CN203241443U

CN203241443U - 裸芯片测试工装夹具

Info

Publication number: CN203241443U
Application number: CN 201320254404
Authority: CN
Inventors: 金英杰
Original assignee: Individual
Current assignee: Individual
Priority date: 2013-05-09
Filing date: 2013-05-09
Publication date: 2013-10-16
Anticipated expiration: 2023-05-09

Abstract

本实用新型公布了一种裸芯片测试工装夹具，包括：上模部分和下模部分，下模部分包括测试板、小浮板和大浮板。测试板设置有若干测试盘，小浮板上设置有与测试盘对应的测试针孔，测试盘和测试针孔之间连接有测试探针，测试探针的一端和裸芯片的触点接触，另一端和测试盘接触。裸芯片设置在小浮板上，小浮板上端面设置有定位裸芯片的定位装置，大浮板的一端内置有一连接有弹簧的可水平移动的滑块，滑块抵顶于所述裸芯片的一端，裸芯片的另一端抵顶于定位装置。本夹具在检测过程中能实现裸芯片定位精准、快速判断裸芯片检测结果是否合格。

Description

裸芯片测试工装夹具

技术领域

本实用新型涉及芯片测试夹具，尤其涉及裸芯片测试工装夹具。

背景技术

随着科学技术的发展，电子芯片已经广泛应用于各种电子产品中。在完成芯片大批量生产后，需要对芯片的合格性进行检测，以此来挑选出不合格的芯片，而保留合格的芯片。然而，由于芯片属于高精密产品，在对其进行检测的时候，需要将检测模具的探针准确对准芯片上的引脚，因此，对裸露的芯片放置在测试工装夹具时，需要对裸芯片进行准确定位，才能对裸芯片进行准确检测。然而现有技术中，裸芯片在测试时，定位的精度不高，不能准确检测芯片。

实用新型内容

本实用新型提供了一种裸芯片测试工装夹具，目的在于解决现有技术中裸芯片在测试过程中在测试工装夹具中定位不精准的问题。

本实用新型是这样实现的：

裸芯片测试工装夹具，包括：活动连接的上模部分和下模部分，所述下模部分包括测试板、小浮板和大浮板，所述测试板设置有若干测试盘，所述小浮板上设置有与所述测试盘一一对应的若干测试针孔，所述测试盘和测试针孔之间连接有若干测试探针，所述小浮板紧贴在所述大浮板下端，所述大浮板中间开设有通腔，所述裸芯片设置在位于所述通腔下端的小浮板上，所述小浮板上端面还设置有定位所述裸芯片的定位装置，所述大浮板的一边内置有一连接有弹簧的可水平移动的滑块，所述滑块抵顶于所述裸芯片的一端，所述裸芯片的另一端抵顶于所述定位装置。

进一步的：所述定位装置为设置在所述通腔下端的所述小浮板上的成“L”型的定位块，所述定位块位于所述若干测试针孔外侧；所述大浮板还设置有容纳所述弹簧和所述滑块的凹槽；所述弹簧设置在所述滑块的后端。

进一步的：所述上模部分还包括依次设置在所述大浮板上端的压块、上盖和旋钮，所述上盖和旋钮之间连接有旋转旋钮的螺纹管，所述压块下端中部设置有压紧所述裸芯片的凸块；所述上盖外侧还活动连接有钩扣。

进一步的：所述下模部分还包括：依次设置在所述测试板上端的下针模、针模铝架、下框和上针模；所述下针模上设置有供若干所述测试探针一一穿过的若干第一探针定位孔；所述若干第一探针定位孔在所述下针模上布置的坐标和其在所述测试盘布置的坐标相同；所述下框的一边设置有和所述钩扣相匹配的卡口；所述上针模中间设置有凸台，所述凸台设置有若干沟槽，所述若干沟槽内设置有供所述若干测试探针一一穿过的第二探针定位孔。

进一步的：所述下框一端设置有和下框垂直的两支撑块，所述两支撑块设置有和所述上盖活动连接的铰链轴。

进一步的：所述旋钮外侧设置有滚花。

本实用新型的有益效果：由于裸芯片在小浮板上能够在定位装置、滑块和弹簧的作用下实现精确定位，因此，裸芯片上的若干触点能够和小浮板上的若干测试针孔准确-对位。针孔内的若干测试探针一端-就可同裸芯片上的触点准确接触。另一端和若干测试盘之间均能准确接触；这样，裸芯片引脚触点的电信号通过探针与测试板上的测试盘实现良好连接；有利于准确判断待检测裸芯片是否合格。

附图说明

图1为本实用新型提供的裸芯片测试工装夹具的分解图；

图2为本实用新型提供的裸芯片测试工装夹具的总装图；

图3为本实用新型提供的裸芯片测试工装夹具打开后的状态图；

图4为本实用新型提供的裸芯片测试工装夹具的滑块的放大图；

图5为本实用新型提供的裸芯片测试工装夹具的小浮板的放大图；

图6为本实用新型提供的裸芯片测试工装夹具的大浮板的放大图；

图7为本实用新型提供的裸芯片测试工装夹具的上针模的放大图。

具体实施方式

为了使本实用新型所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

参考图1，本实用新型所说的裸芯片测试工装夹具，包括上模部分和下模部分，上模部分和下模部分活动连接，使上模部分和下模部分在打开或者关闭状态下都不会实质性分离，这有利于上模部分和下模部分的准确定位。下模部分包括测试板1、小浮板13和大浮板8。在测试板1上设置有若干测试盘101，这些测试盘101的数目和待检测的裸芯片7上的引脚的数目相同。在小浮板13上设置有和待检测的裸芯片7上的引脚的数目以及布置坐标相同的若干测试针孔131。而连接测试盘101和待测IC引脚的测试探针15，被设置在上针模12与下针模3的探针定位孔31中；测试探针15，穿过测试针孔131与待测IC的引脚连接。小浮板13放置在大浮板8的下端面。在大浮板8的中间，开设有通腔81，通腔81下面的小浮板13上设置有定位装置，该定位装置用于定位裸芯片7，大浮板8的一边的内部设置有一连接有弹簧17、可以水平移动的滑块9。滑块9在弹簧17的作用下，抵顶在裸芯片7的一端，而裸芯片7的另一端在弹簧17的作用下则抵顶在定位装置上。由于待检测的裸芯片7在小浮板13上能够在定位装置、滑块9和弹簧17的作用下实现精确定位；因此，裸芯片7上的若干引脚和小浮板13上的若干穿过测试针孔131的测试探针15准确对位。若干测试探针15的一端和裸芯片7的触点准确接触，另一端和若干测试盘101准确接触，因此裸芯片7的引脚触点的电信号通过测试探针15与测试板上的测试盘101实现良好连接，准确检测裸芯片7合格还是不合格。

参考图4、图5和图6。先看图5，作为本实用新型的进一步优化，所说的定位装置为定位块132，呈L型，而待测试的裸芯片7为矩形。定位块132设置在小浮板13上若干测试针孔131组成的测试针孔图形的外侧。参考图6，通腔81在大浮板8的中间，大浮板8的一角设置有容纳弹簧17和滑块9的凹槽82。再参考图4，滑块9的前端设置有两直边91，后端设置有台阶92，弹簧17则抵靠在滑块9后端的台阶92上。定位裸芯片7的时候，让滑块9的前端设置有两直边91贴靠在裸芯片7的两直边上，裸芯片7在弹簧17的推动下向前运动，直到裸芯片7的另外两直边贴靠在定位块132的两内侧面1321上。至此，裸芯片7准确的定位在小浮板13上。

进一步的，参考图1，大浮板8上面还依次设置有压块5、上盖11和旋钮14。旋钮14的下端固定连接有螺纹管6。螺纹管6和上盖11中部的内螺纹相配合。为了使操作者方便旋转旋钮14，旋钮14的外侧设置有滚花141。上盖11外侧的一边活动连接有钩扣10。具体到本实施例，钩扣10通过销钉(未图示)连在上盖11的外侧的一边。

参考图3，为了将裸芯片7压紧，压块5下端的中间设置有凸块51，当上盖11和下框2合上后，凸块51就容纳在通腔81内，压紧裸芯片7。

参考图1、图3和图7。参考图1，下模部分还包括依次在测试板1上的下针模3、针模铝架4、下框2和上针模12。下针模3设置有供若干测试探针15一一穿过的若干第一探针定位孔31。若干第一探针定位孔31在下针模3上布置的坐标和测试盘101布置的坐标相同。针模铝架4则在裸芯片7测试过程中起散热作用。参考图7，上针模12中间设置有凸台121，凸台121上设置有若干沟槽122。在本实施例中，沟槽122为3条，但是根据实际需要其数量可以合理变化。这些沟槽122内设置有供若干测试探针15一一穿过的若干第二探针定位孔123。参考图3，下框2的一边还设置有和钩扣10相卡合的卡口22。因此，当上盖11和下框2合上后，钩扣10就钩住卡口22。

参考图3，下框2的和设置有卡口22相对的一边设置有两垂直的支撑块23。支撑块23上设置有铰链轴(未图示)。这样上盖11就可以灵活的打开或者合上了。

以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包在本实用新型范围内。

Claims

1.裸芯片测试工装夹具，包括：活动连接的上模部分和下模部分，所述下模部分包括测试板、小浮板和大浮板，所述测试板设置有若干测试盘，所述小浮板上设置有与所述测试盘一一对应的若干测试针孔，所述测试盘和测试针孔之间连接有若干测试探针；所述若干测试探针的一端和所述裸芯片的触点接触，另一端和测试盘接触；所述小浮板紧贴在所述大浮板下端，所述大浮板中间开设有通腔，所述裸芯片设置在位于所述通腔下端的小浮板上，其特征在于：所述小浮板上端面还设置有定位所述裸芯片的定位装置，所述大浮板的一边内置有一连接有弹簧的可水平移动的滑块，所述滑块抵顶于所述裸芯片的一端，所述裸芯片的另一端抵顶于所述定位装置。

2.如权利要求1所述的裸芯片测试工装夹具，其特征在于：所述定位装置为设置在所述通腔下端的所述小浮板上的成“L”型的定位块，所述定位块位于所述若干测试针孔外侧；所述大浮板还设置有容纳所述弹簧和所述滑块的凹槽；所述弹簧设置在所述滑块的后端。

3.如权利要求1所述的裸芯片测试工装夹具，其特征在于：所述上模部分还包括依次设置在所述大浮板上端的压块、上盖和旋钮，所述上盖和旋钮之间连接有旋转旋钮的螺纹管，所述压块下端中部设置有压紧所述裸芯片的凸块；所述上盖外侧还活动连接有钩扣。

4.如权利要求3所述的裸芯片测试工装夹具，其特征在于：所述下模部分还包括：依次设置在所述测试板上端的下针模、针模铝架、下框和上针模；所述下针模上设置有供若干所述测试探针一一穿过的若干第一探针定位孔；所述若干第一探针定位孔在所述下针模上布置的坐标和其在所述测试盘布置的坐标相同；所述下框的一边设置有和所述钩扣相匹配的卡口；所述上针模中间设置有凸台，所述凸台设置有若干沟槽，所述若干沟槽内设置有供所述若干测试探针一一穿过的若干第二探针定位孔。

5.如权利要求4所述的裸芯片测试工装夹具，其特征在于：所述下框一端设置有和下框垂直的两支撑块，所述两支撑块上设置有和所述上盖活动连接的铰链轴。

6.如权利要求3所述的裸芯片测试工装夹具，其特征在于：所述旋钮外侧设置有滚花。