CN210664178U - 一种三等线纹尺测试装置 - Google Patents

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Abstract

本实用新型属于测试领域,尤其为一种三等线纹尺测试装置,包括台面、导轨和将所述台面和所述导轨相连接的固定螺栓,所述台面的下方等距离开设有多组螺纹孔,所述台面的侧面设置有刻度块,所述导轨的下方等距离开设有多组螺纹槽,所述导轨的侧面开设有滑槽;所述导轨上滑动安装有支架,所述支架上表面固定有连接块;所述支架通过连接螺栓连接有第一固定架,所述第一固定架上安装有第一显微镜,所述连接螺栓的一端贯穿所述第一固定架设置在所述连接块的内部;所述固定螺栓的一端穿过所述螺纹孔安装在所述螺纹槽的内部;导轨与台面通过固定螺栓组成可拆卸连接,提高产品的利用率;导轨与台面接触处无需进行圆弧工艺过渡,简化了工艺,降低成本。

Description

一种三等线纹尺测试装置
技术领域
本实用新型涉及一种测试装置,特别是涉及一种三等线纹尺测试装置。
背景技术
直尺是一种非常常用的计量长度仪器,用于以光隙法进行直线度测量和平面度测量,也可与量块一起,用于检验长度尺寸,通过读取直尺上的数值,完成计量的检测。
目前计量单位都是用标准器和钢直尺对比,是直接放在平台,通过人工肉眼进行观测对比,从而判断钢直尺平面度、弹性、尺的端边、侧边的直线度、示值误差等检验项目是否符合标准。
现有的技术存在以下问题:
1、装置一体化设置,成本较高,如果刻面线损坏需全部换掉材料,加工方面也会比较困难;刻面线与导轨接触面为圆弧过渡,工艺上较复杂;
2、刻度面和台面设置在同一平面,检测时,三等金属线纹尺放置不稳定;
3、放大机构和导轨直接连接,移动放机构的时候,放大机构震动,容易影响检测结果。
实用新型内容
为解决上述背景技术中提出的问题。本实用新型提供了一种三等线纹尺测试装置,以解决上述市场中的问题。
为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:一种三等线纹尺测试装置,包括台面、导轨和将所述台面和所述导轨相连接的固定螺栓,所述台面的下方等距离开设有多组螺纹孔,所述台面的侧面设置有刻度块,所述导轨的下方等距离开设有多组螺纹槽,所述导轨的侧面开设有滑槽;
所述导轨上滑动安装有支架,所述支架上设置有凸块,所述凸块安装在所述滑槽的内部,所述支架上表面固定有连接块;
所述支架通过连接螺栓连接有第一固定架,所述第一固定架上安装有第一显微镜,所述连接螺栓的一端贯穿所述第一固定架设置在所述连接块的内部,所述支架的另一端安装有第二固定架,所述第二固定架上安装有第二限位镜;
所述固定螺栓的一端穿过所述螺纹孔安装在所述螺纹槽的内部。
作为本实用新型一种三等线纹尺测试装置优选的,所述台面和所述导轨之间为活动连接,所述导轨的长度略短于所述台面的长度。
作为本实用新型一种三等线纹尺测试装置优选的,所述滑槽的截面尺寸和所述凸块的截面尺寸相吻合。
作为本实用新型一种三等线纹尺测试装置优选的,所述支架和所述连接块之间为一体式结构,所述连接块为圆柱状,所述连接块的一端开设有螺纹凹槽,所述连接块通过螺纹凹槽和所述连接螺栓之间为螺纹连接。
作为本实用新型一种三等线纹尺测试装置优选的,所述第一固定架和所述第二固定架形状大小相同,所述第一固定架和所述第一显微镜之间为固定连接。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:
1、导轨与台面通过固定螺栓组成可拆卸连接,提高产品的利用率;导轨与台面接触处无需进行圆弧工艺过渡,简化了工艺,降低成本;
2、刻度块与台面非平面接触,使得金属线纹尺与导轨接触更稳定,接触面积增加,使金属线纹尺放置稳定;
3、将原有的显微镜直接与导轨连接改成显微镜通过支架与导轨连接,进行滑动,减少显微镜震动,同时设置有两组显微镜,方便对三等线纹尺进行检测。
附图说明
附图用来提供对本实用新型的进一步理解,并且构成说明书的一部分,与本实用新型的实施例一起用于解释本实用新型,并不构成对本实用新型的限制。
在附图中:
图1为本实用新型的立体结构示意图;
图2为本实用新型中的装配组装结构示意图;
图3为本实用新型图3中的局部结构示意图;
图4为本实用新型中的台面、导轨、第一固定架和第一显微镜组装结构示意图。
图中:1、台面;2、螺纹孔;3、刻度块;4、导轨;5、螺纹槽;6、滑槽;7、支架;8、凸块;9、连接块;10、第一固定架;11、连接螺栓;12、第一显微镜;13、第二固定架;14、第二限位镜;15、固定螺栓。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
请参阅图1-图4,本实用新型提供以下技术方案:一种三等线纹尺测试装置,包括台面1、导轨4和将所述台面1和所述导轨4相连接的固定螺栓15,所述台面1的下方等距离开设有多组螺纹孔2,所述台面1的侧面设置有刻度块3,所述导轨4的下方等距离开设有多组螺纹槽5,所述导轨4的侧面开设有滑槽6;
所述导轨4上滑动安装有支架7,所述支架7上设置有凸块8,所述凸块8安装在所述滑槽6的内部,所述支架7上表面固定有连接块9;
所述支架7通过连接螺栓11连接有第一固定架10,所述第一固定架10上安装有第一显微镜12,所述连接螺栓11的一端贯穿所述第一固定架10设置在所述连接块9的内部,所述支架7的另一端安装有第二固定架13,所述第二固定架13上安装有第二限位镜14;
所述固定螺栓15的一端穿过所述螺纹孔2安装在所述螺纹槽5的内部。
本实施方案中:导轨4与台面1通过固定螺栓15组成可拆卸连接,提高产品的利用率,导轨4与台面1接触处无需进行圆弧工艺过渡,简化了工艺,降低成本,刻度块3与台面1非平面接触,使得金属线纹尺与导轨4接触更稳定,接触面积增加,使金属线纹尺放置稳定,将原有的显微镜直接与导轨4连接改成显微镜通过支架7与导轨4连接,进行滑动,减少显微镜震动,同时设置有两组显微镜,方便对三等线纹尺进行检测。
具体的,所述台面1和所述导轨4之间为活动连接,所述导轨4的长度略短于所述台面1的长度。
本实施例中:导轨4与台面1通过固定螺栓15组成可拆卸连接,提高产品的利用率。
具体的,所述滑槽6的截面尺寸和所述凸块8的截面尺寸相吻合。
本实施例中:通过滑槽6使支架7方便借助凸块8在导轨4上进行滑动。
具体的,所述支架7和所述连接块9之间为一体式结构,所述连接块9为圆柱状,所述连接块9的一端开设有螺纹凹槽,所述连接块9通过螺纹凹槽和所述连接螺栓11之间为螺纹连接。
本实施例中:通过连接块9上设置的螺纹凹槽和连接螺栓11进行连接,使支架7和第一固定架10进行连接。
具体的,所述第一固定架10和所述第二固定架13形状大小相同,所述第一固定架10和所述第一显微镜12之间为固定连接。
本实施例中:通过第一固定架10上设置的第一显微镜12方便对三等线纹尺进行检测。
本实用新型的工作原理及使用流程:首先通过旋转固定螺栓15穿过台面1上设置的螺纹孔2和导轨4上设置的螺纹槽5相连,使台面1和导轨4之间固定,然后通过连接螺栓11和连接块9上设置的螺纹凹槽相连,将第一固定架10和支架7之间固定,同理,将第二固定架13、第二限位镜14连接固定,然后通过支架7将第一显微镜12和第二限位镜14安装到导轨4上,在对三等线纹尺(图中未画出)进行检测的时候,将三等线纹尺放置到导轨4上,然后滑动支架7,使第一显微镜12和第二限位镜14在导轨4上滑动,对三等线纹尺(图中未画出)进行检测。
最后应说明的是:以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已,并不用于限制本实用新型,尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明,对于本领域的技术人员来说,其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本实用新型的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (5)

1.一种三等线纹尺测试装置,包括台面(1)、导轨(4)和将所述台面(1)和所述导轨(4)相连接的固定螺栓(15),其特征在于:所述台面(1)的下方等距离开设有多组螺纹孔(2),所述台面(1)的侧面设置有刻度块(3),所述导轨(4)的下方等距离开设有多组螺纹槽(5),所述导轨(4)的侧面开设有滑槽(6);
所述导轨(4)上滑动安装有支架(7),所述支架(7)上设置有凸块(8),所述凸块(8)安装在所述滑槽(6)的内部,所述支架(7)上表面固定有连接块(9);
所述支架(7)通过连接螺栓(11)连接有第一固定架(10),所述第一固定架(10)上安装有第一显微镜(12),所述连接螺栓(11)的一端贯穿所述第一固定架(10)设置在所述连接块(9)的内部,所述支架(7)的另一端安装有第二固定架(13),所述第二固定架(13)上安装有第二限位镜(14);
所述固定螺栓(15)的一端穿过所述螺纹孔(2)安装在所述螺纹槽(5)的内部。
2.根据权利要求1所述的一种三等线纹尺测试装置,其特征在于:所述台面(1)和所述导轨(4)之间为活动连接,所述导轨(4)的长度略短于所述台面(1)的长度。
3.根据权利要求1所述的一种三等线纹尺测试装置,其特征在于:所述滑槽(6)的截面尺寸和所述凸块(8)的截面尺寸相吻合。
4.根据权利要求1所述的一种三等线纹尺测试装置,其特征在于:所述支架(7)和所述连接块(9)之间为一体式结构,所述连接块(9)为圆柱状,所述连接块(9)的一端开设有螺纹凹槽,所述连接块(9)通过螺纹凹槽和所述连接螺栓(11)之间为螺纹连接。
5.根据权利要求1所述的一种三等线纹尺测试装置,其特征在于:所述第一固定架(10)和所述第二固定架(13)形状大小相同,所述第一固定架(10)和所述第一显微镜(12)之间为固定连接。
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