CN204991708U - 阵列基板及显示面板 - Google Patents
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Abstract
本实用新型提供一种阵列基板及显示面板，所述阵列基板，具有显示区域和围绕所述显示区域的外围区域，所述外围区域仅同一侧的一端或同一侧的两端设置有多个测试端子，所述测试端子连接所述阵列基板内的走线及电极以对所述阵列基板的线路进行测试。本实用新型提供的阵列基板及显示面板，其节省阵列基板上测试端子的使用空间。
Description
技术领域
本实用新型涉及显示技术领域，尤其涉及一种阵列基板及显示面板。
背景技术
近年来，OLED(OrganicLight-EmittingDiode，有机发光二极管)技术发展迅速，已经成为最有可能替代LCD(LiquidCrystalDisplay，液晶显示器)的前景技术。
在OLED基板制程中，基板上的走线及像素阵列制程结束后，需要通过检测装置对OLED基板的像素缺陷进行检测。现有检测方法分为接触式检测与非接触式检测，接触式检测往往以全接触的方式来设计测试端子。在接触式检测的方式中，为了能让所有线路都能检测到，往往会布置过多的测试端子，并占用很多空间。对于小尺寸显示面板，测试端子占用太多的空间，因而会导致其它线路无法摆放。
参照图1，其示出了根据背景技术的、阵列基板的示意图。阵列基板100具有显示区域120和围绕显示区域120的外围区域110。在外围区域110设置多个测试端子130用以检测所有栅极线和数据线。测试端子130的数量会非常多，有的达到上千个，此时测试端子130占用了外围区域110一侧的几乎全部空间，在这样的情况下，一些其他的走线或对位标记等，无法在外围区域110中设置。而为了空间上的节省，有些OLED基板制程中，通常不在OLED基板上设置测试端子。这样做的话，会失去监控小尺寸面板良率，并且使小尺寸面板在制程上无法做进一步改善。
实用新型内容
本实用新型为了克服上述现有技术存在的缺陷，提供一种阵列基板及显示面板，其节省阵列基板上测试端子的使用空间。
本实用新型提供一种阵列基板，具有显示区域和围绕所述显示区域的外围区域，所述外围区域仅同一侧的一端或同一侧的两端设置有多个测试端子，所述测试端子连接所述阵列基板内的走线及电极以对所述阵列基板的线路进行测试。
优选地，所述阵列基板包括：数据线；栅极线；公共功率线；以及由所述数据线、栅极线及公共功率线所围成的区域限定的像素单元，所述像素电极包括栅极、源极及漏极，其中，所述测试端子至少连接至所述数据线及所述栅极线以对所述栅极线进行测试。
优选地，所述测试端子包括：连接至所述栅极线的测试驱动时钟公共信号的测试端子；连接至所述栅极线的测试驱动电压信号的测试端子；以及通过所述数据线连接到所述像素单元的源极的测试RGB数据信号的测试端子。
优选地，所述测试端子仅设置在外围区域同一侧的一端时，所述测试端子的数量为6至100个。
优选地，所述测试端子设置在外围区域同一侧的两端时，所述测试端子的数量共为3至50个。
根据本实用新型的又一方面，还提供一种显示面板，包括：阵列基板；以及与所述阵列基板相对的盖板，其中，所述阵列基板具有显示区域和围绕所述显示区域的外围区域，所述外围区域仅同一侧的一端或同一侧的两端设置有多个测试端子，所述测试端子连接所述阵列基板内的走线及电极以对所述阵列基板的栅极线进行测试。
优选地，所述显示面板为圆形或多边形。
优选地，所述显示面板为有机发光显示面板。
与现有技术相比，本实用新型可减少阵列基板上测试端子的数量，并通过测试端子与驱动电路跨阵列基板显示区域的电连接，在保证能够检测阵列基板的栅极线缺陷的基础上，节省测试端子的布置空间。
附图说明
通过参照附图详细描述及其示例实施方式，本实用新型的上述和其它特征及优点将变得更加明显。
图1示出了根据背景技术的、阵列基板的示意图。
图2示出了根据本实用新型第一实施例的、阵列基板的示意图。
图3示出了根据本实用新型第一实施例的、像素阵列的示意图。
图4示出了根据本实用新型第二实施例的、阵列基板的示意图。
图5示出了根据本实用新型第三实施例的、阵列基板的示意图。
其中，附图标记说明如下：
100、200、300、400阵列基板
110、210、310、410外围区域
120、220、320、420显示区域
130、230、330、431、432测试端子
340、441、442驱动线路
221像素单元
具体实施方式
现在将参考附图更全面地描述示例实施方式。然而，示例实施方式能够以多种形式实施，且不应被理解为限于在此阐述的实施方式；相反，提供这些实施方式使得本实用新型将全面和完整，并将示例实施方式的构思全面地传达给本领域的技术人员。在图中相同的附图标记表示相同或类似的结构，因而将省略对它们的重复描述。
所描述的特征、结构或特性可以以任何合适的方式结合在一个或更多实施方式中。在下面的描述中，提供许多具体细节从而给出对本实用新型的实施方式的充分理解。然而，本领域技术人员应意识到，没有特定细节中的一个或更多，或者采用其它的方法、组元、材料等，也可以实践本实用新型的技术方案。在某些情况下，不详细示出或描述公知结构、材料或者操作以避免模糊本实用新型。
本实用新型的附图仅用于示意相对位置关系，某些部位的尺寸采用了夸示的绘图方式以便于理解，附图中的尺寸并不代表实际尺寸的比例关系。
第一实施例
为了节省测试端子的占用空间，本实用新型提供一种阵列基板，如图2所示。阵列基板200，具有显示区域220和围绕显示区域220的外围区域210。外围区域210仅同一侧的一端或同一侧的两端设置有多个测试端子230，也即不是整个侧边都设置测试端子。测试端子230连接阵列基板200内的走线及电极以对阵列基板200的栅极线(图中未示出)进行测试。
在图2所示的实施例中，测试端子230设置在外围区域210的同一侧的两端。在一些变化例中，测试端子230可以仅设置在外围区域210的同一侧的一端。测试端子230的位置与驱动线路的位置相关，测试端子230的位置与驱动线路的位置关系将在下文结合图4至图5的实施例进行描述。
具体而言，仅位于外围区域210同一侧的一端的测试端子230的数量为6至100个。在一些变化例中，位于外围区域210同一侧的两端的测试端子230的数量共为6到100个，其平均分配在两端。本实施例中测试端子230分配在阵列基板200下侧的两端，每一端的测试端子数为5个。
显示区域220内的像素阵列如图3所示，像素阵列包括多根同方向延伸的栅极线G1至Gn、多根同方向延伸的数据线S1至Sm、多根同方向延伸的公共功率线D1至Dm以及多个像素单元221。在一实施例中，数据线的数量与公共功率线的数量相同。多根数据线S1至Sm与多根栅极线G1至Gn相互交叉并绝缘。多根公共功率线D1至Dm与多根栅极线G1至Gn相互交叉并绝缘。由数据线、栅极线及公共功率线所围成的区域限定像素单元221。各像素单元221包括薄膜晶体管、以及发光二极管。
发光二极管在一个实施例中，是有机发光二极管，其包括像素电极、形成在像素电极上的有机发射层和形成在有机发射层上的共电极。其中，像素电极作为空穴注入电极的阳极，共电极作为电子注入电极的阴极。在一个变化例中，根据有机发光显示器的驱动方法，像素电极可以是阴极，共电极可以是阳极。空穴和电子分别从像素电极和共电极注入到有机发射层，并形成激子。当激子从激发态变到基态时，进而发光。
具体而言，测试端子包括测试驱动时钟公共信号的测试端子、测试驱动电压信号的测试端子以及测试RGB数据信号的测试端子。在一个实施例中，测试驱动时钟公共信号的测试端子及测试驱动电压信号的测试端子连接至栅极线。测试RGB数据信号的测试端子通过数据线连接到像素单元的薄膜晶体管的源极。在本实施例中，所有的栅极线连接驱动时钟公共信号来实现信号的多级传递。因此，测试驱动时钟公共信号的测试端子及测试驱动电压信号的测试端子连接到驱动时钟公共信号，就可以测试栅极线缺陷。例如，驱动时钟公共信号的线路共3至5条，则测试驱动时钟公共信号的测试端子及测试驱动电压信号的测试端子的数量总共也为3至5个。而测试RGB数据信号的测试端子可以仅连接部分数据线。优选地，位于外围区域210一端的测试RGB数据信号的测试端子的数量为三个；测试驱动时钟公共信号的测试端子的数量为一个、测试驱动电压信号的测试端子的数量为一个。位于外围区域210同侧的另一端的测试RGB数据信号的测试端子的数量也为三个；测试驱动时钟公共信号的测试端子的数量也为一个、测试驱动电压信号的测试端子的数量也为一个。
第二实施例
参考图4，其示出了根据本实用新型第二实施例的、阵列基板的示意图。
阵列基板300与阵列基板200类似，具有显示区域320和围绕显示区域320的外围区域310。外围区域340的右侧设置有显示区域320内像素阵列的驱动线路340。驱动线路340与显示区域320内像素阵列的栅极线连接。外围区域310的下侧左端设置有6个测试端子330。位于外围区域310下侧左端的测试端子330包括三个测试RGB数据信号的测试端子、两个测试驱动时钟公共信号的测试端子以及一个测试驱动电压信号的测试端子。
测试驱动时钟公共信号的测试端子以及测试驱动电压信号的测试端子分别连接至栅极线，并通过栅极线与驱动线路340形成跨显示区域320的水平方向的电连接。以此，可以检测阵列基板的栅极线缺陷。
第三实施例
参考图5，其示出了根据本实用新型第三实施例的、阵列基板的示意图。
阵列基板400与阵列基板200类似，具有显示区域420和围绕显示区域420的外围区域410。外围区域440的左右两侧均设置有显示区域420内像素阵列的驱动线路441及442。驱动线路441、442与显示区域420内像素阵列的栅极线连接。外围区域410的下侧左端及右端均设置有5个测试端子431及432。位于外围区域410下侧两端的测试端子431、432各包括三个测试RGB数据信号的测试端子、一个测试驱动时钟公共信号的测试端子以及一个测试驱动电压信号的测试端子。
位于外围区域410下侧左端的测试驱动时钟公共信号的测试端子以及测试驱动电压信号的测试端子分别连接至栅极线，并通过栅极线与外围区域右侧的驱动线路441形成跨显示区域420的水平方向的电连接。位于外围区域410下侧右端的测试驱动时钟公共信号的测试端子以及测试驱动电压信号的测试端子分别连接至栅极线，并通过栅极线与外围区域左侧的驱动线路442形成跨显示区域420的水平方向的电连接。
以此，可以进一步检测阵列基板的栅极线缺陷。
上述各实施例中的阵列基板均可用于显示面板。该显示面板可以为圆形或多边形形状。该显示面板可用作各类电子装置的显示屏。
与现有技术相比，本实用新型可减少阵列基板上测试端子的数量，并通过测试端子与驱动电路跨阵列基板显示区域的电连接，在保证能够检测阵列基板的栅极线缺陷的基础上，节省测试端子的布置空间。
以上具体地示出和描述了本实用新型的示例性实施方式。应该理解，本实用新型不限于所公开的实施方式，相反，本实用新型意图涵盖包含在所附权利要求范围内的各种修改和等效置换。
Claims (8)
1.一种阵列基板，具有显示区域和围绕所述显示区域的外围区域，其特征在于，所述外围区域仅同一侧的一端或同一侧的两端设置有多个测试端子，所述测试端子连接所述阵列基板内的走线及电极以对所述阵列基板的线路进行测试。
2.如权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述阵列基板包括：
数据线；
栅极线；
公共功率线；以及
由所述数据线、栅极线及公共功率线所围成的区域限定的像素单元，所述像素电极包括栅极、源极及漏极，
其中，所述测试端子至少连接至所述数据线及所述栅极线以对所述栅极线进行测试。
3.如权利要求2所述的阵列基板，其特征在于，所述测试端子包括：
连接至所述栅极线的测试驱动时钟公共信号的测试端子；
连接至所述栅极线的测试驱动电压信号的测试端子；以及
通过所述数据线连接到所述像素单元的源极的测试RGB数据信号的测试端子。
4.如权利要求1至3任一项所述的阵列基板，其特征在于，所述测试端子仅设置在外围区域同一侧的一端时，所述测试端子的数量为6至100个。
5.如权利要求1至3任一项所述的阵列基板，其特征在于，所述测试端子设置在外围区域同一侧的两端时，每一端的所述测试端子的数量为3至50个。
6.一种显示面板，其特征在于，包括：
一阵列基板；以及
与所述阵列基板相对的一盖板，其中，
所述阵列基板具有显示区域和围绕所述显示区域的外围区域，其特征在于，所述外围区域仅同一侧的一端或同一侧的两端设置有多个测试端子，所述测试端子连接所述阵列基板内的走线及电极以对所述阵列基板的栅极线进行测试。
7.如权利要求6所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板为圆形或多边形。
8.如权利要求6所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板为有机发光显示面板。
Priority Applications (1)
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| CN110246443A (zh) * | 2019-06-18 | 2019-09-17 | 京东方科技集团股份有限公司 | 阵列基板及其测试方法 |
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Legal Events
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| GR01 | Patent grant | ||
| CP01 | Change in the name or title of a patent holder |
Address after: 201500, building two, building 100, 1, Jinshan Industrial Road, 208, Shanghai, Jinshan District Patentee after: Shanghai Hehui optoelectronic Co., Ltd Address before: 201500, building two, building 100, 1, Jinshan Industrial Road, 208, Shanghai, Jinshan District Patentee before: EverDisplay Optronics (Shanghai) Ltd. |
|
| CP01 | Change in the name or title of a patent holder | ||
| CP02 | Change in the address of a patent holder |
Address after: 201506, No. nine, No. 1568, Jinshan Industrial Zone, Shanghai, Jinshan District Patentee after: Shanghai Hehui optoelectronic Co., Ltd Address before: 201500, building two, building 100, 1, Jinshan Industrial Road, 208, Shanghai, Jinshan District Patentee before: Shanghai Hehui optoelectronic Co., Ltd |
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| CP02 | Change in the address of a patent holder |