CN201249183Y - 重力下滑式集成电路测试分选机的步进分料装置 - Google Patents

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Abstract

本实用新型公开一种集成电路测试分选机适用的步进分料装置，包括可调整平动夹手气缸安装支架，支架上安装有平动夹手气缸，平动夹手气缸手指上安装有前挡料件安装定位件和后止料件安装定位件，前挡料件安装定位件上设有可调的前挡料件，后止料件安装定位件上设有可调的后专用止料件。适用于DIP、SOP、TSOP、SSOP、TTSOP、SOJ等封装形式集成电路测试分选机，结构合理，降低了测试时放行双料或多料的几率和对轨道工作面的损伤，防止IC料表面的划伤，拆装更换便易，实用性强。

Description

重力下滑式集成电路测试分选机的步进分料装置
技术领域
本实用新型涉及一种重力下滑式(Gravity)集成电路测试分选机的步进分料装置，主要适用于DIP、SOP、TSOP、SSOP、TTSOP、SOJ等封装形式集成电路测试分选机，属半导体集成电路测试分选设备制造技术领域。
背景技术
目前集成电路测试封装使用的自动分选机根据供料方式有重力下滑式(Gravity)和拣取放置式(Pick and Place)这两种之分，拣取放置式集成电路自动分选机是采取对单个料进行拣取操作为供料方式，在作业过程中对连续进料不存在分离料的问题。而重力下滑式集成电路自动分选机则是依靠IC料自身重量采用轨道对进料进行导向、排序实现连续供料方式，通过步进分料装置依次将单个IC料送入测试区进行测试作业。目前重力下滑式集成电路测试机步进分料装置采用前挡料后止料的方法，即通过前挡料件阻挡轨道中所有料的下滑，再通过后止料件，或下压或上顶的方式截停第二个及后面的IC料，然后打开前挡料件使第一个IC料在重力作用下滑行进入测试区，这样达到步进分料输料的过程。
但重力下滑式这种步进分料装置在实际使用中存在以下缺点：
1、后止料件下压或上顶的止料方式，在截停第二个及后面的IC料是依靠摩擦阻力来实现分离IC料，会出现放行双料或多料现象，导致测试误差；
2、当IC封装塑胶体及支架出现毛边时，IC料会挂在前挡料件和后止料件上，导致步进分料卡料严重；
3、采用下压或上顶的止料方式，止料件直接为气缸金属挡件，压力调整不易控制，压力过大不仅对IC料表面可能造成划伤，而且对滑行轨道的下滑行面或上导向面施加大的作用力，造成轨道工作面过早磨损，导致轨道寿命缩短。
发明内容
为克服现有技术的不足，本实用新型提出一种设计合理、构件简单的新的重力下滑式集成电路测试分选机适用的步进分料装置。该步进分料装置采用前挡料后截停料的方式送料，即通过前挡料件阻挡轨道中所有IC料的下滑，再通过专用的后止料件插入第一个IC料和第二个IC料之间的方式，截停第二个IC料以及后面的IC料，然后打开前挡料件使第一个IC料在重力作用下滑行进入测试区，达到步进分离输料的过程。
为达到上述目的，本实用新型通过以下技术方案予以实现：一种重力下滑式集成电路测试分选机的步进分料装置，包括可调整平动夹手气缸安装支架，支架上安装的平动夹手气缸，平动夹手气缸手指上安装的前挡料件安装定位件和后止料件安装定位件，前挡料件安装定位件上设有可调的前挡料件，后止料件安装定位件上设有可调的后专用止料件。通过平动夹手气缸手指的开合，带动前挡料件和后专用止料件上下联动。当平动夹手气缸手指闭合，前挡料件下行，后专用止料件上行，轨道中的连续排列的IC料在重力作用下实现料的行进。当平动夹手气缸手指开启，前挡料件上行，后专用止料件下行，专用止料件插入轨道中的第一个IC料和第二个IC料之间，侧向摩擦阻力迫使第一个料和第二个料及后面的料向上有微小的间隙，实现第一个料和其它料的分离，同时由于前挡料件上行，第一个料在重力作用下下行放料进入测试位完成测试，如此反复实现步进分离送料。其中，前挡料件、后专用止料件的前后位置可调，在必要时可根据测试料的尺寸进行调整；另外专用止料件拆卸简单，成本低廉，在万一磨损时可方便更换。
进一步的技术措施为：所述的后专用止料件为可换耐磨塑料件，包括环氧塑料(EP)、聚甲基丙烯酸甲酯(PMMA有机玻璃)、聚四氟乙烯(PTFE塑料王)、聚碳酸酯(PC)、聚酰胺(PA尼龙或锦纶)、聚苯乙烯(PS)、聚氯乙烯(PVC)、聚丙烯(PP)、聚乙烯(PE)、聚酯(PBT)、尼龙(PET)、聚砜(PSU)、聚偏二氟乙稀(PVDF)、聚苯硫醚(PPS)、聚醚醚酮(PEEK)、ABS树脂、聚苯酯(PPOB)、聚苯醚(PPO)、液晶聚合物(LCP)、改性聚甲醛(POM)、聚酰亚胺(PI)等。
本步进分料装置依靠专用止料件的结构提供了一种侧向摩擦阻力即可分离第一个IC料和第二个IC料，并可截停阻挡了第二个IC以及后面IC料下滑，有效地解决了IC封装塑胶体及支架出现毛边时，步进分料卡料问题；同时最大限度地降低了双料或多料情况的出现；由于采用阻挡截停止料方式，专用止料件选用了耐磨损的塑质材料，这样即不会对集成电路IC封装料表面造成划伤，同时减少对滑行轨道下滑行面或上导向面施加大的作用力，降低了对轨道工作面损伤，延长轨道的使用寿命。
与现有技术相比，本实用新型具有以下显著的进步和突出的特点：
1、解决了集成电路IC封装塑胶体出现胶体毛边或支架毛边情况下采用重力下滑式分选机测试时步进分料卡料的问题。
2、最大限度地降低了重力下滑式自动分选机测试时放行双料或多料情况的出现。
3、专用止料件采用耐磨损的塑质材料，不会对集成电路IC封装料表面造成划伤。
4、减少了对滑行轨道下滑行面或上导向面施加大的作用力，降低对轨道工作面损伤，延长轨道使用寿命。
5、可调的止料件方便拆卸，价格低廉，并在磨损时能方便更换。
6、本步进分料实用新型装置不但适用于SOP(Small Outline Package)封装集成电路测试分选，亦可适用于DIP、TSOP、SSOP、TTSOP、SOJ等重力下滑式封装集成电路测试分选机。
附图说明
下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步说明。
图1为本实用新型测试分选机步进分料装置的结构示意图；
具体实施方式
参照图1所示，本步进分料装置包括可调整的平动夹手气缸安装支架1，支架1上安装的平动夹手气缸2，平动夹手气缸2手指上安装的前挡料件安装定位件3和后止料件安装定位件4，前挡料件安装定位件3上可调的前挡料件5，后止料件安装定位件4上可调的后专用止料件6，输料下导轨7，上导向导轨8以及IC料9。(见图一)
本实用新型的工作原理为：步进分料装置安装在输料下导轨7和上导料导轨8组合的主轨道下端，通过平动夹手气缸2手指的开合，带动前挡料件5和后专用止料件6上下联动。平动夹手气缸2的手指闭合，前挡料件5下行，后专用止料件6上行，轨道中的连续排列的IC料在重力作用下行进，实现料的进给。平动夹手气缸2的手指开启，前挡料件5上行，后专用止料件6下行，专用止料件6插入轨道中的第一个IC料和第二个IC料之间，迫使第一个料和第二个以及后面的料向上有微小的间隙，实现第一个IC料和其它料的分离，同时阻挡轨道中后面连续排列的IC料的行进，而前挡料件5上行，第一个料在自身重力作用下下行放料进入测试位完成测试，如此反复实现步进分离送料。前挡料件5、后专用止料件6之间的前后位置可调，适用不同规格尺寸料的测试，后专用止料件6为专用件，属耗材易更换。
根据上述技术方案，本领域的技术人员根据实际需要，还可设计出更多不同结构形式的步进分料装置，但上述实施例仅为说明本实用新型而列举，并非用于限制本实用新型，任何基于本技术方案所变换的等同效果的结构，均属于本实用新型的保护范围。

Claims (2)

1、一种重力下滑式集成电路测试分选机的步进分料装置，其特征在于：包括可调整平动夹手气缸安装支架(1)，支架(1)上安装的平动夹手气缸(2)，平动夹手气缸(2)手指上安装有前挡料件安装定位件(3)和后止料件安装定位件(4)，前挡料件安装定位件(3)上设有可调的前挡料件(5)，后止料件安装定位件(4)上设有可调的后专用止料件(6)。
2、根据权利要求1所述的重力下滑式集成电路测试分选机的步进分料装置，其特征在于：所述的前挡料件(5)和后专用止料件(6)之间前后位置可调。
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