对应滑轨3的两端固定有限位件。所述限位件为限位销钉2。

限位销钉2用于限制探针安装座6、滑块4的滑行，防止探针安装座6、滑块4滑脱。

另外，可以在所述底座1上固定连接垫高座9，垫高座9位于移动调节块10的下方。

垫高座9可用于调节移动调节块10的安装高度。

如图6，可以在所述的移动调节块10上开设滑移槽16，滑移槽16的长度方向沿滑轨3的长度方向设置；所述滑移槽16内插入紧固螺栓11，并通过紧固螺栓11固定在垫高座9上或者底座1上，垫高座9、底座1上对应紧固螺栓11开设有螺栓孔。

移动调节块10的借助滑移槽16调节移动调节块10与滑轨3端部之间的距离，调节好后，拧紧紧固螺栓11固定住移动调节块10即可。

所述抵触壁12延伸出探针安装座6的表面，配合探针安装座6设置。具体的，抵触壁12可以向上延伸出移动调节块10的顶面并与其垂直。当然的，抵触壁12可以成形为探针安装座6的表面，为探针安装座6的一部分。

本用于检测探针Z轴深度的装置的工作情况在上述的有益效果中已有说明。下面阐述下待测探针的Z轴深度值与标准探针的Z轴深度值(下称标准值)比对的具体情况：待测探针的Z轴深度值(长度值)介于标准值的-1至+1范围，则说明探针是在正常范围内，可以上测试机(可为HIOKI测试机)使用；如果待测探针的Z轴深度值(长度值)在标准值的-1至+1范围外，也就是小于-1或大于+1，则说明探针不在测试机的正常使用范围内，可判定该探针为不合格探针，不能使用。

上述实施例仅例示性说明本实用新型的原理及其功效，而非用于限制本实用新型。任何熟悉此技术的人士皆可在不违背本实用新型的精神及范畴下，对上述实施例进行修饰或改变。因此，举凡所属技术领域中具有通常知识者在未脱离本实用新型所揭示的精神与技术思想下所完成的一切等效修饰或改变，仍应由本实用新型的权利要求所涵盖。

Claims (7)

1.一种用于检测探针Z轴深度的装置，其特征在于，包括底座，固定在底座上的滑轨，与滑轨滑动配合的探针安装座，及与探针安装座联动的指针件；所述底座沿滑轨的长度方向设置标尺，底座上对应滑轨的一端固定连接移动调节块；所述指针件由探针安装座带动并沿滑轨移动，移动调节块上对应探针安装座成形的抵触壁抵挡探针的针尖，指针件指示出标尺上的刻度值。

2.根据权利要求1所述的用于检测探针Z轴深度的装置，其特征在于，所述探针安装座上固定有探针定位销，探针定位销设有两根。

3.根据权利要求1所述的用于检测探针Z轴深度的装置，其特征在于，所述滑轨滑动连接滑块，滑块的上方固定有连接块，连接块固接在探针安装座的下方。

4.根据权利要求1所述的用于检测探针Z轴深度的装置，其特征在于，所述底座上对应滑轨的两端固定有限位件。

5.根据权利要求4所述的用于检测探针Z轴深度的装置，其特征在于，所述限位件为限位销钉。

6.根据权利要求1所述的用于检测探针Z轴深度的装置，其特征在于，所述底座上固定连接垫高座，垫高座位于移动调节块的下方。

7.根据权利要求1或6所述的用于检测探针Z轴深度的装置，其特征在于，所述移动调节块上开设有滑移槽，滑移槽的长度方向沿滑轨长度方向设置；所述滑移槽内插入紧固螺栓，并通过紧固螺栓固定。

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