CN209182254U - 光学检测设备 - Google Patents
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Abstract
本实用新型提供一种光学检测设备，用于检测待测物。光学检测设备包括检测单元、复检组件以及标记组件。检测单元包括取像组件以及处理器。取像组件用以取得待测物的图像。复检组件整合在取像组件的一侧，用以复检待测物。标记组件整合在复检组件的一侧，用以对待测物进行标记。处理器电性连接取像组件与标记组件。本实用新型的光学检测设备将取像组件、复检组件以及标记组件整合为一体，故能在同一工作站位完成自动检测、人工复检以及瑕疵标记等步骤。如此一来，不仅能缩减检测工时，还能避免因搬移待测物而对待测物造成损伤。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种检测设备，尤其涉及一种光学检测设备。
背景技术
随着科技进步，电子零件的精密度要求日益趋高，为确保电子零件的良率提升，自动光学检测技术已广泛地应用于相关电子产业。一般而言，在自动光学检测系统取得待测物的图像并对其进行瑕疵判断后，操作人员必须将待测物搬移至另一工作站位，并依据自动光学检测系统所检测到的瑕疵区块，通过人工的方式重复判断待测物上的相应区块是否存在真实瑕疵。最后，若判断待测物上的相应区块存在真实瑕疵，则针对待测物上存在真实瑕疵的区块进行标记。
然而，待测物从自动光学检测站位搬移至人工复检站位的过程耗时，且难以减少人力负担。一有不慎，可能会对待测物造成损伤。
实用新型内容
本实用新型提供一种光学检测设备，其具有良好的整合设计，有助于缩减检测工时。
本实用新型的光学检测设备用于检测待测物。光学检测设备包括检测单元、复检组件以及标记组件。检测单元包括取像组件及处理器。取像组件用以取得待测物的图像。复检组件整合在取像组件的一侧，用以复检待测物。标记组件整合在复检组件的一侧，用以对待测物进行标记。处理器电性连接取像组件与标记组件。
基于上述，本实用新型的光学检测设备将取像组件、复检组件以及标记组件整合为一体，故能在同一工作站位完成自动检测、人工复检以及瑕疵标记等步骤。如此一来，不仅能缩减检测工时，还能避免因搬移待测物而对待测物造成损伤。
为让本实用新型的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合附图作详细说明如下。
附图说明
图1是本实用新型一实施例的光学检测设备的俯视示意图。
图2是图1的光学检测设备的侧视示意图。
图3是图1的光学检测设备的电路示意图。
【符号说明】
10：工作平台
20：待测物
30：光源
100：光学检测设备
101：检测单元
110：取像组件
120：复检组件
130：标记组件
131：驱动部
132：标记部
140：处理器
150：载架
160：支架
161：第一端部
162：第二端部
D1：第一安装方向
D2：第二安装方向
具体实施方式
图1是本实用新型一实施例的光学检测设备的俯视示意图。图2是图1的光学检测设备的侧视示意图。请参考图1与图2，在本实施例中，光学检测设备100能够用于检测放置在工作平台10上的待测物20，并且是在同一工作站位完成自动检测、人工复检以及瑕疵标记等步骤，如此一来，不仅能缩减检测工时，还能避免因搬移待测物而对待测物造成损伤。
进一步而言，光学检测设备100包括检测单元101、复检组件120以及标记组件130。检测单元101包括取像组件110，且取像组件110、复检组件120以及标记组件130三者整合为一体。取像组件110可为线扫描相机和面扫描相机，用以取得待测物20的图像。复检组件120整合在取像组件110的一侧，其中复检组件120可为显微镜，用以协助操作人员取得待测物20以倍率放大后的图像而进行复检待测物20的步骤。另一方面，标记组件130整合在复检组件120的一侧，其中标记组件130可为画记笔，用以对待测物20上的瑕疵区块进行标记。
在本实施例中，光学检测设备100还包括载架150与连接载架150的支架160，其中取像组件110与复检组件120固定于载架150上，且取像组件110与复检组件120并列设置。支架160自载架150上取像组件110与复检组件120所在的一侧延伸通过取像组件110与复检组件120之间，且并列于复检组件120的标记组件130固定在支架160上，亦即，标记组件130是通过支架160而固定于载架150。详细而言，如图1所示，取像组件110与复检组件120沿第一安装方向D1配置，且复检组件120与标记组件130沿与第一安装方向D1交错的第二安装方向D2配置，如此配置下，有助于缩减光学检测设备100的配置空间。在本实施例中，第一安装方向D1例如是垂直于第二安装方向D2。在其他实施例中，两安装方向的交错方式可依需求改变，本实用新型不对此加以限制。
具体而言，支架160具有第一端部161与相对于第一端部161的第二端部162，其中第一端部161连接载架150，第二端部162超出取像组件110与复检组件120之间，且标记组件130固定在第二端部162上。
图3是图1的光学检测设备的电路示意图。请参考图1至图3，在本实施例中，标记组件130包括驱动部131与连接驱动部131的标记部132，其中驱动部131用以带动标记部132移动靠近或远离待测物20，以对待测物20进行标记。举例来说，驱动部131可为汽缸、步进马达、线性滑轨、线性螺杆或上述组件的组合，也就是说，标记组件130可采用自动控制的方式对待测物20进行标记。
光学检测设备100的检测单元101还包括处理器140，电性连接取像组件110与标记组件130的驱动部131，其中取像组件110受处理器140的控制以取得待测物20的图像，且标记组件130的驱动部131受处理器140的控制以带动标记部132移动靠近待测物20，并对待测物20进行标记。举例来说，处理器140可以是中央处理单元(Central Processing Unit,CPU)、系统单芯片(System on Chip,SOC)或是其他可程序化的一般用途或特殊用途的微处理器(microprocessor)、数字信号处理器(Digital Signal Processor,DSP)、可程序化控制器、特殊应用集成电路(Application Specific Integrated Circuits,ASIC)、可程序化逻辑装置(Programmable Logic Device,PLD)、其他类似处理装置或这些装置的组合。
以下就光学检测与复检步骤进行说明。
首先，使光源30投射检测光线至待测物20，自待测物20反射的检测光线会射向取像组件110。此时，受处理器140控制的取像组件110接收自待测物20反射的检测光线，并取得待测物20的图像(以下称检测图像)。在取得检测图像后，通过处理器140对检测图像与对应于待测物20的参考图像进行比对，以判断出待测物20是否存在瑕疵以及瑕疵的所在位置。举例来说，处理器140会先将检测图像分割成多个子检测图像区块，并将参考图像分割成多个子参考图像区块，其中这些子检测图像区块的数量与这些子参考图像区块的数量相同，且相对应。因此，处理器140可对相应的子检测图像区块与子参考图像区块逐一进行比对，以准确且快速地判断出待测物20是否存在瑕疵以及瑕疵的所在区块。
接着，基于处理器140的判断结果，操作人员通过复检组件120对待测物20上存在瑕疵的区块进行复检，以确认经由处理器140判断所得的瑕疵区块是否存在真实瑕疵，若是，则处理器140控制标记组件130对待测物20上存在真实瑕疵的区块进行标记。最后，利用标记组件130对待测物20上存在真实瑕疵的区块(即标记处)进行补修的步骤。
综上所述，本实用新型的光学检测设备将取像组件、复检组件以及标记组件整合为一体，故能在同一工作站位完成自动检测、人工复检以及瑕疵标记等步骤。如此一来，不仅能缩减检测工时，还能避免因搬移待测物而对待测物造成损伤。
虽然本实用新型已以实施例揭示如上，然其并非用以限定本实用新型，任何所属技术领域中的技术人员，在不脱离本实用新型的精神和范围内，当可作些许的更改与润饰，故本实用新型的保护范围当视权利要求所界定的为准。
Claims (6)
1.一种光学检测设备，用于检测待测物，其特征在于，所述光学检测设备包括：
检测单元，包括：
取像组件，用以取得所述待测物的图像；以及
处理器；
复检组件，整合在所述取像组件的一侧，用以复检所述待测物；以及
标记组件，整合在所述复检组件的一侧，用以对所述待测物进行标记，所述处理器电性连接所述取像组件与所述标记组件。
2.根据权利要求1所述的光学检测设备，其特征在于，所述标记组件包括驱动部与连接所述驱动部的标记部，且所述处理器电性连接所述驱动部，用以控制所述驱动部带动所述标记部对所述待测物进行标记。
3.根据权利要求1所述的光学检测设备，其特征在于，还包括：
载架，所述取像组件与所述复检组件固定于所述载架上。
4.根据权利要求3所述的光学检测设备，其特征在于，还包括：
支架，连接所述载架，且延伸通过所述取像组件与所述复检组件之间，所述标记组件固定于所述支架上。
5.根据权利要求4所述的光学检测设备，其特征在于，所述支架具有连接所述载架的第一端部与相对于所述第一端部的第二端部，且所述标记组件固定于所述第二端部上。
6.根据权利要求1所述的光学检测设备，其特征在于，所述取像组件与所述复检组件沿第一安装方向配置，所述复检组件与所述标记组件沿第二安装方向配置，所述第一安装方向与所述第二安装方向彼此交错。
Applications Claiming Priority (2)
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|---|---|---|---|
| TW107209830U TWM570424U (zh) | 2018-07-20 | 2018-07-20 | 光學檢測設備 |
| TW107209830 | 2018-07-20 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
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| CN209182254U true CN209182254U (zh) | 2019-07-30 |
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|---|---|---|---|
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Country Status (2)
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Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN110749602A (zh) * | 2019-10-28 | 2020-02-04 | 绍兴海滨皮革有限公司 | 一种皮料瑕疵检测输送台 |
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2018
- 2018-07-20 TW TW107209830U patent/TWM570424U/zh not_active IP Right Cessation
- 2018-10-19 CN CN201821698026.8U patent/CN209182254U/zh not_active Expired - Fee Related
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|---|---|---|---|---|
| CN110749602A (zh) * | 2019-10-28 | 2020-02-04 | 绍兴海滨皮革有限公司 | 一种皮料瑕疵检测输送台 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
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| TWM570424U (zh) | 2018-11-21 |
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