KR101563123B1 - Dut를 테스트하는 방법 - Google Patents

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KR101563123B1 KR1020150047456A KR20150047456A KR101563123B1 KR 101563123 B1 KR101563123 B1 KR 101563123B1 KR 1020150047456 A KR1020150047456 A KR 1020150047456A KR 20150047456 A KR20150047456 A KR 20150047456A KR 101563123 B1 KR101563123 B1 KR 101563123B1
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    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317—Testing of digital circuits
    • G01R31/3181—Functional testing
    • G01R31/3183—Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences
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    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04B—TRANSMISSION
    • H04B17/00—Monitoring; Testing

Abstract

GPIB 케이블을 통해 PC에 접속된 테스트 장치와, UART 케이블 또는 USB 케이블을 통해 상기 PC에 접속되고 UTP 케이블을 통해 상기 테스트 장치에 접속된 지그를 이용하여 상기 지그에 마운트된 DUT를 테스트하는 방법은 상기 PC가 상기 테스트 장치의 테스트 모드를 송신 테스트 모드로 설정하기 위해 상기 테스트 장치의 스펙트럼 분석기와 신호 분배기를 접속시키는 단계와, 상기 PC가 송신 테스트 명령을 상기 DUT로 전송하는 단계와, 상기 DUT가 상기 송신 테스트 명령에 응답하여 송신 테스트 신호를 생성하고 생성된 송신 테스트 신호를 상기 테스트 장치로 전송하는 단계와, 상기 테스트 장치의 상기 스펙트럼 분석기가 상기 신호 분배기를 통해 수신된 상기 송신 테스트 신호를 분석하고 분석의 결과에 따라 송신 테스트 데이터를 생성하는 단계와, 상기 테스트 장치가 상기 송신 테스트 데이터를 상기 PC로 전송하는 단계를 포함한다.

Description

DUT를 테스트하는 방법{METHOD FOR TESTING DEVICE UNDER TEST}
본 발명은 DUT(device under test)를 테스트하는 방법에 관한 것으로, 특히 테스트 장치와 DUT에 유선으로 접속된 PC(personal computer)를 이용하여 자동으로 상기 DUT를 테스트할 수 있는 방법에 관한 것이다.
공장에서 제조되는 제품들은 제조가 완료된 후에 품질을 테스트하는 절차를 거치게 된다. 특히, 대량 생산되는 제품들의 경우, 상기 제품들 간의 품질이 동일하지 않고, 제조 과정에서 발생하는 각종 문제에 따라 상기 제품들 중에서 불량품이 발생할 수 있다.
이러한 과정과 현상은 단말기를 제조함에 있어서도 마찬가지이다. 특히, 무선 통신가능한 통신 단말기의 경우, 상기 통신 단말기의 통신 기능을 전문적인 장비들을 이용하여 테스트해야 한다. 제품 외부에 특징이 있어 육안 또는 간단한 장비로 테스트할 수 있는 일부 제품들과 달리, 통신 단말기는 내부에서 작동하는 통신 기능이 정상 작동하는지가 중요하기 때문이다.
이러한 통신 단말기를 테스트함에 있어서 테스트 항목들은 매우 다양하고, 이에 따라 테스트에 사용되는 장비 또한 다양하다. 그러므로 통신 단말기, 즉 DUT (device under test)를 테스트함에 있어서 해당 장비들을 제어하는데 능숙한 기술자가 필요하고, 상기 기술자는 각 항목에 대한 테스트 규격들에 대한 정확한 숙지가 필요하다.
현재, 통신 단말기에 대한 테스트는 숙련된 기술자에 의해 수동으로 수행되고, 테스트 결과는 상기 기술자에 의해 수기로 작성되므로, 상기 통신 단말기에 대한 테스트에 많은 시간이 소요되고, 상기 테스트 결과를 관리하는 데에도 불편함이 따르게 된다.
이러한 문제를 해결하기 의한 여러 방안들이 제시되고 있으나, 여전히 해당 테스트는 숙련된 기술자에 의해 수행되고 있고, 상기 숙련자가 해당 테스트 결과를 수기로 작성하고 있는 것이 현실이다.
1. 대한민국 공개특허공보 제10-2008-0082309호(2008.09.11 공개) 2. 대한민국 공개특허공보 제10-2012-0056178호(2012.06.01 공개)
본 발명이 이루고자 하는 기술적인 과제는 통신 단말기를 테스트함에 있어 테스트 장비와 테스트 규격에 능통한 숙련자가 아니더라도 PC를 이용하여 상기 통신 단말기를 자동으로 테스트를 수행할 수 있도록 하며, 테스트 시간 감축 및 테스트 결과 관리를 편리하게 할 수 있는 DUT 테스트 방법을 제공하는 것이다.
본 발명의 일 실시 예에 따른, GPIB(general purpose interface bus) 케이블을 통해 PC에 접속된 테스트 장치와, UART 케이블 또는 USB 케이블을 통해 상기 PC에 접속되고 UTP 케이블을 통해 상기 테스트 장치에 접속된 지그를 이용하여 상기 지그에 마운트된 DUT(device under test)를 테스트하는 방법은 상기 PC가 상기 테스트 장치의 테스트 모드를 송신 테스트 모드로 설정하기 위해 상기 테스트 장치의 스펙트럼 분석기와 신호 분배기를 접속시키는 단계와, 상기 PC가 송신 테스트 명령을 상기 DUT로 전송하는 단계와, 상기 DUT가 상기 송신 테스트 명령에 응답하여 송신 테스트 신호를 생성하고 생성된 송신 테스트 신호를 상기 테스트 장치로 전송하는 단계와, 상기 테스트 장치의 상기 스펙트럼 분석기가 상기 신호 분배기를 통해 수신된 상기 송신 테스트 신호를 분석하고 분석의 결과에 따라 송신 테스트 데이터를 생성하는 단계와, 상기 테스트 장치가 상기 송신 테스트 데이터를 상기 PC로 전송하는 단계를 포함한다.
상기 DUT를 테스트하는 방법은 상기 PC가 상기 송신 테스트 데이터를 기준 데이터를 이용하여 분석하고, 분석 결과에 따른 송신 테스트 결과 데이터를 출력하는 단계를 더 포함한다.
상기 DUT를 테스트하는 방법은 상기 PC가 상기 송신 테스트 결과 데이터를 네트워크를 통해 서버로 전송하는 단계를 더 포함한다.
상기 DUT를 테스트하는 방법은, 상기 PC가 기준 시간 이내에 상기 송신 테스트 데이터를 수신하지 못한 경우, 상기 DUT의 테스트 불합격에 상응하는 데이터를 출력하는 단계를 더 포함한다.
상기 스펙트럼 분석기와 신호 분배기를 접속시키는 단계는 상기 PC가 상기 스펙트럼 분석기의 레지스터 정보를 읽어와서 상기 스펙트럼 분석기의 설정 완료 여부와, 상기 스펙트럼 분석기와 상기 신호 분배기와의 접속 여부를 확인하는 단계를 포함한다.
본 발명의 실시 예에 따른 DUT를 테스트하는 방법은 PC가 테스트를 자동으로 제어함으로써 테스트 장비를 능숙하게 다루거나 테스트 규격에 정통한 숙련자가 아닌 비숙련자도 테스트 진행이 가능하고, 테스트 시간 또한 단축할 수 있다.
또한, 본 발명의 실시 예에 따른 DUT를 테스트하는 방법은 테스트 결과를 PC가 저장매체나 서버에 접속가능한 데이터베이스에 저장할 수 있으므로, 기존에 수기로 테스트 결과를 작성함에 따른 불편함을 해결할 수 있다.
본 발명의 상세한 설명에서 인용되는 도면을 보다 충분히 이해하기 위하여 각 도면의 상세한 설명이 제공된다.
도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 DUT(device under test)를 테스트하는 방법을 수행하는 시스템의 개략적인 블록도이다.
도 2는 도 1에 도시된 테스트 장치의 개략적인 블록도이다.
도 3은 본 발명의 실시 예에 따른 DUT를 테스트하는 방법의 개략적인 단계를 순서도로 표현한 것이다.
도 4는 DUT의 송신 테스트에 대한 데이터 흐름도(data flow)이다.
도 5는 DUT의 수신 테스트에 대한 데이터 흐름도이다.
본 명세서에 개시되어 있는 본 발명의 개념에 따른 실시 예들에 대해서 특정한 구조적 또는 기능적 설명들은 단지 본 발명의 개념에 따른 실시 예들을 설명하기 위한 목적으로 예시된 것으로서, 본 발명의 개념에 따른 실시 예들은 다양한 형태들로 실시될 수 있으며 본 명세서에 설명된 실시 예들에 한정되지 않는다.
본 발명의 개념에 따른 실시 예들은 다양한 변경들을 가할 수 있고 여러 가지 형태들을 가질 수 있으므로 실시 예들을 도면에 예시하고 본 명세서에 상세하게 설명하고자 한다. 그러나, 이는 본 발명의 개념에 따른 실시 예들을 특정한 개시 형태들에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물, 또는 대체물을 포함한다.
제1 또는 제2 등의 용어는 다양한 구성 요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성 요소들은 상기 용어들에 의해 한정되어서는 안 된다. 상기 용어들은 하나의 구성 요소를 다른 구성 요소로부터 구별하는 목적으로만, 예컨대 본 발명의 개념에 따른 권리 범위로부터 이탈되지 않은 채, 제1구성요소는 제2구성요소로 명명될 수 있고, 유사하게 제2구성요소는 제1구성요소로도 명명될 수 있다.
어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "연결되어" 있다거나 "접속되어" 있다고 언급된 때에는, 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결되어 있거나 또는 접속되어 있을 수도 있지만, 중간에 다른 구성요소가 존재할 수도 있다고 이해되어야 할 것이다. 반면에, 어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "직접 연결되어" 있다거나 "직접 접속되어" 있다고 언급된 때에는, 중간에 다른 구성요소가 존재하지 않는 것으로 이해되어야 할 것이다. 구성요소들 간의 관계를 설명하는 다른 표현들, 즉 "~사이에"와 "바로 ~사이에" 또는 "~에 이웃하는"과 "~에 직접 이웃하는" 등도 마찬가지로 해석되어야 한다.
본 명세서에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시 예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 본 명세서에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 설시된 특징, 숫자, 단계, 작동, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 작동, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.
다르게 정의되지 않는 한, 기술적이거나 과학적인 용어를 포함해서 여기서 사용되는 모든 용어들은 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미를 나타낸다. 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 것과 같은 용어들은 관련 기술의 문맥상 가지는 의미와 일치하는 의미를 갖는 것으로 해석되어야 하며, 본 명세서에서 명백하게 정의하지 않는 한, 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미로 해석되지 않는다.
이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시 예를 설명함으로써, 본 발명을 상세히 설명한다.
도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 DUT(device under test)를 테스트하는 방법을 수행하는 시스템의 개략적인 블록도이다.
도 1을 참조하면, DUT를 테스트하는 방법을 수행할 수 있는 시스템(10)은 PC(personal computer; 20), 지그(jig; 30), DUT(40), 및 테스트 장치(100)를 포함한다.
PC(20)는 DUT(40)와 테스트 장치(100)의 작동을 제어하여 전체적인 테스트 절차를 수행할 수 있다. 도 1에서는 설명의 편의를 위해, PC(20)가 도시되어 있으나, PC(20) 대신에 스마트폰, 태블릿(tablet) PC, 랩탑 컴퓨터, 또는 모바일 인터넷 장치(mobile internet device(MID))가 사용될 수도 있다.
PC(20)는 DUT(40)에 대한 송수신 테스트 절차를 수행하기 위해 필요한 프로그램(예컨대, 소프트웨어)을 메모리에 저장하고, 상기 메모리에 저장된 프로그램을 실행하여 상기 송수신 테스트 절차를 수행할 수 있다.
상기 메모리는 PC(20)의 내장 메모리 또는 PC(20)에 접속될 수 있는 외장 메모리를 의미할 수 있다. 상기 외장 메모리는 USB 플래시 드라이브 또는 SSD(solid state drive)를 의미할 수 있다.
실시 예에 따라, PC(20)는 테스트 결과 데이터를 메모리에 저장할 수 있다. 상기 메모리는 HDD(hard disk drive), SSD(solid state drive), 외장 HDD, 외장 SSD, UFS(universal flash storage), 또는 USB 플래시 드라이브를 의미할 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다.
지그(30)는 제2케이블(60)을 통해 PC(20)와 접속될 수 있다. 예컨대, 제2케이블(60)은 UART(universal asynchronous receiver transmitter) 케이블 또는 USB (universal serial bus) 케이블(60)로 구현될 수 있으나, 지그(30)와 PC(20)를 접속하는 제2케이블(60)이 UART 케이블 또는 USB 케이블에 한정되는 것은 아니고 다른 종류의 유선 케이블일 수 있다.
지그(30)와 DUT(40)는 전기적으로 서로 접속되고, 송수신 테스트 시에는 DUT (40)의 안테나를 통한 무선 송수신 기능이 차단되므로, PC(20) 및/또는 테스트 장치(100)로부터 출력된 테스트 신호는 대응되는 케이블(60 및/또는 70)을 통해 송신되거나 수신될 수 있다.
DUT(40)는 시스템(10)에 의해 테스트되는 단말기(또는 무선 통신 장치)로서, 실시 예에 따라 DUT(40)는 양방향 통신 기능을 갖는 무선 보안 단말기일 수 있다. DUT(40)는 지그(30)를 이용하여 PC(20) 및/또는 테스트 장치(100)와 통신할 수 있다. 예컨대, 상기 무선 보안 단말기는 무인 경비 시스템에서 사용될 수 있는 무선 통신 단말기를 의미할 수 있다.
테스트 장치(100)는 제1케이블(50)을 통해 PC(20)와 접속될 수 있다. 예컨대, 제1케이블(50)은 GPIB(general purpose interface bus) 케이블(50)일 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다.
테스트 장치(100)는 제3케이블(70)을 통해 지그(30)와 접속될 수 있다. 예컨대, 제3케이블(70)은 UTP(unshielded twisted pair) 케이블(70)일 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다. 테스트 장치(100)의 작동은 PC(20)에 의해 제어될 수 있고, 테스트 장치(100)에 의해 측정된 테스트 데이터는 제1케이블(50)을 통해 PC(20)로 전송된 후 PC(20)에 의해 처리(예컨대, 분석)될 수 있다.
실시 예에 따라, 시스템(10)은 서버(80)와 통신할 수 있다.
서버(80)는 PC(20)로부터 출력된 테스트 결과 데이터를 수신하고, 서버(80)에 의해 액세스될 수 있는 데이터베이스(90)에 상기 테스트 결과 데이터를 저장할 수 있다. 예컨대, 서버(80)와 PC(20)는 유선 네트워크 또는 무선 네트워크를 통해 데이터를 주고받을 수 있다.
도 2는 도 1에 도시된 테스트 장치의 개략적인 블록도이다.
도 1과 도 2를 참조하면, 테스트 장치(100)는 스펙트럼 분석기(110), 신호 발생기(120), 신호 분배기(130), 전류계(140), 전압계(150), 및 복수의 인터페이스들을 포함할 수 있다.
스펙트럼 분석기(110)는, DUT(40)에 대한 테스트 모드가 송신 테스트 모드일 때, 사용(또는 작동)될 수 있다. 예컨대, 스펙트럼 분석기(110)는 DUT(40)로부터 전송된 송신 테스트 신호의 스펙트럼을 분석하고, 분석의 결과(예컨대, 테스트 데이터)를 신호 분배기(130), 제1인터페이스(예컨대, GPIB 인터페이스), 및 제1케이블(예컨대, GPIB 케이블)(50)을 통해 PC(20)로 전송할 수 있다.
신호 발생기(120)는, DUT(40)에 대한 테스트 모드가 수신 테스트 모드일 때, 사용(또는 작동) 될 수 있다. 예컨대, 신호 발생기(120)는 PC(20)로부터 출력된 수신 테스트 명령에 응답하여 수신 테스트 신호를 생성하고, 생성된 수신 테스트 신호를 신호 분배기(130), 제2인터페이스(예컨대, UTP 인터페이스), 및 제2케이블(예컨대, UTP 케이블)(70)을 통해 지그(30)에 장착된 DUT(40)로 전송할 수 있다.
실시 예에 따라, 신호 분배기(130)는 제2인터페이스(예컨대, UTP 인터페이스)와 제3케이블(예컨대, UTP 케이블)(70)을 통해 지그(30)에 장착된 DUT(40)와 접속될 수 있다. 다른 실시 예에 따라, 신호 분배기(130)는 UTP 케이블이 아닌 다른 케이블을 통해 지그(30)에 장착된 DUT(40)와 접속될 수 있다. 이때, UTP 인터페이스는 상기 다른 케이블에 상응하는 인터페이스로 대체될 수 있다.
신호 분배기(130)는, DUT(40)에 대한 테스트 모드가 송신 테스트 모드일 때, PC(20)의 제어에 따라 스펙트럼 분석기(110)와 접속된다. 또한, 신호 분배기(130)는, DUT(40)에 대한 테스트 모드가 수신 테스트 모드일 때, PC(20)의 제어에 따라 신호 발생기(120)와 접속된다. 예컨대, 신호 분배기(130)는 릴레이(relay)일 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다.
즉, 스펙트럼 분석기(110)와 신호 분배기(130)와의 접속과, 신호 발생기 (120)와 신호 분배기(130)와의 접속은 PC(20)에 의해 제어될 수 있다.
전류계(140)는 DUT(40)에 대한 테스트 작동 시 소모 전류를 측정하고, 측정의 결과를 신호 분배기(130) 및/또는 제1인터페이스를 통해 PC(20) 및/또는 DUT (40)로 전송할 수 있다.
실시 예에 따라, 테스트 장치(100)는 전압계(150)를 더 포함할 수 있다. 전압계(150)는 DUT(40)로 작동 전압을 공급하기 위해 사용될 수 있다.
도 3은 본 발명의 실시 예에 따른 DUT를 테스트하는 방법의 개략적인 단계를 순서도로 표현한 것이고, 도 4와 도 5는 송신 테스트 모드와 수신 테스트 모드 각각에 대해 상세히 나타낸 데이터 흐름도이다.
도 1부터 도 3을 참조하면, PC(20)는 테스트 장치(100)의 테스트 모드를 송신 테스트 모드 또는 수신 테스트 모드로 설정할 수 있다(S110).
예컨대, PC(20)는, 송신 테스트를 위해, 제1케이블(50)을 통해 스펙트럼 분석기(110)와 신호 분배기(130)를 접속시키기 위한 송신 테스트 모드 설정 신호를 테스트 장치(100)로 전송할 수 있다.
신호 분배기(130)는 제1인터페이스를 통해 입력된 송신 테스트 모드 설정 신호에 응답하여 스펙트럼 분석기(110)와 접속되고, 상기 송신 테스트 모드 설정 신호를 스펙트럼 분석기(110)로 전송한다.
스펙트럼 분석기(110)는, 상기 송신 테스트 모드 설정 신호에 응답하여, 송신 테스트를 수행할 수 있도록 설정된다. 예컨대, 스펙트럼 분석기(110)는 신호 분배기(130)와의 접속 여부를 나타내는 정보와 상기 설정의 완료 여부를 나타내는 정보를 포함하는 정보를 내부 레지스터에 저장한다. 따라서, 테스트 장치(100)는 송신 테스트 모드로 설정된다.
PC(20)는 송신 테스트 모드 설정 신호를 테스트 장치(100)로 전송한 후, 스펙트럼 분석기(110)의 내부 레지스터에 저장된 정보(이하, '내부 레지스터 정보'라 한다)를 읽어와서 읽어온 정보에 기초하여 스펙트럼 분석기(110)에 대한 설정의 완료 여부와, 스펙트럼 분석기(110)와 신호 분배기(130)의 접속 여부를 판단(또는 확인)할 수 있다.
PC(20)는, 상기 레지스터 정보에 기초하여, 테스트 장치(100)의 테스트 모드가 송신 테스트 모드로 설정됨을 판단한 후, PC(20)는 송신 테스트를 위한 송신 테스트 명령을 제1케이블(60)을 통해 지그(30)에 장착된 DUT(40)로 전송한다(S120).
DUT(40)는 송신 테스트 명령에 응답하여 송신 테스트 신호를 생성하고, 생성된 송신 테스트 신호를 제3케이블(70)을 통해 테스트 장치(100)로 전송한다.
송신 테스트 모드로 설정된 테스트 장치(100)의 스펙트럼 분석기(110)는 제2인터페이스와 신호 분배기(130)를 통해 입력된 송신 테스트 신호를 분석(측정)하고, 분석(또는 측정)의 결과에 따라 테스트 데이터를 생성하고, 생성된 테스트 데이터를 제1케이블(50)을 통해 PC(20)로 전송한다(S130).
예컨대, 스펙트럼 분석기(110)는 하나 또는 그 이상의 송신 테스트 항목들에 대한 테스트 데이터를 생성할 수 있다.
송신 테스트 항목들은 송신 테스트 신호의 주파수에 대한 분석(또는 측정), 송신 테스트 신호에 대한 송신 출력의 분석(또는 측정), 송신 테스트 신호에 대한 ACPR(Adjacent Channel Power Ratio)의 분석(또는 측정), 송신 테스트 신호에 대한 복사 전력의 분석(또는 측정), 송신 테스트 신호의 점유 주파수 대역폭의 분석(또는 측정), 및 송신 테스트 신호의 변조 지수(또는 변조도)의 분석(또는 측정)일 수 있다.
주파수에 대한 분석, 송신 출력의 분석, ACPR의 분석, 복사 전력의 분석, 점유 주파수 대역폭의 분석, 및 변조 지수(또는 변조도)의 분석을 위해 일정 전압이 스펙트럼 분석기(110)로 공급될 수 있다. 이 경우 전압계(150)에 의해 상기 일정 전압의 공급이 측정될 수 있다.
예컨대, 송신 출력에 대한 테스트 데이터는 스펙트럼 분석기(110)에 의해 측정된 송신 출력과 전류계(140)에 의해 측정된 소모 전류를 포함할 수 있다.
따라서, 테스트 장치(100)에 의해 생성된 테스트 데이터는 스펙트럼 분석기 (110)에 의해 측정된 테스트 데이터만을 포함하거나, 스펙트럼 분석기(110)에 의해 측정된 테스트 데이터와 다른 장치(예컨대, 전류계(140), 및/또는 전압계(150))에 의해 측정된 테스트 데이터를 포함할 수 있다.
스펙트럼 분석기(110)에 의해 분석 또는 측정될 수 있는 테스트 항목들의 개수와 순서를 설계 사양에 따라 다양하게 변경될 수 있다.
PC(20)는 테스트 장치(100)로부터 전송된 테스트 데이터를 기준 데이터를 이용하여 분석하고(S140), 분석의 결과에 상응하는 테스트 결과 데이터를 생성하고, 생성된 테스트 결과 데이터를 출력할 수 있다(S150). 여기서, 기준 데이터는 테스트 항목들에 대한 기준 값 또는 표준으로 정의된 값을 의미할 수 있다.
따라서, PC(20)는 테스트 데이터에 해당하는 테스트 항목들 각각에 대한 측정 값과 기준 데이터에 포함된 표준 값들 각각을 비교하고 비교의 결과에 따라 상기 테스트 항목들 각각에 대한 테스트 결과 데이터를 생성할 수 있다.
그러나, PC(20)가 기준 시간 이내에 테스트 장치(100)로부터 테스트 데이터를 수신하지 못할 때, PC(20)는 DUT(40)에 대한 테스트 불합격에 상응하는 데이터를 출력할 수 있다.
PC(20)는 생성된 테스트 결과 데이터를 유선 네트워크 또는 무선 네트워크를 통해 서버(80)로 전송하고, 서버(80)는 수신된 테스트 결과 데이터를 데이터베이스(90)에 저장할 수 있다(S150).
또한, PC(20)는, 수신 테스트를 위해, 제1케이블(50)을 통해 신호 발생기 (120)와 신호 분배기(130)를 접속시키기 위한 수신 테스트 모드 설정 신호를 테스트 장치(100)로 전송할 수 있다(S110).
신호 분배기(130)는 제1인터페이스를 통해 입력된 수신 테스트 모드 설정 신호에 응답하여 신호 발생기(120)와 접속하고, 신호 발생기(120)는 상기 수신 테스트 모드 설정 신호에 응답하여 수신 테스트를 수행할 수 있도록 설정된다. 신호 발생기(120)는 상기 설정의 완료 여부와, 신호 분배기(130)와의 접속 여부를 나타내는 정보를 내부 레지스터에 저장한다. 따라서, 테스트 장치(100)는 수신 테스트 모드로 설정된다.
PC(20)는 수신 테스트 모드 설정 신호를 테스트 장치(100)로 전송한 후, 신호 발생기(120)의 내부 레지스터에 저장된 레지스터 정보를 읽어와서 읽어온 정보에 기초하여 신호 발생기(120)에 대한 설정의 완료 여부와, 신호 발생기(120)와 신호 분배기(130)의 접속 여부를 판단(또는 확인)할 수 있다.
PC(20)는, 상기 레지스터 정보에 기초하여, 테스트 장치(100)의 테스트 모드가 수신 테스트 모드로 설정됨을 판단한 후, PC(20)는 수신 테스트 명령을 제1케이블(50)을 통해 테스트 장치(100)로 전송한다(S120).
신호 발생기(120)는 수신 테스트 명령에 응답하여 수신 테스트 신호를 생성하고, 생성된 수신 테스트 신호를 제2인터페이스, 제3케이블(70), 및 지그(30)를 통해 DUT(40)로 전송한다.
그 후, DUT(40)는, PC(20)로부터 전송된 수신 테스트 시작 신호에 응답하여, 테스트 장치(100)로부터 전송된 수신 테스트 신호를 수신한다(S130).
DUT(40)는 수신 테스트 신호를 수신한 후, 수신 테스트 신호에 상응하는 수신 테스트 데이터를 지그(30)와 제2케이블(60)을 통해 PC(20)로 전송한다.
그러나, PC(20)가 수신 테스트 시작 신호를 DUT(40)로 전송한 후, PC(20)가 기준 시간 이내에 DUT(40)로부터 수신 테스트 데이터를 수신하지 못할 때, PC(20)는 DUT(40)에 대한 테스트 불합격에 상응하는 데이터를 출력할 수 있다. 상기 기준 시간(예컨대, 3초)은 PC(20)가 수신 테스트 시작 신호를 DUT(40)로 전송한 시점부터 계산될 수 있다.
PC(20)는 수신 테스트 데이터를 기준 데이터를 이용하여 분석하고(S140), 분석의 결과에 상응하는 테스트 결과 데이터를 생성하고 생성된 테스트 결과 데이터를 출력할 수 있다(S150).
PC(20)는 생성된 테스트 결과 데이터를 유선 네트워크 또는 무선 네트워크를 통해 서버(80)로 전송하고, 서버(80)는 수신된 테스트 결과 데이터를 데이터베이스(90)에 저장할 수 있다(S150).
도 3과 도 4를 참조하면, PC(20)는 테스트 모드에 따라 테스트 장치(100)를 송신 테스트 모드로 설정하기 위한 송신 테스트 모드 설정 신호(TTMSS)를 제1케이블(50)을 통해 테스트 장치(100)로 전송한다(S210).
테스트 장치(100)는, 송신 테스트 모드 설정 신호(TTMSS)에 응답하여, 테스트 장치(100)의 테스트 모드를 송신 테스트 모드로 설정한다(S220). 이때, 스펙트럼 분석기(110)와 신호 분배기(130)가 접속된다.
실시 예에 따라, PC(20)는 다음 단계의 수행을 위해 송신 테스트 모드 설정 신호(TTMSS)를 테스트 장치(100)로 전송한 후 일정 시간 동안 기다릴 수 있다 (S230의 CASE1).
다른 실시 예에 따라, PC(20)는 스펙트럼 분석기(110)의 레지스터 정보 (R_READ)를 읽어들여 테스트 장치(100)가 송신 테스트 모드로 설정이 완료되었는지를 확인할 수 있다(S230의 CASE2).
일정 시간이 지나거나 송신 테스트 모드로의 설정이 완료된 후, PC(20)는 제2케이블(60)을 통해 지그(30)에 마운트된 DUT(140)로 송신 테스트 명령(TCMD)을 전송한다(S240).
DUT(40)는 송신 테스트 명령(TCMD)에 응답하여 송신 테스트 신호(TTS)를 생성하고, 생성된 송신 테스트 신호(TTS)를 테스트 장치(100)로 전송한다(S250).
송신 테스트 명령(TCMD)은 상술한 송신 테스트 항목들의 개수와 순서를 포함할 수 있다.
DUT(40)로부터 출력된 송신 테스트 신호(TTS)는 신호 분배기(130)를 통해 스펙트럼 분석기(110)로 전송되고, 스펙트럼 분석기(110)는 송신 테스트 신호(TTS)를 분석하거나 측정한다(S260). 송신 테스트 신호(TTS)는 송신 테스트 항목에 관련된 신호를 포함한다.
그 후, 스펙트럼 분석기(110)는 분석된 또는 측정된 송신 테스트 데이터(TD)를 제1케이블(50)을 통해 PC로 전송한다(S270). 실시 예에 따라, 전류계(140)는 제2인터페이스, 제2케이블(70), 및 지그(30)를 통해 DUT(40)에서 소모되는 전류를 측정하고 측정된 전류를 제1인터페이스와 제1케이블(50)을 통해 PC(20)로 전송할 수 있다.
PC(20)는 수신된 테스트 데이터(TD)를 기준 데이터를 이용하여 분석하고 (S280), 분석의 결과에 상응하는 테스트 결과 데이터를 출력한다(S290).
실시 예에 따라, PC(20)는 테스트 결과 데이터를 메모리(내장 메모리 또는 외장 메모리)에 저장하거나 서버(80)로 전송할 수 있다(S290). 서버(80)는 수신된 테스트 결과 데이터를 데이터베이스에 저장할 수 있다(S290).
도 3과 도 5를 참조하면, PC(20)는 테스트 장치(100)의 테스트 모드를 수신 테스트 모드로 설정하기 위해 설정 신호(RTMSS)를 전송한다(S310).
테스트 장치(100)는 수신 테스트 모드 설정 신호(RTMSS)에 응답하여 테스트 장치(100)의 테스트 모드를 수신 테스트 모드로 설정한다(S320). 테스트 장치(100)는 수신 테스트 모드 설정 신호(RTMSS)에 응답하여 신호 발생기(120)와 신호 분배기(130)를 접속한다.
실시 예에 따라 PC(20)는 다음 단계의 수행을 위해 수신 테스트 모드 설정 신호(RTMSS)를 테스트 장치(100)로 전송한 후 일정 시간 동안 기다릴 수 있다(S330의 CASE1).
다른 실시 예에 따라, PC(20)는 신호 발생기(130)의 레지스터 정보(R_READ)를 읽어들여 테스트 장치(100)가 수신 테스트 모드로 설정이 완료되었는지를 확인할 수 있다(S330의 CASE2).
일정 시간이 지나거나 송신 테스트 모드로의 설정이 완료된 후, PC(20)는 제1케이블(50)을 통해 신호 발생기(120)로 수신 테스트 명령(RCMD)을 전송한다 (S340).
신호 발생기(120)는 수신 테스트 명령(RCMD)에 응답하여 수신 테스트 신호 (RTS)를 생성하고, 생성된 수신 테스트 신호(RTS)를 DUT(40)로 전송한다(S350).
설정된 시간이 지난 후, PC(20)는 DUT(40)로 수신 테스트 시작 신호(RTSS)를 전송하고, DUT(40)는 수신 테스트 시작 신호(RTSS)에 응답하여 수신 테스트 신호 (RTSS)를 수신하고 수신 테스트를 시작한다(S360).
신호 발생기(120)에 의해 생성된 수신 테스트 신호(RTS)는 신호 분배기 (130), 제2인터페이스, 제3케이블(70), 및 지그(30)를 통해 DUT(40)로 전송되고, DUT(40)는 수신 테스트 신호(RTS)에 상응하는 수신 테스트 데이터(RS)를 생성하고 생성된 수신 테스트 데이터(RS)를 제2케이블(60)을 통해 PC(20)로 전송한다(S370).
신호 발생기(120)에 의해 생성된 수신 테스트 신호(RTS)는 전송로(예컨대, 제2인터페이스, 제3케이블(70), 및 지그(30)에 의해 형성된 전송로)의 물리적인 특성에 따라 DUT(40)에 의해 수신된 수신 테스트 신호(RTS)와 다를 수 있다.
따라서, 수신 테스트 데이터(RS)는 신호 발생기(120)에 의해 생성된 수신 테스트 신호(RTS)를 의미하는 것이 아니고 DUT(40)에 의해 수신된 수신 테스트 신호를 의미한다. 따라서, DUT(40)의 관점에서 볼 때, 수신 테스트 신호(RTS)와 수신 테스트 데이터(RS)는 서로 동일할 수 있다.
PC(20)는 DUT(40)로부터 전송된 수신 테스트 데이터(RS)를 기준 데이터를 이용하여 분석한다(S380). 실시 예에 따라, PC(20)는 신호 발생기(120)에 의해 생성된 수신 테스트 데이터(RS)의 BER(bit error rate)를 측정할 수 있다.
다른 실시 예에 따라, PC(20)는 수신 테스트 데이터(RS)의 RSSI(received signal strength indication)을 측정할 수 있다.
예컨대, PC(20)는 수신 테스트 데이터(RS)의 BER과 기준 BER을 비교하여 테스트 결과 데이터를 생성할 수 있다. 또한, PC(20)는 수신 테스트 데이터(RS)의 RSSI와 기준 RSSI를 비교하여 테스트 결과 데이터를 생성할 수 있다.
PC(20)는 테스트 결과 데이터를 출력한다(S390). 실시 예에 따라, PC(20)는 테스트 결과 데이터를 메모리(내장 메모리 또는 외장 메모리)에 저장하거나 서버(80)로 전송할 수 있다(S390). 서버(80)는 수신된 테스트 결과 데이터를 데이터베이스에 저장할 수 있다(S390).
실시 예에 따라, 송신 테스트와 수신 테스트 중에서 어느 하나의 테스트가 먼저 수행된 후 PC(20)에 의해 자동으로 나머지 하나의 테스트가 수행될 수 있다.
본 발명은 도면에 도시된 일 실시 예를 참고로 설명되었으나 이는 예시적인 것에 불과하며, 본 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시 예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 등록청구범위의 기술적 사상에 의해 정해져야 할 것이다.
10: DUT 테스트 시스템 90: 데이터베이스
20: PC 100: 테스트 장치
30: 지그(jig) 110: 스펙트럼 분석기
40: DUT(device under test) 120: 신호 발생기
50: GPIB 케이블 130: 신호 분배기
60: UART 또는 USB 케이블 140: 전류계
70: UTP 케이블 150: 전압계
80: 서버

Claims (5)

  1. GPIB(general purpose interface bus) 케이블을 통해 PC에 접속된 테스트 장치와, UART 케이블 또는 USB 케이블을 통해 상기 PC에 접속되고 UTP 케이블을 통해 상기 테스트 장치에 접속된 지그(jig)를 이용하여 상기 지그에 마운트된 DUT(device under test)를 테스트하는 방법에 있어서,
    상기 PC가, 상기 테스트 장치의 테스트 모드를 수신 테스트 모드로부터 송신 테스트 모드로 자동으로 설정하기 위해, 상기 테스트 장치의 신호 분배기와 신호 발생기를 자동으로 분리하고 상기 신호 분배기와 스펙트럼 분석기를 자동으로 접속하는 단계;
    상기 PC가 송신 테스트 명령을 상기 DUT로 전송하는 단계;
    상기 DUT가 상기 송신 테스트 명령에 응답하여 송신 테스트 신호를 생성하고 생성된 송신 테스트 신호를 상기 테스트 장치로 전송하는 단계;
    상기 테스트 장치의 상기 스펙트럼 분석기가 상기 신호 분배기를 통해 수신된 상기 송신 테스트 신호를 분석하고 분석의 결과에 따라 송신 테스트 데이터를 생성하는 단계; 및
    상기 테스트 장치가 상기 송신 테스트 데이터를 상기 PC로 전송하는 단계를 포함하고,
    상기 송신 테스트 명령은 송신 테스트 항목들의 개수와 순서를 포함하는 DUT를 테스트하는 방법.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 PC가 상기 송신 테스트 데이터를 기준 데이터를 이용하여 분석하고, 분석 결과에 따른 송신 테스트 결과 데이터를 출력하는 단계를 더 포함하는 DUT를 테스트하는 방법.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 PC가 상기 송신 테스트 결과 데이터를 네트워크를 통해 서버로 전송하는 단계를 더 포함하는 DUT를 테스트하는 방법.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 PC가 기준 시간 이내에 상기 송신 테스트 데이터를 수신하지 못한 경우, 상기 DUT의 테스트 불합격에 상응하는 데이터를 출력하는 단계를 더 포함하는 DUT를 테스트하는 방법.
  5. 제1항에 있어서, 상기 스펙트럼 분석기와 신호 분배기를 접속시키는 단계는,
    상기 PC가 상기 스펙트럼 분석기의 레지스터 정보를 읽어와서 상기 스펙트럼 분석기의 설정 완료 여부와, 상기 스펙트럼 분석기와 상기 신호 분배기와의 접속 여부를 확인하는 단계를 포함하는 DUT를 테스트하는 방법.
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