CN201699017U - 一种大功率平面结双向tvs二极管芯片 - Google Patents
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Abstract
一种大功率平面结双向TVS二极管芯片,涉及一种半导体器件的制造技术领域,本实用新型在N区的正反两面分别设置P扩散区,在两个P扩散区的另一面分别设置镀膜区,在P扩散区外周的N区表面设置PN结平面SiO2保护区。本实用新型扩散时间短,产品寿命长,性能好,硅片不翘曲,产品碎片率低。不需要挖槽,硅片的利用率高,产品的电流密度大。避免了在玻璃钝化层上划片而产生的玻璃钝化膜应力,PN结结构牢靠,减少了漏电流,尤其是高温下的漏电流,进一步提高产品的可靠性。由于本实用新型的产品结构的特殊性,生产工艺流程短,采用4英寸硅片的生产,可大大提高生产效率,方便生产操作,也降低了生产成本。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种半导体器件的制造技术领域,特别是大功率平面结双向TVS二极管的制备方法。
背景技术
长期以来,在半导体器件制造领域,人们在结构设计、成本降低、可靠性、提高产品的性价比等方面,作出了不懈的努力。当今TVS二极管芯片制造中较先进的技术是采用一种低电阻率的N型双磨单晶片进行制备,其工艺步骤为:酸洗、清洗、扩散、刻槽、玻璃钝化、化学镀、合金、化学镀、蒸金、测试、划片、裂片,该方法的不足之处为:产品生产工艺中包括两次扩散,一次是N+型扩散,另一次是P型扩散,由于产品是台面结结构,因此是深结扩散,扩散时间长,产品的少子寿命下降,且硅片容易翘曲,造成碎片,操作不方便;产品的电极用化学镀方式形成,需要进行两次镀膜,且为保证产品的可靠性,镀层表面必须覆盖一层金(Aμ)膜,工艺复杂;PN结的保护采用挖槽、玻璃钝化的方式,工艺流程长;直接在玻璃钝化层上划片,影响产品的可靠性;产品采用的是台面工艺,硅片的有效利用率低,生产成本高。
实用新型内容
本实用新型的目的是提供一种工艺简单、电流密度大、漏电流小、质量稳定可靠的大功率平面结双向TVS二极管芯片。
本实用新型在N区的正反两面分别设置P扩散区,在所述两个P扩散区的另一面分别设置镀膜区,在所述P扩散区外周的N区表面设置PN结平面SiO2保护区。
本实用新型分别在N区的正反两面分别设置P扩散区,由于产品是平面结结构,因此采用浅结扩散,扩散时间短,产品寿命长,性能好,硅片不翘曲,产品碎片率低。产品采用平面工艺生产,不需要挖槽,硅片的利用率高,产品的电流密度大。避免了在玻璃钝化层上划片而产生的玻璃钝化膜应力,PN结结构牢靠,减少了漏电流,尤其是高温下的漏电流,进一步提高产品的可靠性。由于本实用新型的产品结构的特殊性,生产工艺流程短,采用4英寸硅片的生产,可大大提高生产效率,方便生产操作,也降低了生产成本。
附图说明
图1为本实用新型产品结构示意图。
图1中,1为N区,2、3为P扩散区、4、5为镀膜区、6、7、8、9为SiO2保护区。
具体实施方式
选取电阻率为0.01~0.02Ω.cm,片厚为225~235μm的N型硅材料双磨片,生产大功率平面结双向TVS二极管芯片,结构特点:
在N区1的正反两面分别设置P扩散区2、3,在两个P扩散区2、3的另一面分别设置镀膜区4、5。在两个P扩散区2、3外周的N区1表面分别设置PN结平面SiO2保护区6、7、8、9。
Claims (1)
1.一种大功率平面结双向TVS二极管芯片,其特征在于在N区的正反两面分别设置P扩散区,在所述两个P扩散区的另一面分别设置镀膜区,在所述P扩散区外周的N区表面设置PN结平面SiO2保护区。
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