CN206098385U - Ic器件用半导体的引线框架 - Google Patents

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黄渊
张惠芳
周霞
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Nantong Huada Microelectronics Group Co Ltd
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Abstract

本实用新型公开了一种IC器件用半导体的引线框架,每个框架单元自上而下具有依次连接的上边角区、载片区、过度区、三根引脚,另有包围连接在三根引脚周围的下边角区。上边角区具有圆形定位孔,载片区与过渡区之间具有锁料孔,下边角区在过度区与三根引脚之间的部分留有切割凹槽。每个框架单元封装后的下边角区更方便切割去除,而且提高了焊接键合的可靠性。

Description

IC器件用半导体的引线框架
技术领域
本实用新型涉及微电子封装行业使用的引线框架。
背景技术
微电子封装行业经常使用的引线框架,一般由铜材料整体制成,引线框架自上而下具有依次连接在一起的上边角区、载片区、过度区、三根引脚,另有连接或者包围在三根引脚周围的下边角区。载片区供装载电子元器件或IC器件,接着用键合丝将电子元器件与框架的载片区或引脚连接起来(简称键合),然后将电子元器件以及周围的部分框架用塑胶封装起来,最后加多余的边角或过长的引脚减去即成。
发明内容
实用新型目的:
提供一种塑封材料与芯片和框架连接牢固、框架的边角料和多余的塑胶废料容易切割去除的IC器件用半导体的引线框架。
技术方案:
本实用新型提供了一种IC器件用半导体的引线框架,由多个框架单元依次并排连接而成一个整体,每个框架单元自上而下具有依次连接的上边角区、载片区(供装载半导体芯片)、过度区(或称精压区)、三根引脚,另有包围连接在三根引脚周围的下边角区。上边角区具有圆形定位孔,上边角区与载片区之间、载片区与过渡区之间分别具有锁料孔,供封装用塑胶流入填充,保证在封装温度循环变化后,塑胶与载片区凝结牢固不易分离、不易断裂。过度区有折弯形状,使得载片区与三根引脚位于相互平行的两个不同平面。下边角区在过度区与三根引脚之间的部分留有切割凹槽,便于封装完成后对下边角区的切割去除(因为引脚与载片区,尤其是封装片靠得太近,避免切刀刀刃触碰到封装好的塑胶)。
相邻的两个框架单元之间具有塑料流道,供封装半导体芯片和载片区的塑胶流动使用。塑料流道上具有流道孔,便于塑胶凝固后脱模时顶出多余的塑胶废料。相邻的两个框架单元的上边角区之间,具有高出上边角区平面的档料筋,阻挡塑胶流到相邻的框架单元。
框架单元为铜材制成,载片区可不镀银层(减少镀银面积,降低成本),改为过渡区(或及三个引脚)表面镀银层,由键合丝将芯片与过渡区键合连接,以提高芯片电极与引脚的导电性,同时因为芯片与过渡区不在同一平面,可以在温度循环时增加焊接键合的可靠性。而原来芯片与载片区的焊接不够牢固,因为在同一个平面不便于焊接键合操作。
有益效果:
本实用新型中,封装的塑胶壳体与载片区(含半导体芯片)连接牢固,相邻框架单元之间容易分割,每个框架单元封装后的下边角区更方便切割去除。多余的塑胶废料容易脱模除去。而且提高了芯片与框架焊接键合的可靠性。
附图说明
图1是本实用新型的一个俯视图;
图2是图1的左视图;
图中,框架单元(1-上边角区3-载片区;14-过度区;5-引脚;8-下边角区);10-圆形定位孔;2、9-锁料孔;4-切割凹槽;7-塑料流道;6-流道孔;11-档料筋。
具体实施方式
如图1、2所示的IC器件用半导体的引线框架,由多个框架单元依次并排连接而成一个整体,每个框架单元自上而下具有依次连接的上边角区1、载片区3、过度区14、三根引脚5,另有包围连接在三根引5脚周围的下边角区8,上边角区1具有圆形定位孔10,上边角区1与载片区3之间、载片区3与过渡区14之间分别具有锁料孔9;过度区14有折弯形状,使得载片区3与三根引脚5位于相互平行的两个不同平面。
下边角区8在过度区14与三根引脚5之间的部分留有切割凹槽4,
相邻的两个框架单元之间具有塑料流道7,塑料流道7上具有流道孔6。
相邻的两个框架单元的上边角区1之间,具有高出上边角区1平面0.1-1mm的档料筋11。

Claims (5)

1.一种IC器件用半导体的引线框架,由多个框架单元依次并排连接而成一个整体,每个框架单元自上而下具有依次连接的上边角区、载片区、过度区、三根引脚,另有包围连接在三根引脚周围的下边角区,其特征在于:上边角区具有圆形定位孔,上边角区与载片区之间、载片区与过渡区之间分别具有锁料孔;过度区有折弯形状,使得载片区与三根引脚位于相互平行的两个不同平面。
2.如权利要求1所述的IC器件用半导体的引线框架,其特征在于:下边角区在过度区与三根引脚之间的部分留有切割凹槽。
3.如权利要求1所述的IC器件用半导体的引线框架,其特征在于:相邻的两个框架单元之间具有塑料流道,塑料流道上具有流道孔。
4.如权利要求1或3所述的IC器件用半导体的引线框架,其特征在于:相邻的两个框架单元的上边角区之间,具有高出上边角区平面的档料筋。
5.如权利要求1、2或3所述的IC器件用半导体的引线框架,其特征在于:框架单元为铜材制成,载片区不镀银层,过渡区表面镀有银层。
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CN109904081A (zh) * 2019-01-18 2019-06-18 深圳赛意法微电子有限公司 基于idf引线框架的半导体产品的封装方法

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