CN1922663B - 访问装置、访问方法以及控制装置 - Google Patents

访问装置、访问方法以及控制装置 Download PDF

Info

Publication number
CN1922663B
CN1922663B CN2005800053417A CN200580005341A CN1922663B CN 1922663 B CN1922663 B CN 1922663B CN 2005800053417 A CN2005800053417 A CN 2005800053417A CN 200580005341 A CN200580005341 A CN 200580005341A CN 1922663 B CN1922663 B CN 1922663B
Authority
CN
China
Prior art keywords
mentioned
record
test data
data
user
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN2005800053417A
Other languages
English (en)
Other versions
CN1922663A (zh
Inventor
宫下晴旬
日野泰守
紫原哲也
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Publication of CN1922663A publication Critical patent/CN1922663A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN1922663B publication Critical patent/CN1922663B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
    • G11B7/125—Optical beam sources therefor, e.g. laser control circuitry specially adapted for optical storage devices; Modulators, e.g. means for controlling the size or intensity of optical spots or optical traces
    • G11B7/126—Circuits, methods or arrangements for laser control or stabilisation
    • G11B7/1267—Power calibration
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/007—Arrangement of the information on the record carrier, e.g. form of tracks, actual track shape, e.g. wobbled, or cross-section, e.g. v-shaped; Sequential information structures, e.g. sectoring or header formats within a track
    • G11B7/00736—Auxiliary data, e.g. lead-in, lead-out, Power Calibration Area [PCA], Burst Cutting Area [BCA], control information

Abstract

本发明提供一种能缩短用于测试记录及测试再生的光学头的寻道时间的访问装置、访问方法、访问程序以及控制装置。记录媒体(200)，包含用于记录可基于用户的指示进行记录及再生的用户数据的用户区域，记录系统电路部(120)，将基于指定的测试条件的测试数据记录到用户区域，再生系统电路部(130)，读取由记录系统电路部(120)记录到用户区域的测试数据，系统控制电路(102)，通过参照由再生系统电路部(130)读取的测试数据，调整用于对记录媒体(200)进行访问的访问参数。

Description

访问装置、访问方法以及控制装置
技术领域
本发明涉及一种对包含有用户可记录数据的用户区域的记录媒体进行访问的访问装置、访问方法、访问程序以及控制装置。
背景技术
近年来，记录媒体的高密度化、大容量化正在不断进展，而确保记录媒体的可靠性则变得非常重要。作为确保记录媒体的可靠性的方法，有如专利文献1(专利公开公报特开平7-182792号)所公开的一种方法，通过设置对坏扇区(defective sector)的替换扇区(alternate sector)，使得不能再访问坏扇区。另外，为了确保记录媒体的可靠性，通过记录再生装置，执行用于决定最佳访问参数的测试处理，对记录媒体的访问参数予以调整。
访问参数是指，例如记录功率。记录功率是记录数据时照射到记录媒体上的激光的功率。通过进行用来决定最佳记录功率的测试处理，照射到记录媒体上的记录功率得以调整。
访问参数，基于对写入区域(read-in area)或读出区域(read-out area)的测试记录及测试再生的结果被进行调整。写入区域被分配在记录媒体的内周。读出区域被分配在记录媒体的外周。
然而，如果在通过光学头访问用户区域来记录数据或再生数据时产生了测试处理的需要，测试处理时间则会变长。这是因为，为了进行测试处理，必须让光学头在写入区域或读出区域进行寻道，对写入区域或读出区域进行测试记录及测试再生。
若测试处理时间变长，会导致出现AV数据的再生被打乱、录像中途中断、用户数据的记录执行时间变长等问题。
而且，为了适应记录媒体的高密度化，要求用最适于记录再生的状态变化的访问参数来记录再生数据。因此，必须按照记录再生的状态变化来频繁地执行测试处理，其结果会导致上述问题更加突出。
发明内容
本发明的目的在于要解决上述的课题，提供一种能够缩短用于测试记录及测试再生的光学头的寻道时间的访问装置、访问方法、访问程序以及控制装置。
本发明所提供的访问装置，对记录媒体进行访问，其中所述记录媒体包含用于记录可基于用户的指示进行记录及再生的用户数据的用户区域，其特征在于包括：记录单元，将基于指定的测试条件的测试数据记录到上述用户区域；读取单元，读取由上述记录单元记录到上述用户区域中的上述测试数据；调整单元，通过参照由上述读取单元读取的上述测试数据，对用于访问上述记录媒体的访问参数进行调整，上述记录单元，从沿记录媒体的半径方向向外圆周方向离开上述用户区域中的用户数据的记录结束位置指定的距离的位置起开始记录上述测试数据，从沿记录媒体的半径方向向外圆周方向离开上述测试数据的记录结束位置指定的距离的位置起开始记录用户数据。
本发明还提供一种访问方法，用于对记录媒体进行访问，其中所述记录媒体包含用于记录可基于用户的指示进行记录及再生的用户数据的用户区域，其特征在于包括以下步骤：记录步骤，将基于指定的测试条件的测试数据记录到上述用户区域；读取步骤，读取在上述记录步骤中被记录到上述用户区域中的上述测试数据；调整步骤，通过参照在上述读取步骤中被读取的上述测试数据，对用于访问上述记录媒体的访问参数进行调整，上述记录步骤，从沿记录媒体的半径方向向外圆周方向离开上述用户区域中的用户数据的记录结束位置指定的距离的位置起开始记录上述测试数据，从沿记录媒体的半径方向向外圆周方向离开上述测试数据的记录结束位置指定的距离的位置起开始记录用户数据。
根据上述的结构或方法，记录媒体包含用于记录可基于用户的指示进行记录及再生的用户数据的用户区域。而且，基于指定的测试条件的测试数据被记录到用户区域，记录在用户区域中的测试数据被读取。接着，通过参照被读取的测试数据，用于访问记录媒体的访问参数被进行调整。
本发明还提供一种控制装置，用于控制具备在记录媒体上记录数据的记录单元和从记录媒体中读取数据的读取单元的访问装置，其中所述记录媒体包含用于记录可基于用户的指示进行记录及再生的用户数据的用户区域，其特征在于包括：记录指示单元，指示上述记录单元将基于指定的测试条件的测试数据记录到上述用户区域；读取指示单元，指示上述读取单元读取由上述记录单元记录到上述用户区域中的上述测试数据；调整单元，通过参照由上述读取单元读取的上述测试数据，对用于访问上述记录媒体的访问参数进行调整，上述记录单元，从沿记录媒体的半径方向向外圆周方向离开上述用户区域中的用户数据的记录结束位置指定的距离的位置起开始记录上述测试数据，从沿记录媒体的半径方向向外圆周方向离开上述测试数据的记录结束位置指定的距离的位置起开始记录用户数据。
根据以上的结构，记录媒体包含用于记录可基于用户的指示进行记录及再生的用户数据的用户区域。而且，记录单元被指示将基于指定的测试条件的测试数据记录到用户区域，读取单元被指示读取由记录单元记录到用户区域中的测试数据。接着，通过参照由读取单元读取的测试数据，用于访问记录媒体的访问参数被进行调整。
根据本发明，不必在被分配在较用户区域更内周的写入区域或被分配在较用户区域更外周的读出区域记录再生测试数据，即可以对访问参数进行调整，从而能够缩短用于记录及再生测试数据的光学头的寻道时间。
另外，记录媒体，其记录特性也会因半径位置不同而有所不同。作为其原因，可认为是记录膜的特性的参差不一以及盘的倾斜(tilt)等。因此，与其在盘的最内周或最外周的测试区域进行测试记录及测试再生来决定访问参数，不如在靠近进行记录的用户区域的区域进行测试记录及测试再生来决定访问参数，这样可以决定更合适的访问参数，从而能够使记录质量提高。
本发明的目的、特征及优点，可通过以下详细的说明及附图更为明确。
附图说明
图1是本发明的实施方式所使用的记录媒体的结构示意图。
图2是本发明的实施方式的访问装置的结构示意图。
图3是表示本发明的实施方式的访问处理过程的一个例子的流程图。
图4是表示记录功率的调整过程的流程图。
图5是访问顺序的各种例子的示意图。
图6是表示本发明的实施方式的访问处理过程的其它例子的流程图。
图7是本发明的实施方式的访问处理过程的其它例子的访问顺序的示意图。
具体实施方式
下面，将参照附图对本发明的实施方式进行说明。
1.记录媒体
图1是本发明的实施方式中所使用的记录媒体200的结构示意图。记录媒体200包含记录层。通过在记录层上形成记录标志，数据被记录到记录媒体200。在记录媒体200中，轨道形成同心圆状。
记录媒体200包含写入区域210、用户区域220和读出区域230。
用户区域220具有用户可以记录数据的结构。在用户区域220中，例如可基于用户的指示进行记录及再生的用户数据予以记录。在用户数据中，例如音频数据及视频数据被包含于其中。
用户区域220包含有多个用户数据。在图1的例子中，用户区域220包含有第1用户数据221、第2用户数据224和第3用户数据226。
第1用户数据221包含坏扇区(defective sector)222和替换扇区(alternatesector)223。另外，坏扇区222及替换扇区223分别至少含有1个扇区。坏扇区222，是因记录媒体200的表面上附着的污垢或瑕疵等而导致不能正常地执行数据的记录再生的扇区。替换扇区223是用于记录应该被记录到坏扇区222的数据的扇区。
另外，坏扇区222并不仅局限于不能正常执行数据的记录再生的扇区。坏扇区222也可以是被认为似乎不能够正常执行数据的记录再生的扇区。此时，在替换扇区223，应该被记录到坏扇区222中的数据也被予以记录。
写入区域210及读出区域230与用户区域220不同，用户不能在其中记录数据。在写入区域210及读出区域230，对于访问记录媒体200的装置来说是必要的用于管理用户区域220的管理信息或用于管理用户区域220的缺陷的数据等被予以记录。
写入区域210包含PIC(Permanent Information and Control data)区域212、OPC(Optimum Power Calibration)区域214、驱动(Drive)区域216以及DMA(DefectManagement Area)区域240。
PIC区域212中，记录有例如，用户区域220的最大地址及访问参数。访问参数是与用于在记录媒体200上形成及消去多个记录标志的激光功率相关的参数以及与用于记录多个记录标志的记录脉冲宽度相关的参数。
OPC区域214是用于记录或再生测试数据的区域。测试数据的记录或再生，是为了对记录媒体200进行访问的访问装置调整访问参数(例如，记录功率及脉冲宽度等的调整)而进行的。
DMA区域240中，保存有表示缺陷区域(例如坏扇区222)的位置信息和缺陷区域的替换区域(例如替换扇区223)的位置信息的一览表。例如，DMA区域240中，坏扇区地址242、244和替换扇区地址246、248被记录于其中。例如，坏扇区地址242表示坏扇区222的位置。例如，替换扇区地址246表示替换扇区223的位置。
以上，参照图1对本发明的实施方式中所使用的记录媒体200的一个例子进行了说明。例如，在图1所示的例子中，用户区域220，相当于“用于记录可基于用户的指示进行记录及再生的用户数据的用户区域”。然而，本发明的实施方式中所使用的记录媒体200并不局限于图1所示的例子。记录媒体只要包含用于记录可基于用户的指示进行记录及再生的用户数据的用户区域，则可以有任意的结构。
例如，记录媒体200，其轨道形成同心圆状，但只要记录媒体200包含用户区域220，轨道的形状并不局限于同心圆状。记录媒体200中，其轨道也可以形成螺旋状。
并且，记录媒体200，虽然还包含有OPC区域214，但只要记录媒体200包含用户区域220，记录媒体200也可以不包含OPC区域214。
并且，记录媒体200，为可擦写型记录媒体或可记录型记录媒体。可擦写型记录媒体，例如为CD-RW、DVD-RW(Digital Versatile Disk Rewritable)及BDRE(Blue-ray Disk Rewritable Format)等。可记录型记录媒体，例如为CD-R、DVD-R及BD-R等。
并且，记录媒体200例如为光盘，但只要记录媒体200包含用户区域220，记录媒体200则不局限于光盘。例如，记录媒体200也可以是包含有用户区域220的磁盘。
2.访问装置
图2是本发明的实施方式的访问装置100的结构示意图。访问装置100中可安装有图1所示的记录媒体200。
访问装置100包括：控制包含在访问装置100中的各构成要素的工作的系统控制电路102、光学头106、使记录媒体200旋转的主轴马达(spindle motor)107、缺陷区域登记电路115、触发检测电路116、保存部117、记录系统电路部120和再生系统电路部130。
光学头106读取记录在记录媒体200中的数据。具体来讲，光学头106将半导体激光进行聚光，将聚光后的光照射到记录媒体200上。然后，光学头106通过检测记录媒体200反射的光，来读取记录在记录媒体200中的数据。另外，光学头106还向记录媒体200中记录数据。具体来讲，光学头106将半导体激光进行聚光，通过将聚光后的光照射到记录媒体200上，在记录媒体200中记录数据。
缺陷区域登记电路115，按照系统控制电路102的指示，将用户区域220中所包含的坏扇区地址242登记到DMA区域240。并且，缺陷区域登记电路115还按照系统控制电路102的指示，将用于记录应该被记录在坏扇区222的数据的替换扇区223分配给第1用户数据221，并将替换扇区地址246登记到DMA区域240。例如，在访问装置100启动时，访问装置100读取被登记到记录媒体200的DMA区域240中的坏扇区地址和替换扇区地址，识别坏扇区222的位置和替换扇区223的位置。
触发检测电路116，检测用于开始调整访问参数的触发。触发检测电路116的详细情况，将在后面进行说明。
保存部117，保存在用户区域220中记录的数据。按照系统控制电路102的指示，数据被记录到用户区域220。被保存在保存部117中的数据，例如，为表示内容的用户数据。用户数据，例如，至少是音频数据及视频数据的其中之一。另外，保存部117中所保存的数据并不局限于用户数据。只要是能够被记录到用户区域220，也可以是与指定的图案(pattern)记录标志相对应的标志数据。例如，可以至少是与最短记录标志对应的标志数据(与2T记录标志对应的2T标志数据)及与最长记录标志对应的标志数据(与9T记录标志对应的9T标志数据)的其中之一。
记录系统电路部120，通过参照被读取的信号，对用于在记录媒体200中进行记录的记录参数进行调整。记录系统电路部120，根据对触发检测进行了应答的系统控制电路102的指示，将被保存在保存部117的数据记录到用户区域220。
记录系统电路部120包括：调制电路103、记录脉冲列生成电路104、记录功率控制电路105和转速设定电路108。
调制电路103，将在记录媒体200中记录的数据转换成被进行了二进制处理的记录调制符号。记录脉冲列生成电路104，基于记录调制符号制作表示记录脉冲列的数据。记录功率控制电路105，基于被制作的数据调整半导体激光的电流。转速设定电路108，通过控制主轴马达107的转动数，来设定记录媒体200的转动速度。
再生系统电路部130，通过参照读取的信号，对用于再生记录媒体200中所记录的数据的再生参数进行调整。再生系统电路部130，应答触发检测，对记录到用户区域220的数据进行测试再生。
再生系统电路部130，包括读取信号处理电路109、解调电路110和检测电路部140。
读取信号处理电路109，对由光学头106读取的信号(被记录在用户区域中的部分区域中的信号)进行处理。被读取的信号的处理，包括对读取信号数字化及二进制的处理，以及获得读取信号的同步时钟(synchronous clock)的处理。解调电路110，对经过数字化处理的读取信号进行译码，并生成经过译码化处理的读取信号。
检测电路部140，根据读取信号或经过了译码的读取信号，检测被记录在用户区域220中的数据的记录状态，判断被记录的数据其记录状态是否良好。检测电路部140，包括不对称检测电路(asymmetry detection circuit)111、不稳定检测电路(jitter detectioncircuit)112、M指标检测电路113、误码率(BER)(bit error-rate)检测电路114和调制度检测电路(modulation-factor detection circuit)118。
不对称检测电路111检测读取信号的不对称值。不稳定检测电路112检测读取信号的不稳定值(jitter value)。M指标检测电路113检测经过了译码的读取信号的M指标。BER检测电路114检测经过了译码的读取信号的误码率。调制度检测电路118检测读取信号的调制度。不对称值、不稳定值、M指标、误码率及调制度均表示被记录在到用户区域220中的数据的记录状态。
另外，检测电路部140，只要能够检测出记录数据的记录状态，则并不局限于包括不对称检测电路111、不稳定检测电路112、M指标检测电路113、误码率(BER)检测电路114和调制度检测电路118。例如，检测电路部140，可至少包括不对称检测电路111、不稳定检测电路112、M指标检测电路113、BER检测电路114及调制度检测电路118中的其中之一。例如，检测电路部140，也可以包含不对称检测电路111、不稳定检测电路112、M指标检测电路113、BER检测电路114及调制度检测电路118以外的检测电路。
如参照图1及图2所述，根据本发明的访问装置，通过参照被记录在用户区域220中的数据(例如，表示内容的数据、由指定的图案记录标志表示的数据)，对访问参数进行调整。因此，可以不需要参照被记录于被分配在较用户区域更内周的写入区域或被分配在较用户区更外周的读出区域中的数据，就能够调整访问参数。其结果，对记录有参照数据的区域进行访问的时间被缩短，从而可以缩短测试记录及测试再生所需要的时间。
以上，参照图1及图2，对本发明的实施方式的访问装置的一个例子进行了说明。例如，在图2所示的例子中，系统控制电路102及记录系统电路部120相当于记录单元，系统控制电路102及再生系统电路部130相当于读取单元，系统控制电路102相当于调整单元。然而，本发明的访问装置100并不局限于图2所示的例子。只要访问装置所具备的多个构成要素具有上述的功能，则可以是任意的结构。
例如，访问参数，可以通过测试记录及测试再生进行检测。可通过测试记录及测试再生检测的访问参数中，包含有记录功率及脉冲宽度。
例如，访问参数只能通过测试再生进行检测。只能通过测试再生检测的访问参数中包含有伺服参数(例如，聚焦平衡、球面像差、记录媒体的倾斜)。而且，根据需要，也可以仅通过测试再生检测记录功率及脉冲宽度。
例如，系统控制电路102、记录系统电路部120及再生系统电路部130的至少其中之一的电路可以被包含在1芯片化(chip)的LSI(a single-chip LSI)中。通过将系统控制电路102、记录系统电路部120及再生系统电路部130的至少其中之一包含在LSI中，可以使访问装置100的制造工艺简单化。该LSI作为本发明的控制装置而发挥其功能。
而且，访问装置100也可以具备通信单元。通信单元与主机PC(个人电脑)连接。访问装置100也可以通过通信单元与主机PC进行收发数据或指令的接收。指令例如为写(WRITE)指令。
而且，为了将记录功率调整到最佳值，系统控制电路102操作不对称检测电路111。为了使记录再生信号的不稳定值最小化，系统控制电路102操作不稳定检测电路112。然而，系统控制电路102操作的检测电路并不限于不对称检测电路111及不稳定检测电路112的至少其中之一。系统控制电路102操作的检测电路也可以至少是M指标检测电路113、BER检测电路114及调制度检测电路118的其中之一。例如，为了将记录功率调整到最佳值，系统控制电路102操作M指标检测电路113，系统控制电路102操作BER检测电路114，或系统控制电路102操作调制度检测电路118。
另外，M指标表示PRML(Partial Response Maximum Likelihood)方式的最佳译码结果的可靠性。表示PRML方式的最佳译码结果的可靠性的指标的详细情况，在与本申请发明人相同的一部分发明人及与本申请的申请人相同的申请人所申请的日本专利公开公报特开2003-141823号中予以说明。在特开2003-141823号公报中，提出了一种通过参照基于PRML期待值误差的信号评估指标，来控制、决定激光的功率的方法。PRML方式由称为PR的波形均等方式和称为ML的最佳译码方式的组合而得到。
3.访问方法
图3是表示本发明的实施方式的访问处理过程(procedure)的流程图。下面，参照图1、图2及图3，对本发明的实施方式的访问处理过程按步骤进行说明。
步骤402：访问装置100通过用户的操作而被启动。被登记在记录媒体200的DMA区域240中的坏扇区地址242和替换扇区地址246被读取，坏扇区222的位置和替换扇区223的位置得以识别。
步骤404：系统控制电路102控制记录系统电路部120，以便在记录媒体200的用户区域220中记录用户数据。
步骤406：触发检测电路116检测用于开始调整记录功率的触发。具体来讲，触发检测电路116根据访问装置100的温度变化来检测触发。触发检测电路116包含能够测量访问装置100的温度的温度计。触发检测电路116存储访问装置100启动时的温度。触发检测电路116，在指定的时机测量访问装置100的温度，并检测出测量到的温度和启动时的温度的变化量超过了指定的值。另外，此时的温度变化量，例如，为4度、8度、16度。触发检测后，处理进入步骤408。
步骤408：系统控制电路102，根据触发检测电路116的触发检测，调整记录功率。即，系统控制电路102，在触发检测电路116检测到触发时，指示记录系统电路部120将用户数据作为测试数据记录到记录媒体200中。
记录系统电路部120，按照系统控制电路102的指示，将保存在保存部117中的用户数据在用户区域220中进行测试记录。用户数据被进行了测试记录的位置与触发检测时被记录的用户数据的记录位置相邻。
接着，系统控制电路102，在记录系统电路部120的测试记录结束之后，指示再生系统电路部130，从记录媒体200中再生被进行了测试记录的用户数据。再生系统电路部130，按照系统控制电路102的指示，对经过了测试记录的用户数据进行测试再生。系统控制电路102，通过参照被保存在保存部117中的用户数据和从测试记录位置读取的用户数据，来调整记录功率。另外，关于记录功率的调整的详细情况将在后面进行说明。
步骤410：系统控制电路102，根据调整后的记录功率，继续记录用户数据。此时，用户数据从与测试记录的位置相邻的位置开始记录。这样，由于用户数据不会偏离测试记录的位置，而在测试记录的位置继续被记录，因而可以有效地利用用户区域220。
步骤412：用户数据被进行了测试记录的测试记录区域被认为是缺陷区域，测试记录区域的位置通过缺陷区域登记电路115而被登记到DMA区域240。另外，缺陷登记的时机为访问装置100接收到电源切断(OFF)指令之时。即，系统控制电路102判断是否接收到电源切断指令。此时，如果没有接收到电源切断(OFF)指令，则在RAM中存储测试记录区域的地址，然后返回到步骤S404。
如果接收到电源切断指令，缺陷区域登记电路115则读出被存储在RAM中的测试记录区域的地址，并记录到记录媒体200的DMA区域240。这样，由于不需要在每次进行测试记录时，都要在DMA区域240中登记缺陷区域，而是将缺陷区域的登记时机限定在访问装置100电源切断时，所以，可以减少光学头106的寻道次数。缺陷区域登记后，处理结束。
根据本发明的访问处理，对用于开始调整记录功率的触发进行检测(参照步骤406)。因此，能够检测数据的记录再生的状态变化，从而可以检测出调整记录功率的时机。
而且，根据本发明的访问处理，用户数据被进行了测试记录的位置与触发检测时被记录的用户数据的记录位置相邻(参照步骤408)。因此与在距离现在记录用户数据的区域较远的写入区域或读出区域进行测试记录的现有技术相比，能够缩短光学头的寻道时间。记录媒体200，例如为DVD-R时，能够在与用户数据已经被记录的已记录区域相邻的未记录区域，对测试数据进行测试记录。因此，能够缩短光学头的寻道时间。另外，记录媒体200，例如为DVD-RW时，能够在与现在记录用户数据的区域相邻的区域(不管是已记录区域还是未记录区域)，对测试数据进行测试记录。所以，能够缩短光学头的寻道时间。
而且，根据本发明的访问处理，用户数据被进行了测试记录的位置与触发检测时被记录的用户数据的记录位置相邻(参照步骤408)。这样，通过在与现在记录用户数据的区域邻近的区域记录测试数据，则能够在记录媒体的特性大体相同的区域进行测试记录，可以更适当地调整记录功率，从而提高记录质量。
而且，根据本发明的访问处理，用户数据被进行了测试记录的测试记录区域被认为是缺陷区域，测试记录区域的位置通过缺陷区域登记电路115而被登记到DMA区域240(参照步骤412)。所以，即使因测试记录而在测试记录区域中出现了缺陷，也可以在登记后防止对该区域进行访问。
下面，对图3的步骤S408的记录功率的调整进行说明。图4是表示记录功率的调整过程的流程图。下面，参照图4，对记录功率的调整过程按步骤进行说明。
步骤501：系统控制电路102选择测试记录区域。测试记录区域与触发检测时被记录的用户数据的记录位置相邻。
步骤502：系统控制电路102设定用于测试记录的记录功率。
步骤503：系统控制电路102指示记录系统电路部120在测试记录区域记录测试数据。记录系统电路部120在测试记录区域记录测试数据。例如，在设定了多个记录功率时，将测试记录区域分割成多个区域，针对每个区域，按不同的记录功率记录测试数据。另外，测试数据使用记录在保存部117中的用户数据。
步骤504：系统控制电路102指示再生系统电路部130再生被记录在测试记录区域中的测试数据。再生系统电路部130，按照系统控制电路102的指令，对经过了测试记录的用户数据(测试数据)进行测试再生。此时，调制度检测电路118测定再生信号的调制度。调制度是表示再生信号的振幅的值。
步骤505：系统控制电路102根据由调制度检测电路118测定的调制度，计算出最佳的记录功率。
步骤506：系统控制电路102设定被计算出的记录功率。而且，系统控制电路102指示记录系统电路部120在测试记录区域记录测试数据。记录系统电路部120按设定好的记录功率在测试记录区域记录测试数据。
步骤507：系统控制电路102指示再生系统电路部130再生被记录在测试记录区域中的测试数据。再生系统电路部130，按照系统控制电路102的指令，对经过了测试记录的用户数据(测试数据)进行测试再生。此时，BER检测电路114测定被进行了测试记录的区域的差错率。
步骤508：系统控制电路102，判断由BER检测电路114测定的差错率是否在规定范围之内。
若差错率在规定范围之内时(在步骤S508为是)，处理则进入步骤509。若差错率不在规定范围之内时(在步骤S508为否)，处理返回到步骤502，步骤502～步骤508的工作将被重复执行。
步骤509：系统控制电路102设定调整后的记录功率。调整后的记录功率被设定后，处理则结束。
以上，参照图1、图2、图3及图4，对本发明的实施方式的访问处理过程进行了说明。
例如，在参照图4进行说明的例子中，步骤502以及步骤503相当于记录步骤；步骤504相当于读取步骤；步骤505及步骤509相当于调整步骤。然而，本发明的访问处理过程并不限于图3所示的过程。只要上述的每一个过程可被执行，具有任意的过程的方法都包含在本发明的范围以内。
例如，无需执行步骤506～步骤508。可以直接在用户区域中记录用户数据，测定不对称值、不稳定值、M指标、误码率及调制度的至少其中之一。而且，如果调整后的访问参数在调整前的访问参数所希望的范围内时，作为访问参数，也可以采用调整后的访问参数。而且，在用户区域为缺陷区域时，或因伺服等跳动而对读取的信号的精确度有疑问时，可以不采用被读取的信号。
例如，触发的检测(参照步骤406)不局限于在用户数据的记录过程中，也可以是在用户数据的再生过程中。而且，再生后，触发检测电路116，也可以根据写(WRITE)指令的发出，来检测触发。
依据本发明的访问处理，虽然是根据访问装置的温度变化来检测触发，但只要触发检测电路116能够检测访问参数的调整时机，则也不局限于此。例如，触发检测电路116也可以根据数据的记录位置来检测触发。另外，触发检测电路116也可以根据主机PC发出写(WRITE)指令的时机来检测触发。而且，触发检测电路116也可以根据访问装置100的工作时间来检测触发。另外，这里的工作时间，例如是10～15分钟。触发检测电路116在每个预先决定的工作时间都会检测触发。
而且，触发检测电路116，在因记录媒体200的表面出现瑕疵或指纹等而导致记录媒体200的轨道不连续时，也可以检测触发。此时，系统控制电路102会让光学头106向外周侧跳到离开用户数据的记录结束位置数个轨道的位置。然后，记录系统电路部120，在用于访问参数的调整的测试记录区域中进行测试数据的记录。记录系统电路部120从测试数据的记录结束位置起继续接着记录用户数据。缺陷区域登记电路115，将用户数据的记录结束位置到测试数据的记录结束位置作为缺陷区域进行登记。另外，此时，记录系统电路部120也可以从向外部侧离开测试数据的记录结束位置数个轨道的位置起接着记录用户数据。
而且，访问参数的调整并不限于记录功率的调整。访问参数的调整也可以是指定的图案记录标志的调整。另外，访问参数的调整也可以是表示光束点的聚光状态的聚焦平衡(focus balance)的调整。
而且，缺陷区域的登记时机并不限于访问装置100接收到电源切断指令之时，可以是访问装置100变成休止(SLEEP)状态时、也可以是访问装置100执行完写入(WRITE)之时。这样，通过限定缺陷区域的登记的时机，能够使光学头的寻道次数减少。
而且，在用户区域进行测试记录的数据并不限于用户数据。例如，可以是与指定的图案记录标志相对应的标志数据。指定的图案记录标志包括最短记录标志的2T记录标志、最长记录标志的9T记录标志以及从3T记录标志到8T记录标志中的至少其中之一。另外，指定的图案记录标志，例如，可以是8T记录标志和空白的反复单一图案。另外，在用户区域记录了指定的图案记录标志后，在该区域写入用户数据。之后，则可以将该区域作为缺陷区域进行登记。
而且，系统控制电路102还可以不执行测试记录，只通过测试再生来调整访问参数。例如，系统控制电路102通过参照被保存在保存部117中的标志数据和被读取的数据来调整访问参数。
而且，系统控制电路102还可以制作表示通过调整而被最佳化的访问参数的图表。在结束访问装置100之前，系统控制电路102制作图表，并将制作好的图表保存到访问装置100的保存部117。这样，在重新启动访问装置100时，系统控制电路102则不需要重新调整访问参数。系统控制电路102仅通过参照保存在访问装置100的保存部117中的图表，就能够得到最佳的访问参数。
而且，记录功率调整后继续进行的用户数据的记录位置并不限于与测试记录位置相邻。使记录功率发生变化的测试记录可能会导致伺服变得不稳定、用户数据区域被损坏。因此，用户数据的记录位置也可以离开测试记录位置。例如，用户数据记录可以在离开测试记录位置数个轨道的位置上实施。
而且，测试记录位置并不限于与触发检测时被记录的用户数据的记录位置相邻。测试记录位置也可以离开触发检测时被记录的用户数据的记录位置指定的区域范围。因此，在测试记录时，即使因记录功率的变化而导致伺服机构出现不良情况，测试数据的记录位置出现偏离，也能够避免触发检测时所记录的用户数据被破坏。
例如，记录媒体200为DVD-R时，测试数据的记录在向外周侧离开触发检测时被记录的用户数据的记录位置数个轨道的位置上实施。这是由于向可记录型记录媒体的用户数据的记录，是从记录媒体的内周向外周进行的原因。例如，记录媒体200为DVD-RW时，测试数据的记录是这样进行的，即一边判断是写入区域还是缺陷登记区域，一边离开数个轨道，该数个轨道位于正在记录的区域的附近，其范围是即使伺服机构出现不良情况时也不至于破坏用户数据的范围。
图5是表示访问顺序的各种例子的模式图。下面，参照图5对测试记录位置离开触发检测时被记录的用户数据的记录位置指定的距离的例子进行说明。图5(a)是表示访问顺序的一个例子的模式图。
访问装置100，沿着指定的方向访问记录媒体200。这里所谓的指定的方向是指从记录媒体200的内部一侧向外部一侧的方向，即光学头106移动的方向。
访问装置100的记录系统电路部120在记录媒体200上记录用户数据(箭头(1))。然后，触发检测电路116在点A检测触发。触发检测后，系统控制电路102让光学头106从点A跳数个轨道至外周位置上的点B(箭头(2))。接着，记录系统电路部120在用于调整访问参数的测试记录区域(从点B到点C的区域)记录测试数据(箭头(3))。测试记录结束后，系统控制电路102让光学头106从点C跳数个轨道至外周位置的点D(箭头(4))。然后，记录系统电路部120继续记录用户数据(箭头(5))。另外，缺陷区域登记电路115将从点A到点D的区域作为缺陷区域进行缺陷登记。
图5(b)是表示访问顺序的其它例子的模式图。访问装置100沿着指定的方向访问记录媒体200。记录媒体200，例如，为DVD-R或DVD-RW。
访问装置100的记录系统电路部120在记录媒体200上记录用户数据(箭头(1))。然后，触发检测电路116在点A处检测触发。触发检测后，系统控制电路102让光学头106从点A跳数个轨道至外周位置上的点B处(箭头(2))。接着，记录系统电路部120在用于调整访问参数的测试记录区域(从点B到点C的区域)记录测试数据(箭头(3))。测试记录结束后，系统控制电路102让光学头106从点C跳至点A(箭头(4))。记录系统电路部120从点A到点B继续记录用户数据(箭头(5))。系统控制电路102让光学头106从点B跳至点C(箭头(6))。然后，记录系统电路部120从点C起继续记录用户数据(箭头(7))。另外，由于缺陷区域登记电路115将从点B至点C的区域作为缺陷区域进行缺陷登记，所以，系统控制电路102将从点B到点C的区域识别为缺陷区域。
图5(c)是表示访问顺序的又一个其它例子的模式图。访问装置100沿着指定的方向访问记录媒体200。记录媒体200，例如为DVD-RW。
访问装置100的记录系统电路部120在记录媒体200中记录用户数据(箭头(1))。然后，触发检测电路116在点A检测触发。触发检测后，系统控制电路102让光学头106从点A跳数个轨道至外周位置上的点B(箭头(2))。接着，记录系统电路部120，在用于调整访问参数的测试记录区域(从点B到点C的区域)记录测试数据(箭头(3))。测试记录结束后，系统控制电路102让光学头106从点C跳至点A(箭头(4))。记录系统电路部120，从点A处接着继续记录用户数据(箭头(5))。另外，由于记录媒体200为DVD-RW，因此，缺陷区域登记电路115不需要将从点B到点C的区域作为缺陷区域进行缺陷登记。此时，从点B到点C的测试记录区域被写入用户数据。
图6是表示参照图3说明的本发明实施方式的访问处理过程的其它一个例子的流程图。图7是表示图6所示的访问处理过程的其它一个例子的访问顺序的模式图。
下面，参照图1、图2、图6及图7，按步骤对本发明的实施方式的访问处理过程的其它一个例子进行说明。另外，在图6中，对与图3所示的过程相同的过程标注了相同的参照符号，并省略其说明。
步骤710：在用户数据的记录过程中(箭头(1))，当触发检测电路116检测到触发时(点B)，系统控制电路102会让光学头106跳数个轨道至内周位置上的点A(箭头(2))。
步骤720：再生系统电路部130，按照系统控制电路102的指令，读取从点A到点B记录的用户数据(箭头(3))。然后，系统控制电路102判断从点A到点B记录的用户数据的记录状态是否良好。
检测电路部140检测用户数据的记录状态。具体来说，检测电路部140对判断所读取的用户数据的记录状态是否良好的信号评估指标进行检测。系统控制电路102，根据由不对称检测电路111检测出的不对称值是否为所期望的值，来判断所读取的用户数据的记录状态是否良好。即，系统控制电路102，判断由不对称检测电路111检测出的不对称值是否在指定的范围内。如果判断出不对称值在指定的范围内，则系统控制电路102判断记录状态为良好。相反，如果判断出不对称值不在指定的范围内，则系统控制电路102判断记录状态为不佳。
另外，系统控制电路102，还根据由不稳定检测电路112检测出的不稳定值是否为所期望的值，来判断所读取的用户数据的记录状态是否良好。即，系统控制电路102，判断由不稳定检测电路112检测出的不稳定值是否低于或等于指定的值。如果判断出不稳定值低于或等于指定的值，则系统控制电路102判断记录状态为良好。相反，如果判断出不稳定值大于指定的值，则系统控制电路102判断记录状态为不佳。
而且，系统控制电路102，还根据由M指标检测电路113检测出的M指标是否为所期望的值，来判断所读取的用户数据的记录状态是否良好。即，系统控制电路102判断由M指标检测电路113检测出的M指标是否低于或等于指定的值。如果判断出M指标低于或等于指定的值，则系统控制电路102判断记录状态为良好。相反，如果判断出M指标大于指定的值，则系统控制电路102判断记录状态为不佳。
而且，系统控制电路102，还根据由BER检测电路114检测出的差错率是否为所期望的值，来判断所读取的用户数据的记录状态是否良好。即，系统控制电路102判断由BER检测电路114检测出的差错率是否低于或等于指定的值。如果判断出差错率低于或等于指定的值，则系统控制电路102判断记录状态为良好。相反，如果判断出差错率大于指定的值，则系统控制电路102判断记录状态为不佳。
另外，系统控制电路102，还根据由调制度检测电路118检测出的调制度是否为所期望的值，来判断所读取的用户数据的记录状态是否良好。即，系统控制电路102，判断由调制度检测电路118检测出的调制度是否低于或等于指定的值。如果判断出调制度低于或等于指定的值，则系统控制电路102判断记录状态为良好。相反，如果判断出调制度大于指定的值，则系统控制电路102判断记录状态为不佳。
当判断记录状态为良好时(在步骤720为是)，处理进入步骤410，通过记录系统电路部120，用户数据从点B起继续被进行记录(箭头(4))。
相反，当判断记录状态为不佳时(在步骤720为否)，处理进入步骤408，通过系统控制电路102，记录功率被进行调整(箭头(5))。然后，记录系统电路部120使用调整后的记录功率，从点C起继续记录用户数据(箭头(6))。
在参照图6及图7说明的例子中，判断是否需要调整访问参数。，当判断不需要调整访问参数时，则不用为不需要的调整而浪费时间。而且，由于不用进行不需要的访问参数的调整，所以，将经过测试记录的区域作为缺陷区域进行登记的次数也会减少，从而避免缺陷区域的不必要的增加。
以上，参照图1～图7对本发明的实施方式进行了说明。
图2所示的实施方式中说明的各构成要素，可以通过硬件来实现，也可以通过软件来实现，还可以通过硬件和软件共同来实现。不管是通过硬件来实现、通过软来实现，还是通过硬件和软件来实现，只要本发明的访问处理过程(procedure)可被执行，则可具有任意的过程。
例如，在本发明的访问装置100中，保存有用于让执行访问处理的访问处理程序(program)。访问处理程序，也可以在访问装置100上市时，预先保存到访问装置100中的保存部117。或者，在访问装置100上市后，将访问处理程序保存到保存部117。例如，用户可以从互联网上的指定的网站有偿或免费下载访问处理程序，然后将下载的程序安装到访问装置100。若访问处理程序被记录在软盘、CD-ROM、DVD-ROM等计算机可读取的记录媒体上时，也可以使用输入装置(例如盘驱动器)，将访问处理程序安装到访问装置100中。安装后的访问处理程序，例如被保存到保存部117。
如上所述，虽然通过本发明的最佳实施方式，举例说明了本发明，但本发明并不局限于上述实施方式。本发明，仅通过权利要求书其范围应该能够得到解释。所属领域的技术人员，从本发明的具体最佳实施方式的记载中，根据本发明的记载及技术常识，能够实施相等的范围。本说明书中所引用的专利文献，其内容本身与本说明书所记载的内容相同，其内容作为本说明书的参考而应该被引用。
另外，在上述的具体实施方式中，主要包括具有以下结构的发明。
本发明所提供的访问装置，是对记录媒体进行访问的访问装置，其中所述记录媒体包含用于记录可基于用户的指示进行记录及再生的用户数据的用户区域，该访问装置包括：将基于指定的测试条件的测试数据记录到上述用户区域的记录单元、读取由上述记录单元记录到上述用户区域中的上述测试数据的读取单元、通过参照由上述读取单元读取的上述测试数据，对用于访问上述记录媒体的访问参数进行调整的调整单元。
根据该结构，记录媒体包含用于记录可基于用户的指示进行记录及再生的用户数据的用户区域。而且，基于指定的测试条件的测试数据被记录到用户区域，记录在用户区域中的测试数据能够被读取。然后，通过参照被读取的测试数据，用于访问记录媒体的访问参数被进行调整。
因此，不必在被分配在较用户区域更内周的写入区域或被分配在较用户区域更外周的读出区域记录再生测试数据，即可以对访问参数进行调整，从而能够缩短用于记录及再生测试数据的光学头的寻道时间。
上述的访问装置还包括检测用于开始调整上述访问参数的触发的检测单元，上述记录单元，当由上述检测单元检测到触发时，可将基于指定的测试条件的测试数据记录到上述用户区域。此时，可以通过检测指定的触发，开始访问参数的调整。
上述的访问装置的上述检测单元，还可以根据上述访问装置的温度变化来检测上述触发。此时，可以将上述访问装置的温度变化作为触发，开始访问参数的调整。
上述的访问装置还包括将用户数据记录到上述用户区域的用户数据记录单元，上述检测单元可以根据由上述用户数据记录单元记录的用户数据的位置，来检测上述触发。此时，可以将用户数据的记录位置作为触发，开始访问参数的调整。
上述的访问装置的上述检测单元，还可以在由外部装置发出的写指令被输入时，检测上述触发。此时，可以将外部装置发出的写指令作为触发，开始访问参数的调整。
上述的访问装置还包括要将用户数据记录到上述用户区域而进行工作的用户数据记录单元，上述检测单元可以根据上述用户数据记录单元的工作时间，来检测上述触发。此时，可以将用于记录用户数据的工作时间作为触发，开始访问参数的调整。
而且，上述的访问装置最好是，还包括对上述用户区域中记录有上述测试数据的测试记录区域进行登记的登记单元。根据该结构，由于用户区域中记录有测试数据的测试记录区域被登记，因而可以对测试记录区域进行管理。
而且，上述的访问装置最好是，上述登记单元将上述测试记录区域作为缺陷区域进行登记。根据该结构，由于测试记录区域作为缺陷区域而被登记，因此可以不对记录有测试数据的测试记录区域进行再生而连续再生用户数据。
而且，上述的访问装置最好是，上述记录单元在沿记录媒体的半径方向离开上述用户区域中的用户数据的记录位置指定的距离的位置上记录上述测试数据。
根据该结构，由于测试数据被记录在沿记录媒体的半径方向离开用户区域中的用户数据的记录位置指定的距离的位置，所以，即使伺服机构出现问题，测试数据的记录位置出现偏离，也可以避免已记录的用户数据被破坏。
而且，上述的访问装置最好是，上述记录单元从沿记录媒体的半径方向离开上述用户区域中的用户数据的记录结束位置指定的距离的位置起开始记录上述测试数据，从沿记录媒体的半径方向离开上述测试数据的记录结束位置指定的距离的位置起开始记录用户数据。
根据该结构，测试数据的记录是从沿记录媒体的半径方向离开用户区域中的用户数据的记录结束位置指定的距离的位置开始，用户数据的记录是从沿记录媒体的半径方向离开测试数据的记录结束位置指定的距离的位置开始。因此，即使伺服机构出现问题，测试数据的记录位置出现偏离，也可以使已记录的用户数据免遭破坏。另外，即使用户数据的记录位置出现偏离，也可以不用访问记录有测试数据的测试记录区域而记录下一个用户数据。
而且，上述的访问装置最好是，还包括将上述用户区域中记录有上述测试数据的测试记录区域、从用户数据的记录结束位置到上述测试数据的记录开始位置的区域、从上述测试数据的记录结束位置到用户数据的记录开始位置的区域作为缺陷区域进行登记的登记单元。
根据该结构，用户区域中记录有测试数据的测试记录区域、从用户数据的记录结束位置到测试数据的记录开始位置的区域、从测试数据的记录结束位置到用户数据的记录开始位置的区域被登记为缺陷区域。因此，可以不用对记录有测试数据的测试记录区域、从用户数据的记录结束位置到测试数据的记录开始位置的区域和从测试数据的记录结束位置到用户数据的记录开始位置的区域进行再生，而是连续再生用户数据。
而且，上述的访问装置最好是，上述记录单元从沿记录媒体的半径方向离开上述用户区域中的用户数据的记录结束位置指定的距离的位置起开始记录上述测试数据，再从上述测试数据的记录结束位置返回到上述用户数据的记录结束位置，记录用户数据直至上述测试数据的记录开始位置，再从上述测试数据的记录开始位置移动到上述测试数据的记录结束位置，从上述测试数据的记录结束位置起开始记录用户数据。
根据该结构，测试数据的记录是从沿记录媒体的半径方向离开用户区域中的用户数据的记录结束位置指定的距离的位置开始，再从测试数据的记录结束位置返回到用户数据的记录结束位置，记录用户数据直至测试数据的记录开始位置，再从测试数据的记录开始位置移动到测试数据的记录结束位置，从测试数据的记录结束位置起开始记录用户数据。因此，可以在记录有测试数据的测试记录区域以外的区域记录用户数据，从而可以充分地利用用户区域。
而且，上述的访问装置最好是，上述记录单元从沿记录媒体的半径方向离开上述用户区域中的用户数据的记录结束位置指定的距离的位置起开始记录上述测试数据，然后从上述测试数据的记录结束位置返回到上述用户数据的记录结束位置，从上述用户数据的记录结束位置起开始记录用户数据。
根据该结构，测试数据的记录是从沿记录媒体的半径方向离开用户区域中的用户数据的记录结束位置指定的距离的位置开始，然后从测试数据的记录结束位置返回到用户数据的记录结束位置，从用户数据的记录结束位置起开始记录用户数据。因此，用户数据可以被写在记录有测试数据的测试记录区域，从而可以充分利用用户区域。
而且，上述的访问装置最好是，还包括记录状态检测单元，上述读取单元读取已被记录在上述用户区域中的用户数据，上述记录状态检测单元对由上述读取单元读取的上述用户数据的记录状态进行检测，上述记录单元根据由上述记录状态检测单元检测出的记录状态，将上述测试数据记录到上述用户区域。
根据该结构，已记录在用户区域中的用户数据被读取，读取的用户数据的记录状态被进行检测。然后，根据检测到的记录状态，测试数据被记录到用户区域。因此，可以根据用户数据的记录状态来判断是否记录测试数据，从而避免记录不需要的测试数据。
而且，上述的访问装置最好是，上述记录状态检测单元对由上述读取单元读取的上述用户数据的不稳定值、不对称值、差错率及M指标中的至少其中之一进行检测。
根据该结构，用户数据的不稳定值、不对称值、差错率及M指标中的至少其中之一的记录状态被检测，根据检测出的记录状态，测试数据被记录到用户区域。因此，可以根据用户数据的不稳定值、不对称值、差错率及M指标中的至少其中之一，来判断是否记录测试数据，从而避免记录不需要的测试数据。
而且，上述的访问装置最好是，上述记录单元在与上述用户数据相邻的轨道上记录上述测试数据。根据该结构，由于测试数据被记录到用户数据相邻的轨道上，因此，与在离开用户数据的记录位置指定的距离的位置上记录测试数据的情况相比，可以充分地利用用户区域。
本发明还提供一种访问方法，是用于对记录媒体进行访问的访问方法，其中所述记录媒体包含用于记录可基于用户的指示进行记录及再生的用户数据的用户区域，该访问方法包括：将基于指定的测试条件的测试数据记录到上述用户区域的记录步骤、读取在上述记录步骤中被记录在上述用户区域中的上述测试数据的读取步骤、通过参照在上述读取步骤中被读取的上述测试数据，对用于访问上述记录媒体的访问参数进行调整的调整步骤。
根据该方法，记录媒体包含用于记录可基于用户的指示进行记录及再生的用户数据的用户区域。而且，基于指定的测试条件的测试数据被记录到用户区域，记录在用户区域中的测试数据被读取。然后，通过参照被读取的测试数据，用于访问记录媒体的访问参数被进行调整。
因此，不必在被分配在较用户区域更内周的写入区域或被分配在较用户区域更外周的读出区域记录再生测试数据，即可以对访问参数进行调整，从而能够缩短用于记录及再生测试数据的光学头的寻道时间。
本发明还提供一种访问程序，是用于对记录媒体进行访问的访问程序，其中所述记录媒体包含用于记录可基于用户的指示进行记录及再生的用户数据的用户区域，该访问程序让包括有在记录媒体上记录数据的记录单元和从记录媒体中读取数据的读取单元的访问装置作为以下各单元而发挥其功能：指示上述记录单元将基于指定的测试条件的测试数据记录到上述用户区域的记录指示单元、指示上述读取单元读取由上述记录单元记录到上述用户区域中的上述测试数据的读取指示单元、通过参照由上述读取单元读取的上述测试数据，对用于访问上述记录媒体的访问参数进行调整的调整单元。
根据该结构，记录媒体包含用于记录可基于用户的指示进行记录及再生的用户数据的用户区域。而且，记录单元被指示将基于指定的测试条件的测试数据记录到用户区域，读取单元被指示读取由记录单元记录到用户区域中的测试数据。接着，通过参照由读取单元读取的测试数据，用于访问记录媒体的访问参数被进行调整。
因此，不必在被分配在较用户区域更内周的写入区域或被分配在较用户区域更外周的读出区域记录再生测试数据，即可以对访问参数进行调整，从而能够缩短用于记录及再生测试数据的光学头的寻道时间。
本发明还提供一种控制装置，是用于控制具备在记录媒体上记录数据的记录单元和从记录媒体中读取数据的读取单元的访问装置的控制装置，其中所述记录媒体包含用于记录可基于用户的指示进行记录及再生的用户数据的用户区域，该控制装置包括：指示上述记录单元将基于指定的测试条件的测试数据记录到上述用户区域的记录指示单元、指示上述读取单元读取由上述记录单元记录到上述用户区域中的上述测试数据的读取指示单元、通过参照由上述读取单元读取的上述测试数据，对用于访问上述记录媒体的访问参数进行调整的调整单元。
根据该结构，记录媒体包含用于记录可基于用户的指示进行记录及再生的用户数据的用户区域。而且，记录单元被指示将基于指定的测试条件的测试数据记录到用户区域，读取单元被指示读取由记录单元记录到用户区域中的测试数据。接着，通过参照由读取单元读取的测试数据，用于访问记录媒体的访问参数被进行调整。
因此，不必在被分配在较用户区域更内周的写入区域或被分配在较用户区域更外周的读出区域记录再生测试数据，即可以对访问参数进行调整，从而能够缩短用于记录及再生测试数据的光学头的寻道时间。
产业上的利用可能性
本发明的访问装置、访问方法、访问程序以及控制装置，能够缩短用于记录及再生测试数据的光学头的寻道时间，作为用于对包含用户可记录数据的用户区域的记录媒体进行访问的访问装置、访问方法、访问程序以及控制装置等非常实用。

Claims (11)

1.一种访问装置，对记录媒体进行访问，其中所述记录媒体包含用于记录可基于用户的指示进行记录及再生的用户数据的用户区域，其特征在于包括：
记录单元，将基于指定的测试条件的测试数据记录到上述用户区域；
读取单元，读取由上述记录单元记录到上述用户区域中的上述测试数据；
调整单元，通过参照由上述读取单元读取的上述测试数据，对用于访问上述记录媒体的访问参数进行调整，
上述记录单元，从沿记录媒体的半径方向向外圆周方向离开上述用户区域中的用户数据的记录结束位置指定的距离的位置起开始记录上述测试数据，从沿记录媒体的半径方向向外圆周方向离开上述测试数据的记录结束位置指定的距离的位置起开始记录用户数据。
2.一种访问装置，对记录媒体进行访问，其中所述记录媒体包含用于记录可基于用户的指示进行记录及再生的用户数据的用户区域，其特征在于包括：
记录单元，将基于指定的测试条件的测试数据记录到上述用户区域；
读取单元，读取由上述记录单元记录到上述用户区域中的上述测试数据；
调整单元，通过参照由上述读取单元读取的上述测试数据，对用于访问上述记录媒体的访问参数进行调整，
上述记录单元，从沿记录媒体的半径方向向外圆周方向离开上述用户区域中的用户数据的记录结束位置指定的距离的位置起开始记录上述测试数据，再从上述测试数据的记录结束位置返回到上述用户数据的记录结束位置，记录用户数据直至上述测试数据的记录开始位置，再从上述测试数据的记录开始位置移动到上述测试数据的记录结束位置，从上述测试数据的记录结束位置起开始记录用户数据。
3.根据权利要求1或者2所述的访问装置，其特征在于还包括：将上述用户区域中的记录有上述测试数据的测试记录区域进行登记的登记单元。
4.根据权利要求3所述的访问装置，其特征在于：上述登记单元，将上述测试记录区域作为缺陷区域进行登记。
5.根据权利要求1所述的访问装置，其特征在于还包括：将上述用户区域中的记录有上述测试数据的测试记录区域、从用户数据的记录结束位置到上述测试数据的记录开始位置为止的区域、从上述测试数据的记录结束位置到用户数据的记录开始位置为止的区域作为缺陷区域进行登记的登记单元。
6.根据权利要求1或者2所述的访问装置，其特征在于还包括记录状态检测单元：
上述读取单元，读取已被记录在上述用户区域中的用户数据；
上述记录状态检测单元，对由上述读取单元读取的上述用户数据的记录状态进行检测；
上述记录单元，根据由上述记录状态检测单元检测出的记录状态，将上述测试数据记录到上述用户区域。
7.根据权利要求6所述的访问装置，其特征在于：上述记录状态检测单元，对由上述读取单元读取的上述用户数据的不稳定值、不对称值、差错率及M指标的至少其中之一进行检测。
8.一种访问方法，用于对记录媒体进行访问，其中所述记录媒体包含用于记录可基于用户的指示进行记录及再生的用户数据的用户区域，其特征在于包括以下步骤：
记录步骤，将基于指定的测试条件的测试数据记录到上述用户区域；
读取步骤，读取在上述记录步骤中被记录到上述用户区域中的上述测试数据；
调整步骤，通过参照在上述读取步骤中被读取的上述测试数据，对用于访问上述记录媒体的访问参数进行调整，
上述记录步骤，从沿记录媒体的半径方向向外圆周方向离开上述用户区域中的用户数据的记录结束位置指定的距离的位置起开始记录上述测试数据，从沿记录媒体的半径方向向外圆周方向离开上述测试数据的记录结束位置指定的距离的位置起开始记录用户数据。
9.一种访问方法，对记录媒体进行访问，其中所述记录媒体包含用于记录可基于用户的指示进行记录及再生的用户数据的用户区域，其特征在于包括：
记录步骤，将基于指定的测试条件的测试数据记录到上述用户区域；
读取步骤，读取由上述记录步骤记录到上述用户区域中的上述测试数据；
调整步骤，通过参照由上述读取步骤读取的上述测试数据，对用于访问上述记录媒体的访问参数进行调整，
上述记录步骤，从沿记录媒体的半径方向向外圆周方向离开上述用户区域中的用户数据的记录结束位置指定的距离的位置起开始记录上述测试数据，再从上述测试数据的记录结束位置返回到上述用户数据的记录结束位置，记录用户数据直至上述测试数据的记录开始位置，再从上述测试数据的记录开始位置移动到上述测试数据的记录结束位置，从上述测试数据的记录结束位置起开始记录用户数据。
10.一种控制装置，用于控制具备在记录媒体上记录数据的记录单元和从记录媒体中读取数据的读取单元的访问装置，其中所述记录媒体包含用于记录可基于用户的指示进行记录及再生的用户数据的用户区域，其特征在于包括：
记录指示单元，指示上述记录单元将基于指定的测试条件的测试数据记录到上述用户区域；
读取指示单元，指示上述读取单元读取由上述记录单元记录到上述用户区域中的上述测试数据；
调整单元，通过参照由上述读取单元读取的上述测试数据，对用于访问上述记录媒体的访问参数进行调整，
上述记录单元，从沿记录媒体的半径方向向外圆周方向离开上述用户区域中的用户数据的记录结束位置指定的距离的位置起开始记录上述测试数据，从沿记录媒体的半径方向向外圆周方向离开上述测试数据的记录结束位置指定的距离的位置起开始记录用户数据。
11.一种控制装置，用于控制具备在记录媒体上记录数据的记录单元和从记录媒体中读取数据的读取单元的访问装置，其中所述记录媒体包含用于记录可基于用户的指示进行记录及再生的用户数据的用户区域，其特征在于包括：
记录指示单元，指示上述记录单元将基于指定的测试条件的测试数据记录到上述用户区域；
读取指示单元，指示上述读取单元读取由上述记录单元记录到上述用户区域中的上述测试数据；
调整单元，通过参照由上述读取单元读取的上述测试数据，对用于访问上述记录媒体的访问参数进行调整，上述记录单元，从沿记录媒体的半径方向向外圆周方向离开上述用户区域中的用户数据的记录结束位置指定的距离的位置起开始记录上述测试数据，再从上述测试数据的记录结束位置返回到上述用户数据的记录结束位置，记录用户数据直至上述测试数据的记录开始位置，再从上述测试数据的记录开始位置移动到上述测试数据的记录结束位置，从上述测试数据的记录结束位置起开始记录用户数据。
CN2005800053417A 2004-12-07 2005-10-21 访问装置、访问方法以及控制装置 Active CN1922663B (zh)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004354747 2004-12-07
JP354747/2004 2004-12-07
PCT/JP2005/019402 WO2006061955A1 (ja) 2004-12-07 2005-10-21 アクセス装置、アクセス方法、アクセスプログラム及び制御装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN1922663A CN1922663A (zh) 2007-02-28
CN1922663B true CN1922663B (zh) 2010-08-11

Family

ID=36577786

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN2005800053417A Active CN1922663B (zh) 2004-12-07 2005-10-21 访问装置、访问方法以及控制装置

Country Status (4)

Country Link
US (1) US7616544B2 (zh)
JP (1) JP4611297B2 (zh)
CN (1) CN1922663B (zh)
WO (1) WO2006061955A1 (zh)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7561508B2 (en) * 2005-08-31 2009-07-14 Mediatek Inc. Method and apparatus for laser control during recording
WO2010004707A1 (ja) * 2008-07-10 2010-01-14 パナソニック株式会社 光ディスク、光ディスク装置、光ディスクの欠陥登録方法、光ディスクの記録方法および光ディスクの再生方法
KR20110059816A (ko) * 2008-10-01 2011-06-07 파나소닉 주식회사 정보 기록 매체 및 기록 재생 장치
JP5642095B2 (ja) * 2012-01-20 2014-12-17 株式会社東芝 ディスク装置及び同ディスク装置においてキャリブレーション領域を配置し管理する方法

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07182792A (ja) 1993-12-22 1995-07-21 Ricoh Co Ltd 情報セクタの欠陥処理方法
JPH07311942A (ja) * 1994-05-16 1995-11-28 Hitachi Ltd 光学的記録制御方式
JPH08339541A (ja) * 1995-06-09 1996-12-24 Ricoh Co Ltd 試書き方法及び記録再生装置
JP2000067450A (ja) * 1998-08-20 2000-03-03 Pioneer Electronic Corp ディスクプレーヤ
JP4158261B2 (ja) * 1999-02-23 2008-10-01 ソニー株式会社 記録装置、レーザパワー設定方法
JP2001307327A (ja) * 2000-04-26 2001-11-02 Ricoh Co Ltd 情報記録再生装置
US6775216B2 (en) * 2000-08-29 2004-08-10 Zoran Corporation Method and apparatus for restarting a write operation in a disk drive system
JP3567910B2 (ja) * 2001-07-02 2004-09-22 ヤマハ株式会社 光ディスク記録方法及び装置
CN1306514C (zh) 2001-07-19 2007-03-21 松下电器产业株式会社 再现信号质量的评价方法和信息再现装置
JP3926688B2 (ja) 2001-07-19 2007-06-06 松下電器産業株式会社 再生信号品質評価方法および情報再生装置
JP4115173B2 (ja) * 2002-06-11 2008-07-09 ソニー株式会社 ディスク記録媒体、ディスク製造方法、ディスクドライブ装置
US7453781B2 (en) * 2003-05-20 2008-11-18 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Method and an apparatus for recording information, and an information recording medium
US7286454B2 (en) * 2003-06-30 2007-10-23 Samsung Electronics Co., Ltd. Information storage medium
US7916588B2 (en) * 2003-10-20 2011-03-29 Panasonic Corporation Control apparatus, control method, access apparatus, access method, program, and write-once recording medium

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
同上.

Also Published As

Publication number Publication date
JP4611297B2 (ja) 2011-01-12
JPWO2006061955A1 (ja) 2008-06-05
CN1922663A (zh) 2007-02-28
US7616544B2 (en) 2009-11-10
US20070177468A1 (en) 2007-08-02
WO2006061955A1 (ja) 2006-06-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN1922663B (zh) 访问装置、访问方法以及控制装置
KR100661420B1 (ko) 광 디스크 기록 장치
US8000194B2 (en) Optical disc apparatus, method of adjusting focus offset for optical disc apparatus, and program for executing focus offset adjustment
RU2314579C2 (ru) Оптический записывающий носитель данных, способ записи/воспроизведения данных на/с оптического записывающего носителя данных и устройство для записи/воспроизведения данных на/с оптического записывающего носителя данных
US20080239902A1 (en) Information recording apparatus and information recording method
US8320231B2 (en) Recording apparatus and recording method
JP4342930B2 (ja) 光ディスク装置及びその制御方法及び記録媒体
JP2011018388A (ja) 記録再生装置、レーザ駆動パルス調整方法
JP4248518B2 (ja) 光ディスク記録再生装置および光ディスク記録再生方法
JP3778130B2 (ja) 光ディスク装置のパワーキャリブレーション方法、および当該方法を適用した光ディスク装置
KR101150986B1 (ko) 최적 기록 파워 결정을 위한 광디스크 구동장치 및 그제어방법
JP2005526347A (ja) プレイ能力を改善された光ディスクシステム
JP3968721B2 (ja) 光ディスク装置
US20080285403A1 (en) Recording and reproducing apparatus and recording and reproducing method
JP2008234831A (ja) 書き替え型記録媒体
WO2008062536A1 (fr) Dispositif d'enregistrement d'informations et programme informatique
JP4363571B2 (ja) 光ディスク装置
JP3931137B2 (ja) 光ディスク記録装置および記録条件決定方法
KR101042153B1 (ko) 기록 속도 결정 방법
US7660215B2 (en) Method and apparatus for writing data to optical disc
JP2006164332A (ja) ディスク再生装置及びディスク再生方法、並びにコンピュータ・プログラム、並びにコンピュータ・プログラム
KR20020095856A (ko) 광기록재생기의 데이터 재생 속도 제어 방법
US20070070844A1 (en) Optical disk apparatus and a method for controlling overwrite operation thereof
JP2009199636A (ja) 記録再生装置、データ交替方法
JP2005174471A (ja) 情報記録再生装置、情報記録再生用プログラム、記憶媒体及び情報記録再生方法

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant