CN205484692U - 以导电胶模拟人手指测试指纹芯片的插座 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及以导电胶模拟人手指测试指纹芯片的插座，包括测试座，测试座的上端一侧上活动链接有匹配于测试座的测试盖，测试座的中央处开设有一指纹芯片定位腔，指纹芯片装嵌于指纹芯片定位腔内，并在测试座的底端上设置有与指纹芯片配合的PCB板，指纹芯片上还设置有导电胶测试区，测试盖上设置有压头当测压头接触指纹芯片并将指纹芯片下压与PCB板连通布置，测试盖上还设置有铜块，铜块的中心处设置有配合于导电胶测试区的导电胶，铜块上设置有下压装置，在测试盖与测试座闭合后，下压装置下压，使铜块的两端和导电胶分别与弹簧测试探针和导电胶测试区相连通布置。本实用新型具有实用性与兼容性、结构精巧、且能节约成本。

Description

以导电胶模拟人手指测试指纹芯片的插座

技术领域

本实用新型涉及一种插座，尤其涉及一种以导电胶模拟人手指测试指纹芯片的插座。

背景技术

目前国内尚无能够很好解决测试问题的插座，市场上这部分的设计份额占有率仍很少，部分测试设计公司与指纹芯片公司提出以导电胶的方式来进行触摸测试芯片，连接方式有多种，如铜线连接PCB板、铜块包裹导电胶、整体按压指纹芯片等方式，虽然能够完成相应测试，但是测试不够方便，无法兼容指纹芯片的程序与触摸测试，影响导电胶的使用寿命及测试良率。

随着指纹芯片的批量生产，测试问题随即而至，这部分的测试技术基本处于空白状态，国内虽有部分用来测试指纹芯片的插座，但是使用起来不是很理想，或者说不适宜批量机器测试。

在大部分现有技术里，普遍存在测试良率低、成本高、前期操作麻烦的缺点，使用导电胶测试插座中多以铜线的方式将测试信号引回PCB板，测试盖多以整体铜块固定导电胶的方式，影响导电胶的使用寿命及测试良率，不能实现指纹芯片程序测试与触摸测试独立化。

有鉴于上述的缺陷，本设计人，积极加以研究创新，以期创设一种新型结构的以导电胶模拟人手指测试指纹芯片的插座，使其更具有产业上的利用价值。

实用新型内容

为解决上述技术问题，本实用新型的目的是提供一种以导电胶模拟人手指测试指纹芯片的插座。

为实现上述目的，本实用新型采用如下技术方案：

以导电胶模拟人手指测试指纹芯片的插座，包括测试座，所述测试座的上端一侧上活动链接有匹配于测试座的测试盖，所述测试座的中央处开设有一指纹芯片定位腔，指纹芯片装嵌于指纹芯片定位腔内，并在测试座的底端上设置有与指纹芯片配合的PCB板，所述指纹芯片上还设置有导电胶测试区，所述指纹芯片定位腔的左右两侧分别还开设有与导电胶测试区在同一轴线的左槽口和右槽口，在左槽口和右槽口处的所述PCB板上设置有弹簧测试探针，正对指纹芯片的所述测试盖上设置有压头，当测试盖与测试座闭合，压头接触指纹芯片并将指纹芯片下压与PCB板连通布置，正对左槽口和右槽口的所述测试盖上还设置有铜块，所述铜块的中心处设置有配合于导电胶测试区的导电胶，与测试座相背的所述铜块上设置有下压装置，在测试盖与测试座闭合后，下压装置下压，使铜块的两端和导电胶分别与弹簧测试探针和导电胶测试区相连通布置。

进一步的，所述的以导电胶模拟人手指测试指纹芯片的插座，其中，所述测试盖上还设置有配合于测试座的卡扣。

进一步的，所述的以导电胶模拟人手指测试指纹芯片的插座，其中，所述下压装置由旋拧把手及丝杆构成，所述丝杆穿过测试盖，其一端与铜块固定，另一端与旋拧把手相连。

进一步的，所述的以导电胶模拟人手指测试指纹芯片的插座，其中，所述铜块在下压装置下压后，所述铜块凸出于压头布置。

进一步的，所述的以导电胶模拟人手指测试指纹芯片的插座，其中，所述测试盖上设置有两块设有间距的压头，分别配合于指纹芯片的上端和下端。

借由上述方案，本实用新型至少具有以下优点：

1)具有实用性与兼容性，此插座能够很好的满足指纹芯片的测试要求，并且兼容导电胶触压测试与指纹芯片的程序性测试；

2)结构精巧，测试座采用了弹簧测试探针的方案，无需再从外部使用铜线的方式将信号引回PCB板，压块以销钉定位的方式直接按压指纹芯片来完成程序阶段的测试，中间承载导电胶的铜块旋拧的方式进行配合，从而在结束触压测试时实现自动复位；

3)节约成本，结构中压块材料采用工程塑料，仅选用小铜块，取缔了导电胶嵌入大块铜块并直接用导电胶按压芯片的方式，有效的节约成本。

上述说明仅是本实用新型技术方案的概述，为了能够更清楚了解本实用新型的技术手段，并可依照说明书的内容予以实施，以下以本实用新型的较佳实施例并配合附图详细说明如后。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本实用新型的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

图1是本实用新型的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例，对本实用新型的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本实用新型，但不用来限制本实用新型的范围。

为了使本技术领域的人员更好地理解本实用新型方案，下面将结合本实用新型实施例中附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本实用新型实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本实用新型的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本实用新型的范围，而是仅仅表示本实用新型的选定实施例。基于本实用新型的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

实施例

如图1所示，以导电胶模拟人手指测试指纹芯片的插座，包括测试座1，所述测试座1的上端一侧上活动链接有匹配于测试座1的测试盖2，所述测试座1的中央处开设有一指纹芯片定位腔11，指纹芯片3装嵌于指纹芯片定位腔11内，并在测试座1的底端上设置有与指纹芯片3配合的PCB板，所述指纹芯片3上还设置有导电胶测试区5，所述指纹芯片定位腔11的左右两侧分别还开设有与导电胶测试区5在同一轴线的左槽口12和右槽口13，在左槽口12和右槽口13处的所述PCB板上设置有弹簧测试探针4，正对指纹芯片3的所述测试盖2上设置有压头6，当测试盖2与测试座1闭合，压头6接触指纹芯片3并将指纹芯片3下压与PCB板连通布置，正对左槽口12和右槽口13的所述测试盖2上还设置有铜块7，所述铜块7的中心处设置有配合于导电胶测试区5的导电胶8，与测试座1相背的所述铜块7上设置有下压装置9，在测试盖2与测试座1闭合后，下压装置9下压，使铜块7的两端和导电胶8分别与弹簧测试探针4和导电胶测试区5相连通布置。通过压头6与指纹芯片3的第一配合，使指纹芯片处于程序测试状态，接着通过下压装置9下压，使铜块7和导电胶8分别与导电胶测试区5和弹簧测试探针4相连铜，使导电胶8来碰触导电胶测试区5，实现模拟功能。

所述测试盖2上还设置有配合于测试座1的卡扣10，通过卡扣10能将测试盖2固定于测试座1上，在进行测试时不会出现因测试盖2与测试座1接触不良导致测试信号不准的情况，保证测试的完整性。

所述下压装置9由旋拧把手91及丝杆构成，所述丝杆穿过测试盖2，其一端与铜块7固定，另一端与旋拧把手91相连，通过下压装置9能实现接触、分离再接触的效果，从而能模拟指纹的各种情况，保证测试的精准性。

所述铜块7在下压装置9下压后，所述铜块7的高度与压头6的高度持平布置，保证铜块7不会因下压装置9的过渡下压而对指纹芯片3造成损坏，保证指纹芯片3的完整性，同时也能保护指纹芯片3，从而提高指纹芯片3的使用率。

所述测试盖2上设置有两块设有间距的压头6，分别配合于指纹芯片3的上端和下端，通过两块压头6能保证在下压指纹芯片3时，不会出现指纹芯片3一端翘起的情况，保证指纹芯片3能与PCB板正常合理的接触，同时也能保证测试的精准性。

实施例1

如图1所示，本实用新型在不改变实施例的前提下，针对放置槽11进行改进，将左槽口12和右槽口13分布在放置槽11的两侧，使其呈十字型的形状，同时放置槽11和左槽口12、右槽口13形成十字型形状，与之对应的测试盖2上的铜块7和压头6也呈十字型布置，而铜块7在压头6的中间设置，同时铜块7通过丝杆与旋拧把手传动连接，能使铜块能自由的上升或下降，保证能使铜块7与指纹芯片3形成接触、分隔、再接触的要求，使其能满足该装置的精准性。

本实用新型的工作原理如下：

当需要测试时，通过卡扣10会将测试盖2锁死在测试座1上，此时指纹芯片3处于程序测试状态，即压头6压紧指纹芯片3，接着指纹芯片3通过压头6下压(即指纹芯片3底部触点与PCB板的弹簧测试探针4接触)，继而与PCB板连通；当需要对指纹芯片3的导电胶测试区5进行测试时，此时需旋紧旋拧把手通过丝杆传递至铜块7，从而使铜块7下移，导电胶8跟随铜块7一起下降，随着下移量的加大，其一导电胶8会触压到指纹芯片3的导电胶测试区5，完成测试；其二铜块7会压紧指纹芯片两侧的弹簧测试探针4，从而将导电胶8的测试信号连通至PCB板，完成信号传递。

当不需要进行导电胶8按压测试时，反向旋拧旋拧把手，导电胶8会与指纹芯片3分离，铜块7会与指纹芯片两侧的弹簧测试探针4分离，导电胶8触压测试信号中断，此时指纹芯片3仍处于程序测试状态，不受导电胶8触压测试的影响。

1)具有实用性与兼容性，此插座能够很好的满足指纹芯片的测试要求，并且兼容导电胶触压测试与指纹芯片的程序性测试；

2)结构精巧，测试座采用了弹簧测试探针的方案，无需再从外部使用铜线的方式将信号引回PCB板，压块以销钉定位的方式直接按压指纹芯片来完成程序阶段的测试，中间承载导电胶的铜块旋拧的方式进行配合，从而在结束触压测试时实现自动复位；

3)节约成本，结构中压块材料采用工程塑料，仅选用小铜块，取缔了导电胶嵌入大块铜块并直接用导电胶按压芯片的方式，有效的节约成本。

以上所述仅是本实用新型的优选实施方式，并不用于限制本实用新型，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型技术原理的前提下，还可以做出若干改进和变型，这些改进和变型也应视为本实用新型的保护范围。

Claims (5)

1.以导电胶模拟人手指测试指纹芯片的插座，其特征在于：包括测试座(1)，所述测试座(1)的上端一侧上活动链接有匹配于测试座(1)的测试盖(2)，所述测试座(1)的中央处开设有一指纹芯片定位腔(11)，指纹芯片(3)装嵌于指纹芯片定位腔(11)内，并在测试座(1)的底端上设置有与指纹芯片(3)配合的PCB板，所述指纹芯片(3)上还设置有导电胶测试区(5)，所述指纹芯片定位腔(11)的左右两侧分别还开设有与导电胶测试区(5)在同一轴线的左槽口(12)和右槽口(13)，在左槽口(12)和右槽口(13)处的所述PCB板上设置有弹簧测试探针(4)，正对指纹芯片(3)的所述测试盖(2)上设置有压头(6)，当测试盖(2)与测试座(1)闭合，压头(6)接触指纹芯片(3)并将指纹芯片(3)下压与PCB板连通布置，正对左槽口(12)和右槽口(13)的所述测试盖(2)上还设置有铜块(7)，所述铜块(7)的中心处设置有配合于导电胶测试区(5)的导电胶(8)，与测试座(1)相背的所述铜块(7)上设置有下压装置(9)，在测试盖(2)与测试座(1)闭合后，下压装置(9)下压，使铜块(7)的两端和导电胶(8)分别与弹簧测试探针(4)和导电胶测试区(5)相连通布置。

2.根据权利要求1所述的以导电胶模拟人手指测试指纹芯片的插座，其特征在于：所述测试盖(2)上还设置有配合于测试座(1)的卡扣(10)。

3.根据权利要求1所述的以导电胶模拟人手指测试指纹芯片的插座，其特征在于：所述下压装置(9)由旋拧把手(91)及丝杆构成，所述丝杆穿过测试盖(2)，其一端与铜块(7)固定，另一端与旋拧把手(91)相连。

4.根据权利要求1所述的以导电胶模拟人手指测试指纹芯片的插座，其特征在于：所述铜块(7)在下压装置(9)下压后，所述铜块(7)凸出于压头(6)布置。

5.根据权利要求1所述的以导电胶模拟人手指测试指纹芯片的插座，其特征在于：所述测试盖(2)上设置有两块设有间距的压头(6)，分别配合于指纹芯片(3)的上端和下端。