CN203037348U - 玻璃基板表面积光量的检测装置 - Google Patents

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Abstract

本实用新型涉及一种玻璃基板表面积光量的检测装置,其特点是:包括传送机构(6),在该传送机构(6)上设有一铝板(5),在该铝板(5)中间开有一通孔,在该通孔内安装有紫外线传感器(4)。采用本实用新型的检测装置后,检测到的数据很准确,能确切的判断出基板实际接收到的有效照射量,从而可以通过有效地进行监控、调整来提高玻璃基板良品率。

Description

玻璃基板表面积光量的检测装置
技术领域
本实用新型涉及一种玻璃基板表面积光量的检测装置。
背景技术
在显示设备制造过程中,玻璃基板在进行制程工艺之前都必须经过紫外线清洗机进行清洗,紫外线清洗机通过紫外线灯管的网状电极施加高压交流电,在内部合成石英玻璃(电离层)之间形成等离子状态,形成电离后放电气体氙原子被激发时瞬间转换为激态准分子状态,激态准分子状态转换为原来状态时发出172纳米的真空紫外线;制程气体(主要成分:氮气和氧气)中的氧气吸收受激紫外线灯发射的172纳米的紫外线生成氧自由基和臭氧,172纳米的紫外线同时破坏玻璃基板上有机(碳氢化合物)的分子结构,氧自由基与分解后的有机物结合,生成水、二氧化碳、一氧化碳等挥发性气体,从而达到去除有机物清洗基板的目的。紫外线清洗机对于基板表面上的有机薄膜具有清洗作用,但如果照射条件高于基板表面有机薄膜可承受的程度,那紫外线清洗机将会对基板表面有机薄膜造成损坏。因此需要对紫外线清洗机照射强度进行监控。
目前在显示设备制造领域,例如TFT(薄膜场效应晶体管)LCD、LTPS(低温多晶硅)、OLED(有机发光二极管)生产线上,应用于生产线上的紫外线清洗机照射时,涉及(玻璃)基板表面积光量的检测。一般情况下由于紫外线清洗机与玻璃基板表面距离很近,普通照度计无法放置,所以只能进行灯管表面照度检测而不能进行基板表面积光量的检测。这样检测的数据不是很准确,无法判断出基板实际接收到的有效照射量。另外由于172纳米紫外线具有腐蚀性,当照度如果过高时,将会造成基板表面有机膜的损坏。当照度过低时,又会造成基板清洁不够干净,导致后续工艺出现异物不良。照度高低直接影响到整个工序的良品率。
实用新型内容
本实用新型的目的是提供一种玻璃基板表面积光量的检测装置,能够准确检测紫外线灯管的照射强度。
一种玻璃基板表面积光量的检测装置,其特别之处在于:包括传送机构,在该传送机构上设有一铝板,在该铝板中间开有一通孔,在该通孔内安装有紫外线传感器。
其中传送机构为滚轴传送机或滚轮传送机。
其中紫外线传感器的探头与铝板上表面平齐。
采用本实用新型的检测装置后,检测到的数据很准确,能确切的判断出基板实际接收到的有效照射量,从而可以通过有效地进行监控、调整来提高玻璃基板良品率。
附图说明
附图1为本实用新型的结构示意图。
具体实施方式
如图1所示,一种玻璃基板表面积光量的检测装置,包括传送机构6,传送机构6可以采用滚轴或滚轮传送机,在该传送机构6上设有一铝板5,在该铝板5中间开有一通孔,在该通孔内安装有紫外线传感器4,紫外线传感器4的探头与铝板5上表面(按图1中方向)平齐,当然也可以略低。
本实用新型的使用方法及工作原理如下:
如图1所示,紫外线清洗机1安装在上部,紫外线清洗机1下部安装紫外线灯管2。紫外线传感器4连接在铝板5上,其探头顶部与铝板5上表面水平,而紫外线传感器4的其它部分则置于铝板5下。
使用时玻璃基板3放置于铝板5之上,紫外线灯管2距离玻璃基板3为2.5~3.5mm。铝板5放置在滚轴或滚轮传送机上,紫外线传感器4放置于相邻2个滚轴或滚轮间隙之内,滚轴或滚轮之间的间距为100mm。滚轴或滚轮运动带动铝板5和玻璃基板3运动,通过紫外线清洗机1,同时紫外线传感器4的探头记录紫外线灯管2照射强度。
以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已,并不用以限制本实用新型,任何所属技术领域的技术人员,在不脱离本实用新型之精神的范围内,可作一些更动与改进,因此本实用新型之保护范围当以权利要求为准。

Claims (3)

1.一种玻璃基板表面积光量的检测装置,其特征在于:包括传送机构(6),在该传送机构(6)上设有一铝板(5),在该铝板(5)中间开有一通孔,在该通孔内安装有紫外线传感器(4)。
2.如权利要求1所述的玻璃基板表面积光量的检测装置,其特征在于:其中传送机构(6)为滚轴传送机或滚轮传送机。
3.如权利要求1或2所述的玻璃基板表面积光量的检测装置,其特征在于:其中紫外线传感器(4)的探头与铝板(5)上表面平齐。
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