CN211401944U - 一种测量试样延伸率的夹持装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型是一种测量试样延伸率的夹持装置,包括底座,其特征在于,所述底座上并列设有若干开口向上的条形凹槽,所述V型定位滑台滑动在所述条形凹槽内,所述底座的侧壁上部安有刻度尺。本实用新型结构简单合理,通过在条形凹槽内设置V型定位滑台,保证了断裂试样对接后的同轴度,减少了手工测量不同轴的误差,通过设置安有弹簧的可调支座,配合固定挡块,提供了足够的顶紧力,确保试样断裂口紧密贴合,减少了手工对接不完整引起的误差,进而改善了测量精度,利于统计分析试样的材料性能,此外,通过在底座上设置若干条形凹槽,实现了批量测量,避免了通过工作人员一个一个手工测量延伸后的长度,有效提高了测量效率。
Description
技术领域
本实用新型涉及夹持装置技术领域,尤其涉及一种测量试样延伸率的夹持装置。
背景技术
试样的延伸率通常采用电子万能试验机进行测试,试样通过电子万能试验机进行力学拉伸断裂试验后,一般均通过工作人员一个一个手工测量延伸后的长度,在手工对接断裂试样过程中存在较大的人为误差,尤其手工测量不同轴的误差较大,大大降低了测量精度,不利于统计分析试样的材料性能。
发明内容
本实用新型旨在解决现有技术的不足,而提供一种测量试样延伸率的夹持装置。
本实用新型为实现上述目的,采用以下技术方案:
一种测量试样延伸率的夹持装置,包括底座,其特征在于,所述底座上并列设有若干开口向上的条形凹槽,所述条形凹槽的内侧壁上设有滑槽,每个所述条形凹槽的两端均设有固定挡块,所述固定挡块固接在所述底座上,位于左右所述固定挡块之间的所述条形凹槽上设有可调支座,所述可调支座的侧壁下部设有与所述滑槽相适配的滑块,所述可调支座与其中一个所述固定挡块之间固接有弹簧,所述弹簧与所述条形凹槽平行并且位于所述条形凹槽的上方,所述可调支座与另一个所述固定挡块之间设有V型定位滑台,所述V型定位滑台滑动在所述条形凹槽内,所述V型定位滑台的上部设有与外界试样的表面相切的V形槽,所述底座的侧壁上部安有刻度尺。
所述固定挡块与所述底座通过螺栓固定连接,所述螺栓为内六角圆柱头螺栓。
所述条形凹槽的长度为160mm。
所述底座的高度为22mm。
本实用新型的有益效果是:本实用新型结构简单合理,通过在条形凹槽内设置V型定位滑台,保证了断裂试样对接后的同轴度,减少了手工测量不同轴的误差,通过设置安有弹簧的可调支座,配合固定挡块,提供了足够的顶紧力,确保试样断裂口紧密贴合,减少了手工对接不完整引起的误差,进而改善了测量精度,利于统计分析试样的材料性能,此外,通过在底座上设置若干条形凹槽,实现了批量测量,避免了通过工作人员一个一个手工测量延伸后的长度,有效提高了测量效率。
附图说明
图1为本实用新型的立体图;
图2为本实用新型的主视图;
图3为本实用新型的俯视图;
图中:1-底座;2-可调支座;3-固定挡块;4-刻度尺;5-弹簧;6-螺栓;7-V型定位滑台;8-条形凹槽;9-试样;
以下将结合本实用新型的实施例参照附图进行详细叙述。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步说明:
如图1-3所示,一种测量试样延伸率的夹持装置,包括底座1,其特征在于,所述底座1上并列设有若干开口向上的条形凹槽8,所述条形凹槽8的内侧壁上设有滑槽,每个所述条形凹槽8的两端均设有固定挡块3,所述固定挡块3固接在所述底座1上,位于左右所述固定挡块3之间的所述条形凹槽8上设有可调支座2,所述可调支座2的侧壁下部设有与所述滑槽相适配的滑块,所述可调支座2与其中一个所述固定挡块3之间固接有弹簧5,所述弹簧5与所述条形凹槽8平行并且位于所述条形凹槽8的上方,所述可调支座2与另一个所述固定挡块3之间设有V型定位滑台7,所述V型定位滑台7滑动在所述条形凹槽8内,所述V型定位滑台7的上部设有与外界试样9的表面相切的V形槽,所述底座1的侧壁上部安有刻度尺4。
所述固定挡块3与所述底座1通过螺栓6固定连接,所述螺栓6为内六角圆柱头螺栓。
所述条形凹槽8的长度为160mm。
所述底座1的高度为22mm。
本实用新型使用时,将待测量的试样9置于V型定位滑台7上,保证了断裂试样9对接后的同轴度,减少了手工测量不同轴的误差,试样9的一端顶住固定挡块3,试样9的另一端与安有弹簧5的可调支座2相抵,弹簧5配合可调支座2,提供了足够的顶紧力,确保试样9的断裂口紧密贴合,减少了手工对接不完整引起的误差,进而改善了测量精度,利于统计分析试样9的材料性能,通过刻度尺4上的刻度进行读数并记录,通过在底座1上设置若干条形凹槽8,实现了批量测量,避免了通过工作人员一个一个手工测量延伸后的长度,有效提高了测量效率,本实用新型结构简单合理。
上面结合附图对本实用新型进行了示例性描述,显然本实用新型具体实现并不受上述方式的限制,只要采用了本实用新型的方法构思和技术方案进行的各种改进,或未经改进直接应用于其它场合的,均在本实用新型的保护范围之内。
Claims (4)
1.一种测量试样延伸率的夹持装置,包括底座(1),其特征在于,所述底座(1)上并列设有若干开口向上的条形凹槽(8),所述条形凹槽(8)的内侧壁上设有滑槽,每个所述条形凹槽(8)的两端均设有固定挡块(3),所述固定挡块(3)固接在所述底座(1)上,位于左右所述固定挡块(3)之间的所述条形凹槽(8)上设有可调支座(2),所述可调支座(2)的侧壁下部设有与所述滑槽相适配的滑块,所述可调支座(2)与其中一个所述固定挡块(3)之间固接有弹簧(5),所述弹簧(5)与所述条形凹槽(8)平行并且位于所述条形凹槽(8)的上方,所述可调支座(2)与另一个所述固定挡块(3)之间设有V型定位滑台(7),所述V型定位滑台(7)滑动在所述条形凹槽(8)内,所述V型定位滑台(7)的上部设有与外界试样(9)的表面相切的V形槽,所述底座(1)的侧壁上部安有刻度尺(4)。
2.根据权利要求1所述的一种测量试样延伸率的夹持装置,其特征在于,所述固定挡块(3)与所述底座(1)通过螺栓(6)固定连接,所述螺栓(6)为内六角圆柱头螺栓。
3.根据权利要求1所述的一种测量试样延伸率的夹持装置,其特征在于,所述条形凹槽(8)的长度为160mm。
4.根据权利要求1所述的一种测量试样延伸率的夹持装置,其特征在于,所述底座(1)的高度为22mm。
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