CN205210132U - 一种pcb自动测试设备用高精度探针加载装置 - Google Patents

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刘新妹
殷俊龄
富强
郭鑫
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Abstract

本实用新型具体为一种PCB自动测试设备用高精度探针加载装置,解决了现有探针加载装置存在机械结构复杂、探针行程和探针压力调整范围小且加载精度低的问题。动子本体表面设置有支架,支架的一侧固定有直线电机,支架的另一侧设置有主动轮和从动轮,主动轮与从动轮之间设置有传动皮带,传动皮带上设置有滑块,滑块上设置有绝缘块,绝缘块下端设置有探针组件,探针组件包括套筒,套筒内穿有探针,探针的尾部顶有阶梯定位块,阶梯定位块的尾部套有缓冲弹簧,探针是由探针本体和探针套筒组成的,且探针套筒内设置有钢球,钢球与探针本体尾部之间设置有探针缓冲弹簧,探针本体和探针侧壁均设置有防脱落凸台。本实用新型保证了测试点加载精度的指标。

Description

一种PCB自动测试设备用高精度探针加载装置
技术领域
本实用新型涉及探针加载装置,具体为一种PCB自动测试设备用高精度探针加载装置。
背景技术
在电路板自动测试系统中,仪器通过由计算机控制的探针接触被测电路板上的测试点提取信号而实现测试;通常的电路板自动测试设备(如飞针测试机等)由一个以上的探针组件构成;测试设备工作时,探针加载的动作可分解为探针位移定位(通常指X/Y方向)机构的动作和探针组件控制探针在垂直(通常指Z方向)方向加载的动作。
现有的探针加载装置存在机构复杂、探针高度和加载压力范围小、加载精度不高等问题,而且电路板上的元器件高低不同,周边的测试点存在盲区,在对电路板进行检测时,探针加载动作对电路板会造成变形,影响测试点的加载精度指标。
发明内容
本实用新型为了解决现有探针加载装置存在机械结构复杂、探针行程和探针压力调整范围小且加载精度低的问题,提供了一种PCB自动测试设备用高精度探针加载装置。
本实用新型是采用如下技术方案实现的:一种PCB自动测试设备用高精度探针加载装置,包括沿测试设备X/Y方向运动的动子本体,动子本体表面设置有动子底板,动子底板上固定有倾斜设置的支架,支架的一侧固定有直线电机,支架的另一侧设置有主动轮和从动轮,主动轮与直线电机的输出轴连接,且主动轮与从动轮之间设置有传动皮带,传动皮带上设置有滑块,滑块上设置有绝缘块,绝缘块下端设置有探针组件,探针组件包括插接在绝缘块内的套筒,套筒内穿有探针,探针的尾部顶有与套筒内壁接触的阶梯定位块,阶梯定位块的尾部套有与绝缘块接触的缓冲弹簧,探针是由探针本体和套在其上且尾部封口的探针套筒组成的,且探针套筒内设置有钢球,钢球与探针本体尾部之间设置有探针缓冲弹簧,探针本体和探针侧壁均设置有防脱落凸台。
该探针加载装置通过设计双重缓冲弹簧可在不同的弹性力区间工作,直线电机的加载深度可以在较大范围内实现对探针加载压力的调节,同时支架的倾斜设置,满足电路板上的较高元器件的周边的测试点盲区最小,两个探针间距最小以及测试中的探针加载动作对电路板的变形最小的要求,进而保证测试点加载精度指标,克服了现有探针加载装置存在机械结构复杂、探针行程和探针压力调整范围小且加载精度低的问题。
本实用新型结构设计合理可靠,检测时实现了弹性接触电路板,杜绝了探针损坏的现象,而且可在较大范围内实现对探针加载压力的调节,同时保证了测试点加载精度的指标,满足了PCB自动测试系统对探针加载机构的要求,具有结构简单、加工方便且成本低的优点。
附图说明
图1为本实用新型的结构示意图;
图2为图1中探针组件的结构示意图。
图中:1-动子本体,2-动子底板,3-支架,4-直线电机,5-主动轮,6-从动轮,7-传动皮带,8-滑块,9-绝缘块,10-探针组件,11-套筒,12-探针,13-阶梯定位块,14-缓冲弹簧,15-探针本体,16-探针套筒,17-钢球,18-探针缓冲弹簧,19-防脱落凸台。
具体实施方式
一种PCB自动测试设备用高精度探针加载装置,包括沿测试设备X/Y方向运动的动子本体1,动子本体1表面设置有动子底板2,动子底板2上固定有倾斜设置的支架3,支架3的一侧固定有直线电机4,支架3的另一侧设置有主动轮5和从动轮6,主动轮5与直线电机4的输出轴连接,且主动轮5与从动轮6之间设置有传动皮带7,传动皮带7上设置有滑块8,滑块8上设置有绝缘块9,绝缘块9下端设置有探针组件10,探针组件10包括插接在绝缘块9内的套筒11,套筒11内穿有探针12,探针12的尾部顶有与套筒11内壁接触的阶梯定位块13,阶梯定位块13的尾部套有与绝缘块9接触的缓冲弹簧14,探针12是由探针本体15和套在其上且尾部封口的探针套筒16组成的,且探针套筒16内设置有钢球17,钢球17与探针本体15尾部之间设置有探针缓冲弹簧18,探针本体15和探针12侧壁均设置有防脱落凸台19。

Claims (1)

1.一种PCB自动测试设备用高精度探针加载装置,其特征在于:包括沿测试设备X/Y方向运动的动子本体(1),动子本体(1)表面设置有动子底板(2),动子底板(2)上固定有倾斜设置的支架(3),支架(3)的一侧固定有直线电机(4),支架(3)的另一侧设置有主动轮(5)和从动轮(6),主动轮(5)与直线电机(4)的输出轴连接,且主动轮(5)与从动轮(6)之间设置有传动皮带(7),传动皮带(7)上设置有滑块(8),滑块(8)上设置有绝缘块(9),绝缘块(9)下端设置有探针组件(10),探针组件(10)包括插接在绝缘块(9)内的套筒(11),套筒(11)内穿有探针(12),探针(12)的尾部顶有与套筒(11)内壁接触的阶梯定位块(13),阶梯定位块(13)的尾部套有与绝缘块(9)接触的缓冲弹簧(14),探针(12)是由探针本体(15)和套在其上且尾部封口的探针套筒(16)组成的,且探针套筒(16)内设置有钢球(17),钢球(17)与探针本体(15)尾部之间设置有探针缓冲弹簧(18),探针本体(15)和探针(12)侧壁均设置有防脱落凸台(19)。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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