CN210923504U - 载盘翻面检测系统 - Google Patents

载盘翻面检测系统 Download PDF

Info

Publication number
CN210923504U
CN210923504U CN201921753182.4U CN201921753182U CN210923504U CN 210923504 U CN210923504 U CN 210923504U CN 201921753182 U CN201921753182 U CN 201921753182U CN 210923504 U CN210923504 U CN 210923504U
Authority
CN
China
Prior art keywords
precision
carrier
tray
detection
disc
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201921753182.4U
Other languages
English (en)
Inventor
李彦志
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
SYNPOWER CO Ltd
Original Assignee
SYNPOWER CO Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by SYNPOWER CO Ltd filed Critical SYNPOWER CO Ltd
Priority to CN201921753182.4U priority Critical patent/CN210923504U/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN210923504U publication Critical patent/CN210923504U/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

本实用新型提供一种载盘翻面检测系统,包含:一上/下料盘,具有多个放置轮廓,每一放置轮廓适于承载一待测物;一精密盘,具有多个限位轮廓,每一限位轮廓由多个移动限位块所界定,并与该放置轮廓呈镜射关系;一上/下料翻转机构,包含用于承载该上/下料盘的一上/下料盘载具与用于承载该精密盘的一精密盘载具,该上/下料盘载具与该精密盘载具可分别旋转闭合或分离,使该精密盘的限位轮廓用以承载该待测物;以及一光学影像检测系统,包含:一检测载台,用以承载该精密盘,用以检测该精密盘的每一限位轮廓所承载的该待测物的一检测面。

Description

载盘翻面检测系统
技术领域
本实用新型涉及一种光学式翻面检测系统,更明确地说明,本实用新型是一种可以进行翻面且精准对位的瑕疵检测的载盘翻面检测系统。
背景技术
自动化检测设备中,光学影像拍摄系统是检测设备中成本比重高的部分,为了增加其检测产能效率,检测载台会尽量承载多个待测物,通过布满整个待测物,由光学影像检测系统一次检出最多多个待测物。
一般待测物由前面制程站产出后,多个待测物会放置在一塑料盘内,该塑料盘将做为产线内搬运输送的最小单位。该塑料盘被传送到光学检测站时,这些待测物必须分别从塑料盘里拿出来,逐一放置在光学检测站的检测载具上,才开始扫描这些待测物做光学瑕疵检测。目前传送该塑料盘,并把多个待测物从产线内搬运的塑料盘中取出系使用机械手臂,该机械手臂前端有多个吸气装置,可一次吸取多个待测物,把多个待测物放置到光学检测站的检测载具上,反复进行直到放满为止。
然而,如果待测物越来越小,机械手臂的吸嘴在吸取多个待测物时,很容易发生吸附不好而导致掉料的现象,进而影响整体的吸附搬运良率。只能再找更小的吸嘴,与更精密的微调装置,确保一次吸附多个待测物的搬运,不致有掉料的产生。
如果直接把塑料盘放置到光学检测站的检测载具上做量测,将会因为塑料盘的形变与粗糙度和精密度太差,造成塑料盘内待测物高低位置不一或平整度不一。若光学检测站直接量测塑料盘内的待测物,容易因为对象摆放的高度或平整度影响拍摄焦距,或者光源被塑料盘的限位柱挡住,而导致检测数据不佳。此外,因应检测项目的需求,光学检测站要检测待测物的背面,机械手臂的搬运过程还要执行翻面操作才能将待测物置于检测载具上。因此,本实用新型若能提供一种一次性将多个待测物进行翻面且精准对位的载盘翻面检测系统,将可使检测时程效率提升,具有产业的实用性。
实用新型内容
本实用新型的目的是提供一种载盘翻面检测系统,可以把产线上搬运的塑料盘上多个待测物,利用翻转机构一次性将多个待测物进行翻面,并将小尺寸的待测物放置在精密盘上进行光学检测流程。
为了达到上述实用新型目的,本实用新型提供的一种载盘翻面检测系统,包含:一上料盘,具有多个放置区,每一放置区具有一放置轮廓,该放置轮廓适于承载一检测面朝下的一待测物;一精密盘,具有多个检测区,每一检测区具有一限位轮廓,且该限位轮廓由多个移动限位块所界定,并与该放置轮廓呈镜射关系;一上料翻转机构,包含用于承载该上料盘的一上料盘载具与用于承载该精密盘的一精密盘载具,该上料盘载具与该精密盘载具可分别旋转闭合或分离,使该精密盘的限位轮廓用以承载该检测面朝上的该待测物;以及一光学影像检测系统,包含:一检测载台,用以承载该精密盘,用以检测该精密盘的每一检测区所承载的该待测物的检测面。
为了达到上述实用新型目的,本实用新型提供的一种载盘翻面检测系统,包含:一精密盘,具有多个检测区,每一检测区具有一限位轮廓,且该限位轮廓由多个移动限位块所界定,该限位轮廓适于承载一检测面朝上的一待测物;一下料盘,具有多个放置区,每一放置区具有一放置轮廓,该放置轮廓与该限位轮廓呈镜射关系;一下料翻转机构,包含用于承载该下料盘的一下料盘载具与用于承载该精密盘的一精密盘载具,该下料盘载具与该精密盘载具可分别旋转闭合或分离,使该下料盘的放置轮廓用以承载该检测面朝下的该待测物;以及一光学影像检测系统,包含:一检测载台,用以承载该精密盘,用以检测该精密盘的每一检测区所承载的该待测物的检测面。
其中,该检测载台与该精密盘载具分别包含一固定治具,当该精密盘置于该检测载台与该精密盘载具上时,该固定治具会固定保持该精密盘。
其中,该检测载台或该精密盘载具包含一移动治具,当该精密盘置于该检测载台或该精密盘载具上时,该移动治具耦合每一检测区的多个移动限位块,且该移动治具驱动多个移动限位块使每一检测区的该待测物彼此对齐。该移动治具包含一XY位移控制机构,该XY位移控制机构分别控制每一检测区的一部分的移动限位块在X方向移动每一待测物对齐,且控制每一检测区的另一部分的移动限位块在Y方向移动每一待测物对齐。
其中,该精密盘的每一检测区的限位轮廓内设有多个穿孔,该检测载台或该精密盘载具包含具有多个气孔的一汽缸控制机构,该等气孔对准每一检测区的多个穿孔,用以吸附该待测物而固定于该限位轮廓。
其中,该上料翻转机构包含一旋转轴,该旋转轴可控制地分别耦合或解耦合至该上料盘载具与该精密盘载具,俾使该旋转轴驱动该上料盘载具与该精密盘载具分别旋转闭合或分离。该旋转轴耦合该精密盘载具且解耦合该上料盘载具,以驱动该精密盘载具旋转闭合至该上料盘载具,再耦合该上料盘载具,以驱动该精密盘载具与该上料盘载具一起旋转,将该上料盘的放置区所承载的多个待测物翻转至该精密盘载具的检测区内。
其中,该下料翻转机构包含一旋转轴,该旋转轴可控制地分别耦合或解耦合至该下料盘载具与该精密盘载具,俾使该旋转轴驱动该下料盘载具与该精密盘载具分别旋转闭合或分离。该旋转轴耦合该下料盘载具且解耦合该精密盘载具,以驱动该下料盘载具旋转闭合至该精密盘载具,再耦合该精密盘载具,以驱动该精密盘载具与该下料盘载具一起旋转,将该精密盘载具的检测区所承载的多个待测物翻转至该下料盘载具的放置区内。
根据本实用新型的载盘翻面检测系统,多个待测物上下料时,翻转机构可一次性将多个待测物从塑料盘翻面放置在一精密盘,通过该精密盘的精密定位可使检测时程效率提升,并提高光学影像检测系统的检测良率。
附图说明
图1A至图1C分别是一待测物的俯视图、该待测物翻转后背面的俯视图以及其侧视图;
图2是产线上搬运的塑料盘的俯视图;
图3是本实用新型载盘翻面检测系统使用的精密盘的俯视图;
图4是本实用新型载盘翻面检测系统的翻转机构的侧视图;
图5是本实用新型载盘翻面检测系统的系统方块图;
图6A与图6B是本实用新型系统精密盘分别在X方向与Y方向移动限位待测物的俯视图;
图7A与图7B是本实用新型载盘翻面检测系统的系统架构图,分别显示俯视图与侧视图;
图8A至图8D是本实用新型上料翻转机构执行上料翻转操作的分解示意图;
图9A至图9D是本实用新型下料翻转机构执行下料翻转操作的分解示意图。
符号说明:
1 待测物
2 电路板
3 连接端口
4 上料区
5 下料区
10 塑料盘
11 固定限位块
12 放置轮廓
20 精密盘
21 X移动限位块
22 Y移动限位块
23 固定限位块
24 限位轮廓
25 穿孔
30 翻转机构
31 旋转轴
32 塑料盘载具
33 精密盘载具
34 XY位移控制机构
35 上料翻转控制机构
36 下料翻转控制机构
37 汽缸控制机构
40 光学影像检测系统
41 影像拍摄系统
42 正面光源
43 侧面光源
44 相机移动控制机构
45 检测载台
50 处理单元
51 光源控制
52 控制轴卡
53 控制卡
A~J 箭头
具体实施方式
首先参考图1A至图1C,系分别显示本实用新型系统所检测的一待测物的俯视图、该待测物翻转后背面的俯视图以及其侧视图。在本实用新型的一种实施例中,适于本实用新型系统所检测的一待测物1包含一电路板2,该电路板2的一部份为具有金手指总线的软性印刷电路板,另一部分为硬性印刷电路板,该硬性印刷电路板则配置有连接端口3,其中连接端口3与电路板2之间多个焊点的良率,必须如图1B所示该待测物翻转后的背面进行检测。
请参考图2,显示产线上搬运的塑料盘10的俯视图。产线上搬运的塑料盘10规画有多个放置区,每一放置区具有一放置轮廓12,以收容放置一待测物1,该放置轮廓12是固定的轮廓且由固定限位块11以界定出略大于该待测物1的外轮廓。在本实用新型的一种实施例中,当待测物1放置于放置区时,该待测物1的检测面系朝下。
请参考图3,显示本实用新型载盘翻面检测系统使用的精密盘20的俯视图。在本实用新型的一种实施例中,精密盘20为一精密加工的金属盘,其上规画有多个检测区,每一检测区具有一限位轮廓24,以收容放置被翻面的待测物1。因此,每一检测区的限位轮廓24对应每一放置区的放置轮廓12,彼此呈镜射关系以符合待测物1的翻转操作。每一限位轮廓24由多个可移动的移动限位块所界定,所以,该等移动限位块可界定出略大于该待测物1的外轮廓,如放置轮廓12的镜射轮廓;或者该等移动限位块可界定出恰好符合该待测物1的外轮廓,以定位该待测物1准确地对齐。可移动的移动限位块包含在X方向上移动的多个X移动限位块21与Y方向上移动的多个Y移动限位块22。精密盘20的每一检测区内规划设置X方向槽道与Y方向槽道,分别保持该X移动限位块21在X方向槽道上位移以及保持该Y移动限位块22在Y方向槽道上位移。而且X移动限位块21与Y移动限位块22可由下方耦合至一XY位移控制机构34,以驱动在X方向与Y方向位移。该XY位移控制机构34设置于翻转机构30的精密盘载具33或光学影像检测系统40的检测载台45,配合图5将有进一步的详述。
在本实用新型的另一种实施例中,每一检测区可进一步包含一固定限位块23,用来定位翻转至精密盘20上的待测物1。每一检测区的限位轮廓24内设置多个穿孔25,该等穿孔25的下方可对应吸气孔,以吸附待测物1保持定位于限位轮廓24内。
当被翻面的待测物1欲收容放置于检测区的限位轮廓24时,该等移动限位块可界定出略大于该待测物1的外轮廓,使该待测物1易于放进检测区的限位轮廓24内。请同时参考图6A与图6B,分别显示本实用新型系统精密盘20分别在X方向与Y方向移动限位待测物1的俯视图。当待测物1位于较大的限位轮廓24后,X移动限位块21可被控制移动使精密盘20上每一检测区的待测物1在X方向上彼此精准对齐,如图6A所示;之后,Y移动限位块22可被控制移动使精密盘20上每一检测区的待测物1在Y方向上彼此精准对齐,如图6B所示。因此,本实用新型载盘翻面检测系统的光学影像检测系统在扫描拍摄所有的检测区后,可在检测影像上每一检测区的对应位置进行精确定位的判读。
请参考图4,显示本实用新型载盘翻面检测系统的翻转机构30的侧视图。在本实用新型的一种实施例中,翻转机构30包含:用于承载一塑料盘10的一塑料盘载具32、用于承载一精密盘20的一精密盘载具33、以及一旋转轴31,该旋转轴31可控制地分别耦合或解耦合至该塑料盘载具32与该精密盘载具33,俾使该旋转轴31适于驱动该塑料盘载具32与该精密盘载具33分别旋转闭合或分离,将该塑料盘载具32的放置区所承载的待测物1翻转至该精密盘载具33对应的检测区的限位轮廓24内。当翻转机构30将该塑料盘载具32所承载的待测物1翻转至该精密盘载具33的精密盘20而闭合时,如图8B、8C所示,在检测区的该等移动限位块所界定的限位轮廓24是符合对应的放置区的放置轮廓12的镜射位置,且该等移动限位块也对应着对应的放置区的固定限位块11的镜射位置上。图4同时显示待测物1位于该塑料盘10与该精密盘20上的状态,且多个待测物1定位于精密盘20时,多个待测物1可保持一致的平整度或使检测面位于相同的高度。
翻转机构30的塑料盘载具32与精密盘载具33分别包含一固定治具(图未示)。当机械手臂将塑料盘10移置塑料盘载具32时,固定治具可将塑料盘10固定且保持在塑料盘载具32上。当精密盘20放置在精密盘载具33时,固定治具可将精密盘20固定且保持在精密盘载具33上。此外,精密盘载具33进一步包含:一XY位移控制机构34,当精密盘20放置于精密盘载具33上,该XY位移控制机构34耦合至精密盘20上各检测区的X移动限位块21与Y移动限位块22,以驱动X移动限位块21与Y移动限位块22位移各检测区的待测物1彼此对齐;以及,一汽缸控制机构37,具有多个吸气孔,当精密盘20放置于精密盘载具33上,各吸气孔分别对准各检测区内的穿孔25,以吸附待测物1保持定位于限位轮廓24内。
请参考图5,显示本实用新型载盘翻面检测系统的系统方块图。在本实用新型的一种实施例中,一种载盘翻面检测系统包含:一光学影像检测系统40、至少一翻转机构30,包含一翻转控制机构、以及一处理单元50,控制该光学影像检测系统40进行多个待测物1的瑕疵检测,以及控制该翻转机构30的翻转控制机构将塑料盘载具32所承载的待测物1上料至该精密盘载具33的精密盘20或将精密盘载具33所承载检测后的待测物1下料至该塑料盘载具32的塑料盘10。
该光学影像检测系统40包含:一检测载台45,如图7B所示,可承载一精密盘20;一影像拍摄系统41,用以拍摄精密盘20上各检测区所承载的待测物1的检测面,并提供检测影像给处理单元50进行瑕疵检测的判读;一正面光源42与一侧面光源43,用以照明精密盘20的检测区,经由一光源控制51接受处理单元50的控制;以及,一相机移动控制机构44,用以驱动影像拍摄系统41扫描精密盘20的所有检测区,经由一控制轴卡52接受处理单元50的控制。
此外,该光学影像检测系统40的检测载台45包含一固定治具(图未示),当精密盘20移置于检测载台45上,固定治具可固定且保持精密盘20;一XY位移控制机构34,当精密盘20移置于检测载台45上,该XY位移控制机构34耦合至精密盘20上各检测区的X移动限位块21与Y移动限位块22,以驱动X移动限位块21与Y移动限位块22位移各检测区的待测物1彼此对齐;以及,一汽缸控制机构37,具有多个吸气孔,当精密盘20移置于检测载台45上,各吸气孔分别对准各检测区内的穿孔25,以吸附待测物1保持定位于限位轮廓24内。
该翻转机构30包含一翻转控制机构,由处理单元50控制将一旋转轴31耦合或解耦合至该塑料盘载具32与该精密盘载具33,且控制该旋转轴31驱动该塑料盘载具32与该精密盘载具33旋转闭合或分离,将该塑料盘载具32的放置区所承载的待测物1翻转至该精密盘载具33对应的检测区内。此外,该翻转机构30可进一步包含一XY位移控制机构34,设置于该精密盘载具33,当精密盘20移置于检测载台45上,该XY位移控制机构34耦合至精密盘20上各检测区的X移动限位块21与Y移动限位块22,以驱动X移动限位块21与Y移动限位块22位移各检测区的待测物1彼此对齐;以及,一汽缸控制机构37,设置于该精密盘载具33,该汽缸控制机构37具有多个吸气孔,当精密盘20移置于检测载台45上,各吸气孔分别对准各检测区内的穿孔25,以吸附待测物1保持定位于限位轮廓24内。
该XY位移控制机构34对应精密盘20的检测区设置多个可移动的定位柱,这些定位柱分别对应耦合至X移动限位块21与Y移动限位块22,以驱动在X方向与Y方向位移。这些定位柱的驱动来源可为一汽缸。
请参考图7A与图7B,分别显示本实用新型载盘翻面检测系统的系统架构图,分别显示俯视图与侧视图。在本实用新型的另一种实施例中,一种载盘翻面检测系统包含:一光学影像检测系统40,如图5所示;一上料翻转控制机构35,设于一上料区4的翻转机构30;一下料翻转控制机构36,设于一下料区5的翻转机构30;以及一处理单元50,控制该光学影像检测系统40进行多个待测物1的瑕疵检测,且控制该上料翻转控制机构35将塑料盘载具32所承载的待测物1上料至该精密盘载具33的精密盘20,且控制该下料翻转控制机构36将精密盘载具33所承载检测后的待测物1下料至该塑料盘载具32的塑料盘10。该处理单元50系经由控制卡53控制该上料翻转控制机构35与该下料翻转控制机构36。
此外,位于上料区4与下料区5的翻转机构30可进一步包含一XY位移控制机构34,设置于该精密盘载具33,当精密盘20移置于检测载台45上,该XY位移控制机构34耦合至精密盘20上各检测区的X移动限位块21与Y移动限位块22,以驱动X移动限位块21与Y移动限位块22位移各检测区的待测物1彼此对齐;以及,一汽缸控制机构37,设置于该精密盘载具33,该汽缸控制机构37具有多个吸气孔,当精密盘20移置于检测载台45上,各吸气孔分别对准各检测区内的穿孔25,以吸附待测物1保持定位于限位轮廓24内。
在本实用新型的一种实施例中,一上料机械手臂将承载多个待测物1的塑料盘10上料至上料区4,并放置于翻转机构30的塑料盘载具32。该塑料盘载具32的固定治具锁定该塑料盘10,上料区4的翻转机构30执行翻转操作,如图8A至图8D所示,将该塑料盘10的多个待测物1翻转至该精密盘载具33的精密盘20上。该精密盘载具33对精密盘20上的多个待测物1进行精密定位。该精密盘载具33的固定治具解锁精密盘20,让上料机械手臂将承载多个待测物1的精密盘20移置光学影像检测系统40的检测载台45,并使检测载台45的固定治具锁定精密盘20且吸附检测区的待测物1,以进行扫描检测。
待影像检测系统40完成扫描检测后,检测载台45的固定治具解锁精密盘20,由一下料机械手臂将承载检测过的多个待测物1的精密盘20下料至下料区5,并将精密盘20放置于翻转机构30的精密盘载具33。该精密盘载具33的固定治具锁定该精密盘20,下料区5的翻转机构30执行翻转操作,如图9A至图9D所示,将该精密盘20的多个待测物1翻转至该塑料盘载具32的塑料盘10上。
以下进一步说明图8A至图8D。如图8A所示,上料机械手臂依箭头A将塑料盘10放置于翻转机构30的塑料盘载具32,该塑料盘载具32的固定治具锁定该塑料盘10,翻转机构30的旋转轴31耦合至精密盘载具33且解耦合塑料盘载具32,依箭头B由旋转轴31旋转驱动精密盘载具33闭合塑料盘载具32,如图8B所示。之后,翻转机构30的旋转轴31同时耦合至精密盘载具33与塑料盘载具32,依箭头C由旋转轴31旋转驱动精密盘载具33与塑料盘载具32执行翻转,使塑料盘10的多个待测物1翻转至精密盘20对应的检测区,如图8C所示。之后,翻转机构30的旋转轴31解耦合精密盘载具33,依箭头D由旋转轴31旋转驱动塑料盘载具32回到原来位置,如图8D所示。精密盘载具33的X/Y移动限位块21、22靠近待测物1进行精密定位后,限位轮廓24恰好符合待测物1的外轮廓,上料机械手臂依箭头E将精密盘20移送至检测载台45进行检测。
以下进一步说明图9A至图9D。当影像检测系统40完成扫描检测后,检测载台45的固定治具解锁精密盘20,如图9A所示,一下料机械手臂依箭头F将检测过的精密盘20放置于翻转机构30的精密盘载具33,该精密盘载具33的固定治具锁定该精密盘20,且精密盘载具33的X/Y移动限位块21、22远离待测物1,限位轮廓24略大于该待测物1的外轮廓,翻转机构30的旋转轴31耦合至塑料盘载具32且解耦合精密盘载具33,依箭头G由旋转轴31旋转驱动塑料盘载具32闭合精密盘载具33,如图9B所示。之后,翻转机构30的旋转轴31同时耦合至精密盘载具33与塑料盘载具32,依箭头H由旋转轴31旋转驱动精密盘载具33与塑料盘载具32执行翻转,使精密盘20的多个待测物1翻转至塑料盘10对应的放置区,如图9C所示。之后,翻转机构30的旋转轴31解耦合塑料盘载具32,依箭头I由旋转轴31旋转驱动精密盘载具33回到原来位置,如图9D所示。下料机械手臂依箭头J将塑料盘10移送出下料区5。
在本实用新型的不同实施例中,精密盘载具33的X/Y移动限位块21、22靠近待测物1进行精密定位,可于上料区4的翻转机构30的精密盘载具33或检测载台45上执行;精密盘载具33的X/Y移动限位块21、22远离待测物1,可于检测载台45或下料区5的翻转机构30的精密盘载具33上执行。
以上仅为本实用新型的优选实施例而已,并不用于限制本实用新型,对于本领域的技术人员来说,本实用新型可以有各种更改和变化。凡在本实用新型的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种载盘翻面检测系统,其特征在于,包含:
一上料盘,具有多个放置区,每一放置区具有一放置轮廓,该放置轮廓适于承载一检测面朝下的一待测物;
一精密盘,具有多个检测区,每一检测区具有一限位轮廓,且该限位轮廓由多个移动限位块所界定,并与该放置轮廓呈镜射关系;
一上料翻转机构,包含用于承载该上料盘的一上料盘载具与用于承载该精密盘的一精密盘载具,该上料盘载具与该精密盘载具可分别旋转闭合或分离,使该精密盘的限位轮廓用以承载该检测面朝上的该待测物;以及
一光学影像检测系统,包含:一检测载台,用以承载该精密盘,用以检测该精密盘的每一检测区所承载的该待测物的检测面。
2.一种载盘翻面检测系统,其特征在于,包含:
一精密盘,具有多个检测区,每一检测区具有一限位轮廓,且该限位轮廓由多个移动限位块所界定,该限位轮廓适于承载一检测面朝上的一待测物;
一下料盘,具有多个放置区,每一放置区具有一放置轮廓,该放置轮廓与该限位轮廓呈镜射关系;
一下料翻转机构,包含用于承载该下料盘的一下料盘载具与用于承载该精密盘的一精密盘载具,该下料盘载具与该精密盘载具可分别旋转闭合或分离,使该下料盘的放置轮廓用以承载该检测面朝下的该待测物;以及
一光学影像检测系统,包含:一检测载台,用以承载该精密盘,用以检测该精密盘的每一检测区所承载的该待测物的检测面。
3.如权利要求1或2所述的载盘翻面检测系统,其特征在于,该检测载台与该精密盘载具分别包含一固定治具,当该精密盘置于该检测载台与该精密盘载具上时,该固定治具会固定保持该精密盘。
4.如权利要求1或2所述的载盘翻面检测系统,其特征在于,该检测载台或该精密盘载具包含一移动治具,当该精密盘置于该检测载台或该精密盘载具上时,该移动治具耦合每一检测区的多个移动限位块,且该移动治具驱动多个移动限位块使每一检测区的该待测物彼此对齐。
5.如权利要求4所述的载盘翻面检测系统,其特征在于,该移动治具包含一XY位移控制机构,该XY位移控制机构分别控制每一检测区的一部分的移动限位块在X方向移动每一待测物对齐,且控制每一检测区的另一部分的移动限位块在Y方向移动每一待测物对齐。
6.如权利要求1或2所述的载盘翻面检测系统,其特征在于,该精密盘的每一检测区的限位轮廓内设有多个穿孔,该检测载台或该精密盘载具包含具有多个气孔的一汽缸控制机构,该等气孔对准每一检测区的多个穿孔,用以吸附该待测物而固定于该限位轮廓。
7.如权利要求1所述的载盘翻面检测系统,其特征在于,该上料翻转机构包含一旋转轴,该旋转轴可控制地分别耦合或解耦合至该上料盘载具与该精密盘载具,俾使该旋转轴驱动该上料盘载具与该精密盘载具分别旋转闭合或分离。
8.如权利要求7所述的载盘翻面检测系统,其特征在于,该旋转轴耦合该精密盘载具且解耦合该上料盘载具,以驱动该精密盘载具旋转闭合至该上料盘载具,再耦合该上料盘载具,以驱动该精密盘载具与该上料盘载具一起旋转,将该上料盘的放置区所承载的多个待测物翻转至该精密盘载具的检测区内。
9.如权利要求2所述的载盘翻面检测系统,其特征在于,该下料翻转机构包含一旋转轴,该旋转轴可控制地分别耦合或解耦合至该下料盘载具与该精密盘载具,俾使该旋转轴驱动该下料盘载具与该精密盘载具分别旋转闭合或分离。
10.如权利要求9所述的载盘翻面检测系统,其特征在于,该旋转轴耦合该下料盘载具且解耦合该精密盘载具,以驱动该下料盘载具旋转闭合至该精密盘载具,再耦合该精密盘载具,以驱动该精密盘载具与该下料盘载具一起旋转,将该精密盘载具的检测区所承载的多个待测物翻转至该下料盘载具的放置区内。
CN201921753182.4U 2019-10-18 2019-10-18 载盘翻面检测系统 Active CN210923504U (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201921753182.4U CN210923504U (zh) 2019-10-18 2019-10-18 载盘翻面检测系统

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201921753182.4U CN210923504U (zh) 2019-10-18 2019-10-18 载盘翻面检测系统

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN210923504U true CN210923504U (zh) 2020-07-03

Family

ID=71366455

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201921753182.4U Active CN210923504U (zh) 2019-10-18 2019-10-18 载盘翻面检测系统

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN210923504U (zh)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100936903B1 (ko) 검사 장치 및 검사 방법
US6417484B1 (en) Laser marking system for dice carried in trays and method of operation
TWI732933B (zh) 加工裝置
KR20080034518A (ko) 공작물 반송 장치, 그것을 구비한 화상 형성 장치 및공작물 반송 방법
US20030188997A1 (en) Semiconductor inspection system and method
KR20180103824A (ko) 플립에 의해서 테스트 중인 장치들을 시험장치로 로드 및 언로드하는 장치 및 방법
CN101644622A (zh) 检测透镜的设备及其控制方法和分拣透镜的设备及方法
JP2012171628A (ja) テーピング装置及びテーピング方法
KR200341202Y1 (ko) 산업용 인쇄회로기판 자동검사 시스템
CN217237794U (zh) 一种多方位外观检测装置
JPH05318368A (ja) 吸着搬送装置
CN210923504U (zh) 载盘翻面检测系统
KR101967372B1 (ko) 검사 장치, 및 그 장치를 이용한 검사 방법
JP2000111613A (ja) バーンインボード用ローダアンローダ装置
CN114435913B (zh) 多功能摄像头组件自动化贴附设备
JPH08262091A (ja) 検査装置
KR100554444B1 (ko) 트레이 이송식 반도체패키지 마킹방법 및 시스템
JP2010126242A (ja) テーピング装置
JPH11121579A (ja) 半導体ウェハの搬送システム
KR20050111448A (ko) 티에프티-엘시디 모듈 어셈블리 조립장치 및 이조립장치를 이용한 티에프티-엘시디 모듈 어셈블리 조립방법
KR100261325B1 (ko) 기판검사방법 및 기판검사장치
TWM591166U (zh) 載盤翻面檢測系統
CN218309358U (zh) 一种传输装置及其检测装置
CN114384093A (zh) 面板检测装置以及面板检测方法
CN219545929U (zh) 上下料检测系统

Legal Events

Date Code Title Description
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant