CN211084985U - 径向力测试组件的环规 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种径向力测试组件的环规，包括环规组件本体，所述环规组件本体包括第一光面环规和第二光面环规，所述第二光面环规包括第一半环、第二半环和光面螺栓，所述第一半环含有第一连接沿，所述第二半环含有第二连接沿，所述第一连接沿和第二连接沿互相贴合后通过光面螺栓连接；所述第二光面环规的内表面上靠近端面处设有光面内螺纹，所述第一光面环规的外表面设有与光面内螺纹配合的光面外螺纹。本实用新型具有适用范围广的优点。
Description
技术领域
本实用新型涉及测量技术领域，特别涉及一种径向力测试组件的环规。
背景技术
环规是一种用来测量工件尺寸的精密量具，可作为尺寸基准，也可作为比较测量用，还可直接用于校验。在径向力测试组件中，密封圈需要套在测量轴上进行径向力的测量，而测量轴的尺寸规格是否准确也会对径向力的测试产生影响，因此常常需要使用环规对测量轴的尺寸准确性进行检查。
目前，公开号为CN204881382U的中国专利公开了一种改进的光面环规，它包括保护层和与保护层同轴设置的测量层，该测量层热压在保护层的内壁，至少在该测量层的一端设置有环形槽，该环形槽内嵌有金属环，所述金属环的外端面上设置有倒角。
这种光面环规虽然能够进行尺寸校验，但是其只能针对一种规格的密封圈测量轴进行校验，适用性较差。
实用新型内容
本实用新型的目的是提供一种径向力测试组件的环规，其具有适用范围广的优点。
本实用新型的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的：
一种径向力测试组件的环规，包括环规组件本体，所述环规组件本体包括第一光面环规和第二光面环规，所述第二光面环规包括第一半环、第二半环和光面螺栓，所述第一半环含有第一连接沿，所述第二半环含有第二连接沿，所述第一连接沿和第二连接沿互相贴合后通过光面螺栓连接；所述第二光面环规的内表面上靠近端面处设有光面内螺纹，所述第一光面环规的外表面设有与光面内螺纹配合的光面外螺纹。
通过采用上述技术方案，环规组件本体由第一光面环规和第二光面环规组成，第一环规组件和第二环规组件的规格不同，使得本实用新型可以对不同规格的密封圈测量轴进行检测，从而提高了环规组件的适用范围，且可拆卸式的组合也能让携带更为方便。其中第二光面环规由第一半环和第二半环组成，当第二光面环规在使用过程中由于受到撞击或其他情况而损坏时，不用将整个第二光面环规报废，只要更换其中一个有损坏的半环，即可解决第二光面环规损坏的问题，简单实用。
本实用新型进一步设置为：所述第二光面环规上远离第一光面环规的一端的端面与其内表面的交界处设有第二光面倒角。
通过采用上述技术方案，在第二光面环规上远离第一光面环规的一端的端面与内表面的交界处设置第二光面倒角，在使用第二光面环规检测时，能方便密封圈测量轴与第二光面环规的对齐，使得密封圈测量轴插入第二光面环规的过程更为流畅和顺利。
本实用新型进一步设置为：所述第一光面环规上远离第二光面环规的一端的端面与其内表面的交界处设有第一光面倒角。
通过采用上述技术方案，在第一光面环规上远离第二光面环规的一端的端面与内表面的交界处设置第一光面倒角，在使用第一光面环规检测时，能方便密封圈测量轴与第一光面环规的对齐，使得密封圈测量轴插入第一光面环规的过程更为流畅和顺利。
本实用新型进一步设置为：所述第一连接沿的上表面设有定位插杆，所述第二连接沿的下表面设有定位插孔。
通过采用上述技术方案，当定位插杆插入到定位插孔中时，第一连接沿与第二连接沿之间定位准确并紧贴，从而方便光面螺栓的旋入。
本实用新型进一步设置为：所述第二光面环规的外表面设有防滑纹。
通过采用上述技术方案，能使手持握第二光面环规时增大摩擦力，防止打滑而影响效率。
附图说明
图1是本实施例的结构示意图；
图2是本实施例的拆分示意图；
图3是本实施例的拆分示意图。
图中，1、第一光面环规；2、第二光面环规；3、第一半环；4、第二半环；5、第一连接沿；6、第二连接沿；7、光面内螺纹；8、光面外螺纹；9、第二光面倒角；10、第一光面倒角；11、光面螺栓；12、定位插杆。
具体实施方式
以下结合附图对本实用新型作进一步详细说明。
实施例：
一种径向力测试组件的环规，如图1-3所示，包括环规组件本体，环规组件本体包括第一光面环规1和第二光面环规2，第二光面环规2包括第一半环3和第二半环4，第一半环3含有第一连接沿5，第二半环4含有第二连接沿6，第一连接沿5的上表面焊接有两个定位插杆12，第二连接沿6的下表面开设有两个定位插孔，当定位插杆12插入到定位插孔中时，第二连接沿6上的连接沿沉孔和第一连接沿5上的连接沿螺纹孔相对齐，方便光面螺栓11的旋入，第一连接沿5和第二连接沿6互相贴合后通过光面螺栓11连接。在第二光面环规2的外表面还设有防滑纹。在第二光面环规2的内表面上靠近端面处设有光面内螺纹7，第一光面环规1的外表面设有光面外螺纹8，第一光面环规1螺纹连接在第二光面环规2的内表面处。在第二光面环规2上远离第一光面环规1的一端的端面与内表面的交界处设有第二光面倒角9，在第一光面环规1上远离第二光面环规2的一端的端面与内表面的交界处设有第一光面倒角10。
本实用新型适用于检测径向力测试组件，径向力测试组件的密封圈测量轴的长度都很短。因此在使用时，可以通过将环规组件本体的第一光面环规1包含第一光面倒角10的一端对准密封圈测量轴，然后将第一光面环规1套入密封圈测量轴进行检测；或者将环规组件本体的第二光面环规2包含第二光面倒角9的一端对准密封圈测量轴，然后将第二光面环规2套入密封圈测量轴进行检测。以上方式使得本环规组件本体能够对两种不同规格的密封圈测量轴进行检测。并且当需要用此环规组件本体检测长度较长的其他光面轴时，则旋下第一光面环规1，将环规组件本体进行拆分，用第一光面环规1或第二光面环规2分别进行检测，方便且实用。
以上所述的实施方式，并不构成对该技术方案保护范围的限定。任何在上述实施方式的精神和原则之内所作的修改、等同替换和改进等，均应包含在该技术方案的保护范围之内。
Claims (5)
1.一种径向力测试组件的环规，包括环规组件本体，其特征是：所述环规组件本体包括第一光面环规(1)和第二光面环规(2)，所述第二光面环规(2)包括第一半环(3)、第二半环(4)和光面螺栓(11)，所述第一半环(3)含有第一连接沿(5)，所述第二半环(4)含有第二连接沿(6)，所述第一连接沿(5)和第二连接沿(6)互相贴合后通过光面螺栓(11)连接；所述第二光面环规(2)的内表面上靠近端面处设有光面内螺纹(7)，所述第一光面环规(1)的外表面设有与光面内螺纹(7)配合的光面外螺纹(8)。
2.根据权利要求1所述的径向力测试组件的环规，其特征是：所述第二光面环规(2)上远离第一光面环规(1)的一端的端面与其内表面的交界处设有第二光面倒角(9)。
3.根据权利要求1所述的径向力测试组件的环规，其特征是：所述第一光面环规(1)上远离第二光面环规(2)的一端的端面与其内表面的交界处设有第一光面倒角(10)。
4.根据权利要求1所述的径向力测试组件的环规，其特征是：所述第一连接沿(5)的上表面设有定位插杆(12)，所述第二连接沿(6)的下表面设有定位插孔。
5.根据权利要求1所述的径向力测试组件的环规，其特征是：所述第二光面环规(2)的外表面设有防滑纹。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202020068594.0U CN211084985U (zh) | 2020-01-13 | 2020-01-13 | 径向力测试组件的环规 |
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Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
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| CN211084985U true CN211084985U (zh) | 2020-07-24 |
Family
ID=71624482
Family Applications (1)
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|---|---|---|---|
| CN202020068594.0U Active CN211084985U (zh) | 2020-01-13 | 2020-01-13 | 径向力测试组件的环规 |
Country Status (1)
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2020
- 2020-01-13 CN CN202020068594.0U patent/CN211084985U/zh active Active
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