CN1929531A - 接触式图象传感器及其制造方法 - Google Patents

Abstract

为了防止发生重影，提供一种具有便于进行受光元件阵列基板位置调整结构的接触式图象传感器。接触式图象传感器由下述构成：具有发光元件阵列的光源20、缝隙22、透镜24、安装了受光元件阵列25的受光元件阵列基板26、收容上述各部分的机壳28。在光源20的一端，为了供电设有4条导线30。受光元件阵列基板26的一端形成供导线30穿过的4个U字形凹槽32。该凹槽32的大小相对于导线30的粗度留有充分的余地。

Description

接触式图象传感器及其制造方法

技术领域

本发明涉及将接触式图象传感器所包括的受光元件阵列基板在副扫描方向上调整位置的方法、制造接触式图象传感器的方法及接触式图象传感器。

背景技术

可读取原稿信息的接触式图象传感器由光源、透镜、受光元件(CCD等)、以及收容这些的箱体(机壳)构成。接触式图象传感器采用下述构成：用光源射出的光照射原稿，将原稿的反射光用透镜聚光，再用受光元件受光。当原稿面的反射光射入透镜后被受光元件吸纳时，往往因光学系统的构成产生重影，这是造成图像质量低下的原因。重影是一种在本来没有图像的部分上形成虚像的现象。要想防止产生重影，调整光源、透镜以及受光元件等构成图像传感器的部件的位置很重要。

作为构成接触式图象传感器的透镜，多年来一直使用条形透镜阵列(参照专利文献1)。由于条形透镜阵列是通过并列许多条形透镜排列成阵列而构成的，因而采用入射光仅在条形透镜内前进，光线难以进入相邻的条形透镜的结构。因此，当使用了条形透镜阵列的情况下，很难产生重影，为了得到更高质量的图像，通常采用在各条形透镜上设置遮光膜，不需要的光不进入相邻条形透镜的结构。

如上所述，由于条形透镜阵列本来就是不易产生重影的结构，因而在图像传感器中使用条型透镜阵列的情况下，无需为了防止重影，精密重合条形透镜阵列、受光元件等的构成部件的位置，也未使用精密的位置调整手段。

然而，最近，用以取代条型透镜阵列的平板型微型透镜阵列的图像传感器日见增加。由于平板型微型透镜阵列可用树脂注塑成型一体化制作，因而从制作方法上即无法在微型透镜之间整体性形成遮光膜。此外，由于各透镜不像条型透镜阵列那样彼此分离，因而是一种不需要的光容易进入透镜间的结构。因此，本来在使用条型透镜阵列的情况下不是问题的重影，在使用平板型微型透镜阵列的情况下，却成了大问题。

有些文献(专利文献2)中公示出为了防止重影，通常采用在平板型微型透镜阵列上用别的工序设置遮光膜，或在原稿和平板型微型阵列之间设置缝隙。设置缝隙的情况下，若不对缝隙，透镜以及受光元件进行精密的位置调整，则无法防止重影。因此平板型微型透镜阵列、缝隙以及受光元件的副扫描方向上的精密调整尤为重要。

此外，由接触式图象传感器构成的光源可使用线性排列了复数个发光元件(例如，发光二极管或发光闸流晶体管)的线性照明装置，在透过性的线性导光体的端部设置了发光元件的线性照明装置。在此种线性照明装置之中，为了防止产生重影而调整缝隙和透镜的位置的同时，为了获得光量大的接触式图象传感器的输出电压值(下文称之为传感器输出)，需要调整缝隙和受光元件阵列的位置。为此，(专利文献3)中公示出为使缝隙开口部和受光元件阵列平行而调整受光元件阵列位置的方法。

专利文献1：特开平5-167778号公报

专利文献2：特开平11-331498号公报

专利文献3：特开平5-122443号公报

当把平板形微型透镜阵列用于接触式图象传感器时，需要进行平板形微型透镜阵列、缝隙以及受光元件的精密位置调整。精密的位置调整需要边确认有无重影产生边进行，为了确认重影通常使用的方法是用图像传感器扫描图1A所示的圆形图样10的整个测试图样12，通过监视输出图像进行确认。当微型透镜阵列、缝隙以及受光元件的位置未调整到恰当位置的情况下，图1B所示的输出图像14上就会出现重影16。而18是圆形图像10的主像。

然而，当使用图1A的测试图样的情况下，不得不扫描整个测试图样，存在因无法进行在线检查，位置调整占用大量时间的问题。

此外，在接触式图象传感器上构成的光源中因光源自身的光量产生光斑。除此而外，作为透镜类使用了透镜阵列板的情况下，与使用其它透镜(条型透镜阵列等)时相比，尤其存在光斑大的问题。这是因为当用注塑成形形成透镜阵列板的情况下，很难使尺寸(尤其是板厚)及透镜特性(光轴方向，透镜间距及曲率等)在整个成形体上均匀一致。

发明内容

本发明的目的在于为了解决上述问题提供一种在上述接触式图象传感器之中，短时间内调整受光元件阵列基板位置的方法，制造接触式图象传感器的方法，以及具有很容易调整受光元件阵列基板位置的结构的接触式图象传感器。

本发明的第1种方式是在接触式图象传感器之中，调整受光元件阵列基板位置的方法，该方法为了在读取亮度分布均匀的基准原稿时，使受光元件阵列检出的输出信号值达到最大，而调整受光元件阵列基板的副扫描方向的位置。而且，用于本发明受光元件阵列基板调整的基准将原稿可以是亮度均匀的原稿。这样的基准原稿最好用反射率高的原稿，从而使检测到传感器输出变大，使受光元件阵列调整易于进行。亮度分布均匀的基准原稿除了白色或灰色等无彩色的之外，还可以使用有彩色的原稿。

本发明的第2种方式是在接触式图象传感器之中，调整受光元件阵列基板位置的另一种方法。该方法为了根据光源的主扫描方向的光量分布，用受光元件阵列检出的降低主扫描方向的输出信号值的差，将受光元件阵列基板上的受光元件阵列的副扫描方向的位置调整为朝缝隙开口的中心线倾斜。

还有，本发明的第3种方式是通过把用本发明的第1及第2种方式调整后的受光元件阵列基板固定到机壳上，制造接触式图象传感器。

此外，本发明的第4种方式是通过扫描读取原稿的接触式图象传感器。该接触式图象传感器配置有：机壳、固定在机壳上，对原稿照射光的1个或两个光源、固定在机壳上，具有向主扫描方向延伸的细长的缝隙开口部，使原稿反射的光穿过的缝隙、固定在机壳上，通过使经过缝隙的缝隙开口部的光透过，形成正立等倍像，由多枚平板形微型透镜阵列构成的透镜、在机壳内支持可在垂直于主扫描方向的副扫描方向上调整位置，具有受光元件阵列的受光元件阵列基板。

(发明效果)

若采用本发明的位置调整方法，可边监视电信号边进行在线调整。

此外，若采用本发明的接触式图象传感器，由于光源、缝隙以及透镜固定在机壳上，受光元件阵列基板却不固定，通过设置空隙(游隙部分)，位置可调地支持在机壳内部的收容部分上，因而可边监视电信号边将受光元件阵列基板定位。由于这样可仅调整受光元件阵列基板，因而很容易进行在线调整。

还有，若采用本发明的接触式图象传感器，由于将受光元件阵列基板的形状设定为便于给光源提供电力的基板形状，因而便于在线调整。

还有，若采用本发明的接触式图象传感器，由于可抑制起因于光源及透镜阵列的光斑，因而不必增加发光元件的电流值即可提供光量大的接触式图象传感器。

附图说明

图1A表示用接触式图象传感器读取的测试图样。

图1B表示测试图样的读取图像。

图2是接触式图象传感器的分解斜示图。

图3表示光源，缝隙，透镜及受光元件阵列基板在机壳中的收容形态。

图4A表示受光元件阵列基板一端的形状。

图4B表示受光元件阵列基板另一端的形状。

图4C是中央部带长形孔的受光元件阵列基板的平面图。

图4D是中央部带长形孔的受光元件阵列基板的放大图。

图5A是平板形微型透镜阵列的平面图。

图5B是平板形微型透镜阵列的剖面图。

图6表示重影。

图7表示位置调整的一例。

图8表示位置调整的另一例。

图9表示两个光源收容在机壳中的状态。

图10表示在本发明的实施例2的接触式图象传感器之中，仅在光量大的区域使受光元件阵列的位置最大偏离缝隙中央部80μm的状态。

图11表示在本发明中的第2实施例的接触式图象传感器之中，可用受光元件阵列接受光源照射出的被基准原稿反射的反射光的传感器输出测定结果。

图12表示在比较用的接触式图象传感器之中，为使受光元件阵列位于缝隙开口部的大体中央部的正上方，而配置了受光元件阵列基板的状态。

图13表示在比较用的接触式图象传感器之中，可用受光元件阵列接受光源照射出的被基准原稿反射的反射光的传感器输出测定结果。

图14表示在本发明的第2实施例的接触式图象传感器的另一种方式之中，主扫描方向上具有不均匀的开口宽度分布的缝隙开口部的形状。

图15是配置了本发明的接触式图象传感器的图像读取装置的简图。

图16是配置了本发明的接触式图象传感器的图像录入装置之一的复印机的简图。

图中标号说明

20、光源，22、缝隙，23、缝隙开口部，24A、24B、平板形微型透镜阵列，24、透镜、25、受光元件阵列，26、受光元件阵列基板，28、机壳，30、导线，32、凹槽，34、原稿，40、透镜板，42、微型透镜，50、缺口，52、调整销钉，54、孔，

具体实施方式

首先说明本发明的接触式图象传感器的第1实施例。

(实施例1)

图2是接触式图象传感器的分解斜示图。该接触式图象传感器由下述各部分构成：光源20、缝隙22、由重迭的两片平板形微型透镜阵列24A及24B构成的正立等倍透镜24、安装了受光元件阵列25的受光元件阵列基板26、收容上述各部分的机壳28。

光源20是线性照明装置，作为此种线性照明装置有发光元件阵列在主扫描方向上延伸的，以及在线性导光体的端部有发光元件的等等。

此外，在本实施例中，就线性导光体的端部设有由R色、G色以及B色三个发光二极管(LED)构成的发光元件的例子加以说明。此种发光元件的情况下，为了提供电源需要4根或5根导线。在图2之中，为了提供电源在光源20的一端设置了4根导线30。当然也存在不使用导线，而是直接粘接在受光元件阵列基板上的光源。

缝隙22上在本实施例中设有细长形的缝隙开口部23。上述光源20、缝隙22以及透镜24均收容在机壳28内，如图3所示，固定在机壳28上。在图3之中，设置在光源20一端的导线省略了图示。而33则是承载原稿34的玻璃板。

另外，采用了在收容受光元件阵列基板26的机壳28的一部分上设置间隙(游隙)的结构。间隙的宽度设计为可在副扫描方向上将受光元件阵列基板调整±0.1mm以上。并如后述，将受光元件阵列基板26的位置在副扫描方向(图3中为两端箭头C所示的方向)上调整之后，固定到机壳28上。固定可用粘接剂进行。

在此情况下，受光元件阵列基板26的一端如图4A所示，形成供导线穿过的4个U字形凹槽32。该凹槽32并不局限于U字形，也可以是矩形。此外，也可不设凹槽，而是在调整受光元件阵列基板的方向，即副扫描方向上设置长形的孔。

此外，为了相对于导线30的粗度留有充分的余地，也可在受光元件阵列基板26上形成使凹槽32成为供导线30穿过的4个长孔35。

还有，如图4C所示，可在受光元件阵列基板26的中央部上设置用来与机壳底部的突起36嵌合的孔37，最好是长孔形。图4D示出该受光元件阵列基板26中央部附近的放大图。

在图3之中，从光源20射出的光在原稿上反射，经缝隙22的缝隙开口部23射入透镜24。在透镜24上聚光的光射入受光元件阵列25。

在具有上述构成的接触式图象传感器之中，通过将重迭的两片平板形微型透镜阵列24A及24B的微型透镜的排列方向朝主扫描方向倾斜，即可用缝隙去除微型透镜的排列方向上出现的重影。

图5A是平板形微型透镜阵列24A的平面图，图5B是图5A的H-H线剖面图。平板形微型透镜阵列24A是在透镜板40的两面上排列微型透镜(微小凸透镜)42而成的。微型透镜呈六方排列，相对于主扫描方向(图5A中用两端箭头D表示)，微型透镜的排列方向呈15°倾斜。

平板形微型透镜阵列24B的微型透镜的排列也与平板形微型透镜24A相同。通过使该两片平板形微型透镜阵列24A及24B重迭而构成的正等倍透镜24在微型透镜的排列方向上出现重影。

图6表示出现的重影。16表示重影，18表示主像。想必可以理解重影16为什么不出现在包括主像18在内的主扫描方向(用两端箭头D表示的方向)上。

因此，具有排列在主扫描方向上的受光元件阵列25的受光元件阵列基板26若调整副扫描方向的位置，则可不接受重影。因此在读取亮度分布均匀的基准原稿(例如白色原稿)时，可通过调整受光元件阵列基板的副扫描方向的位置，使受光元件阵列25检出的输出信号值达到最大。

在调整受光元件阵列基板26在副扫描方向上的位置时，正如前述，由于在受光元件阵列基板26的一端形成了大小足以让光源20的导线30穿过的凹槽32，导线30的存在并不妨碍受光元件阵列26在副扫描方向上的位置调整。此外，在受光元件阵列基板26调整位置期间，利用导线30很容易给光源20提供电力。

受光元件阵列基板26在副扫描方向上的位置调整可用调整部件进行。图7示出调整部件的一例。作为部件，例如可用销钉等。如图7所示，在机壳28的两个侧面设置缺口50，将调整销钉52插入该缺口中。调整销钉52抵接在受光元件阵列基板26上。由于通过使调整销钉52前后移动，即可使受光元件阵列基板26移动，因而很容易进行受光元件阵列基板的微调。正如图中所示，调整销钉52最好在机壳28的一个侧面上至少设置两个，两个侧面共计设置4个。

当在机壳28的一个侧面设置3个，两个侧面共设置6个调整销钉52的情况下，可通过调整施加给调整销钉的力，纠正受光元件阵列基板26的歪斜。

作为调整部件，除销钉之外也可使用螺钉及弹簧之类。例如在图7之中，若仅将一侧的销钉设定为弹簧及螺钉，很容易进行微调。

图7之中，在机壳上设置了用来插入调整销钉的缺口，但也可如图8所示，设置孔54。

在接触式图象传感器之中，希望用均匀辉度的光照射原稿34。作为实现的方法有：在线性照明装置的光射出面上设置光扩散板。

此外，当使用线性导光体的一端设有发光元件结构的线性照明装置的情况下，只用两个线性照明装置即可。图9示出配置了两个线性照明装置20A及20B的例子。上述装置的各线性导光体，在扫描方向上彼此相反的一侧的一端上设置了发光元件。由于各线性照明装置在主扫描方向上具有均匀的辉度分布，因而通过按照上述配置两个线性照明装置，即可在主扫描方向上获得均匀的辉度分布。

还有，若在1个线性导光体的两端设置发光元件，则可在主扫描方向上获得均匀的辉度分布。

下面说明本发明的接触式图象传感器的第2实施例。

(实施例2)

实施例2的接触式图象传感器可用前述图2所示的构成实现，并省略同样的构成要素的说明。在实施例2中，就不同于实施例1的调整受光元件阵列基板位置的方法加以说明。该方法为：首先用受光元件阵列接受与光源的主扫描方向的光量分布对应的亮度分布均匀的基准原稿(例如白色原稿)的反射光后检出与光源的主扫描方向的光量分布对应的传感器输出。接着，为了降低该检出的主扫描方向的传感器输出的差，通过使受光元件阵列的副扫描方向上的位置朝缝隙开口部的中心线倾斜，调整受光元件阵列基板的位置。将调整后的受光元件阵列基板固定到机壳上，即可制造出接触式图象传感器。

光源20上使用由透光性的线性导光体和设置在其一端的发光二极管光源单元(是单色光源、RGB3色光源、或至少包括RGB三色的光源，下面称之为LED光源单元)构成的线性照明装置。图10示出在接触式图象传感器之中，仅在光量大的区域(例如远离LED光源单元的区域)，使受光元件阵列的位置距缝隙中央部最大80μm的状态。

实施例2中使用的光源20的主扫描方向上的光量分布并不均匀，虽无限定，但在靠近LED光源单元的区域使用的光量小，而在远离LED光源单元的区域使用的光量大。也就是说，在该光源20之中，在透过性的线性导光体的射出面以外的任意侧面上均设有用来使光反射或散射的图形。由于从LED光源单元射入线性导光体的光在导光体内部经反复反射/散射后从射出面射出，因而在远离LED光源单元的区域光量变大。

若采用实施例2的调整受光元件阵列基板位置的方法，通过调整受光元件阵列基板26的配置，光源20的光量小的区域使受光元件阵列26位于缝隙开口部23的副扫描方向的大体中央部位，而光源20的光量大的区域则使受光元件阵列25位于距缝隙开口部23的副扫扫描方向的大体中央部位规定范围内的距离上。规定范围内的距离可规定为，在把缝隙开口部23的主扫描方向(D方向)的距离设为X，将缝隙开口部23的中心线A-A′设为y＝0时，与受光元件阵列25的终点位置XE上的缝隙开口部23的中心线A-A′对应的副扫描线方向的距离y为0≤y≤150μm。而在图10之中，是将受光元件阵列25的始点位置XS定位于缝隙开口部23的中心线上A-A′上，将受光元件阵列25的终点位XE的副扫描方向的距离y定为80μm图示的，但并不局限于此。

该调整方法利用了越靠近缝隙开口部23的副扫描方向的中央部位，受光元件阵列25接受的光量越大这一现象。此外，缝隙开口部23的中心线A-A′和受光元件阵列25的距离越大，越容易产生重影。尤其是受光元件阵列25的副扫描方向的距离y超过150μm，就很容易产生重影。还有，缝隙开口部的中心线A-A′和受光元件25的距离越大，受光元件阵列接受的光量越下降。因此，受光元件阵列为了接受成像所需的一定以上的光量，就产生了增加光源20光量的要求。尤其是由于受光元件阵列25的位置XE的副扫描方向的距离y超过150μm就必须极大地增加流入光源20的电流值，因而并不理想。

图11示出可通过受光元件阵列接受光源照射出的基准原稿的反射光即可获得的传感器输出的测定结果。

作为表示光斑的指标，使用下式。

PRNU＝(最大输出-最小输出)/最大输出+最小输出)×100(％)

实施例2中的PRNU为36％，光斑下降。这时的LED光源单元的LED的电流值设定为10.8mA。受光元件阵列25的位置一离开缝隙开口部23的中心线A-A′，受光元件阵列25接受的光量即变小。因此，为了使受光元件阵列与缝隙开口部23的中心线A-A′一致时那样，与最大的传感器输出大体相同，使LED光源单元的LED电流值增大。由于使受光元件阵列25与中心线A-A′一致时的LED光源的电流值为10mA，因而实施例2的发光二极管电流值的增大率较小，为10％以下。此外，未发现重影。

下面说明针与施例2的接触式图象传感器对应的比较例1。

(比较例1)

图12表示为了使受光元件阵列25位于缝隙的开口部23的大体正上方(即中心线A-A′上方)，而调整了受光元件阵列基板26的位置的状态。在该状态下，通过受光元件阵列25接受光源20照射出的基准原稿的反射光即可获得的传感器输出的测定结果示于图13。

从图13可以看出，由于光源20主扫描方向上的光量分布，在受光元件阵列25的主扫描方向的始点位置XS附近的区域内传感器输出小，而在远离受光元件阵列25的主扫描方向的始点位置XS的区域内传感器输出变大。作为光斑指标的PRNU为45％。LED光源单元的电流值为10mA。未产生重影。通过与比较例1对比，可以看出像实施例2那样倾斜受光元件阵列基板26更为有效。

下面说明与实施例2的接触式图象传感器对应的比较例2。

(比较例2)

在比较例2中，将图10所示的接触式图象传感器的构成中受光元件阵列25的终点位置XE的副扫描方向的距离y设定得大于150μm。在该构成之中产生了重影。还有，若边使受光元件阵列25的副扫描方向的距离y在145μm到155μm间移动边观察传感器输出，就会发现在超过150μm的距离上产生了重影。此外，若将受光元件阵列25的副扫描方向的距离y设定为超过150μm的距离，则为了使受光元件阵列与缝隙开口部23的中心线A-A′一致时那样，与最大传感器输出大体相同，就得把LED光源的电流值增加相当大的值例如13.5mA。

在实施列2中，是以光源自身产生的光斑为对象加以说明的，但也可将缝隙开口部23在主扫描方向上具有不均匀的开口宽度分布时生产的光斑，以及由于光源20和缝隙开口部23之间的位置关系等产生的光斑设定为对象。例如，当缝隙开口部23在主扫描方向上具有不均匀的开口宽度分布的情况下，通过使受光元件阵列25副扫描方向上的位置在缝隙开口部25的开口宽度大的区域偏离缝隙开口部23的中心线A-A′而在缝隙开口部23的开口宽度小的区域则尽量靠近缝隙开口部23的中心线A-A′，即可获得更为均匀的传感器输出。

当针对图10所示的接触式图象传感器的构成，设定为图14所示的，主扫描方向上具有不均匀的开口宽度分布的缝隙开口部23的情况下，PRNU为30％左右。与其说此事起因于设定为使主扫描方向的光量分布更均匀的开口宽度分布，还不如说通过设定为使副扫描方向的光量变动更为缓和的开口宽度分布，具有更加便于光学调整的效果。未发生重影。

下面说明配置了本发明的接触式图象传感器的图像读取装置的

实施例。

(图像读取装置)

图15是配置了本发明的接触式图象传感器的图像读取装置的简图。作为图像读取装置之一的图像扫描器200配置有：对承载于原稿台50上的原稿G照射光的光源20、利用该原稿G的反射光读取原稿的图像信息的接触式图象传感器100、使之扫描原稿的驱动源230、控制图像扫描的控制电路部208。接触式图象传感器100配置了通过接受设置在受光元件阵列基板26上的原稿的反射光，读取原稿G的图像信息的受光元件阵列25，将原稿G的反射光在受光元件阵列上成像的透镜24。

控制电路部208配置有：控制驱动源230的驱动的扫描控制部201、控制接触式图象传感器100内的光源20发光的点灯控制部202、通过配置在接触式图象传感器100内的受光元件阵列基板26上的受光元件阵列25接受原稿G的反射光，控制光电变换的处理部的传感器驱动控制部203、处理通过传感器驱动控制部203获得的光电变换后的从传感器输出的图像信息的图像处理部204、将图像处理后的图像信息输出给外部设备等的接口部205、收容图像处理、接口以及各种控制所需程序的存储器207、控制扫描控制部201、点灯控制部202、传感器驱动控制部203、图像处理部204、接口部205以及存储器207的中央运算处理装置(CPU)206。例如，从实施例2的接触式图象传感器100获得的传感器输出有时可用朝主扫描方向(D方向)倾斜的位置信息读取，但自然也可用图像处理部204恰当地变换位置信息，为了保持此种位置信息而使用存储器207。

在图15所示的图像读取装置之中，设定为固定接触式图象传感器100，通过使之扫描原稿G即可读取原稿的图像信息，但也可通过固定原稿G，使接触式图象传感器100在副扫描方向(图示的C方向)上扫描来读取原稿的图像信息。

下面说明配置了本发明的接触式图象传感器的图像录入装置的

实施例。

(图像录入装置)

图16是配置了本发明的接触式图象传感器的图像录入装置之一的复印机的简图。与图15相同的构成要素上标注相同的参照标号，并省略相同的说明。

图16所示的复印机，首先根据接触式图象传感器100的图像信息，光录入头340内的发光元件阵列341亮灯。接着，将该亮灯的发光点发出的光用透镜24K聚光后照射感光鼓302。在圆筒形的感光鼓302表面上形成非晶硅等具有光导电性的材料(感光体)。该感光鼓以印刷速度旋转。用带电器304使旋转的感光鼓的感光体表面同样带电。并用光录入头340将打印的点图像的光照射到感光体上，中和光照部位的带电。接着，用显影器306按照感光体上的带电状态，将调色剂附着到感光体上。并用复印器308将调色剂复印到传送来的复印纸312上。复印纸312可用定型器314加热定型，最终将原稿G的图像信息复印到复印纸312上。复印结束后的感光鼓302可用消去灯318在整个面上中和带电，用清扫器320去除多余的调色剂。

图16是用复印机加以说明的，但该装置的构成在传真机或多功能传真打印机等处也大体相同。

在上述实施例中是用具有代表性的例子说明本发明的，但对于业内人土而言显然可在本发明的主旨及范围内进行多种变更及置换。因此，本发明不应理解为受上述实施例的限制，而仅受权利要求范围的制约。

若采用本发明，可提供一种降低重影及改善了PRNU的接触式图象传感器，可用于配置接触式图象传感器的图像扫描器、传真机、复印机及包括多功能传真打印机等复合机种在内的图像读取装置及图像录入装置之中。

Claims (16)

1、一种调整受光元件阵列基板位置的方法，用于在接触式图象传感器中，该接触式图象传感器包括：机壳；固定在前述机壳上，给原稿照射光的1个或两个光源；具有固定在前述机壳上，沿主扫描方向延伸的细长缝隙开口部，使前述原稿上反射的光通过的缝隙；固定在前述机壳上，使穿过前述缝隙的缝隙开口部的光透过后形成正立等倍像的，由多个平板形微型透镜阵列构成的透镜；支持在前述机壳内，可在垂直于前述主扫描方向的副扫描方向上调整位置的具有受光元件阵列的受光元件阵列基板，该方法其特征在于包括：

(a)将亮度分布均匀的基准原稿承载到前述缝隙开口部上部的步骤；

(b)利用前述光源对前述基准稿照射光的步骤；

(c)用前述受光元件阵列接受穿过前述缝隙开口部的前述基准原稿上的反射光，检出光电变换后的传感器输出的步骤；

(d)为使通过前述步骤(c)检出的传感器输出达到最大，在副扫描方向上调整前述受光元件阵列基板的位置的步骤。

2、根据权利要求1所述的方法其特征在于，还包括下述步骤：前述机壳上设有用于插入调整前述受光元件阵列基板位置的调整部件的多个孔或缺口，前述步骤(d)用前述调整部件在副扫描方向上调整前述受光元件阵列基板的位置的步骤。

3、一种调整受光元件阵列基板位置的方法，用于在接触式图象传感器中，该接触式图象传感器包括：机壳；固定在前述机壳上，给原稿照射光的1个或两个光源；具有固定在前述机壳上，沿主扫描方向延伸的细长缝隙开口部，使前述原稿上反射的光通过的缝隙；固定在前述机壳上，使穿过前述缝隙的缝隙开口部的光透过后形成正立等倍像的，由多个平板形微型透镜阵列构成的透镜；支持在前述机壳内，可在垂直于前述主扫描方向的副扫描方向上调整位置的具有受光元件阵列的受光元件阵列基板，该方法其特征在于包括：

(a)将亮度分布均匀的基准原稿承载到前述缝隙开口部上部的步骤；

(b)利用前述光源对前述基准原稿照射光的步骤；

(c)用前述受光元件阵列接受穿过前述缝隙开口部的前述基准原稿上的反射光，检出光电变换后的传感器输出的步骤；

(d)为了降低前述步骤(c)检出的传感器输出的主扫描方向的分布差，通过朝前述缝隙开口部的中心线倾斜，在副扫描方向上调整前述受光元件阵列列基板的位置的步骤。

4、根据权利要求3所述的方法，其特征在于还包括下述步骤：前述机壳上设有用于插入调整前述受光元件阵列基板位置的调整部件的多个孔或缺口，前述步骤(d)用前述调整部件在副扫描方向上调整前述受光元件阵列基板的位置的步骤。

5、一种制造接触式图象传感器，该接触式图象传感器包括：机壳；固定在前述机壳上，给原稿照射光的1个或两个光源；具有固定在前述机壳上，沿主扫描方向延伸的细长缝隙开口部，使前述原稿上反射的光通过的缝隙；固定在前述机壳上，使穿过前述缝隙的缝隙开口部的光透过后形成正立等倍像的，由多个平板形微型透镜阵列构成的透镜；支持在前述机壳内，可在垂直于前述主扫描方向的副扫描方向上调整位置的具有受光元件阵列的受光元件阵列基板，该方法其特征在于包括：

(a)将亮度部分均匀的基准原稿承载到前述缝隙开口部上部的步骤；

(b)利用前述光源对前述基准原稿照射光的步骤；

(c)用前述受光元件阵列接受穿过前述缝隙开口部的前述基准原稿上的反射光，检出光电变换后的传感器输出的步骤；

(d)为使通过前述步骤(c)检出的传感器输出达到最大，调整前述受光元件阵列基板的副扫描方向的位置的步骤。

(e)将通过前述步骤(d)调整了的前述受光元件阵列基板固定到前述机壳上的步骤。

6、根据权利要求5所述的方法，其特征在于，还包括下述步骤：前述机壳上设有用于插入调整前述受光元件阵列基板位置的调整部件的多个孔或缺口，前述步骤(d)用前述调整部件在副扫描方向上调整前述受光元件阵列基板的位置的步骤。

7、一种制造接触式图象传感器，该接触式图象传感器包括：机壳；固定在前述机壳上，给原稿照射光的1个或两个光源；具有固定在前述机壳上，沿主扫描方向延伸的细长缝隙开口部，使前述原稿上反射的光通过的缝隙；固定在前述机壳上，使穿过前述缝隙的缝隙开口部的光透过后形成正立等倍像的，由多个平板形微型透镜阵列构成的透镜；支持在前述机壳内，可在垂直于前述主扫描方向的副扫描方向上调整位置的具有受光元件阵列的受光元件阵列基板，该方法其特征在于包括：

(a)将亮度分布均匀的基准原稿承载到前述缝隙开口部上部的步骤；

(b)利用前述光源对前述基准原稿照射光的步骤；

(c)用前述受光元件阵列接受穿过前述缝隙开口部的前述基准原稿上的反射光，检出光电变换了的传感器输出的步骤；

(d)为了降低前述步骤c检出的主扫描方向的传感器输出的差，通过朝前述缝隙开口部的中心线倾斜，调整前述受光元件阵列基板的副扫描方向上的位置的步骤。

(e)将通过前述步骤(d)调整后的前述受光元件阵列基板固定在前述机壳上的步骤。

8、根据权利要求7所述的方法，其特征在于，还包括下述步骤：前述机壳上设有用于插入调整前述受光元件阵列基板位置的调整部件的多个孔或缺口，前述步骤(d)用前述调整部件在副扫描方向上调整前述受光元件阵列基板的位置的步骤。

9、一种通过扫描读取原稿的接触式图象传感器，其特征在于包括：

机壳；

固定在前述机壳上，给原稿照射光的1个或两个光源；

具有固定在前述机壳上，沿主扫描方向延伸的细长缝隙开口部，使前述原稿上反射的光通过的缝隙；

固定在前述机壳上，使经过了前述缝隙的缝隙开口部的光透过后形成正立等倍像的，由多枚平板形微型透镜阵列构成的透镜；

支持在前述机壳内，可在垂直于前述主扫描方向的副扫描方向上调整位置的具有受光元件阵列的受光元件阵列基板。

10、根据权利要求9所述的接触式图象传感器，其特征在于：前述机壳上设有用来插入调整前述受光元件阵列基板位置的调整部件的多个孔或缺口。

11、根据权利要求10所述的接触式图象传感器，其特征在于：前述光源包括线性照明装置。

12、根据权利要求11所述的接触式图象传感器，其特征在于：前述线性照明装置至少在一端上具有至少一根提供电源的导线，前述受光元件阵列基板在其端部至少具有使前述各导线通过的一个凹部或长孔。

13、根据权利要求10所述的接触式图象传感器，其特征在于：前述透镜由重迭的二片平板形微型透镜阵列构成。

14、根据权利要求10所述的接触式图象传感器，其特征在于：前述平板形微型透镜阵列的微型透镜排列为六方排列，排列方向朝主扫描方向倾斜。

15、使用了权利要求9～14任一项所述的接触式图象传感器的图像读取装置。

16、使用了权利要求9～14任一项所述的接触式图象传感器的图像录入装置。

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