CN201655336U - 一种基于fpga的串行闪存调试电路以及具有该电路的电视机 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种基于FPGA的串行闪存调试电路以及具有该电路的电视机,涉及调试电路技术领域,为了解决现有技术中FPGA内部RAM资源容量限制串行闪存调试电路的观测数据存储的问题而设计,本实用新型提供的一种基于FPGA的串行flash调试电路,包括:FPGA芯片、闪存芯片和测试插针;所述闪存芯片与所述FPGA芯片的控制管脚、所述测试插针的控制管脚相连;所述FPGA芯片的测试管脚与所述测试插针的测试管脚相连。采用该实用新型可以实现闪存调试电路能够调试数据量较大的信号,缩短调试周期,节省FPGA的RAM资源,提高FPGA的系统性能。
Description
技术领域
本实用新型涉及调试电路技术领域,尤其涉及一种基于FPGA的串行闪存调试电路以及具有该电路的电视机。
背景技术
目前,测试串行flash(闪存)是利用FPGA(Field Programmable Gate Array,现场可编程门阵列)开发软件中的在线逻辑分析仪功能,例如:Xilinx ISE中的chipscope和Altera Quartus II中的Signal Tap II,这些软件可以实时将FPGA内部信号提取出来,在上位机中以波形或者数据的方式显示,但这种方式是利用FPGA中RAM块来存储观测数据,受所选FPGA内部RAM资源容量的限制,如果FPGA设计占用了大量的RAM(random access memory,随机存储器)资源,则用于存储所述FPGA的串行flash调试电路的观测数据RAM资源相应减少,从而给调试带来很大不便。
实用新型内容
为了解决现有技术中FPGA内部RAM资源容量限制串行闪存调试电路的观测数据存储的问题,本实用新型提供了一种基于FPGA的串行闪存调试电路以及具有该电路的电视机。
一方面,本实用新型提供的一种基于FPGA的串行闪存调试电路;该电路,包括:FPGA芯片、闪存芯片和测试插针;所述闪存芯片与所述FPGA芯片的控制管脚、所述测试插针的控制管脚相连;所述FPGA芯片的测试管脚与所述测试插针的测试管脚相连。
进一步地,该电路,还包括:存储器;所述存储器用于存储所述FPGA芯片在进行串行闪存调试过程中需要测试的信号。
进一步地,所述存储器为逻辑分析仪中的存储单元。
进一步地,所述FPGA芯片包括:测试代码添加单元,该单元用于将所述FPGA芯片内部需要测试的信号输出到所述FPGA的对应测试管脚。
进一步地,所述闪存芯片通过外围电路与所述FPGA芯片的控制管脚、所述测试插针的控制管脚相连;所述闪存芯片包括:片选管脚、信号输出管脚、信号输入管脚、接地管脚、电源管脚、时钟控制管脚、写保护控制管脚和信号保持管脚;所述闪存芯片的外围电路包括:第一电阻、第二电阻、第三电阻、第四电阻、第五电阻、第六电阻、第七电阻、第八电阻、第九电阻、第十电阻和第一电容;
其中,所述片选管脚通过所述第一电阻与所述FPGA芯片和测试插针的对应管脚相连;
所述信号输出管脚通过所述第二电阻与所述FPGA芯片和测试插针的对应管脚相连;
所述写保护控制管脚通过所述第三电阻与所述FPGA芯片和测试插针的对应管脚相连;所述写保护控制管脚还通过所述第五电阻与电源相接;
所述接地管脚通过所述第四电阻接地;
所述电源管脚通过所述第七电阻与电源相连;所述电源还通过所述第一电容接地;
所述信号保持管脚通过所述第八电阻与所述FPGA芯片和测试插针的对应管脚相连;所述信号保持管脚还通过所述第六电阻与电源相连。
所述时钟控制管脚通过所述第九电阻与所述FPGA芯片和测试插针的对应管脚相连;
所述信号输入管脚通过所述第十电阻与所述FPGA芯片和测试插针的对应管脚相连。
另一方面,本实用新型还提供了一种电视机;该电视机包括:基于FPGA的串行闪存调试电路;该电路,进一步包括:FPGA芯片、闪存芯片和测试插针;所述闪存芯片与所述FPGA芯片的控制管脚、所述测试插针的控制管脚相连;所述FPGA芯片的测试管脚与所述测试插针的测试管脚相连。
进一步地,所述基于FPGA的串行闪存调试电路,还包括:存储器;所述存储器用于存储所述FPGA芯片在进行串行闪存调试过程中需要测试的信号。
进一步地,所述存储器为逻辑分析仪中的存储单元。
进一步地,所述FPGA芯片包括:测试代码添加单元,该单元用于将所述FPGA芯片内部需要测试的信号输出到所述FPGA的对应测试管脚。
进一步地,所述闪存芯片通过外围电路与所述FPGA芯片的控制管脚、所述测试插针的控制管脚相连;所述闪存芯片包括:片选管脚、信号输出管脚、信号输入管脚、接地管脚、电源管脚、时钟控制管脚、写保护控制管脚和信号保持管脚;所述闪存芯片的外围电路包括:第一电阻、第二电阻、第三电阻、第四电阻、第五电阻、第六电阻、第七电阻、第八电阻、第九电阻、第十电阻和第一电容;
其中,所述片选管脚通过所述第一电阻与所述FPGA芯片和测试插针的对应管脚相连;
所述信号输出管脚通过所述第二电阻与所述FPGA芯片和测试插针的对应管脚相连;
所述写保护控制管脚通过所述第三电阻与所述FPGA芯片和测试插针的对应管脚相连;所述写保护控制管脚还通过所述第五电阻与电源相接;
所述接地管脚通过所述第四电阻接地;
所述电源管脚通过所述第七电阻与电源相连;所述电源还通过所述第一电容接地;
所述信号保持管脚通过所述第八电阻与所述FPGA芯片和测试插针的对应管脚相连;所述信号保持管脚还通过所述第六电阻与电源相连。
所述时钟控制管脚通过所述第九电阻与所述FPGA芯片和测试插针的对应管脚相连;
所述信号输入管脚通过所述第十电阻与所述FPGA芯片和测试插针的对应管脚相连。
本实用新型提供的一种基于FPGA的串行闪存调试电路以及具有该电路的电视机,通过测试插针来检查所述FPGA芯片内需要测试的信号;其中,所述闪存芯片与所述FPGA芯片的控制管脚、所述测试插针的控制管脚相连;所述FPGA芯片的测试管脚与所述测试插针的测试管脚相连。所述基于FPGA的串行闪存调试电路通过所述测试插针进行测试所述FPGA芯片内需要测试的信号,不但能够调试数据量较大的信号,缩短调试周期,而且还能够节省FPGA的RAM资源,提高FPGA的系统性能。
附图说明
图1为本实用新型实施例提供的一种基于FPGA的串行闪存调试电路的结构示意图;
图2为本实用新型实施例提供的一种电视机的结构示意图;
图3为本实用新型实施例提供的一种基于FPGA的串行闪存调试电路图。
具体实施方式
下面结合附图对本实用新型实施例提供的一种基于FPGA的串行闪存flash调试电路以及具有该电路的电视机进行详细描述。
如图1所示,为本实用新型实施例提供的一种基于FPGA的串行闪存flash调试电路,该电路包括:FPGA芯片101、flash芯片102和测试插针103;所述flash芯片102与所述FPGA芯片101的控制管脚、所述测试插针103的控制管脚相连;所述FPGA芯片101的测试管脚与所述测试插针103的测试管脚相连。
其中,所述FPGA芯片101包括:测试代码添加单元,该单元用于将所述FPGA芯片内部需要测试的信号输出到所述FPGA的对应测试管脚。
需要说明的是,该电路,还包括:存储器;所述存储器用于存储所述FPGA芯片在进行串行flash调试过程中需要测试的信号。
所述存储器为逻辑分析仪中的存储单元。
如图2所示,为本实用新型提供的一种电视机,该电视机包括:基于FPGA的串行flash调试电路;该电路,进一步包括:FPGA芯片、flash芯片和测试插针;所述flash芯片与所述FPGA芯片的控制管脚、所述测试插针的控制管脚相连;所述FPGA芯片的测试管脚与所述测试插针的测试管脚相连。
进一步地,所述基于FPGA的串行flash调试电路,还包括:存储器;所述存储器用于存储所述FPGA芯片在进行串行flash调试过程中需要测试的信号。
进一步地,所述存储器为逻辑分析仪中的存储单元。
进一步地,所述FPGA芯片包括:测试代码添加单元,该单元用于将所述FPGA芯片内部需要测试的信号输出到所述FPGA的对应测试管脚。
进一步地,所述flash芯片通过外围电路与所述FPGA芯片的控制管脚、所述测试插针的控制管脚相连;所述flash芯片包括:片选管脚、信号输出管脚、信号输入管脚、接地管脚、电源管脚、时钟控制管脚、写保护控制管脚和信号保持管脚;所述flash芯片的外围电路包括:第一电阻、第二电阻、第三电阻、第四电阻、第五电阻、第六电阻、第七电阻、第八电阻、第九电阻、第十电阻和第一电容;
其中,所述片选管脚通过所述第一电阻与所述FPGA芯片和测试插针的对应管脚相连;
所述信号输出管脚通过所述第二电阻与所述FPGA芯片和测试插针的对应管脚相连;
所述写保护控制管脚通过所述第三电阻与所述FPGA芯片和测试插针的对应管脚相连;所述写保护控制管脚还通过所述第五电阻与电源相接;
所述接地管脚通过所述第四电阻接地;
所述电源管脚通过所述第七电阻与电源相连;所述电源还通过所述第一电容接地;
所述信号保持管脚通过所述第八电阻与所述FPGA芯片和测试插针的对应管脚相连;所述信号保持管脚还通过所述第六电阻与电源相连。
所述时钟控制管脚通过所述第九电阻与所述FPGA芯片和测试插针的对应管脚相连;
所述信号输入管脚通过所述第十电阻与所述FPGA芯片和测试插针的对应管脚相连。
本实用新型提供的一种基于FPGA的串行flash调试电路以及具有该电路的电视机,通过测试插针来检查所述FPGA芯片内需要测试的信号;其中,所述flash芯片与所述FPGA芯片的控制管脚、所述测试插针的控制管脚相连;所述FPGA芯片的测试管脚与所述测试插针的测试管脚相连。所述基于FPGA的串行flash调试电路通过所述测试插针进行测试所述FPGA芯片内需要测试的信号,不但能够调试数据量较大的信号,缩短调试周期,而且还能够节省FPGA的RAM资源,提高FPGA的系统性能。
基于以上实施例,本实用新型以测试插针为XS4,FPGA芯片为XS5和flash芯片N5为例;其中,所述测试插针XS 4包括:32个测试管脚、6个控制管脚、1个接地管脚和1个电源管脚;所述FPGA芯片XS 5包括:32个测试管脚、6个控制管脚和其他管脚;所述flash芯片N5包括:6个控制管脚、1个接地管脚和1个电源管脚;如图3所示,为本实用新型提供的一种基于FPGA的串行flash调试电路,该电路包括:FPGA芯片XS5、flash芯片N5和测试插针XS4;所述flash芯片N5与所述FPGA芯片XS5的控制管脚、所述测试插针XS4的控制管脚相连;所述FPGA芯片XS5的测试管脚与所述测试插针XS4的测试管脚相连。其具体的连接关系如下:
所述flash芯片N5通过外围电路与所述FPGA芯片XS5的控制管脚、所述测试插针XS4的控制管脚相连;所述flash芯片N5包括:片选管脚CE#、信号输出管脚SO1、信号输入管脚SI、接地管脚VSS、电源管脚VDD、时钟控制管脚SCK、写保护控制管脚WP1和信号保持管脚HOLD#;所述flash芯片的外围电路包括:第一电阻R1、第二电阻R2、第三电阻R3、第四电阻R4、第五电阻R5、第六电阻R6、第七电阻R7、第八电阻R8、第九电阻R9、第十电阻R10和第一电容C1;
其中,所述片选管脚CE#通过所述第一电阻R1与所述FPGA芯片的对应管脚2、测试插针的对应管脚6相连;
所述信号输出管脚SO1通过所述第二电阻R2与所述FPGA芯片的对应管脚4、测试插针的对应管脚4相连;
所述写保护控制管脚WP1通过所述第三电阻R3与所述FPGA芯片的对应管脚6、测试插针的对应管脚2相连;所述写保护控制管脚还通过所述第五电阻R5与电源VCC相接;
所述接地管脚VSS通过所述第四电阻R4接地;
所述电源管脚VDD通过所述第七电阻R7与电源VCC相连;所述电源VCC还通过所述第一电容C1接地;
所述信号保持管脚HOLD#通过所述第八电阻R8与所述FPGA芯片的对应管脚1、测试插针的对应管脚8相连;所述信号保持管脚HOLD#还通过所述第六电阻R6与电源VCC相连。
所述时钟控制管脚SCK通过所述第九电阻R9与所述FPGA芯片的对应管脚3、测试插针的对应管脚10相连;
所述信号输入管脚SI通过所述第十电阻R10与所述FPGA芯片的对应管脚5、测试插针的对应管脚12相连。
其中,所述FPGA芯片XS5的测试管脚TEST_PIN1至TEST_PIN32与所述测试插针XS4的测试管脚TEST_PIN1至TEST_PIN32相连。
本实用新型提供的一种基于FPGA的串行flash调试电路以及具有该电路的电视机,通过测试插针来检查所述FPGA芯片内需要测试的信号;其中,所述flash芯片与所述FPGA芯片的控制管脚、所述测试插针的控制管脚相连;所述FPGA芯片的测试管脚与所述测试插针的测试管脚相连。所述基于FPGA的串行flash调试电路通过所述测试插针进行测试所述FPGA芯片内需要测试的信号,不但能够调试数据量较大的信号,缩短调试周期,而且还能够节省FPGA的RAM资源,提高FPGA的系统性能。
以上所述,仅为本实用新型的具体实施方式,本实用新型的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内,可轻易想到变化或替换,都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种基于FPGA的串行闪存调试电路,其特征在于,包括:FPGA芯片、闪存芯片和测试插针;所述闪存芯片与所述FPGA芯片的控制管脚、所述测试插针的控制管脚相连;所述FPGA芯片的测试管脚与所述测试插针的测试管脚相连。
2.根据权利要求1所述基于FPGA的串行闪存调试电路,其特征在于,该电路,还包括:存储器;所述存储器用于存储所述FPGA芯片在进行串行闪存调试过程中需要测试的信号。
3.根据权利要求2所述基于FPGA的串行闪存调试电路,其特征在于,所述存储器为逻辑分析仪中的存储单元。
4.根据权利要求1至3中任意一项所述基于FPGA的串行闪存调试电路,其特征在于,所述FPGA芯片包括:测试代码添加单元,该单元用于将所述FPGA芯片内部需要测试的信号输出到所述FPGA的对应测试管脚。
5.根据权利要求4所述基于FPGA的串行闪存调试电路,其特征在于,所述闪存芯片通过外围电路与所述FPGA芯片的控制管脚、所述测试插针的控制管脚相连;所述闪存芯片包括:片选管脚、信号输出管脚、信号输入管脚、接地管脚、电源管脚、时钟控制管脚、写保护控制管脚和信号保持管脚;所述闪存芯片的外围电路包括:第一电阻、第二电阻、第三电阻、第四电阻、第五电阻、第六电阻、第七电阻、第八电阻、第九电阻、第十电阻和第一电容;
其中,所述片选管脚通过所述第一电阻与所述FPGA芯片和测试插针的对应管脚相连;
所述信号输出管脚通过所述第二电阻与所述FPGA芯片和测试插针的对应管脚相连;
所述写保护控制管脚通过所述第三电阻与所述FPGA芯片和测试插针的对 应管脚相连;所述写保护控制管脚还通过所述第五电阻与电源相接;
所述接地管脚通过所述第四电阻接地;
所述电源管脚通过所述第七电阻与电源相连;所述电源还通过所述第一电容接地;
所述信号保持管脚通过所述第八电阻与所述FPGA芯片和测试插针的对应管脚相连;所述信号保持管脚还通过所述第六电阻与电源相连;
所述时钟控制管脚通过所述第九电阻与所述FPGA芯片和测试插针的对应管脚相连;
所述信号输入管脚通过所述第十电阻与所述FPGA芯片和测试插针的对应管脚相连。
6.一种电视机,其特征在于,该电路包括:基于FPGA的串行闪存调试电路;该电路,进一步包括:FPGA芯片、闪存芯片和测试插针;所述闪存芯片与所述FPGA芯片的控制管脚、所述测试插针的控制管脚相连;所述FPGA芯片的测试管脚与所述测试插针的测试管脚相连。
7.根据权利要求6所述电视机,其特征在于,所述基于FPGA的串行闪存调试电路,还包括:存储器;所述存储器用于存储所述FPGA芯片在进行串行闪存调试过程中需要测试的信号。
8.根据权利要求7所述电视机,其特征在于,所述存储器为逻辑分析仪中的存储单元。
9.根据权利要求6至8中任意一项所述电视机,其特征在于,所述FPGA芯片包括:测试代码添加单元,该单元用于将所述FPGA芯片内部需要测试的信号输出到所述FPGA的对应测试管脚。
10.根据权利要求9所述电视机,其特征在于,所述闪存芯片通过外围电 路与所述FPGA芯片的控制管脚、所述测试插针的控制管脚相连;所述闪存芯片包括:片选管脚、信号输出管脚、信号输入管脚、接地管脚、电源管脚、时钟控制管脚、写保护控制管脚和信号保持管脚;所述闪存芯片的外围电路包括:第一电阻、第二电阻、第三电阻、第四电阻、第五电阻、第六电阻、第七电阻、第八电阻、第九电阻、第十电阻和第一电容;
其中,所述片选管脚通过所述第一电阻与所述FPGA芯片和测试插针的对应管脚相连;
所述信号输出管脚通过所述第二电阻与所述FPGA芯片和测试插针的对应管脚相连;
所述写保护控制管脚通过所述第三电阻与所述FPGA芯片和测试插针的对应管脚相连;所述写保护控制管脚还通过所述第五电阻与电源相接;
所述接地管脚通过所述第四电阻接地;
所述电源管脚通过所述第七电阻与电源相连;所述电源还通过所述第一电容接地;
所述信号保持管脚通过所述第八电阻与所述FPGA芯片和测试插针的对应管脚相连;所述信号保持管脚还通过所述第六电阻与电源相连;
所述时钟控制管脚通过所述第九电阻与所述FPGA芯片和测试插针的对应管脚相连;
所述信号输入管脚通过所述第十电阻与所述FPGA芯片和测试插针的对应管脚相连。
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