CN1950885A - 信息载体和用于在设备中定位这种信息载体的系统 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种信息载体，和一种用于在一个设备中定位这种信息载体的系统。该系统包括：用于产生施加给一个信息载体(101)的周期光斑阵列(103)的光学元件(102)，所述信息载体(101)包括会与所述周期光斑阵列(103)发生干涉以产生第一莫尔图的第一周期结构(108)，和会与所述周期光斑阵列(103)发生干涉以产生第二莫尔图的第二周期结构(109)；用于从所述第一和第二莫尔图获得介于所述周期光斑阵列(103)和所述信息载体(101)之间的角度值(δ)的分析装置；和用于通过根据从所述角度值(δ)获得的控制信号(114)调节所述信息载体(101)相对于所述光斑阵列(103)的角度位置的致动装置(AC1－AC2－AC3)。
Description
技术领域
本发明涉及一种用于在读取设备中定位信息载体的系统。
本发明还涉及所述信息载体。
本发明应用于光数据存储领域。
背景技术
光存储解决方案现在广泛用于内容发布，例如用在基于DVD(数字万用盘)标准的存储系统中。光存储相比于硬盘和固态存储的较大优点在于信息载体能够容易和低成本的进行复制。
由于在驱动器中存在大量的运动元件，所以在执行读/写操作时，如果在这种操作期间考虑所述运动元件要求的稳定性，则使用光存储解决方案的已知应用不耐受震动。因此，光存储解决方案不能容易和有效的用在易受震动的应用中，例如用在便携式设备中。
由此已经开发了新的光存储解决方案。这些解决方案将光存储的使用廉价和可拆除的信息载体的优点与固态存储的信息载体是静止的和其读取需要有限数量的运动元件的优点结合起来。
发明内容
本发明的目的在于提出一种用于在读取和/或写入装置中关于光斑阵列精确定位信息载体的系统。
根据本发明的系统，包括：
-用于产生施加给一个信息载体的周期光斑阵列的光学元件，所述信息载体包括第一周期结构和第二周期结构，所述第一和第二周期结构会与所述周期光斑阵列发生干涉以分别产生第一莫尔图和第二莫尔图，
-用于从所述第一和第二莫尔图获得介于所述周期光斑阵列和所述信息载体之间的角度值的分析装置，
-用于根据从所述角度值获得的控制信号调节所述信息载体相对于所述光斑阵列的角度位置的致动装置。
光斑阵列被施加给信息载体用于读取存储在所述信息载体上的数据。因为信息载体对应于透明或非透明基本区域的阵列；所以光斑阵列是规则的并定义一个周期栅格。根据基本区域的透明状态，光斑被传送或不被传送给将接收的光信号转换成二进制数据的检测器。
所述信息载体包括放置在存储数据的数据区域内部的周期结构。当光斑阵列与这些周期结构发生干涉时，莫尔图就被产生和检测出来。在分析莫尔图的过程中，能够精确的测量信息载体和光斑阵列之间的角度偏差，因为光斑阵列和信息载体之间的较小偏差会导致莫尔图的较大变化。由此可从莫尔图得到反应这种偏差的控制信号，并将其用作改变信息载体和光斑阵列之间的相对角位置的致动器的输入信号。由此可使光斑和信息载体的基本区域完美对齐，从而导致能够以低的错误率读取信息载体。
本发明还涉及一种趋用于通过周期光斑阵列进行读取和/或写入的信息载体，所述信息载体包括：
-通过一组基本数据区定义的数据区，
-具有相同第一周期的第一周期结构和第二周期结构，所述第一和第二周期结构会与所述周期光斑阵列发生干涉以分别产生第一和第二莫尔图。
通过周期结构产生的每个莫尔图可被用于获得角度偏差的绝对值，而从两个莫尔图获得的信息组合被用于确定所述角度偏差的符号。
使用莫尔图是有利的，因为它可带来了对偏差角的精确测量。
此外，在信息载体上印刷这种周期结构是经济的，并因此可专用于内容发布环境。
下面将给出本发明的详细解释和其它方面。
附图说明
现在将参考下文结合附图所述的实施例来解释本发明的具体方面，其中相同的部分或子步骤被以相同的方式指示：
图1表示根据本发明的系统；
图2表示根据本发明的第一光学元件；
图3表示根据本发明的第二光学元件；
图4表示根据本发明的系统的详细视图；
图5表示根据本发明的微单元扫描的原理；
图6表示根据本发明的信息载体的扫描；
图7通过多视图表示根据本发明的信息载体的扫描；
图8表示根据本发明的扫描的具体元件；
图9表示根据本发明的系统的第一局部顶视图；
图10表示根据本发明的系统的第二局部顶视图；
图11表示根据本发明的莫尔图产生和检测过程；
图12表示根据本发明的信息载体的第一实施例；
图13表示根据本发明的信息载体的第二实施例；
图14表示根据本发明的信息载体的第三实施例；
图15表示根据本发明的角度校正的原理。
具体实施方式
图1表示根据本发明的、目的在于产生反应读取装置中的信息载体101的角度误差的控制信号并根据所述控制信号校正所述角度误差的系统的三维视图。
所述系统包括一个光学元件102，用于产生施加和扫描信息载体101的周期光斑阵列103。输入光束104被施加给光学元件102的输入端。可通过用于扩展输入激光束的波导或通过二维耦合微激光阵列来实现输入光束104。
根据图2中所示的第一实施例，光学元件102对应于二维微透镜阵列201，相干输入光束104被施加给其输入端。所述微透镜阵列被平行和远离信息载体101放置以便将光斑会聚在信息载体101的表面上。微透镜的数值孔径和质量决定了光斑的大小。例如，可以使用数值孔径等于0.3的二维微透镜阵列。
根据图3中所示的第二实施例，光学元件102对应于二维孔洞阵列301，其输入端被施加相干输入光束104。所述孔洞例如是具有1μm直径的或者更小的圆孔。
在该第二实施例中，光斑阵列103是通过所述孔洞阵列利用Talbot(塔尔伯特)效应产生的，塔尔伯特效应是以如下方式工作的衍射现象。当对具有周期衍射结构(例如孔洞阵列)的物体施加多个相同波长的相干光发射器(例如，输入光束104)时，衍射光在位于距离衍射机构预测距离z0的平面处重新结合成相同的发射器图像。放置信息载体101的这个距离z0被称作为塔尔伯特距离。塔尔伯特距离z0由关系式z0＝2·n·d2/λ给出，其中，d是光发射器的周期间隔，λ是输入光束的波长，n是传播空间的折射系数。更加一般的，再成像是在从发射器进一步间隔开的其它距离z(m)处发生的，并且所述其它距离z(m)是塔尔伯特距离z的倍数，从而z(m)＝2·n·m·d2/λ，其中n是整数。对于m＝1/2+整数也可以发生再成像，但这里图像是被偏移过半个周期。对于m＝1/4+整数和m＝3/4+整数也可以发生再成像，但图像具有加倍的频率，这意味着光斑的周期关于孔洞阵列的周期被减半。
利用塔尔伯特效应允许在距孔洞阵列相对较大的距离处(几百微米，由z(m)表示)产生高质量的光斑阵列，而不需要光学透镜。这允许例如在孔洞阵列和信息载体之间插入一个覆盖层，用于防止信息载体免受污染(例如，灰尘，指印，……)。此外，与使用微透镜阵列相比，该过程便于实现并且允许以低成本方式提高施加给信息载体的光斑的密度。
再回到图1，信息载体101包括用于存储二进制数据的数据区105。数据区105包括被组织为矩阵形式的相邻基本数据区。基本数据区被表示为相邻的正方形，但它们也可以具有不同的形状。基本数据区的尺寸被指代为S。存储在数据区105上的二进制数据的状态例如由透明或不透明基本区域(也就是，光吸收)代表。基本区域被印刷在类似玻璃或塑料的材料上。
光斑被施加在信息载体101的基本区域上。如果将光斑施加在非透明基本区域上，则没有输出光束通过信息载体。相反，如果在透明基本区域上施加光斑，则光斑就会通过信息载体并且然后能够通过检测器106检测到。
在数据区域105的一部分区域上施加和扫描每个光斑。信息载体101的扫描是通过沿x和y轴偏移光斑阵列103执行的。
检测器106特别的用于检测施加光斑的基本数据区的二进制值。为此，检测器106包括在平行平面中与信息载体的数据区105相对的数据检测区107。它可有利的由CMOS或CCD像素阵列制成。有利的，检测器的一个像素用于检测一组基本数据。该组基本数据中的每个数据可通过所述光斑阵列103中的单个光斑连续读取。这种在信息载体101上读取数据的方法在下面被称作宏单元扫描，将在后面对其进行说明。
图4表示信息载体101的数据区105和检测器106的数据检测区107的剖面和详细视图。检测器106包括表示为PX1-PX2-PX3的像素，为了便于理解，限制了显示的像素数量。具体地，像素PX1用于检测存储在信息载体的数据区A1上的数据，像素PX2用于检测存储在数据区A2上的数据，而像素PX3用于检测存储在数据区A3上的数据。也称作宏单元的每个数据区包括一组基本数据。例如，数据区A1包括表示为A1a-A1b-A1c-A1d的基本数据。
图5通过示例表示信息载体101的宏单元扫描。存储在信息载体上的数据具有由黑色区域(即，不透明的)或白色区域(即，透明的)表示的两种状态。例如，黑色区域对应于“0”二进制状态，而白色区域对应于“1”二进制状态。当通过由信息101产生的输出光束照射检测器的像素时，所述像素就由白色区域代表。在那样的情况下，所述像素就会发出具有第一状态的电子输出信号(未表示)。相反，当检测区于107的一个像素未从信息载体接收任何输出光束时，所述像素就由阴影区域代表。在那样的情况下，所述像素就会发出具有第二状态的电子输出信号(未表示)。
在该示例中，每组数据都包括四个基本数据，并且单个光斑被同时施加给每组数据。通过光斑阵列103对信息载体101的扫描是例如从左至右以增加的横向偏移执行的，所述增加的横向偏移等于两个基本数据之间的距离S。
在位置A，对不透明区域施加所有光斑使得检测器的所有像素都处于第二状态。
在位置B，在光斑向右偏移之后，左侧光斑被施加给透明区域使得相应的像素处于第一状态，而另两个光斑被施加给不透明区域使得检测器的两个相应像素处于第二状态。
在位置C，在光斑向右偏移之后，左侧光斑被施加给不透明区域使得相应的像素处于第二状态，而另两个光斑被施加给透明区域使得检测器的两个相应像素处于第一状态。
在位置D，在光斑向右偏移之后，中心光斑被施加给不透明区域使得相应的像素处于第二状态。而另两个光斑被施加给透明区域使得检测器的两个相应像素处于第一状态。
当对面向检测器像素的一组数据的所有数据都施加了光斑时，就完成了信息载体101的扫描。这意味着信息载体的二维扫描。形成与检测器的一个像素相对的一组数据的基本数据通过单个光斑被连续读取。
通过光斑阵列对信息载体的扫描是在平行于信息载体的平面内进行的。一种扫描装置在两个方向x和y上提供直移运动以扫描信息载体的整个表面。
根据图6中所示的第一解决方案，所述扫描装置相当于一个H桥。产生光斑阵列(即，微透镜阵列或孔洞阵列)的光学元件102被施行在第一滑板601中，所述第一滑板可沿y轴移动，而第二滑板602可沿x轴移动。为此，第一滑板601包括与导轨607-608接触的接合点603-604-605-606。第二滑板602可借助于与导轨609-610接触的接合点611-612-613-614沿x轴移动。滑板601和602借助于致动器(未示)平移，例如通过步进马达、用作传动装置的磁性或压电致动器。
根据图7中所示的第二解决方案，扫描装置被保持在框架701中。用于悬挂框架701的元件被表示在图8中的详细三维视图中。这些元件包括：
-第一板簧702，
-第二板簧703，
-第一压电元件704，沿x轴为扫描装置701提供致动，
-第二压电元件705，沿y轴为扫描装置701提供致动。
图7中所示的第二解决方案比图6中所示的H桥解决方案的机械传动少。对与框架701接触的压电元件进行电控制(未示)使得电压变化导致压电元件的尺寸变化，从而导致框架701沿x和/或y轴偏移。
位置P1表示扫描装置701处于第一位置，而位置P2表示扫描装置701处于在沿x轴经过平移之后的第二位置。该图表示板簧702和703的弹性。
可使用四个压电元件，即用两个额外的压电元件代替板簧来构建一个类似的结构。在那样的情况下，相对的压电元件对共同以与对抗肌肉对相同的方式在一维中作用。
再回到图1，信息载体101还包括第一周期结构108和第二周期结构109。所述第一和第二周期结构被印刷在信息载体上。周期结构108和109由透明和不透明的平行条纹构成。此后将讨论平行条纹的取向。
第一周期结构108用于与周期光斑阵列103发生干涉，用于在检测器106的区域110上产生第一莫尔图。第一莫尔图仅是通过从与第一周期结构108相对的周期光斑阵列103截取的光斑子集产生的。第一周期结构108和区域110是彼此相对的。
第二周期结构109用于与周期光斑阵列103发生干涉，用于在检测器106的区域111上产生第二莫尔图。第二莫尔图仅是通过从与第二周期结构109相对的周期光斑阵列103截取的光斑子集产生的。第二周期结构109和区域111是彼此相对的。
有利的由CMOS或CCD像素阵列制成的区域110和111测量所述第一和第二莫尔图的光变化。
所述系统还包括用于从所述第一和第二莫尔图获得角度值δ的处理装置112，所述角度值对应于周期光斑阵列103和信息载体101之间的偏差。处理装置112借助于数据总线113与检测器106连接。处理装置112可相应于一个信号处理器所执行的代码指令，用于获得：
-所述第一莫尔图的光变化的第一频率值F1，
-所述第二莫尔图的光变化的第二频率值F2，
-来自所述第一频率值F1和所述第二频率值F2的所述角度值δ的符号。
所述系统还包括用于调节所述信息载体101关于所述光斑阵列103的角度位置的致动装置AC1-AC2-AC3。致动装置AC1-AC2-AC3可以对应于压电致动器。通过电线传送和通过所述处理装置112产生的控制信号114来控制致动装置AC1-AC2-AC3。所述控制信号是从所述角度值δ获得的。
在如图1所示的第一实施例中，致动装置AC1-AC2-AC3与信息载体101的外周接触。在该情况下，光斑阵列103是固定的，而信息载体101可在所述致动装置的控制下转动。
可选择的，在第二实施例(未示)中，致动装置AC1-AC2-AC3与产生光斑阵列103的光学元件102的外周接触。在该情况下，信息载体103是固定的，而光斑阵列103可在所述光学元件102上的所述致动装置的控制下转动。
使用三个致动器AC1-AC2-AC3足以绕垂直轴z旋转信息载体101(或光学元件102)，以便校正角度误差δ。
图9表示图1中所示的系统的局部顶视图。它表示第一周期结构108和用于施加给所述第一周期结构的光斑子集103。
光斑子集103被沿轴x1定向，而第一周期结构108被沿轴x2定向。周期结构108的周期被标记为b1。
轴x1和轴x2之间的角度对应于信息载体101和光斑阵列103之间的角度误差δ。为了清楚的目的，注意已经将偏差角δ表示成远大于它的实际值。
第一周期结构108被沿轴x3定向，使得轴x2和轴x3定义所述第一和已知角α0。因此将轴x1和轴x3之间的角度的绝对值定义为：
α1＝|α0+δ| (1)
图11表示与图9所示类似的局部顶视图，其中第一莫尔图的光变化I1的投影被绘制为一个示例。
第一莫尔图是从周期光斑103和放置在信息载体101上的第一周期结构108之间的干涉得到的。这种光学现象通常是在使用周期性取样栅格(即，在目前情况下为周期光斑阵列)对具有周期结构(即，在目前的情况下为周期结构108)的输入图像进行取样时发生的，所述周期取样栅格的周期接近或等于输入图像的周期，其会导致混叠。所述取样图像根据一个角度被放大和旋转，所述角度取决于：
-输入图像的周期和取样栅格的周期之间的比值；
-输入图像和取样栅格之间(即，在目前的情况下为在周期结构108和周期光斑阵列之间)的角位置。如果取样图像的光变化被投影到一个给定和相同的轴(即在目前的情况下为轴x1)上δ以获得一个投影信号，则当输入图像和取样栅格之间的相对角位置(即，在目前的情况下为周期结构108和周期光斑阵列103之间的角变化)变化时，该投影信号的周期也会变化。
在目前的情况下，第一莫尔图的光变化沿轴x1的投影是通过检测区域110进行的。检测区域110、周期结构108和光斑子集103被叠加，但为了清楚的目的，下面只表示出了检测区域110。
定义投影信号I1的每个局部测度M可从通过检测区域110检测的一部分莫尔图的和获得。例如，局部测度M可从通过检测器的一组相邻像素PX4-PX5-PX6产生的信号和获得，如此等等用于定义其他局部测度。可选择的，覆盖像素PX4-PX5-PX6表面的单个像素可被定义用于产生局部测度M。
光变化的频率可被确定的精度取决于周期结构108的长度L。
在信息载体的数据区105由相邻基本数据区构成的目前情况下，可将它设置为角度测量的精度在信息载体的整个长度Lfull上不会超过基本数据区的尺寸S的约束。根据这些条件，能够显示出必须校验下列关系式：
b/S＝L/Lfull (2)
例如，能够决定设置b＝S和L＝Lfull，其中S对应于数据区105的两个相邻基本数据区之间的距离。
注意信息载体101具有不同长度的侧面，则应该将信息载体的长度L解释为最长侧的尺寸，而如果信息载体是以分段的形式读出的，则应该将信息载体的长度L解释为段的长度。
能够看出对于角度值α1校验：
b/L＜α1＜b/2p (3)
其中b是周期结构108的周期，
L是周期结构108的长度，
P是周期光斑阵列103的周期，
角度α1的绝对值可从下式导出：
sin(α1)＝b·F1 (4)
其中F1是投影信号I1的频率。
第一频率值F1的测量是通过处理装置I12执行的，例如通过在投影信号I1中检测连续最小值和最大值以获得周期T1，然后获得通过F1＝1/T1定义的F1，或者产生反向傅立叶变换并将第一阶系数看作F1的测量值。
从等式(1)，知道角度α1的绝对值足以获得角度δ的绝对值，但不是角度δ的符号。角度δ的符号是重要的，因为它指示关于信息载体101是在哪个方向上旋转光斑阵列103，并因此指示出致动器AC1-AC2-AC3必须在哪个方向上进行作用来取消角度误差δ。
为了确定角度δ的符号，类似于对由第一周期结构108产生的第一莫尔图的方式对通过第二周期结构109在检测区域111上产生的第二莫尔图进行分析。检测区域111、周期结构109和光斑子集103被叠加。
图10表示图1中所示的系统的局部顶视图。其表示第二周期结构109和施加给所述第二周期结构109的光斑子集103。
光斑子集103被沿轴x1定向，而第二周期结构109被沿轴x2定向。周期结构108的周期还被指代为b1。
轴x1和轴x2之间的角度对应于信息载体101和光斑阵列103之间的角误差δ。为了清楚的目的，注意已经将偏差角δ表示得远大于它的实际值。
第二周期结构109被沿轴x3定向，使得轴x2和轴x3定义所述第二和已知角α0，其与第一周期结构108的已知角α相对。因此将轴x1和轴x3之间的角度α2的绝对值定义为：
α2＝|α0-δ| (5)
第二莫尔图的光变化的投影被执行用于产生投影信号I2(与上述的信号I1类似)，所述投影信号I2的频率值F2以与第一频率值F1类似的方式进行计算。这就允许获得轴x1和轴x3之间的角度α2的绝对值：
sin(α2)＝b·P2 (6)
其中F2是投影信号I2的频率值。
因此通过获知分别从频率F1和F2通过等式(4)和(6)得到的α1和α2，就可从下式导出角度δ的符号：
sign(δ)＝sign(α1-α2) (7)
其中sign(δ)代表参数δ的符号。
可选择的，为了确定角度δ的符号，可将第二周期结构109选择为与第一周期结构108相同的结构，并与第一周期结构108平行放置。在该情况下，角度δ的符号由从通过第一周期结构108产生的第一莫尔图的投影获得信号和从通过第二周期结构109产生的第二莫尔图的投影获得的信号之间的相位差的符号给出。
当角度α1和α2处在范围[b/L，b/2p]内时应用上述的莫尔图分析。例如，如果图1中所示的系统的参数使得b＝500nm，L＝2cm和p＝15μm，则将要测量的角度α1和α2处在范围[2e-5，0.017]内，相当于近似在0和1度之间的角度。在该情况下，角度α0有利的处于几十分之一度的数量级。
为了能够测量更大的角度α1和α2，并因此测量更大的偏差角δ，可增加第一周期结构108和第二周期结构109的周期b1。例如，如果b＝p＝15μm，将要测量的角度α1和α2处在范围[7.5e-4，0.5]内，相当于近似在0.04和30度之间的角度。在该情况下，角度α0有利的处于几度的数量级。
有利的，还可能定义具有第一组周期结构108-109和第二组周期结构108’-109’的信息载体，所述第一组周期结构具有第一周期b1，而所述第二组周期结构具有不同于第一周期b1的第二周期b2(即，更大或更小)，如此后在图12至14中所述。可使用具有较大周期的周期结构对角度偏差执行粗略的测量和校正，而使用具有更小的周期的周期结构对角度偏差执行精确测量和校正。
图12表示由周期光斑阵列(未示)读/写的信息载体101。信息载体101包括：
-通过一组基本数据区定义的数据区105。所述基本数据区被以矩阵的形式组织。两个相邻基本数据之间的距离被指代为S。
-具有相同第一周期b1的第一周期结构108和第二周期结构109。第一周期结构108由按照第一角度α0定向的平行条纹构成，而第二周期结构109由按照与所述第一角度α0相反的第二角度定向的平行条纹构成。通过轴x2来表示角度α0的值，轴x2对应于信息载体101和周期结构的轴。周期结构108-109被平行的放置在数据区105的每一侧上。
如前所述，第一和第二周期结构108-109会与一周期光斑阵列发生干涉以分别产生第一和第二莫尔图。
图13表示由周期光斑阵列(未示)读/写的信息载体101。信息载体101包括：
-通过一组基本数据区定义的数据区105。所述基本数据区被以矩阵的形式组织。两个相邻基本数据之间的距离被指代为S。
-具有相同第一周期b1的第一周期结构108和第二周期结构109。第一周期结构108由按照第一角度α0定向的平行条纹构成，而第二周期结构109也由按照所述第一角度α0定向的平行条纹构成。通过轴x2来表示角度α0的值，轴x2对应于信息载体101和周期结构的轴。周期结构108-109被平行的放置在数据区105的每一侧上。
如前所述，第一和第二周期结构108-109会与一周期光斑阵列发生干涉以分别产生第一和第二莫尔图。
图14表示由周期光斑阵列(未示)读/写的信息载体101。信息载体101包括：
-通过一组基本数据区定义的数据区105。所述基本数据区被以矩阵的形式组织。两个相邻基本数据之间的距离被指代为S。
-具有相同第一周期b1的第一周期结构108和第二周期结构109。第一周期结构108由按照第一角度α0定向的平行条纹构成，而第二周期结构109也由按照所述第一角度α0定向的平行条纹构成。通过轴x2来表示角度α0的值，轴x2对应于信息载体101和周期结构的轴。周期结构108-109被平行的放置在数据区105的每一侧上。
-具有相同第一周期b2的第三周期结构108’和第四周期结构109’。所述第二周期b2不同于所述第一周期b1。所述第三和第四周期结构由按照可等于或不同于所述第一角度α0的相同(如所表示的)或相反角度(未示)定向的平行条纹构成。周期结构108’-109’被平行的放置在数据区105的每一侧上。
如前所述，第一、第二、第三和第四周期结构108-109-108’-109’会与一周期光斑阵列发生干涉以分别产生第一、第二、第三和第四莫尔图。
图15表示由处理装置112所执行的用于调节信息载体101关于光斑阵列103的角位置的环路控制的原理。
反映角度δ的值的信号Sδ被传送给低通滤波器F，所述低通滤波器F趋用于产生传送给致动器AC1-AC2-AC3的控制信号114。相应的，致动器AC1-AC2-AC3校正它们的角位置，其用于修改测量的角度δ。当角度δ趋于零时，信息载体和光斑阵列之间的最佳校准得以满足。
根据本发明的系统可有利的在如前所述的用于在信息载体上读取和/或写入数据的设备中实行。
动词“包括”及其变化形式的使用并不排除出现权利要求中所列举之外的其它元件或步骤。在元件或步骤之前出现的词“一”或“一个”的使用并不排除存在多个这种元件或步骤。
Claims (9)
1.一种系统，包括：
-用于产生施加给信息载体(101)的周期光斑阵列(103)的光学元件(102)，所述信息载体(101)包括会与所述周期光斑阵列(103)发生干涉以产生第一莫尔图的第一周期结构(108)，和会与所述周期光斑阵列(103)发生干涉以产生第二莫尔图的第二周期结构(109)，
-用于从所述第一和第二莫尔图获得介于所述用期光斑阵列(103)和所述信息载体(101)之间的角度值(δ)的分析装置，
-用于根据从所述角度值(δ)获得的控制信号(114)调节所述信息载体(101)相对于所述光斑阵列(103)的角度位置的致动装置(AC1-AC2-AC3)。
2.如权利要求1所述的系统，其中所述分析装置包括：
-用于测量所述第一莫尔图的光变化和所述第二莫尔图的光变化的检测器(106)，
-处理装置(112)，用于获得所述第一莫尔图的光变化的第一频率值(F1)，用于获得所述第二莫尔图的光变化的第二频率值(F2)，和用于从所述第一频率值(F1)和所述第二频率值(F2)获得所述角度值(δ)的符号。
3.如权利要求1所述的系统，其中所述检测器(106)包括用于产生定义所述光变化的局部测度(M)的相邻像素集(PX4-PX5-PX6)。
4.通过周期光斑阵列进行读取和/或写入的信息载体(101)，所述信息载体(101)包括：
-通过一组基本数据区定义的数据区(105)，
-与所述周期光斑阵列发生干涉以产生第一莫尔图的第一周期结构(108)，和
-具有相同第一周期(b1)的第二周期结构(109)，所述第二周期结构(109)会与所述周期光斑阵列发生干涉以产生第二莫尔图。
5.如权利要求4所述的信息载体，还包括：
-与所述周期光斑阵列发生干涉以产生第三莫尔图的第三周期结构(108’)，
-具有相同第二周期(b2)的第四周期结构(109’)，所述第二周期(b 2)不同于所述第一周期(b1)，所述第四周期结构(109’)会与所述周期光斑阵列发生干涉以产生第四莫尔图。
6.如权利要求4或5所述的信息载体，其中：
-第一周期结构(108)由按照第一角度(α0)定向的平行条纹构成，
-第二周期结构(109)由按照所述第一角度(α0)或按照与所述第一角度(α0)相对的第二角度定向的平行条纹构成。
7.如权利要求5或6所述的信息载体，其中：
-所述第一周期(b1)对应于两个相邻基本数据区之间的距离(S)，
-所述第二周期(b2)对应于所述周期光斑阵列的周期(p)。
8.如权利要求4、5、6或7所述的信息载体，其中所述第一、第二、第三和第四周期结构(108-109-108’-109’)的长度对应于信息载体(101)的长度(L)。
9.用于在信息载体上读取和/或写入数据的设备，所述设备包括：
-用于产生施加给所述信息载体(101)的周期光斑阵列(103)的光学元件(102)，所述信息载体(101)包括第一周期结构(108)和第二周期结构(109)，所述第一和第二周期结构(108-109)会与所述周期光斑阵列(103)发生干涉以分别产生第一莫尔图和第二莫尔图，
-用于从所述第一和第二莫尔图获得介于所述周期光斑阵列(103)和所述信息载体(101)之间的角度值(δ)的分析装置，
-用于根据从所述角度值(δ)获得的控制信号(114)调节所述信息载体(101)相对于所述光斑阵列(103)的角度位置的致动装置(AC1-AC2-AC3)。
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