CN208888340U - 翻盖式芯片测试机 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种翻盖式芯片测试机，旨在提供一种使用方便、便于维护、降低维修成本、能提高芯片的定位精度及可灵活配置芯片测试的排布的翻盖式芯片测试机。本实用新型包括通道测试机，所述通道测试机上设置有若干个转接板凹槽，所述转接板凹槽上适配设置有测试转接板，所述测试转接板上设置有翻盖式测试模块，所述翻盖式测试模块包括底板及盖板，所述盖板铰接在所述底板上，所述底板上设置有与被测芯片相适配的芯片放置槽，所述盖板上设置有与所述芯片放置槽相配合的压头凸块。本实用新型应用于一种测试机的技术领域。

Description

翻盖式芯片测试机

技术领域

本实用新型涉及一种测试机,特别涉及一种翻盖式芯片测试机。

背景技术

作为重要的专用设备，集成电路测试设备不仅可判断被测芯片或器件的合格性，还可提供关于设计、制造过程的薄弱环节信息，有助于提高芯片制造水平。目前集成电路的测试设备主要包括测试机、分选机和探针台等，其中：测试机是检测芯片功能和性能的专用设备，其对芯片施加输入信号，采集被测试芯片的输出信号与预期值进行比较，判断芯片在不同工作条件下功能和性能的有效性。分选机和探针台是将芯片的引脚与测试机的功能模块连接起来并实现批量自动化测试的专用设备。 在设计验证和成品测试环节，测试机需要和分选机配合使用；在晶圆检测环节，测试机需要和探针台配合使用。

为了满足批量生产，测试机是多通道并行测试的，多个待测芯片会放置在同一承载芯片的载板上，此时一旦载板上某个通道出现问题，维护时就会影响其他通道的测试；载板上某一通道需要维修时就需要维修整个载板，故存在不便于维护及维修成本高的问题。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是克服现有技术的不足，提供了一种使用方便、便于维护、降低维修成本、能提高芯片的定位精度及可灵活配置芯片测试的排布的翻盖式芯片测试机。

本实用新型所采用的技术方案是：本实用新型包括通道测试机，所述通道测试机上设置有若干个转接板凹槽，所述转接板凹槽上适配设置有测试转接板，所述测试转接板上设置有翻盖式测试模块，所述翻盖式测试模块包括底板及盖板，所述盖板铰接在所述底板上，所述底板上设置有与被测芯片相适配的芯片放置槽，所述盖板上设置有与所述芯片放置槽相配合的压头凸块。

进一步，所述转接板凹槽为八个。

进一步，所述盖板上设置有若干个导向孔，所述导向孔与被测芯片相配合。

进一步，所述导向孔为八个。

进一步，所述底板上设置有卡槽，所述盖板上设置有与所述卡槽相适配的卡扣。

本实用新型的有益效果是：由于本实用新型包括通道测试机，所述通道测试机上设置有若干个转接板凹槽，所述转接板凹槽上适配设置有测试转接板，所述测试转接板上设置有翻盖式测试模块，所述翻盖式测试模块包括底板及盖板，所述盖板铰接在所述底板上，所述底板上设置有与被测芯片相适配的芯片放置槽，所述盖板上设置有与所述芯片放置槽相配合的压头凸块，本实用新型将芯片分开独立测试，每个所述芯片放置槽只能放置一个芯片，当所述翻盖式测试模块需要维护或维修时，只需取出需要维护的所述测试转接板及需要维护的所述翻盖式测试模块，若干个所述翻盖式测试模块之间互不影响，可根据实际需求来灵活配置若干个所述翻盖式测试模块的排布，使用时，将待测芯片放入所述芯片放置槽中，所述芯片放置槽的定位槽边与待测芯片相适配，使得芯片放置槽能够对待测芯片实现高精度的定位，所以，本实用新型具有使用方便、便于维护、降低维修成本、能提高芯片的定位精度及可灵活配置芯片测试的排布的优点。

附图说明

图1是本实用新型在翻盖式测试模块关闭状态下的立体结构示意图；

图2是本实用新型在翻盖式测试模块打开状态下的立体结构示意图；

图3是翻盖式测试模块打开状态下的立体结构示意图。

具体实施方式

如图1至图3所示，在本实施例中，本实用新型包括通道测试机1，所述通道测试机1上设置有若干个转接板凹槽，所述转接板凹槽上适配设置有测试转接板2，所述测试转接板2上设置有翻盖式测试模块3，所述翻盖式测试模块3包括底板4及盖板5，所述盖板5铰接在所述底板4上，所述底板4上设置有与被测芯片相适配的芯片放置槽6，所述盖板5上设置有与所述芯片放置槽6相配合的压头凸块7，相对于现有技术的测试机为多通道并行测试，多个待测芯片会放置在同一承载芯片的载板上，一旦测试机上的某个通道出现问题，维护时就会影响其他通道的测试，本实用新型将芯片分开独立测试，每个所述芯片放置槽6只能放置一个芯片，当所述翻盖式测试模块3需要维护或维修时，只需取出需要维护的所述测试转接板2及需要维护的所述翻盖式测试模块3，若干个所述翻盖式测试模块3之间互不影响，使得本实用新型在维修时仅需要维修故障的所述翻盖式测试模块3，从而降低维修成本，此外，还可以根据实际需求来灵活配置若干个所述翻盖式测试模块3的排布，使用时，将待测芯片放入所述芯片放置槽6中，所述芯片放置槽6的定位槽边与待测芯片相适配，使得芯片放置槽6能够对待测芯片实现高精度的定位，手动按压所述盖板5，使得所述压头凸块7固定住待测芯片，然后所述通道测试机1开始对待测芯片进行测试，使得本实用新型具有使用方便、便于维护、降低维修成本、能提高芯片的定位精度及可灵活配置芯片测试的排布的优点。

在本实施例中，所述转接板凹槽为八个，使得本实用新型能够同时测试八个芯片。

在本实施例中，所述盖板5上设置有若干个导向孔8，所述导向孔8与被测芯片相配合，所述盖板5按压到所述底板4时，所述导向孔8对待测芯片起到精确定位的作用，使得本实用新型具有能提高芯片的定位精度的优点。

在本实施例中，所述导向孔8为八个。

在本实施例中，所述底板4上设置有卡槽9，所述盖板5上设置有与所述卡槽9相适配的卡扣10，所述盖板5按压到所述底板4时，所述卡扣10能够与所述卡槽9相配合，使得本实用新型的使用更为方便。

本实用新型的使用流程如下：

使用时，将待测芯片放入所述芯片放置槽6中，手动按压所述盖板5，使得所述压头凸块7固定住待测芯片，所述卡扣10扣在所述卡槽9上，然后所述通道测试机1开始对待测芯片进行测试；

维护或维修时，只需取出需要维护的所述测试转接板2及需要维护的所述翻盖式测试模块3，若干个所述翻盖式测试模块3之间互不影响。

本实用新型应用于一种测试结构的技术领域。

虽然本实用新型的实施例是以实际方案来描述的，但是并不构成对本实用新型含义的限制，对于本领域的技术人员，根据本说明书对其实施方案的修改及与其他方案的组合都是显而易见的。

Claims (5)

1.一种翻盖式芯片测试机，其特征在于：其包括通道测试机（1），所述通道测试机（1）上设置有若干个转接板凹槽，所述转接板凹槽上适配设置有测试转接板（2），所述测试转接板（2）上设置有翻盖式测试模块（3），所述翻盖式测试模块（3）包括底板（4）及盖板（5），所述盖板（5）铰接在所述底板（4）上，所述底板（4）上设置有与被测芯片相适配的芯片放置槽（6），所述盖板（5）上设置有与所述芯片放置槽（6）相配合的压头凸块（7）。

2.根据权利要求1所述的翻盖式芯片测试机，其特征在于：所述转接板凹槽为八个。

3.根据权利要求1所述的翻盖式芯片测试机，其特征在于：所述盖板（5）上设置有若干个导向孔（8），所述导向孔（8）与被测芯片相配合。

4.根据权利要求3所述的翻盖式芯片测试机，其特征在于：所述导向孔（8）为八个。

5.根据权利要求1所述的翻盖式芯片测试机，其特征在于：所述底板（4）上设置有卡槽（9），所述盖板（5）上设置有与所述卡槽（9）相适配的卡扣（10）。