CN210720641U - 一种基于qfn8(2x2)封装的通用测试板 - Google Patents
一种基于qfn8(2x2)封装的通用测试板 Download PDFInfo
- Publication number
- CN210720641U CN210720641U CN201921115867.6U CN201921115867U CN210720641U CN 210720641 U CN210720641 U CN 210720641U CN 201921115867 U CN201921115867 U CN 201921115867U CN 210720641 U CN210720641 U CN 210720641U
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- test
- interface
- qfn8
- model
- seat
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
本实用新型提供一种基于QFN8(2X2)封装的通用测试板,包括PCB底板以及设置于其上的测试座、接口区,所述PCB底板通过定位孔固定在分选机上,所述测试座用于固定待测IC并通过线缆连接所述接口区上的34PIN接口,所述34PIN接口连接测试机测头进行测试并用于返回测试信号。本实用新型能够通用QFN8(2X2)封装的所有IC的测试型号,每种IC在测试时,不需要更换测试座及连接接口,提高了测试效率和更换测试产品的时间,同时能够保证测试的准确性和稳定性,便于IC的大规模的测试量产。
Description
技术领域
本实用新型涉及检测治具领域,具体涉及一种基于QFN8(2X2)封装的通用测试板。
背景技术
IC芯片种类非常多,有模拟IC,数字IC等,不同的IC有不同功能和作用,传统的测试的方法非常麻烦,针对不同的IC芯片需要设计不同的测试板或者测试座,但是由于IC的封装尺寸和脚位是相同的,因此可以考虑设计出一款通用测试板能够通用QFN8(2X2)封装的所有IC的测试型号。
实用新型内容
本实用新型提供一种基于QFN8(2X2)封装的通用测试板,以解决传统技术中针对不同的IC芯片需要设计不同的测试板或者测试座的问题。
本实用新型提供一种基于QFN8(2X2)封装的通用测试板,包括PCB底板以及设置于其上的测试座、接口区,所述PCB底板通过定位孔固定在分选机上,所述测试座用于固定待测IC并通过线缆连接所述接口区上的34PIN接口,所述 34PIN接口连接测试机测头进行测试并用于返回测试信号。
优选的,所述测试座与所述线缆之间设置有金手指。
本实用新型有益效果:
本实用新型提供的一种基于QFN8(2X2)封装的通用测试板,能够通用 QFN8(2X2)封装的所有IC的测试型号,每种IC在测试时,不需要更换测试座及连接接口,提高了测试效率和更换测试产品的时间,同时能够保证测试的准确性和稳定性,便于IC的大规模的测试量产。
附图说明
图1是本实用新型实施例结构示意图。
其中,1-PCB底板,2-测试座,3-接口区,4-线缆,5-定位孔,6-测试座定位孔。
具体实施方式
为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚,以下结合具体实施例,对本实用新型作进一步地详细说明。
实施例
本实施例提供一种基于QFN8(2X2)封装的通用测试板,包括PCB底板1 以及设置于其上的测试座2、接口区3,所述PCB底板1通过定位孔5固定在分选机上,所述测试座2用于固定待测IC并通过线缆4连接所述接口区3上的 34PIN接口,所述34PIN接口连接测试机测头进行测试并用于返回测试信号。
进一步的,所述测试座2与所述线缆4之间设置有金手指。测试座2通过测试座定位孔6安装在所述PVB底板1上。
测试时由分选机把待测试芯片放到测试座2内,测试座通过金手指和线缆4 连接到34PIN接口,整个测试板从34PIN接口连接到测试机上面的测试头进行测试,并返回测试信号。
综上所述,本实用新型提供的一种基于QFN8(2X2)封装的通用测试板,能够通用QFN8(2X2)封装的所有IC的测试型号,每种IC在测试时,不需要更换测试座及连接接口,提高了测试效率和更换测试产品的时间,同时能够保证测试的准确性和稳定性,便于IC的大规模的测试量产。
以上所述仅为本实用新型的实施例而已,并不用于限制本实用新型,对于本领域的技术人员来说,本实用新型可以有各种更改和变化。凡在本实用新型的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本实用新型的权利要求范围。
Claims (2)
1.一种基于QFN8(2X2)封装的通用测试板,包括PCB底板(1)以及设置于其上的测试座(2)、接口区(3),其特征在于,所述PCB底板(1)通过定位孔(5)固定在分选机上,所述测试座(2)用于固定待测IC并通过线缆(4)连接所述接口区(3)上的34PIN接口,所述34PIN接口连接测试机测头进行测试并用于返回测试信号。
2.如权利要求1所述的基于QFN8(2X2)封装的通用测试板,其特征在于,所述测试座(2)与所述线缆(4)之间设置有金手指。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201921115867.6U CN210720641U (zh) | 2019-07-16 | 2019-07-16 | 一种基于qfn8(2x2)封装的通用测试板 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201921115867.6U CN210720641U (zh) | 2019-07-16 | 2019-07-16 | 一种基于qfn8(2x2)封装的通用测试板 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN210720641U true CN210720641U (zh) | 2020-06-09 |
Family
ID=70937489
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201921115867.6U Active CN210720641U (zh) | 2019-07-16 | 2019-07-16 | 一种基于qfn8(2x2)封装的通用测试板 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN210720641U (zh) |
-
2019
- 2019-07-16 CN CN201921115867.6U patent/CN210720641U/zh active Active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN101458289A (zh) | 主机板线路检测装置 | |
KR102305872B1 (ko) | 검사 시스템, 웨이퍼 맵 표시기, 웨이퍼 맵 표시 방법, 및 기록 매체에 저장된 컴퓨터 프로그램 | |
CN108490334A (zh) | 芯片引脚焊接检测方法及检测装置 | |
CN101821634B (zh) | 多部位探针 | |
CN204203420U (zh) | 一种测试bga封装芯片高速总线的测试治具 | |
CN203720216U (zh) | 探针模块 | |
CN112649720A (zh) | 板卡测试方法、装置及计算机可读存储介质 | |
US7979232B2 (en) | Apparatuses and methods for determining configuration of SAS and SATA cables | |
CN210720641U (zh) | 一种基于qfn8(2x2)封装的通用测试板 | |
CN106646055A (zh) | 一种晶振检测载具和工装 | |
CN204854567U (zh) | 一种快速多功能钻孔检具 | |
US20090164931A1 (en) | Method and Apparatus for Managing Test Result Data Generated by a Semiconductor Test System | |
CN107329103B (zh) | 集成电路测试系统时间传递标准器组及其测试方法 | |
CN212160007U (zh) | 一种自动化芯片测试装置 | |
CN217930763U (zh) | 一种包装箱运输振动试验用底部压力检测装置 | |
CN102129004A (zh) | Pcb板上测试断路的方法 | |
CN105575836A (zh) | 测试装置 | |
US6785413B1 (en) | Rapid defect analysis by placement of tester fail data | |
CN205067627U (zh) | 一种探针测试装置 | |
CN105092925A (zh) | 用于测试探针卡的转换卡 | |
CN208459552U (zh) | 一种用于触摸屏芯片的检测治具 | |
CN113268390A (zh) | 一种mSATA接口的测试治具、系统以及方法 | |
CN207571257U (zh) | 多路晶体管阵列测试辅助装置 | |
CN102081111A (zh) | 探针卡 | |
US20040044498A1 (en) | Methods and apparatus for characterizing board test coverage |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |