CN209233023U - 带有可换外壳usb插头的老化测试连接设备 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及一种带有可换外壳USB插头的老化测试连接设备。USB插头包括有可拆卸更换的外壳，端子组嵌入于胶芯座内，胶芯座包括扁形的前管以及方块，外壳包括一体成型的插头壳和后壳，胶芯座的前管嵌入到插头壳中，方块置入固定在后壳内，后壳通过螺钉固定在基体上；基体内电路板正面的一侧边的中间位置设有触点A1至A12，电路板背面的对应位置设有触点B1至B12；电路板的中间设有两排可插入铜柱的对称的触点孔，第一排触点孔依次序为CC1、S‑、S+、Vbus、GND和CC2，第二排触点孔依次为D+、D‑、BNC+和BNC‑。采用电路板中放置更合理的接触点布局形式，解决了繁杂的布线问题，结构简单化；同时通过采用可拆卸的塑胶外壳，延长了老化测试连接器的使用寿命。

Description

带有可换外壳USB插头的老化测试连接设备

技术领域

本实用新型涉及老化测试连接设备，尤其涉及一种带有可换外壳USB插头的老化测试连接设备。

背景技术

测试连接设备常见于对电子设备，如手机、平板电脑等，进行性能测试时的场景。老化测试连接设备是常见的一种类型。老化测试连接设备用于对电子设备的老化程度进行测试，从而得出电子设备抗老化能力以及老化之后设备运行性能。通常的老化测试连接设备中都是通过繁杂的布线来进行连接，布局不佳、结构复杂。老化测试连接设备一般带有USB插头，USB插头中的金属端子是用于传输数据或者电能的关键部件。在对电子智能设备进行性能测试时，需要对USB插头进行多次连续反复插拔。常规的USB插头外壳都是金属壳，在多次测试使用时容易对被测试设备产生划痕，对被测试设备外观产生不良影响，因此便有了塑胶外壳的USB插头，这种塑胶外壳使用时间长了之后会磨损，但一般的USB插头不可更换USB插头，有待改进。

实用新型内容

本实用新型的目的在于为克服现有技术的以上缺陷，而提供一种带有可换外壳USB插头的老化测试连接设备。

为实现上述目的，本实用新型采用以下技术方案：老化测试连接设备包括基体及USB插头，USB插头包括胶芯座、端子组及塑胶制成的、可拆卸更换的外壳，端子组嵌入于胶芯座内，胶芯座包括扁形的前管以及方块，前管与方块一体成型，外壳包括一体成型的插头壳和后壳，胶芯座的前管嵌入到插头壳中，方块置入固定在后壳内，后壳通过螺钉固定在基体上；基体内设置一电路板，电路板正面的一侧边的中间位置设有触点A1至A12，电路板背面的对应位置设有触点B1至B12；触点A1至A12及触点B1至B12用于焊接并电连接USB插头；电路板的中间设有两排可插入铜柱的对称的触点孔，触点孔电连接触点A1至A12和触点B1至B12，触点孔贯穿电路板正面与背面并连通电路板正面与背面；第一排触点孔依次序为CC1、S-、S+、Vbus、GND和CC2，第二排触点孔依次为D+、D-、BNC+和BNC-。

进一步地，端子组由若干金属端子组成，金属端子呈长条片状，金属端子的前端设有板状凸起的触点，触点凸起方向垂直于金属端子的长度方向，金属端子的尾端用于点焊在电路板上，在靠近金属端子尾端处设有一个方形凸台板，凸台板的凸起方向垂直于金属端子长度方向并与触点凸起方向相反。

进一步地，金属端子的前端嵌入于前管内，金属端子的凸台板嵌入于方块内，金属端子的尾端外露于方块之外。

进一步地，前管设有通道，方块设有方形腔，通道与方形腔连通，金属端子前端置入于通道中，金属端子的凸台板嵌入于方形腔中并且凸台板抵顶于方形腔靠近前管的内壁。

进一步地，触点孔CC1与触点A5电连接，触点孔S-分别与触点A1和触点孔BNC-电连接，触点孔S+分别与触点A4、触点孔BNC+和触点孔Vbus电连接，触点孔Vbus分别与触点A9、触点孔BNC+和触点孔S+电连接，触点孔GND与触点孔BNC-电连接，触点孔CC2与触点B5电连接，触点孔D+与触点A6电连接，触点孔D-与触点A7电连接；触点A1穿过电路板并与触点B12电连接，触点A12穿过电路板并与触点B1电连接。

进一步地，触点A1穿过电路板并通过电阻R107与触点B12电连接，触点A12穿过电路板并通过电阻R110与触点B1电连接；触点孔BNC-通过电阻R105与触点孔GND电连接，触点孔BNC-通过电阻R106与触点孔S-电连接；触点孔BNC+通过电阻R102与触点孔S+电连接，触点孔BNC+通过电阻R103与触点孔Vbus电连接，触点孔Vbus通过电阻R108与触点孔S+电连接。

进一步地，基体还包括盖板和底板，电路板夹在盖板与底板之间，电路板正面朝向于盖板，电路板背面朝向于底板，电路板上插接的铜柱均贯穿盖板并外露于盖板之外。

进一步地，盖板上对应触点A1至A12的位置上设有让位槽；底板上对应触点B1至B12的位置上同样设有让位槽。

进一步地，第二排触点孔下方中间的位置穿入一个主螺钉和一个等高铜套，主螺钉穿入等高铜套中，等高铜套贯穿盖板、电路板和底板，主螺钉末端外露于底板之外。

本实用新型与现有技术相比的有益效果是：采用电路板中放置更合理的接触点布局形式，解决了繁杂的布线问题，结构简单化，并且简化了延伸到二级系统线路，满足需求，提高了生产效率，改善了产品质量，产品使用性能也得到提升；同时，通过采用可拆卸的塑胶外壳，当外壳被磨损需要更换时可直接拆掉外壳，并更换新的装上即可继续使用，延长了老化测试连接器的使用寿命，降低了更新成本。

附图说明

图1为本实用新型老化测试连接设备基体电路板正面图。

图2为本实用新型老化测试连接设备基体电路板背面图。

图3为本实用新型老化测试连接设备基体装配立体图。

图4、5均为为本实用新型老化测试连接设备基体分解图。

图6为本实用新型老化测试连接设备USB插头外壳、胶芯座和端子组装配立体图。

图7为本实用新型老化测试连接设备USB插头外壳、胶芯座和端子组分解图。

图8为本实用新型老化测试连接设备USB插头胶芯座立体图。

图9为本实用新型老化测试连接设备USB插头胶芯座剖视图。

图10为本实用新型老化测试连接设备USB插头金属端子正面图。

图11为本实用新型老化测试连接设备USB插头端子组正面图。

图12为本实用新型老化测试连接设备USB插头端子组并排的立体图。

图13为本实用新型老化测试连接设备USB插头胶芯座与金属端子装配立体图。

图14为本实用新型老化测试连接设备USB插头胶芯座与金属端子装配剖视图。

需要说明的是，以上视图所示产品均为适应图纸大小及视图清楚而进行了适当的缩小/放大，并不对视图所示产品大小加以限制。

具体实施方式

为了更充分理解本实用新型的技术内容，下面结合具体实施例对本实用新型的技术方案作进一步介绍和说明。

本实用新型实施例的具体结构如图1-14所示。

本实施例的老化测试连接设备包括基体900及USB插头100，如图3所示，其中基体900包括盖板91和底板92、设在基体900内的电路板80。电路板80布局和结构如图1-5所示。电路板80的正面的一侧边的中间位置设有触点A1至A12，电路板80背面的对应位置设有触点B1至B12。触点A1至A12及触点B1至B12用于焊接并电连接USB插头100。电路板80的中间设有两排可插入铜柱81的对称的触点孔84、85，两排触点孔84、85贯穿电路板80正面与背面并连通电路板80正面与背面。第一排触点孔84依次序为CC1、S-、S+、Vbus、GND和CC2，第二排触点孔85依次为D+、D-、BNC+和BNC-。

其中，触点孔CC1与触点A5电连接，触点孔S-分别与触点A1和触点孔BNC-电连接，触点孔S+分别与触点A4、触点孔BNC+和触点孔Vbus电连接，触点孔Vbus分别与触点A9、触点孔BNC+和触点孔S+电连接，触点孔GND与触点孔BNC-电连接，触点孔CC2与触点B5电连接，触点孔D+与触点A6电连接，触点孔D-与触点A7电连接；触点A1穿过电路板并与触点B12电连接，触点A12穿过电路板并与触点B1电连接。

在本实施例中，如图1、2所示，触点A1穿过电路板并通过电阻R107与触点B12电连接，触点A12穿过电路板并通过电阻R110与触点B1电连接。触点孔BNC-通过电阻R105与触点孔GND电连接，触点孔BNC-通过电阻R106与触点孔S-电连接。触点孔BNC+通过电阻R102与触点孔S+电连接，触点孔BNC+通过电阻R103与触点孔Vbus电连接，触点孔Vbus通过电阻R108与触点孔S+电连接。

如图3-5所示，电路板80设置触点A1至A12的侧边位置设有沿着触点A1至A12排布方向延伸的凸台83，凸台83延伸长度大于触点A1至A12的距离，凸台83的凸起方向垂直于电路板80的侧边。凸台83与电路板80的侧边连接处的内角为圆角。

如图3-5所示，电路板80夹在盖板91与底板92之间，盖板91和底板92通过四个角上通入螺钉94实现固定连接。电路板80正面朝向于盖板91，电路板80背面朝向于底板92，电路板80上插接的铜柱81均贯穿盖板91并外露于盖板91之外。盖板91上对应触点A1至A12的位置上设有让位槽911。底板92上对应触点B1至B12的位置上同样设有让位槽921。底板92的背面设有四个围成方形的定位柱923。

此外，第二排触点孔85下方中间的位置穿入一个主螺钉93和一个等高铜套95，主螺钉93穿入等高铜套95中，等高铜套95贯穿盖板91、电路板80和底板92，主螺钉93末端外露于底板92之外。

此外，盖板91上设有沿着盖板91工作表面的法向凸起的隔离台912，隔离台912与电路板80设置触点A1至A12的侧边齐平。

如图6、7所示，USB插头100包括胶芯座11、端子组10及塑胶制成的、可拆卸更换的外壳60。端子组10嵌入于胶芯座11内，胶芯座11包括扁形的前管12以及方块13，前管12与方块13一体成型。外壳60可用亚克力制成，也可以用PP、PE材质制作。外壳60包括一体成型的插头壳61和后壳62，胶芯座11的前管12嵌入到插头壳61中，方块13置入固定在后壳62的凹槽621内。后壳62可通过螺钉可拆卸固定连接于基体900(图1)上。

端子组10由若干金属端子20组成，金属端子20如图10所示。金属端子20呈长条片状，每片金属端子20的前端21和尾端22处于同一直线上。金属端子20的前端21设有板状凸起的触点211，触点211凸起方向垂直于金属端子20的长度方向。金属端子20前端21触点211的相对侧为倾向于触点211的斜面212。金属端子20的尾端22用于点焊在电路板上，而在靠近金属端子20尾端22处设有一个方形凸台板23，凸台板23的凸起方向垂直于金属端子20长度方向并与触点211凸起方向相反。凸台板23朝向金属端子20前端21的外角为圆角233。

金属端子20的前端21在装配时会嵌入于前管12内，金属端子20的凸台板23在装配时会嵌入于方块13内。如图8、9示，具体地，胶芯座11前管12设有用于放入金属端子20前端21的通道121，方块13设有用于放入金属端子20凸台板23的方形腔131，通道121与方形腔131连通。

此外，金属端子20的尾端22与凸台板23的连接内角处设置有让位圆角231。同时金属端子20的前端21与凸台板23的连接内角处设为圆角232。

如图11所示，两片相互平行并且处于同一平面的金属端子20形成一组端子组10，同一组中的金属端子20的触点211与另一金属端子20的触点211面对面相对，同一组中的两片金属端子20的尾端22位置相对。如图12所示，多组端子组10沿着金属端子20平面的法向等距并行排列，相邻端子组10所处平面相互平行不共面，电路板可以插入到上下金属端子20的尾端22之间。

图13、14所示为金属端子插入胶芯座内的视图。如图13、14所示，金属端子20嵌入于胶芯座11内。金属端子20前端21置入于前管12的通道121中，金属端子20的凸台板23嵌入于方形腔131中并且凸台板23抵顶于方形腔131靠近前管12的内壁132。金属端子20的尾端22外露于方块13之外。

以上陈述仅以实施例来进一步说明本实用新型的技术内容，以便于读者更容易理解，但不代表本实用新型的实施方式仅限于此，任何依本实用新型所做的技术延伸或再创造，均受本实用新型的保护。

Claims (9)

1.带有可换外壳USB插头的老化测试连接设备，其特征在于，其包括基体及USB插头，所述USB插头包括胶芯座、端子组及塑胶制成的、可拆卸更换的外壳，所述端子组嵌入于胶芯座内，所述胶芯座包括扁形的前管以及方块，所述前管与方块一体成型，所述外壳包括一体成型的插头壳和后壳，所述胶芯座的前管嵌入到插头壳中，所述方块置入固定在后壳内，所述后壳通过螺钉固定在基体上；所述基体内设置一电路板，所述电路板正面的一侧边的中间位置设有触点A1至A12，所述电路板背面的对应位置设有触点B1至B12；所述触点A1至A12及触点B1至B12用于焊接并电连接USB插头；所述电路板的中间设有两排可插入铜柱的对称的触点孔，触点孔电连接触点A1至A12和触点B1至B12，所述触点孔贯穿电路板正面与背面并连通电路板正面与背面；第一排触点孔依次序为CC1、S-、S+、Vbus、GND和CC2，第二排触点孔依次为D+、D-、BNC+和BNC-。

2.如权利要求1所述的带有可换外壳USB插头的老化测试连接设备，其特征在于，所述端子组由若干金属端子组成，所述金属端子呈长条片状，所述金属端子的前端设有板状凸起的触点，所述触点凸起方向垂直于金属端子的长度方向，所述金属端子的尾端用于点焊在电路板上，在靠近金属端子尾端处设有一个方形凸台板，所述凸台板的凸起方向垂直于金属端子长度方向并与触点凸起方向相反。

3.如权利要求2所述的带有可换外壳USB插头的老化测试连接设备，其特征在于，所述金属端子的前端嵌入于前管内，所述金属端子的凸台板嵌入于所述方块内，所述金属端子的尾端外露于方块之外。

4.如权利要求2所述的带有可换外壳USB插头的老化测试连接设备，其特征在于，所述前管设有通道，所述方块设有方形腔，所述通道与方形腔连通，所述金属端子前端置入于通道中，所述金属端子的凸台板嵌入于方形腔中并且凸台板抵顶于方形腔靠近前管的内壁。

5.如权利要求1所述的带有可换外壳USB插头的老化测试连接设备，其特征在于，所述触点孔CC1与触点A5电连接，触点孔S-分别与触点A1和触点孔BNC-电连接，触点孔S+分别与触点A4、触点孔BNC+和触点孔Vbus电连接，触点孔Vbus分别与触点A9、触点孔BNC+和触点孔S+电连接，触点孔GND与触点孔BNC-电连接，触点孔CC2与触点B5电连接，触点孔D+与触点A6电连接，触点孔D-与触点A7电连接；触点A1穿过电路板并与触点B12电连接，触点A12穿过电路板并与触点B1电连接。

6.如权利要求5所述的带有可换外壳USB插头的老化测试连接设备，其特征在于，触点A1穿过电路板并通过电阻R107与触点B12电连接，触点A12穿过电路板并通过电阻R110与触点B1电连接；所述触点孔BNC-通过电阻R105与触点孔GND电连接，所述触点孔BNC-通过电阻R106与触点孔S-电连接；所述触点孔BNC+通过电阻R102与触点孔S+电连接，所述触点孔BNC+通过电阻R103与触点孔Vbus电连接，所述触点孔Vbus通过电阻R108与触点孔S+电连接。

7.如权利要求1所述的带有可换外壳USB插头的老化测试连接设备，其特征在于，所述基体还包括盖板和底板，所述电路板夹在盖板与底板之间，电路板正面朝向于盖板，电路板背面朝向于底板，所述电路板上插接的铜柱均贯穿盖板并外露于盖板之外。

8.如权利要求7所述的带有可换外壳USB插头的老化测试连接设备，其特征在于，所述盖板上对应触点A1至A12的位置上设有让位槽；所述底板上对应触点B1至B12的位置上同样设有让位槽。

9.如权利要求7所述的带有可换外壳USB插头的老化测试连接设备，其特征在于，第二排触点孔下方中间的位置穿入一个主螺钉和一个等高铜套，所述主螺钉穿入等高铜套中，所述等高铜套贯穿盖板、电路板和底板，所述主螺钉末端外露于底板之外。