CN1967319A - 液晶显示面板检查设备的检查台 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及可放置用于点灯检查的液晶显示面板的检查台。本发明的液晶显示面板检查设备的检查台包括:工作台,在上表面承载用于检查的液晶显示面板;背光单元,配置在工作台的底面上;第一光学板,设置在工作台上;第二光学板,设置在所述第一光学板的上部;以及高低调节部件,用于调节所述第一光学板的高低。具有这种构成的检查台可防止第一光学板与第二光学板因静电而发生吸附的现象。
Description
技术领域
本发明涉及一种液晶显示面板检查设备,尤其是涉及可放置用于点灯检查的液晶显示面板的检查台。
背景技术
通常,作为平板显示器的主力产品的液晶显示装置(TFT-LCD)由于量产技术的确保和研究开发的成果而在大型化和高析像度化方面得到快速发展,不仅是笔记本电脑用,而且也作为大型监控器的应用产品得到开发,逐渐代替了现有的CRT产品,在显示器产业所占的比重不断增大。近来的信息化社会中的显示器作为视觉信息传送媒体,其重要性得到更进一步强调,尤其是,由于所有电子产品的轻薄短小趋向,低耗电化、薄型化、轻量化、高画质、便携性的重要性更进一步提高。
液晶显示装置不仅具有可满足平板显示器的以上条件的性能,而且还是具备量产性的显示装置,因此,利用液晶显示装置的各种新产品也迅速地问世,作为第二代主力技术,其在电子产业界所占的比重超过半导体急剧地增加。
这种液晶显示装置在生产线的最终阶段要进行点灯检查,点灯检查是在特定的检查设备上利用测试装置对液晶显示面板的数据线和控制线分别实施断线检查和色调检查,并利用显微镜等实施肉眼检查。
这种检查设备包括放置液晶显示面板的检查台,但是现有的检查台具有以下问题。在检查台上使用的导光板和散射板受到摩擦影响而带静电。即,导光板和薄的散射板由于相互摩擦接触而产生静电、即摩擦电荷。由于产生这种摩擦电荷而引起散射板贴向导光板的上表面、即吸附现象,进而由吸附现象产生斑点,具有频繁地出现不可进行检查的状况的问题。此外,偏光板由于散射板的热变形而突出到工作台的上表面,且推压放置在工作台上表面上的液晶显示面板,发生不能对液晶显示面板进行检查的情况。
发明内容
为解决上述问题,本发明的目的在于提供一种可防止导光板和散射板因静电而引起吸附现象的新型液晶显示面板检查设备的检查台。
本发明的另一目的在于提供一种可防止偏光板向工作台上表面突出的新型液晶显示面板检查设备的检查台。
本发明的又一目的在于提供一种可调节设置在工作台上的导光板高低的新型液晶显示面板检查设备的检查台。
为了实现上述目的,本发明的液晶显示面板检查设备的检查台包括:工作台,在上表面承载用于检查的液晶显示面板;背光单元,配置在所述工作台的底面上;第一光学板,设置在所述工作台上;第二光学板,设置在所述第一光学板的上部;以及高低调节部件,用于调节所述第一光学板的高低。
根据本发明的实施例,所述高低调节部件可包括:凸轮轴,水平地设置在所述第一光学板的底面;凸轮,安装在与所述第一光学板底面相接触的所述凸轮轴上,用于改变所述第一光学板的高低;以及手柄,用于使所述凸轮轴旋转。
根据本发明的实施例,所述高低调节部件还可包括用于使所述凸轮轴旋转的驱动部,而且所述驱动部可包括电动机和用于控制所述电动机的控制部。
根据本发明的实施例,所述工作台包括:开口部,尺寸比所述第一光学板小;凸缘部,包围所述开口部,在上表面放置液晶显示面板,且所述第一光学板的边缘位于凸缘部的底面;在所述凸缘部的底面上可包括与所述第一光学板的上表面边缘弹性接触的弹性部件。
根据本发明的实施例,所述高低调节部件的凸轮轴可横穿所述第一光学板的底面而配置。
为了实现上述目的,本发明的液晶显示面板检查设备的检查台可包括:工作台,在上表面承载用于检查的液晶显示面板;背光单元,配置在所述工作台的底面;第一光学板,设置在所述工作台上,具有光入射面和光出射面,光入射面供从所述背光单元发出的光入射,光出射面用于使入射光射出;以及高低调节部件,设置在所述第一光学板的光入射面边缘,用于改变所述第一光学板的高低。
根据本发明的实施例,所述高低调节部件可包括:凸轮轴,水平地设置在所述第一光学板的光入射面上;凸轮,以与所述第一光学板的光入射面相接触的状态安装在所述凸轮轴上;以及用于使所述凸轮轴旋转的手柄。
根据本发明的实施例,所述工作台包括:开口部,尺寸比所述第一光学板小;凸缘部,包围所述开口部,在上表面放置液晶显示面板,并且所述第一光学板的边缘位于该凸缘部的底面上。在所述凸缘部的底面上可包括与所述第一光学板的上表面的边缘弹性接触的弹性部件。
根据本发明的实施例,所述高低调节部件可调节设置在所述第一光学板边缘的四个位置上的所述第一光学板的倾斜度。
例如,本发明的实施例可以变形为各种方式,本发明的范围不应解释为下述实施例的限定。本实施例是为了使本领域的一般技术人员更完整地理解说明而列举的。因此,为了强调更清楚的说明,而将附图中的要素的形状等放大示出。
附图说明
图1是根据本发明实施例的检查台的外观图。
图2是根据本发明实施例的检查台的俯视图。
图3是根据本发明实施例的检查台的剖视图。
图4是设置有四个高低调节部件的检查台的俯视图。
图5是沿图4的a-a剖开的剖视图。
图6是根据本发明变形例的检查台的俯视图。
具体实施方式
下面参照图1至图6对本发明的实施例进行详细说明。另外,在前述附图中,对起到相同功能的构成要素标记相同的参照符号。
根据本发明的检查台100是由光源从液晶显示面板检查设备照亮液晶显示面板的装置,该液晶显示面板检查设备是利用测试装置对检查对象物(以下称为液晶显示面板)的数据线和控制线分别实施断线检查和色调检查,并利用显微镜等实施肉眼检查。
本发明的基本目的是为了防止导光板130与散射板132的吸附现象,以及防止因散射板132热变形而使设置在散射板132上表面上的偏光板134突出到工作台110上表面,因此为了达到上述目的,本发明的检查台100特征在于:具有可调节导光板130高低的高低调节部件140。
图1是根据本发明实施例的检查台的外观图。图2是根据本发明实施例的检查台的俯视图。图3是根据本发明实施例的检查台的剖视图。
参照图1至图3进行具体说明,检查台100包括:工作台110,可解除地真空吸附液晶显示面板10;背光单元120,具有灯122,灯122在点灯时对设置在该工作台110上的液晶显示面板10的后方进行照明;导光板130、扩散板132和偏光板134等光学板,用于将背光单元120的光提供给液晶显示面板10;以及高低调节部件140,用于调节导光板130的高低。虽然在附图中没有加以图示,但检查台100可包括调整单元,用于使工作台110沿X方向、Y方向、以及Z方向移动且绕Z轴轴线以一定角度进行旋转。
工作台110由四个侧面112a形成内部空间112,在上表面具有四边形的开口部114,该开口部114由凸缘部116包围。液晶显示面板10放置在工作台110的凸缘部116的上表面,在底面上形成有螺纹孔117,用于锁固支撑导光板130用的半圆头方颈螺栓190。此外,在凸缘部116的底面上设置有由聚氨酯制成的弹性部件118。该弹性部件118弹性地支持导光板130的上表面131a。
例如,液晶显示面板10的边缘部分(活动区与TFT外廓之间的部分)可通过形成在工作台110的凸缘部116上表面上的真空槽(未图示)被真空吸附,或者通过设置在工作台110的凸缘部116上的夹子(未图示)进行固定,这种固定方式是液晶显示面板检查设备上通常使用的常规方式,所以不再对该部分作说明。
导光板130由透明丙烯制成,用于将从背光单元120的灯122发出的光向液晶显示面板10方向传送。导光板130具有:光入射面(属于底面)131a,供从背光单元120的灯122发出的光入射;以及光出射面(上表面)131b,供入射光射出。导光板130以配置在散射板132与灯122之间的状态由多个半圆头方颈螺栓190支撑固定在工作台110的凸缘部116的底面上。为此,在与螺纹孔117对应的导光板130边缘上形成可插入半圆头方颈螺栓190的通孔131c。
如图3所示,半圆头方颈螺栓190包括:螺纹部192,与凸缘部116的螺纹孔117相结合;圆筒部194,位于导光板130的贯通孔131c中,与螺纹部192连续地连接,且具有比螺纹部192大的直径;以及头部196,具有比圆筒部194的直径更大的直径。半圆头方颈螺栓190在导光板130的贯通孔131c中贯穿后与凸缘部116的螺纹孔117相结合,导光板130利用半圆头方颈螺栓190及凸轮142支持在凸缘部116上。导光板130可沿垂直方向以预定间隔自由移动地被支撑。
散射板132用于使穿透导光板130的光散射并提供给液晶显示面板10,其载放在导光板130的光出射面131b上。并且,用于使多个方向上的光向单一方向透射的偏光板134载放在散射板132的上表面上。
这样,在检查台100上,灯122的光穿过导光板130、散射板132及偏光板134后提供给液晶显示面板10。偏光板134可根据需要而省略,或者用其他的光学板代替。在本实施例中,作为光的传送装置,除了散射板132和偏光板134以外,可提供一种层压多层散射片、棱镜层等而成的结构。
作为本发明中最重要的构成要素的高低调节部件140用于调节导光板130的高低,其包括:凸轮轴144,设置有凸轮142;以及驱动部146,用于使凸轮轴144旋转。凸轮轴144在导光板130的两侧边缘水平横穿,且可旋转地设置在工作台110的侧面上,在凸轮轴144上设置有与导光板130的光入射面131a相接触的凸轮142。用于使凸轮轴144旋转的驱动部146包括手柄147,该手柄147在工作台110的外廓上与凸轮轴144的一端连接。
例如,如图4、图5所示,高低调节部件140可在工作台110的侧面设置四个。这种情况下,因为可以在导光板的四个位置上调节高低,所以可以调节导光板的平面倾斜度。
图4及图5中示出的检查台表示设置有四个高低调节部件140的其他示例,设置有四个高低调节部件的工作台110可通过设置有高低调节部件140的四个位置对包括导光板130在内的光学板的平面倾斜度进行调节。即,在为设置有两个高低调节部件140的工作台110时,只可调节左右倾斜度(平面倾斜度),相反,在设置有四个高低调节部件140的工作台110中,可调节前后左右倾斜度。在此,高低调节部件140优选使用长度较短的凸轮142和凸轮轴144。
这样构成的高低调节部件140可通过手柄操作或者电动机驱动来改变导光板130的高低。例如,即使由于静电使导光板130和散射板132相吸附,只要转动高低调节部件140的手柄147,即可改变导光板130的高低,且使吸附在导光板130的光出射面131b上的散射板132分离,从而除去因吸附现象产生的斑点。
在检查台100上长时间检查液晶显示面板10时,可能由于灯122的热使散射板132而产生热变形。散射板132产生热变形的同时,偏光板134的平面度(平面倾斜度)变得不均匀,严重时也可能发生使设置在扩散板132上表面上的偏光板134突出、并推压工作台110上表面所承载的液晶显示面板10的情况。尤其是当偏光板134与工作台110的上表面之间的间隔狭小时,也可能发生偏光板134突出到比工作台110的上表面更高、同时与液晶显示面板10接触的情况。但是,通过采用本发明中公开的高低调节部件140降低导光板130的高度,从而可以改善这种问题。尤其是,当由于灯122的热引起的热变形等使偏光板134产生平面度误差时,通过使与产生该平面度误差的部分对应的凸轮轴144旋转来调节导光板130的高度,可将偏光板134的平面度误差调节到最小限度。而且,即使在因偏光板134的平面度误差而使偏光板134从工作台110的上表面突出时,也可以通过旋转高低调节部件140的凸轮轴144来降低导光板130的高度,从而解决上述问题。
本实施例虽然将旋转凸轮轴的驱动部146作为手柄147进行了说明,但这只是一个示例而已。如图6所示,驱动部146可包括与凸轮轴144连接的电动机148和控制电动机148的控制部149。在图6中,驱动部146可设定为:在检查一定量的液晶显示面板10之后,立即使凸轮轴144自动旋转一次。这样定期地使高低调节部件140动作,可以获得提前预防导光板130和散射板132因静电而吸附的效果。
另一方面,本发明可以是上述构成的液晶显示面板检查设备的检查台的各种变形,可具有各种方式。但是,本发明不限定于上述详细说明中提到的特定方式,而必须理解为根据保护范围定义的、处于本发明的精神和范围内的所有变形物和、等同物以及代替物。
如上所述,本发明的检查台可防止导光板与散射板因静电而吸附的现象。本发明的检查台可防止偏光板突出至工作台上表面。本发明的检查台还可调节设置在工作台上的导光板的高低。
以上所述仅为本发明的优选实施例而已,并不用于限制本发明。在上述实施例中,本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。
符号说明
110 工作台 120 背光单元
130 导光板 132 散射板
140 高低调节部件
Claims (10)
1.一种检查台,是液晶显示面板检查设备的检查台,其特征在于包括:
工作台,在上表面承载用于检查的液晶显示面板;
背光单元,配置在所述工作台的底面;
光学板,在所述工作台上至少具有一个以上;以及
高低调节部件,用于调节所述光学板的高低。
2.根据权利要求1所述的检查台,其特征在于:
所述高低调节部件包括:
凸轮轴,水平地设置在所述光学板底面上;以及
凸轮,以与所述光学板的底面相接触的状态安装在所述凸轮轴上,用于改变所述光学板的高低。
3.根据权利要求2所述的检查台,其特征在于:所述高低调节部件还包括用于使所述凸轮轴旋转的手柄。
4.根据权利要求2所述的检查台,其特征在于:所述高低调节部件还包括用于使所述凸轮轴旋转的驱动部。
5.根据权利要求4所述的检查台,其特征在于:所述驱动部包括电动机和用于控制所述电动机的控制部。
6.根据权利要求2所述的检查台,其特征在于:
所述工作台包括:
开口部,其尺寸比所述光学板小;
凸缘部,包围所述开口部,且在上表面放置液晶显示面板,在底面设置所述光学板的边缘;
所述凸缘部的底面包括与所述光学板上表面的边缘弹性接触的弹性部件。
7.根据权利要求4所述的检查台,其特征在于:所述高低调节部件的凸轮轴横穿所述光学板的底面而配置。
8.根据权利要求1所述的检查台,其特征在于:
所述光学板包括:
导光板,设置在所述工作台上;以及
散射板或偏光板,设置在与所述导光板的上表面隔开预定间隔的所述工作台上。
9.根据权利要求1所述的检查台,其特征在于:
所述光学板包括:
导光板,设置在所述工作台上;以及
散射板或偏光板,位于所述导光板的上表面。
10.根据权利要求1所述的检查台,其特征在于,所述高低调节部件设置在所述光学板边缘的四个位置上,用于调节所述光学板的倾斜度。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020050110859A KR100700287B1 (ko) | 2005-11-18 | 2005-11-18 | 액정표시패널 검사 장비의 검사 스테이지 |
KR1020050110859 | 2005-11-18 | ||
KR10-2005-0110859 | 2005-11-18 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN1967319A true CN1967319A (zh) | 2007-05-23 |
CN100434977C CN100434977C (zh) | 2008-11-19 |
Family
ID=38076172
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CNB2006101452020A Expired - Fee Related CN100434977C (zh) | 2005-11-18 | 2006-11-17 | 液晶显示面板检查设备的检查台 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2007140506A (zh) |
KR (1) | KR100700287B1 (zh) |
CN (1) | CN100434977C (zh) |
TW (1) | TW200720673A (zh) |
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- 2006-11-07 TW TW095141123A patent/TW200720673A/zh unknown
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Publication number | Publication date |
---|---|
JP2007140506A (ja) | 2007-06-07 |
CN100434977C (zh) | 2008-11-19 |
TW200720673A (en) | 2007-06-01 |
KR100700287B1 (ko) | 2007-03-29 |
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C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
C14 | Grant of patent or utility model | ||
GR01 | Patent grant | ||
C17 | Cessation of patent right | ||
CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |
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