CN210742925U - 一种仿真器接口转接电路板和开发测试系统 - Google Patents

Abstract

本实用新型一种仿真器接口转接电路板和开发测试系统，本实用新型涉及电路板领域，所述仿真器接口转接电路板包括：GD‑Link接口、J‑Link接口、JTAG接口以及SWD接口，GD‑Link接口、J‑Link接口分别用于与各自对应的仿真器连接，各个接口中具有相同功能的引脚通过仿真器接口转接电路板的走线相互连接。本实用新型使得用户在进行嵌入式软件开发测试时，只用一块仿真器接口转接电路板，就兼容了多种仿真器，该转接电路板可实现不同仿真器接口及不同目标芯片开发测试板的下载调试接口的互转功能，只需要进行简单的软件设定，或者简单的接口插拔，即可实现对多种目标芯片的调试仿真，操作简捷易懂，极大的提高了工作人员的工作效率，并且降低了嵌入式软件开发测试的成本。

Description

一种仿真器接口转接电路板和开发测试系统

技术领域

本实用新型涉及电路板领域，特别是一种仿真器接口转接电路板和开发测试系统。

背景技术

目前嵌入式软件开发测试过程中，需要软件、硬件等各种开发工具，其主要包括用于调试仿真的仿真工具，用于数字信号分析的逻辑分析仪以及用于下载代码的下载工具等。

目前主流的仿真工具的接口包括：GD-Link接口、J-Link接口、JTAG接口、SWD接口、U-Link接口等等，这些仿真工具因为出自不同的厂商，使用的协议标准也不相同，导致这些仿真工具的接口也各不相同。

嵌入式软件开发测试主要是针对需要调试仿真的目标芯片开发测试板进行下载调试，但目标芯片开发测试板的下载调试接口不可能支持所有仿真工具接口，这就导致进行嵌入式软件开发测试的工作人员需要根据下载调试仿真的目标芯片开发测试板的接口通过各种外部连线实现与对应仿真器的连接，极大的影响下载调试的可靠性、稳定性，且操作琐碎，这不但造成工作人员的工作效率较低，也很大程度增加了工作量导致嵌入式软件开发测试的成本较高。

实用新型内容

鉴于上述问题，本实用新型提供一种仿真器接口转接电路板和开发测试系统，解决了上述问题。

本实用新型实施例提供了一种仿真器接口转接电路板，所述仿真器接口转接电路板包括：GD-Link接口、J-Link接口、JTAG接口以及SWD接口，所述GD-Link接口、所述J-Link接口分别用于与各自对应的仿真器连接；

所述GD-Link接口、所述J-Link接口、所述JTAG接口以及所述SWD 接口中，具有相同功能的引脚通过所述仿真器接口转接电路板的走线相互连接。

可选地，所述仿真器接口转接电路板还包括：GD-Link接口供电控制排针，所述GD-Link接口的第一引脚通过所述GD-Link接口供电控制排针连接外部电源，所述外部电源用于向所述仿真器接口转接电路板供电。

可选地，所述GD-Link接口供电控制排针设置有跳线帽，所述跳线帽用于对所述GD-Link接口供电控制排针进行短接，所述GD-Link接口与GD- Link仿真器连接时，所述外部电源通过所述跳线帽短接的GD-Link接口供电控制排针为所述第一引脚供电。

本实用新型实施例提供了另一种仿真器接口转接电路板，所述仿真器接口转接电路板包括：GD-Link接口、J-Link接口、JTAG接口、SWD接口、第一拨码开关以及第二拨码开关，所述GD-Link接口用于与GD-Link仿真器连接、所述J-Link接口用于与J-Link仿真器连接；

所述GD-Link接口、所述J-Link接口、所述JTAG接口以及所述SWD 接口中，具有相同功能的引脚通过所述仿真器接口转接电路板的走线相互连接；

所述第一拨码开关中与所述GD-Link接口、所述J-Link接口以及所述 JTAG接口中具有相同功能的引脚通过所述仿真器接口转接电路板的走线相互连接，所述第一拨码开关用于控制所述GD-Link接口、所述J-Link接口以及所述JTAG接口的导通状态；

所述第二拨码开关中与所述GD-Link接口、所述J-Link接口以及所述 JTAG接口中具有相同功能的引脚通过所述仿真器接口转接电路板的走线相互连接，所述第二拨码开关用于与所述第一拨码开关共同作用，以控制所述 GD-Link仿真器、所述J-Link仿真器以及所述JTAG接口的工作状态。

可选地，所述第一拨码开关拨至第一位置时，所述J-Link接口以及所述 JTAG接口中具有相同功能的引脚通过所述走线连接导通；

所述第一拨码开关拨至第二位置时，所述GD-Link接口以及所述JTAG 接口中具有相同功能的引脚通过所述走线连接导通。

可选地，所述第二拨码开关拨至第一位置，且所述第一拨码开关拨至第一位置时，所述J-Link仿真器以及所述JTAG接口同时工作；

所述第二拨码开关拨至第二位置，且所述第一拨码开关拨至第二位置时，所述GD-Link仿真器以及所述JTAG接口同时工作。

本实用新型实施例还提供了一种开发测试系统，所述系统包括用于调试的智能设备、开发测试板、GD-Link仿真器、J-Link仿真器、U-Link仿真器以及如以上任一项所述的仿真器接口转接电路板。

本实用新型实施例还提供了另一种开发测试系统，所述系统包括用于调试的智能设备、开发测试板、GD-Link仿真器、J-Link仿真器、U-Link仿真器以及如以上任一项所述的仿真器接口转接电路板。

本实用新型提供的一种仿真器接口转接电路板，将GD-Link接口、J-Link 接口、JTAG接口以及SWD接口集合在一个转接电路板上，把上述接口中具有相同功能的引脚通过所述电路板的走线相互连接，各种仿真器(即相当于仿真工具)均可通过对应的接口连接在该转接电路板上，只用一块转接电路板，兼容了多种仿真器，该转接电路板可实现不同仿真器接口及不同目标芯片开发测试板的下载调试接口的互转功能，相关工作人员在使用过程中，只需要进行简单的软件设定，或者简单的接口插拔，即可实现对多种目标芯片开发测试板的调试仿真，操作简捷易懂，极大的提高了工作人员的工作效率，并且降低了嵌入式软件开发测试的成本。

附图说明

通过阅读下文优选实施方式的详细描述，各种其他的优点和益处对于本领域普通技术人员将变得清楚明了。附图仅用于示出优选实施方式的目的，而并不认为是对本实用新型的限制。而且在整个附图中，用相同的参考符号表示相同的部件。在附图中：

图1是本实用新型一种仿真器接口转接电路板的引脚结构示意图；

图2是本实用新型带有GD-Link接口供电控制排针5的仿真器接口转接电路板的引脚结构示意图；

图3是本实用新型一种仿真器接口转接电路板结构示意图；

图4是本实用新型另一种仿真器接口转接电路板结构示意图；

图5是本实用新型使用GD-Link仿真器时的测试系统的结构示意图；

图6是本实用新型使用J-Link仿真器时的测试系统的结构示意图；

图7是本实用新型使用U-Link仿真器时的测试系统的结构示意图。

具体实施方式

为使本实用新型的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图和具体实施方式对本实用新型作进一步详细的说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本实用新型，仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例，并不用于限定本实用新型。

发明人发现，目前市场上主流的用于嵌入式软件开发测试的仿真器的接口各有不同，而不同的仿真器针对需要调试仿真的目标芯片的型号又不相同，因此在对不同型号的目标芯片进行调试仿真时，就需要根据目标芯片的不同，更换对应的仿真器。

例如：对某一型号的芯片进行嵌入式软件开发测试，支持该型号的芯片进行调试仿真的仿真器为J-Link仿真器，对应的接口为J-Link接口。之后又对另一型号的芯片进行嵌入式软件开发测试，支持该另一型号的芯片进行调试仿真的仿真器为GD-Link仿真器，对应的接口为GD-Link接口，假若测试板上没有GD-Link接口，那么工作人员需要一个J-Link接口转换GD-Link 接口的转接器或者转接头，或者工作人员需要一个同时支持GD-Link仿真器和J-Link仿真器各自协议的协议转换器，才可以完成对该另一型号的芯片的调试仿真。

上述方法需要额外添加转接器，有时甚至可能需要增加外部电路，不但造成成本增加，而且使用起来也很不方便。

基于以上问题，发明人经过潜心研究，结合各个仿真器的接口的特点，经过大量实地测试和仿真测试，大胆地、创造性的提出本实用新型的仿真器接口转接电路板，只需要一个转接电路板就解决了上述问题。以下对发明人提出的解决方案进行详细解释和说明。

参照图1，示出了一种仿真器接口转接电路板的引脚结构示意图，该仿真器接口转接电路板包括：GD-Link接口1、J-Link接口2、JTAG接口3以及SWD接口4，上述GD-Link接口1、J-Link接口2分别用于与各自对应的仿真器(图中未示出各自的仿真器)连接；其中，GD-Link接口1、J-Link接口2、JTAG接口3以及SWD接口4中，具有相同功能的引脚通过仿真器接口转接电路板的走线相互连接。

可选地，该仿真器接口转接电路板还包括：GD-Link接口供电控制排针 5，GD-Link接口1的第一引脚通过GD-Link接口供电控制排针5连接外部电源，外部电源用于向仿真器接口转接电路板供电，如图2示出了带有GD- Link接口供电控制排针5的仿真器接口转接电路板的引脚结构示意图。之所以设置该GD-Link接口供电控制排针5，是因为GD-Link仿真器自身就有一个单独的电源供其工作，而不需要通过对应GD-Link接口1的第一引脚的引脚来为GD-Link仿真器提供电源，当不使用GD-Link仿真器自身的电源供其工作时，还可以通过仿真器接口转接电路板上的电源供其工作，当然，仿真器接口转接电路板上的电源是由外部电源提供的，外部电源可以由任何方式产生，只需要满足各个接口的电源引脚的电压需求即可，一般该电压为 3.3V。

该GD-Link接口供电控制排针5设置有跳线帽，该跳线帽用于对GD- Link接口供电控制排针5进行短接，在使用仿真器接口转接电路板上的电源，为GD-Link仿真器供电时，外部电源通过跳线帽短接的GD-Link接口供电控制排针5为GD-Link接口的第一引脚供电。

参照图3，示出了本实用新型实施例一种仿真器接口转接电路板结构示意图，GD-Link接口1为标准2.54mm引脚间距的2*5线制GD-Link接口，使用弯腿2*5的排针座实现，其中引脚1(即第一引脚)接VDD(仿真器接口转接电路板电源)，引脚3、5、7、9接GND(地)，引脚2功能为TMS/SWDIO (测试模式选择)，引脚4功能为TCK/SWDCLK(测试时钟返回信号)，引脚6功能为TDO(测试数据串行输出)，引脚8功能为TDI(测试数据串行输入)，引脚10功能为RESET(系统复位信号)，GD-Link仿真器可以通过对应的插头直接插在GD-Link接口1上。

J-Link接口2为标准2.54mm引脚间距的2*10线制J-Link接口，使用弯腿2*10的排针座实现，其中引脚1、2接VDD，引脚4、6、8、10、12、 14、16、18、20接GND(地)，引脚3、11、17、19不接，留作备用，相关工作人员可以自行定义引脚3、11、17、19的功能，引脚7功能为TMS/SWDIO，引脚9功能为TCK/SWDCLK，引脚13功能为TDO，引脚5功能为TDI，引脚15功能为RESET，J-Link仿真器可以通过对应的插头直接插在J-Link 接口2上。

JTAG接口3为标准2.54mm引脚间距的2*10线制JTAG接口，使用 2*10的排针座实现，排针座上配置有防错差的缺口，其中引脚1、2接VDD，引脚4、6、8、10、12、14、16、18、20接GND(地)，引脚3、11、17、19 不接，留作备用，相关工作人员可以自行定义引脚3、11、17、19的功能，引脚7功能为TMS/SWDIO，引脚9功能为TCK/SWDCLK，引脚13功能为 TDO，引脚5功能为TDI，引脚15功能为RESET。需要说明的是，JTAG接口3支持JTAG仿真器，JTAG仿真器可以通过对应的插头直接插在JTAG 接口3上来使用。

SWD接口4为标准2.54mm引脚间距的1*5线制GD-Link接口，使用 1*5的排针座实现，其中引脚1接VDD，引脚2功能为TMS/SWDIO，引脚 3功能为TCK/SWDCLK，引脚4接GND，引脚5功能为RESET。

需要说明的是，对于仿真器接口转接电路板与测试板的连接，只需要通过JTAG排线或者SWD排线即可实现。例如：假若某一芯片的调试仿真可以由SWD接口实现，那么只需要用一个SWD排线分别插在仿真器接口转接电路板上的SWD接口和目标芯片开发测试板的SWD接口上，即可实现对该芯片的调试仿真。

参照图4，示出了本实用新型实施例的另一种仿真器接口转接电路板结构示意图，该种仿真器接口转接电路板比上一种仿真器接口转接电路板多了两个拨码开关，该种仿真器接口转接电路板包括：GD-Link接口6、J-Link接口7、JTAG接口8、SWD接口9、第一拨码开关10以及第二拨码开关11，上述GD-Link接口6、J-Link接口7分别用于与各自对应的仿真器(图中未示出各自的仿真器)连接；其中，GD-Link接口6、J-Link接口7、JTAG接口8、SWD接口9、第一拨码开关10以及第二拨码开关11中，具有相同功能的引脚通过仿真器接口转接电路板的走线相互连接。

该种仿真器接口转接电路板的GD-Link接口6、J-Link接口7、JTAG接口8以及SWD接口9的相同号码的引脚与图3中GD-Link接口1、J-Link 接口2、JTAG接口3以及SWD接口4的相同号码的引脚功能完全相同，参照以上所述即可，在此不做赘述。为了示图的清晰简洁，GD-Link接口6、 J-Link接口7、JTAG接口8、SWD接口9、第一拨码开关10以及第二拨码开关11各自的引脚均单独示出，未与其他接口相连，图中相同名称的引脚即表示两者是连接的。第一拨码开关10为标准4P2T拨码开关，具有两个开关位置，一个位置控制4对引脚的导通状态，其中引脚1与J-Link接口7的引脚5连接，引脚2与JTAG接口8的引脚5连接，引脚3与GD-Link接口 6的引脚8连接，引脚4与J-Link接口7的引脚7连接，引脚5与JTAG接口8的引脚7连接，引脚6与GD-Link接口6的引脚2连接，引脚7与GD- Link接口6的引脚4连接，引脚8与JTAG接口8的引脚9连接，引脚9与 J-Link接口7的引脚9连接，引脚10与GD-Link接口6的引脚6连接，引脚11与JTAG接口8的引脚13连接，引脚12与J-Link接口7的引脚13连接。在第一拨码开关10拨至第一位置时，会使得J-Link接口7和JTAG接口8中具有相同功能的引脚通过仿真器接口转接电路板的走线连接导通；在第一拨码开关10拨至第二位置时，会使得GD-Link接口6和JTAG接口8 中具有相同功能的引脚通过仿真器接口转接电路板的走线连接导通。

第二拨码开关11为标准2P2T拨码开关，具有两个开关位置，一个位置控制2对引脚的导通状态，其中引脚1与J-Link接口7的引脚1、2连接，引脚2与JTAG接口8的引脚1、2连接，引脚3与GD-Link接口6的引脚 1连接，引脚4与GD-Link接口6的引脚10连接，引脚5与JTAG接口8的引脚15连接，引脚6与J-Link接口7的引脚15连接。在第二拨码开关11 拨至第一位置，且第一拨码开关10拨至第一位置时，会使得J-Link仿真器和JTAG接口同时工作，此时JTAG接口与测试板连接，使用J-Link仿真器做目标芯片的下载调试；在第二拨码开关11拨至第二位置，且第一拨码开关10拨至第二位置时，会使得GD-Link仿真器和JTAG接口同时工作，此时JTAG接口与目标芯片开发测试板连接，使用GD-Link仿真器做目标芯片开发测试板的下载调试。

设置上述两个拨码开关的作用是，假若因为各方面因素，通过软件的方式不能使得J-Link仿真器和JTAG接口同时工作或者断开连接，或者强制使得GD-Link仿真器和JTAG接口同时工作或者断开连接，就可以通过一种硬件的方式来强制使得J-Link仿真器和JTAG接口同时工作或者断开连接，或者强制使得GD-Link仿真器和JTAG接口同时工作或者断开连接。

本实用新型实施例还提供一种开发测试系统，该系统包括用于调试的智能设备、开发测试板、GD-Link仿真器、J-Link仿真器以及如以上所述的仿真器接口转接电路板，具体的，图5示出了本实用新型实施例使用GD-Link 仿真器时的测试系统的结构示意图，其中，由于开发测试板内集成JTAG接口和SWD接口(图中未示出)，因此仿真器接口转接电路板与开发测试板的连接只需要通过各自的排线即可实现，用于调试的智能设备为PC，GD-Link仿真器一端与PC连接，一端插在仿真器接口转接电路板的GD-Link接口上， JTAG或者SWD的排线一端插在仿真器接口转接电路板的JTAG或者SWD 接口上，一端与开发测试板连接。

图6示出了本实用新型实施例使用J-Link仿真器时的测试系统的结构示意图，其中，其与图5的不同是使用J-Link仿真器，用于调试的智能设备为PC，J-Link仿真器一端与PC连接，另一端插在仿真器接口转接电路板的 J-Link接口上，JTAG或者SWD的排线一端插在仿真器接口转接电路板的 JTAG或者SWD接口上，另一端与开发测试板连接。

图7示出了本实用新型实施例使用U-Link仿真器时的测试系统的结构示意图，其中，由于U-Link仿真器出来的口是JTAG的排母接口，所以只能插仿真器接口转接电路板的JTAG接口，而与测试板的连接只能通过SWD 接口或者J-Link接口，综合来说就是用于调试的智能设备为PC，U-Link仿真器的一端与PC连接，另一端插在仿真器接口转接电路板的JTAG接口上， SWD的排线一端插在仿真器接口转接电路板的SWD接口上，另一端与开发测试板连接，或者，U-Link仿真器的一端与PC连接，另一端插在仿真器接口转接电路板的JTAG接口上，由于J-Link接口是排母接口，因此可以直接插入开发测试板的JTAG接口上。

需要说明的是，上述仿真器接口转接电路板的各个引脚只是本实用新型实施例为了方便描述而例举的一种情况，并不代表所有仿真器接口转接电路板上引脚的具体位置，实际生产中可以根据具体情况进行具体生产设计。另外，本实用新型实施例中未例举的其他仿真器及其对应的接口，皆可借鉴与本实用新型实施例的转接电路板的方案进行扩展，极端情况下，不考虑转接电路板的体积，可以将市面上所有的仿真器的接口，以及目前未出现会在将来出现的仿真器的接口按照以上所述的方案进行扩展。

通过上述实施例，本实用新型使得用户在进行嵌入式软件开发测试时，只用一块仿真器接口转接电路板，就兼容了多种仿真器，该转接电路板可实现不同仿真器及不同目标芯片开发测试板的下载调试接口的互转功能，只需要进行简单的软件设定，或者简单的接口插拔，即可实现对多种目标芯片的调试仿真，操作简捷易懂，极大的提高了工作人员的工作效率，并且降低了嵌入式软件开发测试的成本。

最后，还需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者终端设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者终端设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者终端设备中还存在另外的相同要素。

以上对本实用新型进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本实用新型的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本实用新型的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本实用新型的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本实用新型的限制。

Claims (8)

1.一种仿真器接口转接电路板，其特征在于，所述仿真器接口转接电路板包括：GD-Link接口、J-Link接口、JTAG接口以及SWD接口，所述GD-Link接口、所述J-Link接口分别用于与各自对应的仿真器连接；

所述GD-Link接口、所述J-Link接口、所述JTAG接口以及所述SWD接口中，具有相同功能的引脚通过所述仿真器接口转接电路板的走线相互连接。

2.根据权利要求1所述的仿真器接口转接电路板，其特征在于，所述仿真器接口转接电路板还包括：GD-Link接口供电控制排针，所述GD-Link接口的第一引脚通过所述GD-Link接口供电控制排针连接外部电源，所述外部电源用于向所述仿真器接口转接电路板供电。

3.根据权利要求2所述的仿真器接口转接电路板，其特征在于，所述GD-Link接口供电控制排针设置有跳线帽，所述跳线帽用于对所述GD-Link接口供电控制排针进行短接，所述GD-Link接口与GD-Link仿真器连接时，所述外部电源通过所述跳线帽短接的GD-Link接口供电控制排针为所述第一引脚供电。

4.一种仿真器接口转接电路板，其特征在于，所述仿真器接口转接电路板包括：GD-Link接口、J-Link接口、JTAG接口、SWD接口、第一拨码开关以及第二拨码开关，所述GD-Link接口用于与GD-Link仿真器连接、所述J-Link接口用于与J-Link仿真器连接；

所述GD-Link接口、所述J-Link接口、所述JTAG接口以及所述SWD接口中，具有相同功能的引脚通过所述仿真器接口转接电路板的走线相互连接；

所述第一拨码开关中与所述GD-Link接口、所述J-Link接口以及所述JTAG接口中具有相同功能的引脚通过所述仿真器接口转接电路板的走线相互连接，所述第一拨码开关用于控制所述GD-Link接口、所述J-Link接口以及所述JTAG接口的导通状态；

所述第二拨码开关中与所述GD-Link接口、所述J-Link接口以及所述JTAG接口中具有相同功能的引脚通过所述仿真器接口转接电路板的走线相互连接，所述第二拨码开关用于与所述第一拨码开关共同作用，以控制所述GD-Link仿真器、所述J-Link仿真器以及所述JTAG接口的工作状态。

5.根据权利要求4所述的仿真器接口转接电路板，其特征在于，所述第一拨码开关拨至第一位置时，所述J-Link接口以及所述JTAG接口中具有相同功能的引脚通过所述走线连接导通；

所述第一拨码开关拨至第二位置时，所述GD-Link接口以及所述JTAG接口中具有相同功能的引脚通过所述走线连接导通。

6.根据权利要求5所述的仿真器接口转接电路板，其特征在于，所述第二拨码开关拨至第一位置，且所述第一拨码开关拨至第一位置时，所述J-Link仿真器以及所述JTAG接口同时工作；

所述第二拨码开关拨至第二位置，且所述第一拨码开关拨至第二位置时，所述GD-Link仿真器以及所述JTAG接口同时工作。

7.一种开发测试系统，其特征在于，所述系统包括用于调试的智能设备、开发测试板、GD-Link仿真器、J-Link仿真器、U-Link仿真器以及如权利要求1-3任一项所述的仿真器接口转接电路板。

8.一种开发测试系统，其特征在于，所述系统包括用于调试的智能设备、开发测试板、GD-Link仿真器、J-Link仿真器、U-Link仿真器以及如权利要求4-6任一项所述的仿真器接口转接电路板。

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