CN113268390A - 一种mSATA接口的测试治具、系统以及方法 - Google Patents
一种mSATA接口的测试治具、系统以及方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN113268390A CN113268390A CN202110650034.5A CN202110650034A CN113268390A CN 113268390 A CN113268390 A CN 113268390A CN 202110650034 A CN202110650034 A CN 202110650034A CN 113268390 A CN113268390 A CN 113268390A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- interface
- test
- msata
- radio frequency
- signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
- G06F11/26—Functional testing
- G06F11/273—Tester hardware, i.e. output processing circuits
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
- G06F11/2205—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested
Abstract
本申请公开了一种mSATA接口的测试治具、系统及方法,该测试治具包括mSATA接口金手指、第一射频接口、第二射频接口、第三射频接口以及第四射频接口;mSATA接口金手指,用于连接mSATA接口,接收mSATA接口输出的信号或输出信号至mSATA接口;第一射频接口与第二射频接口,用于将mSATA接口金手指接收的mSATA接口输出的信号传输至测试设备;第三射频接口与第四射频接口,用于接收测试设备输出的信号,并将测试设备输出的信号经由mSATA接口金手指输出至mSATA接口。使用该测试治具进行测试可以提高测试准确度与效率,并且可以完成SATA规范制定的测试项。
Description
技术领域
本申请涉及计算机技术领域,特别涉及一种mSATA接口的测试治具;还涉及一种mSATA接口的测试系统以及测试方法。
背景技术
为了满足产品更小、更薄的要求,mSATA接口(Mini Serial Advanced TechnologyAttachment,mini版SATA接口)成为产品的光驱接口的不二选择,其接口信号依然是SATA(Serial Advanced Technology Attachment,串行高级技术附件)信号,速率最高可达6Gbps。目前,针对mSATA接口的测试方案主要是将mSATA接口连接与mSATA接口适配的设备,进而采用示波器探头在SATA信号的传输线路上进行点测。然而,SATA信号的传输速率较高,点测无法测到信号最终端,从而会导致测试误差较大,并且操作麻烦,测试效率低。另外,mSATA接口接入与mSATA接口适配的设备后,传输线路上只有一种mSATA信号,无法完成SATA规范制定的测试项。
有鉴于此,如何解决上述技术缺陷已成为本领域技术人员亟待解决的技术问题。
发明内容
本申请的目的是提供一种mSATA接口的测试治具,使用该测试治具进行测试可以提高测试准确度与效率,并且可以完成SATA规范制定的测试项。本申请的另一个目的是提供一种mSATA接口的测试系统以及方法,均具有上述技术效果。
为解决上述技术问题,本申请提供了一种mSATA接口的测试治具,包括:
mSATA接口金手指、第一射频接口、第二射频接口、第三射频接口以及第四射频接口;所述第一射频接口、所述第二射频接口、所述第三射频接口以及所述第四射频接口通过测试治具的内部走线与所述mSATA接口金手指相连;且所述第一射频接口、所述第二射频接口、所述第三射频接口以及所述第四射频接口与测试设备的信号接口适配;
所述mSATA接口金手指,用于连接mSATA接口,接收所述mSATA接口输出的信号或输出信号至所述mSATA接口;
所述第一射频接口与所述第二射频接口,用于将所述mSATA接口金手指接收的所述mSATA接口输出的信号传输至所述测试设备;
所述第三射频接口与所述第四射频接口,用于接收所述测试设备输出的信号,并将所述测试设备输出的信号经由所述mSATA接口金手指输出至所述mSATA接口。
可选的,所述第一射频接口、所述第二射频接口、所述第三射频接口以及所述第四射频接口均为SMP接口。
为解决上述技术问题,本申请还提供了一种mSATA接口的测试系统,包括:
测试设备以及如上所述的测试治具;
所述测试治具分别连接被测设备的mSATA接口与所述测试设备,用于接收所述mSATA接口输出的目标码型的信号,并将所述mSATA接口输出的信号经由与所述测试设备适配的接口传输至所述测试设备,或者通过与所述测试设备适配的接口接收所述测试设备输出的信号,并将所述测试设备输出的信号输出至所述mSATA接口,以及将所述mSATA接口输出的与所述mSATA接口接收的信号一致的信号经由与所述测试设备适配的接口传输至所述测试设备;
所述测试设备,用于分析接收到的信号得到测试结果。
可选的,所述测试设备包括示波器与误码仪。
可选的,所述示波器具体用于运行Sigtest软件分析接收到的信号得到测试结果。
可选的,所述目标码型包括:HFTP码型、MFTP码型、LFTP码型以及LBP码型。
可选的,使所述被测设备的所述mSATA接口输出所述目标码型的信号的方式为:
通过配置所述被测设备的SATA控制器的码型寄存器,使所述被测设备的所述mSATA接口输出所述目标码型的信号。
可选的,配置所述被测设备的SATA控制器的码型寄存器的方式为:
通过devmem2工具配置所述SATA控制器的码型寄存器。
为解决上述技术问题,本申请还提供了一种mSATA接口的测试方法,包括:
测试治具接收被测设备的mSATA接口输出的目标码型的信号,并将所述mSATA接口输出的信号经由与所述测试设备适配的接口传输至所述测试设备;或者,所述测试治具通过与所述测试设备适配的接口接收所述测试设备输出的信号,并将所述测试设备输出的信号输出至所述mSATA接口,以及将所述mSATA接口输出的与所述mSATA接口接收的信号一致的信号经由与所述测试设备适配的接口传输至所述测试设备;
所述测试设备分析接收到的信号得到测试结果。
可选的,使所述被测设备的所述mSATA接口输出所述目标码型的信号的方式为:
通过配置所述被测设备的SATA控制器的码型寄存器,使所述被测设备的所述mSATA接口输出所述目标码型的信号。
本申请所提供的mSATA接口的测试治具,包括:mSATA接口金手指、第一射频接口、第二射频接口、第三射频接口以及第四射频接口;所述第一射频接口、所述第二射频接口、所述第三射频接口以及所述第四射频接口通过测试治具的内部走线与所述mSATA接口金手指相连;且所述第一射频接口、所述第二射频接口、所述第三射频接口以及所述第四射频接口与测试设备的信号接口适配;所述mSATA接口金手指,用于连接mSATA接口,接收所述mSATA接口输出的信号或输出信号至所述mSATA接口;所述第一射频接口与所述第二射频接口,用于将所述mSATA接口金手指接收的所述mSATA接口输出的信号传输至所述测试设备;所述第三射频接口与所述第四射频接口,用于接收所述测试设备输出的信号,并将所述测试设备输出的信号经由所述mSATA接口金手指输出至所述mSATA接口。
可见,较之传统的测试方案,使用本申请所提供的测试治具可间接将待测设备的mSATA接口与测试设备建立连接,mSATA接口输出的信号最终达到测试设备,进而测试设备接收到信号后对接收的信号进行分析得到测试结果,由此可以测到信号的最终端,提升测试的准确度。并且,测试时只需将被测设备、测试治具以及测试设备三者连接即可进行测试,而无需再利用探头进行点测,极大的提升了测试的效率。此外,通过测试治具间接建立了mSATA接口与测试设备之间的信号传输通道,传输线路上的信号码型可以为多种,由此可以完成SATA规范制定的测试项。
本申请所提供的mSATA接口的测试系统以及方法均具有上述技术效果。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案,下面将对现有技术和实施例中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本申请实施例所提供的一种mSATA接口的测试治具的示意图;
图2为本申请实施例所提供的一种mSATA接口的测试系统的示意图;
图3为本申请实施例所提供的一种mSATA接口的测试方法的流程示意图。
具体实施方式
本申请的核心是提供一种mSATA接口的测试治具,使用该测试治具进行测试可以提高测试准确度与效率,并且可以完成SATA规范制定的测试项。本申请的另一个核心是提供一种mSATA接口的测试系统以及方法,均具有上述技术效果。
为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本申请实施例中的附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本申请一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本申请保护的范围。
请参考图1,图1为本申请实施例所提供的一种mSATA接口的测试治具的示意图,参考图1所示,该测试治具包括:
mSATA接口金手指10、第一射频接口20、第二射频接口30、第三射频接口40以及第四射频接口50;所述第一射频接口20、所述第二射频接口30、所述第三射频接口40以及所述第四射频接口50通过测试治具的内部走线与所述mSATA接口金手指10相连;且所述第一射频接口20、所述第二射频接口30、所述第三射频接口40以及所述第四射频接口50与测试设备的信号接口适配;所述mSATA接口金手指10,用于连接mSATA接口,接收所述mSATA接口输出的信号或输出信号至所述mSATA接口;所述第一射频接口20与所述第二射频接口30,用于将所述mSATA接口金手指10接收的所述mSATA接口输出的信号传输至所述测试设备;所述第三射频接口40与所述第四射频接口50,用于接收所述测试设备输出的信号,并将所述测试设备输出的信号经由所述mSATA接口金手指10输出至所述mSATA接口。
具体的,本申请所提供的mSATA接口的测试治具主要包括mSATA接口金手指10与四路射频接口,即第一射频接口20、第二射频接口30、第三射频接口40以及第四射频接口50。各射频接口与测试设备的信号接口适配,且各射频接口通过测试治具的内部走线与mSATA接口金手指10相连。
第一射频接口20与第二射频接口30为一组发送接口,通过第一射频接口20与第二射频接口30发送差分信号。mSATA接口输出的信号由mSATA接口金手指10接收,进而通过测试治具的PCB布线,由第一射频接口20与第二射频接口30以射频接口的方式引出,通过第一射频接口20、第二射频接口30与测试设备之间的连接线缆最终将mSATA接口的SATA Tx信号输出到测试设备。
第三射频接口40与第四射频接口50为一组接收接口,通过第三射频接口40与第四射频接口50接收差分信号。测试设备输出的信号通过第三射频接口40、第四射频接口50与测试设备之间的连接线缆传输到第三射频接口40与第四射频接口50,进而第三射频接口40与第四射频接口50接收的信号通过测试治具的PCB布线,由mSATA接口金手指10以mSATA接口的方式引出到被测设备的mSATA接口。
为保证引出的信号的真实性,在信号传输路径上除mSATA接口金手指10以及各射频接口外,不增加任何其他器件,以此保证引出信号的真实性。另外,由于mSATA接口通常为贴片封装,所以信号接口从正面引出,避免因背面射频接口与主板空间不够导致无法插入的情况出现。
对于各射频接口的具体类型,本申请在此不做唯一限定,能够与测试设备的信号接口适配即可。
其中,在一种具体的实施方式中,所述第一射频接口20、所述第二射频接口30、所述第三射频接口40以及所述第四射频接口50均为SMP接口。
具体而言,本实施例中,各射频接口具体为SMP接口。进行测试时,对测试设备进行预热、校准以及对连接线缆进行校准后,将测试治具的mSATA接口金手指10与被测设备的mSATA接口相连,通过连接线缆将测试设备与相应的SMP接口连接,进而进行测试。
当对mSATA接口的SATA Tx(Transmit external,向外部设备发送数据)信号进行测试时,将测试治具的mSATA接口金手指10与被测设备的mSATA接口相连,通过连接线缆将测试设备与第一射频接口20以及第二射频接口30连接。被测设备的mSATA接口输出的信号到达mSATA接口金手指10,进而由第一射频接口20与第二射频接口30以SMP接口的方式引出,最终通过连接线缆到达测试设备,例如到达示波器。进而示波器对接收的信号进行分析得到测试结果。
当对mSATA接口的SATA Rx(Receive external,接收外部设备传来的数据)信号进行测试时,将测试治具的mSATA接口金手指10与被测设备的mSATA接口相连,通过连接线缆将测试设备与第一射频接口20、第二射频接口30、第三射频接口40以及第四射频接口50连接。测试设备,例如误码仪,输出的信号经由连接线缆到达第三射频接口40与第四射频接口50,进而由mSATA接口金手指10以mSATA接口的方式引出到mSATA接口。mSATA接口进一步会输出与其所接收的信号一致的信号。mSATA接口输出的与其所接收的信号一致的信信号到达mSATA接口金手指10,并进一步由第一射频接口20与第二射频接口30以SMP接口的方式引出,最终通过连接线缆到达误码仪。进而误码仪通过比对其发送的信号与其接收的信号得到测试结果。
综上所述,使用本申请所提供的测试治具可间接将待测设备的mSATA接口与测试设备建立连接,mSATA接口输出的信号最终达到测试设备,进而测试设备接收到信号后对接收的信号进行分析得到测试结果,由此可以测到信号的最终端,提升测试的准确度。并且,测试时只需将被测设备、测试治具以及测试设备三者连接即可进行测试,而无需再利用探头进行点测,极大的提升了测试的效率。此外,通过测试治具间接建立了mSATA接口与测试设备之间的信号传输通道,传输线路上的信号码型可以为多种,由此可以完成SATA规范制定的测试项。
本申请还提供了一种mSATA接口的测试系统,请参考图2,图2为本申请实施例所提供的一种mSATA接口的测试系统的示意图,结合图2所示,该测试系统包括:
测试设备2以及测试治具1;
所述测试治具1分别连接被测设备的mSATA接口与所述测试设备2,用于接收所述mSATA接口输出的目标码型的信号,并将所述mSATA接口输出的信号经由与所述测试设备2适配的接口传输至所述测试设备2,或者通过与所述测试设备2适配的接口接收所述测试设备2输出的信号,并将所述测试设备2输出的信号输出至所述mSATA接口,以及将所述mSATA接口输出的与所述mSATA接口接收的信号一致的信号经由与所述测试设备2适配的接口传输至所述测试设备2;
所述测试设备2,用于分析接收到的信号得到测试结果。
其中,测试治具1包括:mSATA接口金手指、第一射频接口、第二射频接口、第三射频接口以及第四射频接口;所述第一射频接口、所述第二射频接口、所述第三射频接口以及所述第四射频接口通过测试治具1的内部走线与所述mSATA接口金手指相连;且所述第一射频接口、所述第二射频接口、所述第三射频接口以及所述第四射频接口与测试设备2的信号接口适配;所述mSATA接口金手指,用于连接mSATA接口,接收所述mSATA接口输出的信号或输出信号至所述mSATA接口;所述第一射频接口与所述第二射频接口,用于将所述mSATA接口金手指接收的所述mSATA接口输出的信号传输至所述测试设备2;所述第三射频接口与所述第四射频接口,用于接收所述测试设备2输出的信号,并将所述测试设备2输出的信号经由所述mSATA接口金手指输出至所述mSATA接口。
第一射频接口与第二射频接口为一组发送接口,第三射频接口与第四射频接口为一组接收接口。
所述第一射频接口、所述第二射频接口、所述第三射频接口以及所述第四射频接口可具体为SMP接口。
可以明白的是,上述第一、第二、第三以及第四的描述仅为了区别各个射频接口,而不作为各射频接口间顺序、等级等的限定。
另外,所述测试设备2包括示波器与误码仪。
当对mSATA接口的SATA Tx信号进行测试时,将测试治具1的mSATA接口金手指与被测设备的mSATA接口相连,通过连接线缆将示波器与第一射频接口以及第二射频接口连接。被测设备的mSATA接口输出的目标码型的信号到达mSATA接口金手指,进而由第一射频接口与第二射频接口以SMP接口的方式引出,最终通过连接线缆到达示波器。进而示波器对接收的信号进行分析得到测试结果。
其中,所述目标码型包括:HFTP码型(High Frequency Test Pattern,高频测试码型)、MFTP码型(Middle Frequency Test Pattern,中频测试码型)、LFTP码型(LowFrequency Test Pattern,低频测试码型)以及LBP码型(Lone-Bit Pattern,单独位码型)。
被测设备分别输出:HFTP码型、MFTP码型、LFTP码型以及LBP码型的信号,示波器分析各码型的信号,由此完成完成SATA规范制定的测试项。
另外,示波器具体可运行Sigtest软件分析接收到的信号得到测试结果。对于示波器运行Sigtest软件分析接收到的信号得到测试结果的具体实现过程,本申请在此不做赘述,参考现有的相关技术即可。
当对mSATA接口的SATA Rx信号进行测试时,将测试治具1的mSATA接口金手指与被测设备的mSATA接口相连,通过连接线缆将误码仪与第一射频接口、第二射频接口、第三射频接口以及第四射频接口连接。误码仪输出的信号经由连接线缆到达第三射频接口与第四射频接口,进而由mSATA接口金手指以mSATA接口的方式引出到mSATA接口。mSATA接口进一步会输出与其所接收的信号一致的信号。mSATA接口输出的与其所接收的信号一致的信号到达mSATA接口金手指,并进一步由第一射频接口与第二射频接口以SMP接口的方式引出,最终通过连接线缆到达误码仪。进而误码仪通过比对其发送的信号与其接收的信号得到测试结果。
可以明白的是,除示波器以及误码仪外,测试设备2还可以为其他同样能够实现SATA Tx信号与SATA Rx信号测试的设备。
进一步,在上述实施例的基础上,作为一种具体的实施方式,使所述被测设备的所述mSATA接口输出所述目标码型的信号的方式可以为:
通过配置所述被测设备的SATA控制器的码型寄存器,使所述被测设备的所述mSATA接口输出所述目标码型的信号。
本实施例采用配置码型寄存器的方式,使被测设备输出不同码型的信号,简单方便,尤其对于缺少SATA信号发包软件的设备(例如,飞腾平台的CPU),本实施例所提供的使被测设备输出不同码型的信号的方案可以填补缺少SATA信号发包软件的设备的缺陷。
其中,配置所述被测设备的SATA控制器的码型寄存器的方式可以为:通过devmem2工具配置所述SATA控制器的码型寄存器。
具体而言,在被测设备的系统中打开终端进入root模式,以便有权限查看、读写寄存器。在root模式下输入指令lspci–vvv,查看所需测试SATA控制器的内存映射地址0xXXXXXXXX,此地址是SATA控制器的基地址。配置SATA控制器相关寄存器的值,使得SATA控制器从Tx链路输出所需码型的信号。
具体实现方式如下:
修改SATA控制器端口选择寄存器的值,选择需要发送目标码型的信号的端口。
代码表示如下:devmem2-r基地址+SATA_REG_SEL_OFFSET b 0xX(X=0、1、2、……)
将SATA控制器速率寄存器的值写入c6,发送GEN3的HFTP码型。
代码表示如下:devmem2-r基地址+SATA_EPHY_CTL32 b 0xc6
将SATA控制器码型选择寄存器的值写入1,发送MFTP码型。
代码表示如下:devmem2-r基地址+SATA_EPHY_CTL15 b 0x1
将SATA控制器码型选择寄存器的值写入2,发送LFTP码型。
代码表示如下:devmem2-r基地址+SATA_EPHY_CTL15 b 0x2
将SATA控制器码型选择寄存器的值写入cd,发送LBP码型。
代码表示如下:devmem2-r基地址+SATA_EPHY_CTL32 b 0xcd
上述代码中SATA_REG_SEL_OFFSET表示SATA控制器端口选择控制器,SATA_EPHY_CTL32表示SATA控制器的速率选择寄存器,SATA_EPHY_CTL15表示SATA控制器的码型选择寄存器。
本申请所提供的测试系统,通过测试治具可间接将待测设备的mSATA接口与测试设备建立连接,mSATA接口输出的信号最终达到测试设备,进而测试设备接收到信号后对接收的信号进行分析得到测试结果,由此可以测到信号的最终端,提升测试的准确度。并且,测试时只需将被测设备、测试治具以及测试设备三者连接即可进行测试,而无需再利用探头进行点测,极大的提升了测试的效率。此外,通过测试治具间接建立了mSATA接口与测试设备之间的信号传输通道,传输线路上的信号码型可以为多种,由此可以完成SATA规范制定的测试项。
本申请还提供了一种mSATA接口的测试方法,下文描述的方式可以参照上文描述的测试治具以及测试系统的实施例,参考图3所示,图3为本申请所提供的一种mSATA接口的测试方法的流程示意图,如图3所示,该测试方法主要包括:
S101:测试治具接收被测设备的mSATA接口输出的目标码型的信号,并将所述mSATA接口输出的信号经由与所述测试设备适配的接口传输至所述测试设备;或者,所述测试治具通过与所述测试设备适配的接口接收所述测试设备输出的信号,并将所述测试设备输出的信号输出至所述mSATA接口,以及将所述mSATA接口输出的与所述mSATA接口接收的信号一致的信号经由与所述测试设备适配的接口传输至所述测试设备;
S102:所述测试设备分析接收到的信号得到测试结果。
测试治具具体通过其上的第三射频接口与第四射频接口接收测试设备发送的信号,并通过其上的mSATA接口金手指将测试设备发送的信号以mSATA接口的方式传输至被测设备的mSATA接口。
其中,测试设备可以包括示波器,例如泰克20GHz带宽示波器,与误码仪。示波器用于对mSATA接口的SATA Tx信号进行测试,误码仪用于对mSATA接口的SATA Rx信号进行测试。
当要测试mSATA接口的SATA Tx信号时,将测试治具的mSATA接口金手指与被测设备的mSATA接口相连,通过连接线缆将示波器与测试治具的第一射频接口以及第二射频接口连接。被测设备的mSATA接口输出的信号到达mSATA接口金手指,进而由第一射频接口与第二射频接口以SMP接口的方式引出,最终通过连接线缆到达示波器。进而示波器对接收的信号进行分析得到测试结果。
当要测试mSATA接口的SATA Rx信号时,将测试治具的mSATA接口金手指与被测设备的mSATA接口相连,通过连接线缆将误码仪与第一射频接口、第二射频接口、第三射频接口以及第四射频接口连接。误码仪输出的信号经由连接线缆到达第三射频接口与第四射频接口,进而由mSATA接口金手指以mSATA接口的方式引出到mSATA接口。mSATA接口进一步会输出与其所接收的信号一致的信号。mSATA接口输出的与其所接收的信号一致的信号到达mSATA接口金手指,并进一步由第一射频接口与第二射频接口以SMP接口的方式引出,最终通过连接线缆到达误码仪。进而误码仪通过比对其发送的信号与其接收的信号得到测试结果。
其中,使所述被测设备的所述mSATA接口输出所述目标码型的信号的方式为:通过配置所述被测设备的SATA控制器的码型寄存器,使所述被测设备的所述mSATA接口输出所述目标码型的信号。
本申请所提供的测试方法,通过测试治具间接将待测设备的mSATA接口与测试设备建立连接,mSATA接口输出的信号最终达到测试设备,进而测试设备接收到信号后对接收的信号进行分析得到测试结果,由此可以测到信号的最终端,提升测试的准确度。并且,测试时只需将被测设备、测试治具以及测试设备三者连接即可进行测试,而无需再利用探头进行点测,极大的提升了测试的效率。此外,通过测试治具间接建立了mSATA接口与测试设备之间的信号传输通道,传输线路上的信号码型可以为多种,由此可以完成SATA规范制定的测试项。
说明书中各个实施例采用递进的方式描述,每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处,各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。对于实施例公开的装置、设备以及计算机可读存储介质而言,由于其与实施例公开的方法相对应,所以描述的比较简单,相关之处参见方法部分说明即可。
专业人员还可以进一步意识到,结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤,能够以电子硬件、计算机软件或者二者的结合来实现,为了清楚地说明硬件和软件的可互换性,在上述说明中已经按照功能一般性地描述了各示例的组成及步骤。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行,取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能,但是这种实现不应认为超出本申请的范围。
结合本文中所公开的实施例描述的方法或算法的步骤可以直接用硬件、处理器执行的软件模块,或者二者的结合来实施。软件模块可以置于随机存储器(RAM)、内存、只读存储器(ROM)、电可编程ROM、电可擦除可编程ROM、寄存器、硬盘、可移动磁盘、CD-ROM、或技术领域内所公知的任意其它形式的存储介质中。
以上对本申请所提供的技术方案进行了详细介绍。本文中应用了具体个例对本申请的原理及实施方式进行了阐述,以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请的方法及其核心思想。应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本申请原理的前提下,还可以对本申请进行若干改进和修饰,这些改进和修饰也落入本申请权利要求的保护范围。
Claims (10)
1.一种mSATA接口的测试治具,其特征在于,包括:
mSATA接口金手指、第一射频接口、第二射频接口、第三射频接口以及第四射频接口;所述第一射频接口、所述第二射频接口、所述第三射频接口以及所述第四射频接口通过测试治具的内部走线与所述mSATA接口金手指相连;且所述第一射频接口、所述第二射频接口、所述第三射频接口以及所述第四射频接口与测试设备的信号接口适配;
所述mSATA接口金手指,用于连接mSATA接口,接收所述mSATA接口输出的信号或输出信号至所述mSATA接口;
所述第一射频接口与所述第二射频接口,用于将所述mSATA接口金手指接收的所述mSATA接口输出的信号传输至所述测试设备;
所述第三射频接口与所述第四射频接口,用于接收所述测试设备输出的信号,并将所述测试设备输出的信号经由所述mSATA接口金手指输出至所述mSATA接口。
2.根据权利要求1所述的测试治具,其特征在于,所述第一射频接口、所述第二射频接口、所述第三射频接口以及所述第四射频接口均为SMP接口。
3.一种mSATA接口的测试系统,其特征在于,包括:
测试设备以及如权利要求1或2所述的测试治具;
所述测试治具分别连接被测设备的mSATA接口与所述测试设备,用于接收所述mSATA接口输出的目标码型的信号,并将所述mSATA接口输出的信号经由与所述测试设备适配的接口传输至所述测试设备,或者通过与所述测试设备适配的接口接收所述测试设备输出的信号,并将所述测试设备输出的信号输出至所述mSATA接口,以及将所述mSATA接口输出的与所述mSATA接口接收的信号一致的信号,经由与所述测试设备适配的接口传输至所述测试设备;
所述测试设备,用于分析接收到的信号得到测试结果。
4.根据权利要求3所述的测试系统,其特征在于,所述测试设备包括示波器与误码仪。
5.根据权利要求4所述的测试系统,其特征在于,所述示波器具体用于运行Sigtest软件分析接收到的信号得到测试结果。
6.根据权利要求3所述的测试系统,其特征在于,所述目标码型包括:HFTP码型、MFTP码型、LFTP码型以及LBP码型。
7.根据权利要求3所述的测试系统,其特征在于,使所述被测设备的所述mSATA接口输出所述目标码型的信号的方式为:
通过配置所述被测设备的SATA控制器的码型寄存器,使所述被测设备的所述mSATA接口输出所述目标码型的信号。
8.根据权利要求7所述的测试系统,其特征在于,配置所述被测设备的SATA控制器的码型寄存器的方式为:
通过devmem2工具配置所述SATA控制器的码型寄存器。
9.一种mSATA接口的测试方法,其特征在于,包括:
测试治具接收被测设备的mSATA接口输出的目标码型的信号,并将所述mSATA接口输出的信号经由与所述测试设备适配的接口传输至所述测试设备;或者,所述测试治具通过与所述测试设备适配的接口接收所述测试设备输出的信号,并将所述测试设备输出的信号输出至所述mSATA接口,以及将所述mSATA接口输出的与所述mSATA接口接收的信号一致的信号,经由与所述测试设备适配的接口传输至所述测试设备;
所述测试设备分析接收到的信号得到测试结果。
10.根据权利要求9所述的测试方法,其特征在于,使所述被测设备的所述mSATA接口输出所述目标码型的信号的方式为:
通过配置所述被测设备的SATA控制器的码型寄存器,使所述被测设备的所述mSATA接口输出所述目标码型的信号。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202110650034.5A CN113268390A (zh) | 2021-06-10 | 2021-06-10 | 一种mSATA接口的测试治具、系统以及方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202110650034.5A CN113268390A (zh) | 2021-06-10 | 2021-06-10 | 一种mSATA接口的测试治具、系统以及方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN113268390A true CN113268390A (zh) | 2021-08-17 |
Family
ID=77234727
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202110650034.5A Pending CN113268390A (zh) | 2021-06-10 | 2021-06-10 | 一种mSATA接口的测试治具、系统以及方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN113268390A (zh) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN114006631A (zh) * | 2021-09-17 | 2022-02-01 | 苏州浪潮智能科技有限公司 | 一种基于码型信号验证的线缆测试装置及方法 |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102567167A (zh) * | 2010-12-09 | 2012-07-11 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | mSATA接口测试卡及测试系统 |
CN202694326U (zh) * | 2012-06-13 | 2013-01-23 | 深圳市祈飞科技有限公司 | 一种测试装置 |
US20130145212A1 (en) * | 2008-10-10 | 2013-06-06 | Teledyne Lecroy, Inc. | Link Equalization Tester |
CN203929947U (zh) * | 2014-07-01 | 2014-11-05 | 浪潮电子信息产业股份有限公司 | 一种简便测试Mini SATA信号的装置 |
CN107346276A (zh) * | 2017-07-04 | 2017-11-14 | 济南浪潮高新科技投资发展有限公司 | 一种基于国产处理器平台sata芯片信号测试工具 |
CN211292983U (zh) * | 2019-11-15 | 2020-08-18 | 苏州浪潮智能科技有限公司 | 一种sata测试治具 |
CN112527578A (zh) * | 2020-12-04 | 2021-03-19 | 浪潮电子信息产业股份有限公司 | 一种sata芯片信号测试方法、系统及相关组件 |
-
2021
- 2021-06-10 CN CN202110650034.5A patent/CN113268390A/zh active Pending
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20130145212A1 (en) * | 2008-10-10 | 2013-06-06 | Teledyne Lecroy, Inc. | Link Equalization Tester |
CN102567167A (zh) * | 2010-12-09 | 2012-07-11 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | mSATA接口测试卡及测试系统 |
CN202694326U (zh) * | 2012-06-13 | 2013-01-23 | 深圳市祈飞科技有限公司 | 一种测试装置 |
CN203929947U (zh) * | 2014-07-01 | 2014-11-05 | 浪潮电子信息产业股份有限公司 | 一种简便测试Mini SATA信号的装置 |
CN107346276A (zh) * | 2017-07-04 | 2017-11-14 | 济南浪潮高新科技投资发展有限公司 | 一种基于国产处理器平台sata芯片信号测试工具 |
CN211292983U (zh) * | 2019-11-15 | 2020-08-18 | 苏州浪潮智能科技有限公司 | 一种sata测试治具 |
CN112527578A (zh) * | 2020-12-04 | 2021-03-19 | 浪潮电子信息产业股份有限公司 | 一种sata芯片信号测试方法、系统及相关组件 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN114006631A (zh) * | 2021-09-17 | 2022-02-01 | 苏州浪潮智能科技有限公司 | 一种基于码型信号验证的线缆测试装置及方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US11782809B2 (en) | Test and measurement system for analyzing devices under test | |
CN113014339B (zh) | PCIe外插卡接收通道的质量测试方法、装置及设备 | |
US11929902B2 (en) | PCIe signal bandwidth determining method, apparatus and device | |
US7523007B2 (en) | Calibration device | |
US7979232B2 (en) | Apparatuses and methods for determining configuration of SAS and SATA cables | |
CN113268390A (zh) | 一种mSATA接口的测试治具、系统以及方法 | |
JP2008526112A (ja) | 変換器試験のためのパラメトリック測定ユニットの使用 | |
CN111682979B (zh) | 高速信号测试板生成方法及装置 | |
US7132845B1 (en) | FA tool using conductor model | |
CN104049142A (zh) | 用于rf频率/功率测量的ate数字通道 | |
CN108776723B (zh) | 测试系统自检适配器连线生成方法、装置、设备及存储介质 | |
CN114706718B (zh) | 一种PCIe信号完整性验证方法、装置、设备及介质 | |
US9983258B2 (en) | ATE digital channel for RF frequency/power measurement | |
CN116319475A (zh) | 一种信号分析方法、装置、设备及存储介质 | |
CN116148629A (zh) | 一种芯片测试方法、装置和系统 | |
CN101752013B (zh) | 测试装置 | |
KR101192556B1 (ko) | 디지털 회로 검증시스템 설계방법 및 그 검증시스템 | |
CN103425582A (zh) | 一种qpi总线信号完整性测试方法 | |
JP2022076479A (ja) | 高速入出力マージン試験のためのシステム、方法及び装置 | |
CN107483122A (zh) | 功率测试系统、功率补偿方法及装置 | |
CN111191409B (zh) | 芯片内部硅片管脚信号仿真方法及装置 | |
CN112601235A (zh) | 一种wlan接口的测试系统及测试方法 | |
KR101563123B1 (ko) | Dut를 테스트하는 방법 | |
KR101544967B1 (ko) | Dut를 테스트하는 방법 | |
CN113608942B (zh) | 一种测试lpc信号的方法、系统、设备及介质 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |
Application publication date: 20210817 |
|
RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |