CN209707550U - 带有全塑usb插头的老化测试连接设备 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及带有全塑USB插头的老化测试连接设备。包括基体及USB插头，基体内电路板正面的一侧边的中间位置设有触点A1至A12，电路板背面的对应位置设有触点B1至B12；电路板中间设有两排可插入铜柱的对称触点孔，触点孔电连接触点A1至A12和触点B1至B12。USB插头外壳内有一方形阶梯槽以及扁平通孔，端子组由两组相互平行的金属端子组成，金属端子前段与中段连接的后半部分被夹在胶芯前部与通孔之间，前段的前半部分上设有触点。采用电路板中放置更合理的接触点布局形式，解决了繁杂的布线问题，简化了延伸到二级系统线路。整体成型的外壳加上实心的胶芯，胶芯与通孔内壁之间为金属端子的前段，增加了支点，减小力臂，增强夹持力。

Description

带有全塑USB插头的老化测试连接设备

技术领域

本实用新型涉及老化测试设备，尤其涉及一种带有全塑USB插头的老化测试连接设备。

背景技术

测试连接设备常见于对电子设备，如手机、平板电脑等，进行性能测试时的场景。老化测试连接设备是常见的一种类型。老化测试连接设备用于对电子设备的老化程度进行测试，从而得出电子设备抗老化能力以及老化之后设备运行性能。通常的老化测试连接设备中都是通过繁杂的布线来进行连接，布局不佳、结构复杂。USB插头老化测试连接设备中一个部件，其中的金属端子是用于传输数据或者电能的关键部件。在对电子智能设备进行性能测试时，需要对USB插头进行多次连续反复插拔。现有的USB插头通常需要插入一个中空芯套内，然后再将芯套装入插头中。结构相对复杂，并且夹持力较低。

实用新型内容

本实用新型的目的在于为克服现有技术的以上缺陷，而提供一种带有全塑USB插头的老化测试连接设备。

为实现上述目的，本实用新型采用以下技术方案：带有全塑USB插头的老化测试连接设备，其包括基体及USB插头，基体内设置一电路板，电路板正面的一侧边的中间位置设有触点A1至A12，电路板背面的对应位置设有触点B1至B12；触点A1至A12及触点B1至B12用于焊接并电连接USB插头；电路板的中间设有两排可插入铜柱的对称的触点孔，触点孔电连接触点A1至A12和触点B1至B12，触点孔贯穿电路板正面与背面并连通电路板正面与背面；第一排触点孔依次序为CC1、S-、S+、Vbus、GND和CC2，第二排触点孔依次为D+、D-、BNC+和BNC-；USB插头包括一体注塑成型的塑胶外壳、端子组以及实心胶芯，外壳包括插头壳和后壳，外壳内设有一方形阶梯槽以及扁平通孔，阶梯槽与通孔连通，阶梯槽设在后壳中并且阶梯槽开口设在后壳的后端，通孔贯穿插头壳；端子组由两组相互平行的金属端子组成，每组金属端子有若干个相互平行扁平的金属端子，金属端子的后段用于焊接于电路板上；胶芯前部插入到通孔中，胶芯后部置于阶梯槽中；金属端子分为三段：长条形的前段、板状的中段和条形的后段，前段与中段连接的后半部分被夹在胶芯前部与通孔之间，前段的前半部分上设有触点。

进一步地，触点孔CC1与触点A5电连接，触点孔S-分别与触点A1和触点孔BNC-电连接，触点孔S+分别与触点A4、触点孔BNC+和触点孔Vbus电连接，触点孔Vbus分别与触点A9、触点孔BNC+和触点孔S+电连接，触点孔GND与触点孔BNC-电连接，触点孔CC2与触点B5电连接，触点孔D+与触点A6电连接，触点孔D-与触点A7电连接；触点A1穿过电路板并与触点B12电连接，触点A12穿过电路板并与触点B1电连接。

进一步地，触点A1穿过电路板并通过电阻R107与触点B12电连接，触点A12穿过电路板并通过电阻R110与触点B1电连接；触点孔BNC-通过电阻R105与触点孔GND电连接，触点孔BNC-通过电阻R106与触点孔S-电连接；触点孔BNC+通过电阻R102与触点孔S+电连接，触点孔BNC+通过电阻R103与触点孔Vbus电连接，触点孔Vbus通过电阻R108与触点孔S+电连接。

进一步地，基体还包括盖板和底板，电路板夹在盖板与底板之间，电路板正面朝向于盖板，电路板背面朝向于底板，电路板上插接的铜柱均贯穿盖板并外露于盖板之外。盖板上对应触点A1至A12的位置上设有让位槽；底板上对应触点B1至B12的位置上同样设有让位槽。

进一步地，第二排触点孔下方中间的位置穿入一个主螺钉和一个等高铜套，主螺钉穿入等高铜套中，等高铜套贯穿盖板、电路板和底板，主螺钉末端外露于底板之外。

进一步地，USB插头的通孔的上下内壁均设有第一凹槽，金属端子的前段插入到第一凹槽中。阶梯槽与胶芯对应的部分设有第二凹槽，金属端子的中段插入到第二凹槽中。

进一步地，胶芯插入通孔的部分为板状，胶芯置于阶梯槽的部分设有凸台，凸台上设有若干第三凹槽，金属端子的中段分别插入到第二凹槽和第三凹槽中。

进一步地，金属端子的中段与后段的连接处的过渡角为内凹的半圆。

本实用新型与现有技术相比的有益效果是：采用电路板中放置更合理的接触点布局形式，解决了繁杂的布线问题，结构简单化，并且简化了延伸到二级系统线路，满足需求，提高了生产效率，改善了产品质量，产品使用性能也得到提升；同时，整体成型的外壳加上实心的胶芯，结构得到简化，同时强度得到提高，并且安装过程比较简单，胶芯与通孔内壁之间为金属端子的前段，增加了支点，减小了力臂，增强了夹持力，满足了夹持要求，提升了USB插头的功能性和使用可靠性。

附图说明

图1为本实用新型老化测试连接设备的基体的电路板正面图。

图2为本实用新型老化测试连接设备的基体的电路板背面图。

图3为本实用新型老化测试连接设备的基体装配立体图。

图4、5均为为本实用新型老化测试连接设备的基体分解图。

图6为本实用新型老化测试连接设备的USB插头的装配立体图。

图7为本实用新型老化测试连接设备的USB插头的分解图。

图8为本实用新型老化测试连接设备的USB插头的剖视图。

需要说明的是，以上视图所示产品均为适应图纸大小及视图清楚而进行了适当的缩小/放大，并不对视图所示产品大小加以限制。

具体实施方式

为了更充分理解本实用新型的技术内容，下面结合具体实施例对本实用新型的技术方案作进一步介绍和说明。

本实施例的老化测试连接设备包括基体900及USB插头100，如图3所示，其中基体900包括电路板80、盖板91和底板92。电路板80布局和结构如图1-5所示，电路板80的正面的一侧边的中间位置设有触点A1至A12，电路板80背面的对应位置设有触点B1至B12。触点A1至A12及触点B1至B12用于焊接并电连接USB插头100。电路板80的中间设有两排可插入铜柱81的对称的触点孔84、85，两排触点孔84、85贯穿电路板80正面与背面并连通电路板80正面与背面。第一排触点孔84依次序为CC1、S-、S+、Vbus、GND和CC2，第二排触点孔85依次为D+、D-、BNC+和BNC-。

其中，触点孔CC1与触点A5电连接，触点孔S-分别与触点A1和触点孔BNC-电连接，触点孔S+分别与触点A4、触点孔BNC+和触点孔Vbus电连接，触点孔Vbus分别与触点A9、触点孔BNC+和触点孔S+电连接，触点孔GND与触点孔BNC-电连接，触点孔CC2与触点B5电连接，触点孔D+与触点A6电连接，触点孔D-与触点A7电连接；触点A1穿过电路板80并与触点B12电连接，触点A12穿过电路板80并与触点B1电连接。

在本实施例中，如图1、2所示，触点A1穿过电路板80并通过电阻R107与触点B12电连接，触点A12穿过电路板80并通过电阻R110与触点B1电连接。触点孔BNC-通过电阻R105与触点孔GND电连接，触点孔BNC-通过电阻R106与触点孔S-电连接。触点孔BNC+通过电阻R102与触点孔S+电连接，触点孔BNC+通过电阻R103与触点孔Vbus电连接，触点孔Vbus通过电阻R108与触点孔S+电连接。

如图3-5所示，电路板80设置触点A1至A12的侧边位置设有沿着触点A1至A12排布方向延伸的凸台83，凸台83延伸长度大于触点A1至A12的距离，凸台83的凸起方向垂直于电路板80的侧边。凸台83与电路板80的侧边连接处的内角为圆角。

如图3-5所示，电路板80夹在盖板91与底板92之间，盖板91和底板92通过四个角上通入螺钉94实现固定连接。电路板80正面朝向于盖板91，电路板80背面朝向于底板92，电路板80上插接的铜柱81均贯穿盖板91并外露于盖板91之外。盖板91上对应触点A1至A12的位置上设有让位槽911。底板92上对应触点B1至B12的位置上同样设有让位槽921。底板92的背面设有四个围成方形的定位柱923。

此外，第二排触点孔85下方中间的位置穿入一个主螺钉93和一个等高铜套95，主螺钉93穿入等高铜套95中，等高铜套95贯穿盖板91、电路板80和底板92，主螺钉93末端外露于底板92之外。

此外，盖板91上设有沿着盖板91工作表面的法向凸起的隔离台912，隔离台912与电路板80设置触点A1至A12的侧边齐平。

本实施例的USB插头100具体结构如图6-8所示。USB插头100包括一体注塑成型的塑胶外壳10、端子组40以及实心胶芯20。外壳10包括插头壳11和后壳12。外壳10内设有方形阶梯槽121以及扁平通孔122，阶梯槽121与通孔122连通，阶梯槽121设在后壳12中并且阶梯槽121开口设在后壳12的后端，通孔122贯穿插头壳11。胶芯20前部23插入到通孔122中，胶芯20后部置于阶梯槽121中。具体地，胶芯20插入通孔122的前部23为板状，与通孔122的截面形状相适应。

端子组40由两组相互平行的金属端子41组成。每组金属端子41有若干个相互平行扁平的金属端子41。每个金属端子41分为三段：长条形的前段411、板状的中段412和条形的后段413。前段411的前半部分上设有触点414，触点414用于连接待测试设备的接头。金属端子41的中段412与后段413的连接处的过渡角416为内凹的半圆。金属端子41的后段413用于焊接于电路板80上的触点A1至A12及触点B1至B12。

通孔122的上下内壁均设有第一凹槽123，金属端子41的前段411插入到第一凹槽123中。前段411与中段412连接的后半部分被夹在胶芯20前部23与通孔122之间，胶芯20的前部23可使得金属端子41前段411的后半部分保留在第一凹槽123中。金属端子41的前段411设有触点414的相对另一边为斜边415。斜边415与第一凹槽123之间留有空间，可使得金属端子41前段411有弹性活动空间。

阶梯槽121与胶芯20对应的部分设有第二凹槽124，金属端子41的中段412插入到第二凹槽124中。胶芯20置于阶梯槽121的部分设有凸台22，凸台22上设有若干第三凹槽21，金属端子41的中段412分别插入到第二凹槽124和第三凹槽21中，即金属端子41中段被第二凹槽124和第三凹槽21夹紧。

以上陈述仅以实施例来进一步说明本实用新型的技术内容，以便于读者更容易理解，但不代表本实用新型的实施方式仅限于此，任何依本实用新型所做的技术延伸或再创造，均受本实用新型的保护。

Claims (10)

1.带有全塑USB插头的老化测试连接设备，其特征在于，其包括基体及USB插头，所述基体内设置一电路板，所述电路板正面的一侧边的中间位置设有触点A1至A12，所述电路板背面的对应位置设有触点B1至B12；所述触点A1至A12及触点B1至B12用于焊接并电连接USB插头；所述电路板的中间设有两排可插入铜柱的对称的触点孔，触点孔电连接触点A1至A12和触点B1至B12，所述触点孔贯穿电路板正面与背面并连通电路板正面与背面；第一排触点孔依次序为CC1、S-、S+、Vbus、GND和CC2，第二排触点孔依次为D+、D-、BNC+和BNC-；所述USB插头包括一体注塑成型的塑胶外壳、端子组以及实心胶芯，所述外壳包括插头壳和后壳，所述外壳内设有一方形阶梯槽以及扁平通孔，所述阶梯槽与通孔连通，所述阶梯槽设在后壳中并且阶梯槽开口设在后壳的后端，所述通孔贯穿插头壳；所述端子组由两组相互平行的金属端子组成，每组金属端子有若干个相互平行扁平的金属端子，所述金属端子的后段用于焊接于电路板上；所述胶芯前部插入到所述通孔中，胶芯后部置于阶梯槽中；所述金属端子分为三段：长条形的前段、板状的中段和条形的后段，前段与中段连接的后半部分被夹在胶芯前部与所述通孔之间，前段的前半部分上设有触点。

2.如权利要求1所述的老化测试连接设备，其特征在于，所述触点孔CC1与触点A5电连接，触点孔S-分别与触点A1和触点孔BNC-电连接，触点孔S+分别与触点A4、触点孔BNC+和触点孔Vbus电连接，触点孔Vbus分别与触点A9、触点孔BNC+和触点孔S+电连接，触点孔GND与触点孔BNC-电连接，触点孔CC2与触点B5电连接，触点孔D+与触点A6电连接，触点孔D-与触点A7电连接；触点A1穿过电路板并与触点B12电连接，触点A12穿过电路板并与触点B1电连接。

3.如权利要求2所述的老化测试连接设备，其特征在于，触点A1穿过电路板并通过电阻R107与触点B12电连接，触点A12穿过电路板并通过电阻R110与触点B1电连接；所述触点孔BNC-通过电阻R105与触点孔GND电连接，所述触点孔BNC-通过电阻R106与触点孔S-电连接；所述触点孔BNC+通过电阻R102与触点孔S+电连接，所述触点孔BNC+通过电阻R103与触点孔Vbus电连接，所述触点孔Vbus通过电阻R108与触点孔S+电连接。

4.如权利要求1所述的老化测试连接设备，其特征在于，所述基体还包括盖板和底板，所述电路板夹在盖板与底板之间，电路板正面朝向于盖板，电路板背面朝向于底板，所述电路板上插接的铜柱均贯穿盖板并外露于盖板之外。

5.如权利要求4所述的老化测试连接设备，其特征在于，所述盖板上对应触点A1至A12的位置上设有让位槽；所述底板上对应触点B1至B12的位置上同样设有让位槽。

6.如权利要求1所述的老化测试连接设备，其特征在于，第二排触点孔下方中间的位置穿入一个主螺钉和一个等高铜套，所述主螺钉穿入等高铜套中，所述等高铜套贯穿盖板、电路板和底板，所述主螺钉末端外露于底板之外。

7.如权利要求1所述的老化测试连接设备，其特征在于，所述USB插头的通孔的上下内壁均设有第一凹槽，所述金属端子的前段插入到第一凹槽中。

8.如权利要求1所述的老化测试连接设备，其特征在于，所述阶梯槽与胶芯对应的部分设有第二凹槽，所述金属端子的中段插入到第二凹槽中。

9.如权利要求8所述的老化测试连接设备，其特征在于，所述胶芯插入通孔的部分为板状，胶芯置于阶梯槽的部分设有凸台，凸台上设有若干第三凹槽，所述金属端子的中段分别插入到第二凹槽和第三凹槽中。

10.如权利要求1所述的老化测试连接设备，其特征在于，所述金属端子的中段与后段的连接处的过渡角为内凹的半圆。