CN206742245U - 一种双向对称的tvs二极管 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及一种双向对称的TVS二极管,包括:P+衬底;N‑外延层,形成于所述P+衬底上;P阱区,形成于所述N‑外延层中;P+注入区,形成于所述P阱区中;两个N+注入区,每个所述N+注入区均形成于所述P+注入区中;多个沟槽,每个所述沟槽均形成于所述N‑外延层中;氧化层,形成于所述N‑外延层上;金属层,形成于所述氧化层上。本实用新型结构简单,能够轻松实现TVS双向对称,避免被保护器件的损坏,成本低廉,采用沟槽进行隔离,减小芯片面积,便于封装。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种TVS二极管,尤其涉及一种双向对称的TVS二极管。
背景技术
如今以TVS(Transient Voltage Suppressor,瞬态电压抑制器)为代表的保护器件在生活中的应用越来越广泛,各种I/O接口都有它的身影。集成电路的工作环境是多样的,在交流环境中,就必须TVS二极管是双向对称的,否则被保护器件仍会被损坏。
传统的双向对称的TVS二极管多采用N衬底1加P外延2加N+注入区域3,相互叠加的一种NPN结构,如图1所示。根据工作电压的不同,可以调节N+注入区域3的深度、P外延2的厚度以及P外延2的电阻率来实现。但是这种结构在现实中由于受到太多干扰因素,很难做到完全的对称。
实用新型内容
本实用新型克服了现有技术的不足,提供一种结构简单的双向对称的TVS二极管。
为达到上述目的,本实用新型采用的技术方案为:一种双向对称的TVS二极管,包括:
P+衬底;
N-外延层,形成于所述P+衬底上;
P阱区,形成于所述N-外延层中;
P+注入区,形成于所述P阱区中;
两个N+注入区,每个所述N+注入区均形成于所述P+注入区中;
多个沟槽,每个所述沟槽均形成于所述N-外延层中并延伸至所述P+衬底中;
氧化层,形成于所述N-外延层上;
金属层,形成于所述氧化层上。
本实用新型一个较佳实施例中,一种双向对称的TVS二极管进一步包括所述P+衬底的电阻率为0.014-0.020ohm.cm。
本实用新型一个较佳实施例中,一种双向对称的TVS二极管进一步包括所述N-外延层的电阻率为150ohm.cm,所述N-外延层的厚度为7.3μm。
本实用新型一个较佳实施例中,一种双向对称的TVS二极管进一步包括所述P+注入区的深度为1.5μm。
本实用新型一个较佳实施例中,一种双向对称的TVS二极管进一步包括所述沟槽的深度为7.5μm。
本实用新型一个较佳实施例中,一种双向对称的TVS二极管进一步包括所述氧化层的厚度为2μm。
本实用新型解决了背景技术中存在的缺陷,本实用新型结构简单,能够轻松实现TVS双向对称,避免被保护器件的损坏,成本低廉,采用沟槽进行隔离,减小芯片面积,便于封装。
附图说明
下面结合附图和实施例对本实用新型进一步说明。
图1是本实用新型的优选实施例的结构示意图;
图2是本实用新型的优选实施例的等效电路图;
图中:4、P+衬底,5、N-外延层,6、P阱区,8、P+注入区,10、N+注入区,12、沟槽,14、氧化层,16、金属层。
具体实施方式
现在结合附图和实施例对本实用新型作进一步详细的说明,这些附图均为简化的示意图,仅以示意方式说明本实用新型的基本结构,因此其仅显示与本实用新型有关的构成。
如图1所示,一种双向对称的TVS二极管,包括P+衬底4、N-外延层5、P阱区6、P+注入区8、两个N+注入区10、多个沟槽12、氧化层14和金属层16。
P+衬底4,其为P型衬底,优选P+衬底4为<100>晶向,电阻率为0.014-0.020ohm.cm。
N-外延层5,形成于P+衬底4上。优选N-外延层5的电阻率为150ohm.cm,N-外延层5的厚度为7.3μm。
P阱区6,形成于N-外延层5中。优选P阱区6通过往N-外延层5中注入5e14离子/c㎡、80KeV的硼原子而形成,由于N-外延层5的电阻率很高,因此P阱区6与N-外延层5所形成的PN结的击穿电压很大,约70V。
P+注入区8,形成于P阱区6中。优选P+注入区8通过往P阱区6中注入1e14离子/c㎡、70KeV的硼原子而形成,对P阱区6里面的杂质浓度起到调节作用,P+注入区8的深度约为1.5μm。
两个N+注入区10,每个N+注入区10均形成于P+注入区8中。优选N+注入区10通过往P+注入区8注入4.5e15离子/c㎡、60KeV的磷原子而形成。两个N+注入区10与P+注入区8中间部分形成了两个背靠背的二极管D1,这两个二极管D1击穿电压相等,均为6V,横向对称。
多个沟槽12,每个沟槽12均形成于N-外延层5中并延伸至P+衬底4中。优选沟槽12通过在硅上刻深槽,然后在深槽内填充二氧化硅,用于隔离,占用芯片面积小。进一步优选沟槽12的深度为7.5μm。
氧化层14,形成于N-外延层5上,作为接触孔光刻刻蚀的介质层。进一步优选通过光刻在氧化层14内对应两个N+注入区10位置开接触孔。优选氧化层14的厚度为2μm。
金属层16,形成于氧化层14上。优选金属层16由4μmAlSiCu和300Å的TiN构成,其中Å指的是埃米,4μm的AlSiCu保证了后续封装打铜线的金属硬度,300Å的TiN主要是为了减小金属层光刻时的驻波效应,因为金属层较厚,光刻需要3μm的光刻胶,在光刻胶曝光过程中,透射光与反射光会发生干涉,因此在光刻胶显影后,侧壁会产生波浪状的不平整,这种现象就被称为驻波效应,通过引入TiN可以有效减小这种现象。
该TVS二极管的等效电路图如图2所示,两个D1横向对称,通过金属层16引出两个电极。
以上依据本实用新型的理想实施例为启示,通过上述的说明内容,相关人员完全可以在不偏离本项实用新型技术思想的范围内,进行多样的变更以及修改。本项实用新型的技术性范围并不局限于说明书上的内容,必须要根据权利要求范围来确定技术性范围。
Claims (6)
1.一种双向对称的TVS二极管,其特征在于,包括:
P+衬底;
N-外延层,形成于所述P+衬底上;
P阱区,形成于所述N-外延层中;
P+注入区,形成于所述P阱区中;
两个N+注入区,每个所述N+注入区均形成于所述P+注入区中;
多个沟槽,每个所述沟槽均形成于所述N-外延层中并延伸至所述P+衬底中;
氧化层,形成于所述N-外延层上;
金属层,形成于所述氧化层上。
2.根据权利要求1所述的一种双向对称的TVS二极管,其特征在于:所述P+衬底的电阻率为0.014-0.020ohm.cm。
3.根据权利要求1所述的一种双向对称的TVS二极管,其特征在于:所述N-外延层的电阻率为150ohm.cm,所述N-外延层的厚度为7.3μm。
4.根据权利要求1所述的一种双向对称的TVS二极管,其特征在于:所述P+注入区的深度为1.5μm。
5.根据权利要求1所述的一种双向对称的TVS二极管,其特征在于:所述沟槽的深度为7.5μm。
6.根据权利要求1所述的一种双向对称的TVS二极管,其特征在于:所述氧化层的厚度为2μm。
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Cited By (2)
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CN108417534A (zh) * | 2018-03-27 | 2018-08-17 | 于洋 | 一种功率元件的保护器件及其制作方法 |
CN109037351A (zh) * | 2018-08-07 | 2018-12-18 | 深圳市南硕明泰科技有限公司 | 一种瞬态电压抑制器及其制作方法 |
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