CN217005643U - 一种简易桌上弧底高度精密测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及测量装置技术领域，尤其是指一种简易桌上弧底高度精密测试装置，包括底座、导向机构、抵触机构以及测量表，所述导向机构用于引导所述抵触机构升降，所述测量表具有测量针，所述测量针与所述抵触机构抵触，所述抵触机构用于与待测量的弧面抵触。本实用新型经测量表与地抵触机构进行接触，让抵触机构在重力作用下下降至与弧面接触，经测量表反馈数值即可确定弧底位置以及其高度，达到了高效测量的结果，且结构简单而具有低成本的优势。

Description

一种简易桌上弧底高度精密测试装置

技术领域

本实用新型涉及测量装置技术领域，尤其是指一种简易桌上弧底高度精密测试装置。

背景技术

部分工件会具有弧面以便于实现特定的安装功能，对于这类弧面，通常要对其最低位置(即弧底)的高度进行测量，只有测量值在一定数字以上时才算合格。而现有的弧底测试装置，基于结构复杂而导致成本低，若采用人工测试则有效率低和结果不可靠的缺陷。

发明内容

本实用新型针对现有技术的问题提供一种简易桌上弧底高度精密测试装置，能够可靠而稳定地对弧底进行高精度测试。

为了解决上述技术问题，本实用新型采用如下技术方案：

本实用新型提供的一种简易桌上弧底高度精密测试装置，包括底座、导向机构、抵触机构以及测量表，所述导向机构用于引导所述抵触机构升降，所述测量表具有测量针，所述测量针与所述抵触机构抵触，所述抵触机构用于与待测量的弧面抵触。

进一步的，所述抵触机构包括抵触件、测量件以及安装件，所述抵触件安装于所述安装件，所述测量件与所述抵触件均由所述导向机构进行导向，所述测量针与所述测量件抵触，所述测量件用于与待测量的弧面抵触。

更进一步的，所述抵触件包括安装部和抵触部，所述抵触部设置有所述安装部的底部一侧，所述安装部与所述抵触部彼此垂直，所述安装部安装于所述安装件，所述抵触部用于与待测量的弧面抵触。

优选的，所述安装部与所述抵触部一体成型。

更进一步的，所述导向机构包括导轨以及滑块，所述底座设置有支架，所述导轨安装于所述支架的一侧，所述滑块滑动设置于所述导轨，所述测量件与所述安装件均安装于所述滑块。

优选的，所述支架设置有支撑座，所述支撑座设置有限位孔，所述支撑座用于托住所述测量表，所述测量针装设于所述限位孔内。

更进一步的，所述抵触部用于与待测量的弧面抵触的一端为弧形结构。

进一步的，所述测量表为千分表。

本实用新型的有益效果：本实用新型经测量表与地抵触机构进行接触，让抵触机构在重力作用下下降至与弧面接触，经测量表反馈数值即可确定弧底位置以及其高度，达到了高效测量的结果，且结构简单而具有低成本的优势。

附图说明

图1为本实用新型的示意图。

图2为本实用新型的抵触件的示意图。

图3为本实用新型的支撑座的示意图。

附图标记：1—底座，2—导向机构，3—抵触机构，4—测量表，5—支架，11—支撑座，12—限位孔，21—导轨，22—滑块，31—抵触件，32—测量件，33—安装件，34—安装部，35—抵触部，41—测量针。

具体实施方式

为了便于本领域技术人员的理解，下面结合实施例与附图对本实用新型作进一步的说明，实施方式提及的内容并非对本实用新型的限定。以下结合附图对本实用新型进行详细的描述。

如图1至图3所示，本实用新型提供的一种简易桌上弧底高度精密测试装置，包括底座1、导向机构2、抵触机构3以及测量表4，所述导向机构2用于引导所述抵触机构3升降，所述测量表4具有测量针41，所述测量针41与所述抵触机构3抵触，所述抵触机构3用于与待测量的弧面抵触。

该测量表4可为千分表或者其他更高精度的表，其测量针41与抵触机构3进行抵触，能够在抵触机构3的高度发生变化时实时进行反馈。而当需要进行测量前，先调节抵触机构3的高度，即让抵触机构3的高度调节至基准位置，然后把测量表4进行归零；然后把待测试的工件放在底座1上，再把抵触机构3与该工件的弧面进行接触，让抵触机构3在重力作用下与弧面紧密抵触，此时测量表4的数值会发生变化；之后移动工件的位置，使得抵触机构3与弧面的不同位置进行接触，直至测量表4所显示的数值为最低时，该数值即为弧底的高度。本实用新型结构简单，通过重力的方式保证抵触机构3与弧面接触，从而保证了测量结果的精度，由高精度的测量表4实现对于数值的反馈，让读数更为可靠。

此外，本实用新型可与对应的控制器进行信号交互，能够通过控制器实时记录当次测量的数值，并自动显示最低的测量数值，从而让记录最低高度更加可靠方便。

在本实施例中，所述抵触机构3包括抵触件31、测量件32以及安装件33，所述抵触件31安装于所述安装件33，所述测量件32与所述抵触件31均由所述导向机构2进行导向，所述测量针41与所述测量件32抵触，所述测量件32用于与待测量的弧面抵触。即测量件32与安装件33同时升降，由抵触件31与弧面接触以完成测试，从而保证了测试效果。该安装件33与测量件32分别为两个部件，也有利于根据弧面的结构等因素更换抵触件31时不需要对应让测量件32与测量针41进行抵触，提升了便利性。

具体的，所述抵触件31包括安装部34和抵触部35，所述抵触部35设置有所述安装部34的底部一侧，所述安装部34与所述抵触部35彼此垂直，所述安装部34安装于所述安装件33，所述抵触部35用于与待测量的弧面抵触。

为了进一步提升，所述抵触部35用于与待测量的弧面抵触的一端为弧形结构，例如本实用新型中该端为类似球状，保证了与弧面可靠抵触，从而保证了测试精度。

优选的，所述安装部34与所述抵触部35一体成型，使得抵触件31的稳定性更佳，减少测试误差。

具体的，所述导向机构2包括导轨21以及滑块22，所述底座1设置有支架5，所述导轨21安装于所述支架5的一侧，所述滑块22滑动设置于所述导轨21，所述测量件32与所述安装件33均安装于所述滑块22。通过导轨21与滑块22配合，使得抵触机构3必然沿着导轨21的长度方向升降，避免其在升降过程中发生偏摆，从而保证了测试效果。

优选的，所述支架5设置有支撑座11，所述支撑座11设置有限位孔12，所述支撑座11用于托住所述测量表4，所述测量针41装设于所述限位孔12内。支撑座11用于让测量表4处于抵触机构3的上方，让测量针41在重力作用下自然下垂，以便于归零以及测试；限位孔12则是用于对测量针41进行限位，避免测量针41发生偏移，以保证读数的可靠。

以上所述，仅是本实用新型较佳实施例而已，并非对本实用新型作任何形式上的限制，虽然本实用新型以较佳实施例公开如上，然而并非用以限定本实用新型，任何熟悉本专业的技术人员，在不脱离本实用新型技术方案范围内，当利用上述揭示的技术内容作出些许变更或修饰为等同变化的等效实施例，但凡是未脱离本实用新型技术方案内容，依据本实用新型技术是指对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均属于本实用新型技术方案的范围内。

Claims (8)

1.一种简易桌上弧底高度精密测试装置，其特征在于：包括底座、导向机构、抵触机构以及测量表，所述导向机构用于引导所述抵触机构升降，所述测量表具有测量针，所述测量针与所述抵触机构抵触，所述抵触机构用于与待测量的弧面抵触。

2.根据权利要求1所述的简易桌上弧底高度精密测试装置，其特征在于：所述抵触机构包括抵触件、测量件以及安装件，所述抵触件安装于所述安装件，所述测量件与所述抵触件均由所述导向机构进行导向，所述测量针与所述测量件抵触，所述测量件用于与待测量的弧面抵触。

3.根据权利要求2所述的简易桌上弧底高度精密测试装置，其特征在于：所述抵触件包括安装部和抵触部，所述抵触部设置有所述安装部的底部一侧，所述安装部与所述抵触部彼此垂直，所述安装部安装于所述安装件，所述抵触部用于与待测量的弧面抵触。

4.根据权利要求3所述的简易桌上弧底高度精密测试装置，其特征在于：所述安装部与所述抵触部一体成型。

5.根据权利要求2所述的简易桌上弧底高度精密测试装置，其特征在于：所述导向机构包括导轨以及滑块，所述底座设置有支架，所述导轨安装于所述支架的一侧，所述滑块滑动设置于所述导轨，所述测量件与所述安装件均安装于所述滑块。

6.根据权利要求5所述的简易桌上弧底高度精密测试装置，其特征在于：所述支架设置有支撑座，所述支撑座设置有限位孔，所述支撑座用于托住所述测量表，所述测量针装设于所述限位孔内。

7.根据权利要求3所述的简易桌上弧底高度精密测试装置，其特征在于：所述抵触部用于与待测量的弧面抵触的一端为弧形结构。

8.根据权利要求3所述的简易桌上弧底高度精密测试装置，其特征在于：所述测量表为千分表。

Images