CN209979376U - 一种芯片推拉力试验机 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开的一种芯片推拉力试验机，包括机台，所述机台上表面固定安装有支撑架、夹具底座及调节杆，所述夹具底座纵向设于所述支撑架和所述调节杆之间，所述支撑架上部横向设有推力计，所述推力计侧部设有拉力计，所述推力计内侧端安装有推力推针，所述夹具底座上部滑动设有夹具台，所述调节杆上端设有调节块，所述调节块侧部安装有显微镜，所述显微镜上安装有显微镜辅助光源，所述显微镜位于所述夹具台上方。本实用新型明结构巧妙，使用方便，能够快速的完成半导体芯片粘力、金球推力检测、金丝、铝丝、铜丝等拉伸力检测，极大的缩短了试验时间，节省了大量的人力物力，提高了工作效率。
Description
技术领域
本实用新型涉及推拉力试验机技术领域，尤其涉及一种芯片推拉力试验机。
背景技术
传统的LED 直插式02、04 及全彩支架，贴片020、3020、3528、5050、食人鱼、铝基板、数码发光等一系列半导体芯片粘力、金球推力检测、金丝、铝丝、铜丝拉伸力检测工序中，没有专门进行检测金球焊接推力，芯片与支架银胶粘接推力，拉力计测焊线拉力，金丝延升力的实验，使得芯片的质量无法得到保证。
为此，我们需要提供一种芯片推拉力试验机，来解决上述存在的问题。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种芯片推拉力试验机，有效解决上述技术问题。
为有效解决上述技术问题，本实用新型采取的技术方案如下：
一种芯片推拉力试验机，包括机台，所述机台上表面固定安装有支撑架、夹具底座及调节杆，所述夹具底座纵向设于所述支撑架和所述调节杆之间，所述支撑架上部横向设有推力计，所述推力计侧部设有拉力计，所述推力计内侧端安装有推力推针，所述夹具底座上部滑动设有夹具台，所述调节杆上端设有调节块，所述调节块侧部安装有显微镜，所述显微镜上安装有显微镜辅助光源，所述显微镜位于所述夹具台上方。
特别的，所述支撑架顶部还设有上下档千分尺，调节所述推力推针至上极限，底部设有前后档千分尺，调节所述推力推针至后极限。
特别的，所述夹具底座侧部设有前后移动旋钮，用以调节夹具台至左或右极限，所述夹具底座前端设有左右移动旋钮。
特别的，所述调节块上设有显微镜上下运动旋钮，用以调节显微镜位置。
本实用新型的有益效果为：本实用新型的一种芯片推拉力试验机，设有推力计，拉力计调节推力推针上下前后移动，夹具底座上部滑动设有夹具台，通过前后移动旋钮及左右移动旋钮调节夹具台上下左右移动，调节块上安装有显微镜上下运动旋钮调节显微镜的位置，准确、方便的对芯片进行检测，其结构巧妙，使用方便，能够快速的完成半导体芯片粘力、金球推力检测、金丝、铝丝、铜丝等拉伸力检测，极大的缩短了试验时间，节省了大量的人力物力，提高了工作效率。
下面结合附图对本实用新型进行详细说明。
附图说明
图1是本实用新型的整机结构组成示意图。
图2是本实用新型中又一整机结构组成示意图。
具体实施方式
实施例1：
如图1-2所示，本实施例提供的一种芯片推拉力试验机结构设定：
一种芯片推拉力试验机，包括机台1，所述机台1上表面固定安装有支撑架2、夹具底座3及调节杆4，所述夹具底座3纵向设于所述支撑架2和所述调节杆4之间，所述支撑架2上部横向设有推力计5，所述推力计5侧部设有拉力计6，所述推力计5内侧端安装有推力推针7，所述夹具底座3上部滑动设有夹具台8，所述调节杆4上端设有调节块9，所述调节块9侧部安装有显微镜10，所述显微镜10上安装有显微镜辅助光源11，所述显微镜10位于所述夹具台3上方。
所述支撑架2顶部还设有上下档千分尺12，调节所述推力推针7至上极限，支撑架底部设有前后档千分尺13，调节所述推力推针7至后极限。所述夹具底座3侧部设有前后移动旋钮14，用以调节夹具台8至左或右极限，所述夹具底座3前端设有左右移动旋钮15。所述调节块9上设有显微镜上下运动旋钮16，用以调节显微镜10位置。
具体操作如下：
（一）拉力测试
1、扭动上下（Z 向）档千分尺，调节仪表推针至上极限；
2、扭动前后（Y 向）档千分尺，调节仪表推针至后极限；
3、扭动机台右边的大旋钮，调节夹具台至左或右（X 向）极限；
4、拉动夹具环扣，将支架夹到夹具工作台；
5、扭动上下（Z 向），扭动前后（Y 向）千分尺，调节焦距，使显微镜下清晰看到推针；
6、移动拉力臂至推针正前方，扭动上下（Z 向），扭动前后（Y 向）千分尺，调节焦距，使显微镜下清晰看到钨丝钩针（可记下Z向、Y向千分尺的读数，
以便推力拉力可快速切换），锁紧拉力臂螺母；
7、扭动上下（Z 向），扭动前后（Y 向）千分尺以及夹具载体摇柄，使钨丝钩针位于金线下方；
8、拉力表归零后，缓慢匀速逆时针扭动上下（Z 向）千分尺直至金线被拉断，记录数据；金线测试完毕。
（二）推力测试
1、松开拉力锁紧螺母，移开拉力臂；
2、再扭动前后（Y 向）档千分尺调节仪表推针至测试支架正上方（目测）；
3、 轻微扭动上下（Z 向）档千分尺，调节仪表推针接近（此刻无需接触到，只接近测试物）测试物体，再从显微镜里观察测试物体及仪表推针，微调上下（Z 向）档千分尺，调节仪表推针轻微接触或将要接触到测试物；
4、 打开仪表电源（按红色POWER 键）后，按UNIT 键，切换数值单位，按PEAK键，切换测试模式，再按ZERO 键数据清零；
5、 从显微镜里观察，再次确认仪表推针与测试物体之间有无受力关系（无受力OK，有受力NG），若无受力，则慢速均匀扭动前后（Y 向）档千分尺，看到测试推力完成，或者看到仪表数字显示值达到测试数据，方可停止扭动前后（Y向）档千分尺，开始读写仪表显示数据；
6、 扭动上下（Z向）档千分尺，调节仪表推针至上极限；
7、 扭动前后（Y向）档千分尺，调节仪表推针至后极限；
8、 扭动机台右边的大旋钮，调节夹具台至左或右（X向）极限；
9、 拉动夹具环扣，将支架从夹具工作台取出。
本实用新型并不限于上述实施方式，凡采用与本实用新型相似结构及其方法来实现本实用新型目的的所有实施方式均在本实用新型保护范围之内。
Claims (4)
1.一种芯片推拉力试验机，其特征在于，包括机台，所述机台上表面固定安装有支撑架、夹具底座及调节杆，所述夹具底座纵向设于所述支撑架和所述调节杆之间，所述支撑架上部横向设有推力计，所述推力计侧部设有拉力计，所述推力计内侧端安装有推力推针，所述夹具底座上部滑动设有夹具台，所述调节杆上端设有调节块，所述调节块侧部安装有显微镜，所述显微镜上安装有显微镜辅助光源，所述显微镜位于所述夹具台上方。
2.根据权利要求1所述的一种芯片推拉力试验机，其特征在于，所述支撑架顶部还设有上下档千分尺，调节所述推力推针至上极限，底部设有前后档千分尺，调节所述推力推针至后极限。
3.根据权利要求1所述的一种芯片推拉力试验机，其特征在于，所述夹具底座侧部设有前后移动旋钮，用以调节夹具台至左或右极限，所述夹具底座前端设有左右移动旋钮。
4.根据权利要求1所述的一种芯片推拉力试验机，其特征在于，所述调节块上设有显微镜上下运动旋钮，用以调节显微镜位置。
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