CN1782725A - 测试平板显示器测试单元的测试部分的发光的装置和方法 - Google Patents

测试平板显示器测试单元的测试部分的发光的装置和方法 Download PDF

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Abstract

本发明提供平板显示器测试单元的测试部分的发光测试装置和方法,用于测试从平板供应部分输送到工作台上的平板显示器面板的发光状态。该发光测试装置包括:发光测试体,其为方形板并形成有开口;第一板,安装在发光测试体的一侧;第二板,可移动地安装在发光测试体的与第一板相邻的一侧;至少一个子板,可附着/移除地与第一板和第二板结合,并且根据平板显示器面板的尺寸向发光测试体的开口中心相继结合;探针板,可附着/移除地与第一板、第二板或距离发光测试体的开口的中心最近的子板结合,其中,在探针板中安装有多个探针;以及位置设定装置,用于将在平板显示器面板上显示的对准标记与实际的基准标记对准,以设定工作台的基准坐标值。

Description

测试平板显示器测试单元的测试部分的发光的装置和方法
技术领域
本发明涉及平板显示器测试单元的测试部分的发光测试装置和发光测试方法。
背景技术
众所周知,在平板显示器(例如,薄膜晶体管液晶显示器(TFT-LCD)、等离子显示板(PDP)和有机发光显示器(OLED))的制造中使用玻璃衬底。近年来,玻璃衬底朝着更大和更薄的趋势发展(例如,长1,100毫米,宽1,250毫米,厚0.5-1毫米)。使用玻璃衬底制造的平板显示器在最后的制造过程中需要进行发光测试。为了实现发光测试,需要使用探针(probe)对平板显示器的每个数据线和每个栅极线(gate line)执行断路测试和颜色测试。另外,还需要使用显微镜等来进行目测。
图1是传统的平板显示器测试单元的立体图,图2是传统的平板显示器测试单元的测试部分的发光测试装置的结构图。图3是用于说明传统的测试部分设定方法的缺陷的图。
如图1所示,传统的平板显示器测试单元包括测试单元本体1、置于测试单元本体1中供应要被测试的平板显示器面板的平板输送装置2、用于对由平板输送装置2供应的平板显示器面板执行发光测试的测试部分3以及用于将平板显示器面板从平板输送装置2输送到测试部分3或者从测试部分3输送到平板输送装置2的平板输送装置4。
平板输送装置2将由平板加载装置(未示出)输送的平板显示器面板置于子工作台2a上,并在进行预定的对准步骤之后以预定角度循环(rotatively)移动。在平板输送装置4夹住平板显示器面板之后,平板输送装置2将该平板显示器面板输送到安装在测试部分3处的工作台3a上。
测试部分3包括用于对平板显示器面板执行发光测试的发光测试装置。现在参照图2描述该发光测试装置的结构。
如图2所示,传统的发光测试装置100包括发光测试体10、通过铰接装置90与发光测试体10连接的可旋转板20、与可旋转板20结合的基板30、固定附着到基板30的后侧的探针板40、安装在探针板40处的探针50、安装在基板30上的摄影装置70以及置于探针板40一端的原点标记(origin mark)80。
可旋转板20可由置于发光测试体10下侧的铰接装置90远离发光测试体10旋转。基板30的尺寸与要被测试的平板显示器面板的尺寸对应,并安装在可旋转板20处。
基板30与通过铰接装置连接到发光测试体10的可旋转板20结合。这一结构为方板形状,其中形成有开口31。探针板40具有预定的尺寸,并固定地附着到基板30朝向开口31中心的后侧。
摄影装置70安装在基板30顶面的预定区域上。原点标记80是十字形标记,置于固定地附着到基板30的后侧的探针板40的一端处。
为了在上述结构下对具有预定尺寸的平板显示器面板60执行发光测试,基板30和探针板40安装在可旋转板20处,以执行设定操作,并且根据平板显示器面板60的尺寸将探针50和平板显示器面板60的测试端子对准,如图3所示。
首先,执行设定操作以测试平板显示器面板60的发光。设定操作以如下的方式执行:打开与发光测试体10铰接的可旋转板20,以根据要被执行发光测试的平板显示器面板60的尺寸,将基板30和探针板40安装在可旋转板20的后侧。在根据平板显示器面板60的尺寸执行了对基板30和探针板40的设定操作之后,设定平板显示器面板60的对准位置以将探针板40的探针50与平板显示器面板60的测试端子连接。
平板显示器面板60由工作台3a移动到向下与探针板40的探针50隔开的位置。平板显示器面板60由工作台3a沿着X轴和Y轴方向移动,使得对准标记61进入摄影装置70的范围。如果平板显示器面板60的对准标记61进入摄影装置70的范围,那么固定安装在探针板40一侧的原点标记80和平板显示器面板60的对准标记61之间的位置差值ΔX和ΔY被测量出来,并存储在存储器(未示出)中。
平板显示器面板60被工作台3a移动预定距离(存储的位置差值ΔX和ΔY),使平板显示器面板60的对准标记61与探针板40的原点标记80匹配。如果固定到探针板40一侧的原点标记80与平板显示器面板60的对准标记61匹配,则预先制造安装于探针板40处的探针50,以与平板显示器面板60的测试端子匹配。平板显示器面板60由工作台3a移动到与探针板40的探针50接触的位置,从而使得平板显示器面板60的测试端子与探针50接触。在随后要被测试的平板显示器面板60以存储在存储器中的坐标值放置,从而使用探针50进行发光测试。
根据上述的发光测试装置100,如果平板显示器面板60在尺寸上发生改变,那么通过安装于发光测试装置10下侧的铰接装置90进行旋转的可旋转板20应该被打开,以重新安装符合尺寸发生改变的平板显示器面板60的基板30。在可旋转板20被打开之后,应该以用于测试尺寸发生改变的平板显示器面板60的新基板30和新探针板40替换基板30和探针板40。在这种情况下,替换操作员要经受由具有方形框架形状的基板30和探针板40的尺寸和重量所带来的危险。
因为安装有多个探针50的探针板40固定地安装在基板30的后侧,所以在替换探针板40时,是在打开基板30时才进行操作。因此,需要大量的空间和时间来进行维护。另外,置于平板显示器面板60的垫片和探针50应该通过人工来对准。也就是说,它们的对准是不精确的。
此外,难以在探针板40处预先精确地制造原点标记80,以使探针50与平板显示器面板60的测试端子匹配。也就是说,安装在探针板40处的探针50的制造误差使得难以将原点标记80安装在探针板40的精确位置上。由于这种困难性,即使在原点标记80与平板显示器面板60的对准标记61匹配时,探针板40的探针50可能并没有与平板显示器面板60的测试端子接触。
因为摄影装置70固定地安装在基板30的顶面上,所以难以将摄影装置70应用于各种大小的平板显示器面板。也就是说,使对准标记61进入摄影装置的范围仅依靠在其上置有平板显示器面板60的工作台3a的移动。虽然平板显示器面板60的测试端子被排列为与安装在探针板40一侧的探针50接触,但是,由于安装在探针板40处的探针50具有制造误差和安装误差,所以平板显示器面板的端子与安装在探针板40另一侧的探针50常常不接触。在使用置于发光测试体10下侧的铰接装置90打开可旋转板20之后,需要进行的一项困难和复杂的任务是重新设定安装在探针板40(其安装在可移动板20处)底面上的探针50的位置。
另外,只要对摄影装置70进行维修或替换,那么就需要进行重新设定摄影装置70的位置的困难任务。因为摄影装置70固定地安装在基板30的顶面上,所以难以将摄影装置70应用于各种大小的平板显示器面板60。
发明内容
本发明的示例性实施方案涉及一种平板显示器测试单元的测试部分的发光测试装置以及方法,用于测试从平板供应部分输送到工作台上的平板显示器面板的发光状态。在一个示例性实施方案中,所述发光测试装置可包括:发光测试体,其为方形板,并且其中形成有开口;第一板,安装在所述发光测试体的一侧;第二板,其可移动地安装在所述发光测试体的与所述第一板相邻的一侧;一个或多个子板,可附着地/可移除地与所述第一板和所述第二板结合,并且根据所述平板显示器面板的尺寸向所述发光测试体的所述开口的中心相继结合;探针板,可附着地/可移除地与所述第一板、所述第二板或距离所述发光测试体的所述开口的中心最近的子板结合,其中,在所述探针板中安装有多个探针;以及位置设定装置,用于将在所述平板显示器面板上显示的对准标记与实际的基准标记对准,以设定所述工作台的基准坐标值。
在另一个示例性实施方案中,所述发光测试装置可包括:发光测试体,其为方形板并且其中形成有开口;第一板,安装在所述发光测试体的一侧;第二板,其可移动地安装在所述发光测试体邻近于所述第一板的一侧;子板,其安装为可在所述第一板和所述第二板上移动,其中,所述子板根据所述平板显示器面板的尺寸向着所述发光测试体的所述开口的中心移动;垂直驱动部分,用于垂直移动所述子板;探针板,可附着地/可移除地连接到所述子板上,其中,多个探针安装在所述探针板上;以及位置设定装置,用于将在平板显示器面板上显示的对准标记与实际的基准标记对准,以设定所述工作台的基准坐标值。
在另一个示例性实施方案中,所述发光测试装置可包括:发光测试体,其为方形板并且其中形成有开口;第一板,安装在所述发光测试体的一侧;第二板,其可移动地安装在所述发光测试体邻近于所述第一板的一侧;探针板,可附着地/可移除地与所述第一板和所述第二板结合,并且具有与所述平板显示器面板的尺寸对应的不同尺寸,其中,多个探针安装在所述探针板处;以及位置设定装置,用于将在平板显示器面板上显示的对准标记与实际的基准标记对准,以设定所述工作台的基准坐标值。
在另一个示例性实施方案中,所述发光测试装置可包括:发光测试体,其为方形板,并且其中形成有开口;第一板,安装在所述发光测试体的第一侧;第二板,其可移动地安装在所述发光测试体邻近于所述第一板的第二侧;子板,连接到所述第一板和所述第二板,其中,所述子板具有多个探针;位置改变装置,置于所述板和所述探针板之间,其中,所述位置改变装置被安装成根据所述平板显示器面板的尺寸,沿着所述平板显示器面板的方向改变所述探针板的位置;位置设定装置,用于将在平板显示器面板上显示的对准标记与实际的基准标记对准,以设定所述工作台的基准坐标值。
在另一个示例性实施方案中,所述发光测试方法可包括:改变探针板的位置以与所述平板显示器面板的尺寸对应,所述探针板安装于所述发光测试单元的所述测试部分的发光测试体上,并且具有探针;使用显微镜将安装在所述探针板上的探针与置于所述工作台上的平板显示器面板上的垫片对准;通过移动摄影装置来设定所述摄影装置,以使得在监视器上显示的基准标记与在所述平板显示器面板上显示的对准标记匹配;将在其上设置有所述平板显示器面板的所述工作台的基准坐标值存储在存储器中;根据存储在所述存储器中的所述基准坐标值移动在其上加载下一个平板显示器面板的工作台;以及测试平板显示器面板。
附图说明
图1是传统的平板显示器测试单元的立体图;
图2是传统的平板显示器测试单元的测试部分的发光测试装置的结构图;
图3是解释传统的测试部分设定方法所具有的问题的图;
图4是按照本发明的平板显示器测试单元的立体图;
图5是按照本发明的第一实施方案的平板显示器测试单元的测试部分的发光测试装置的结构图;
图6是按照本发明的第一实施方案的平板显示器测试单元的测试部分的发光测试装置的另一结构图;
图7是按照本发明的第一实施方案的移动工具的结构图;
图8是按照本发明的第一实施方案的子板的结构图;
图9是按照本发明的第一实施方案的探针板的结构图;
图10是解释按照本发明的第一实施方案的平板显示器面板的对准的图;
图11是按照本发明的第二实施方案的平板显示器测试单元的测试部分的发光测试装置的结构图;
图12是按照本发明的第二实施方案的平板显示器测试单元的测试部分的发光测试装置的另一结构图;
图13是按照本发明的第二实施方案的垂直驱动部分的结构图;
图14是解释按照本发明的第二实施方案的平板显示器面板的对准的图;
图15是按照本发明的第三实施方案的平板显示器测试单元的测试部分的发光测试装置的结构图;
图16是按照本发明的第三实施方案的平板显示器测试单元的测试部分的发光测试装置的另一结构图;
图17是符合各种大小的平板显示器面板的平板显示器测试单元的发光测试装置的结构图;
图18是解释按照本发明的第三实施方案的平板显示器面板的对准的图。
具体实施方式
下面将参照在其中示出了本发明优选实施方案的相应附图来更完整地描述本发明。
图4是按照本发明的平板显示器测试单元的立体图。该平板显示器测试单元包括测试单元本体6、置于测试单元本体6中的平板输送装置7、包含在平板输送装置7中用以接收供应的平板显示器面板的子工作台7a、用于输送从子工作台7a接收的平板显示器面板的输送装置(未示出)、用于接收由上述输送装置输送来的平板显示器面板的工作台8a以及用于测试置于工作台8a上的平板显示器面板的测试部分。
测试部分8包括发光测试装置,其用于根据平板显示器面板的尺寸来测试平板显示器面板。下面将详细描述测试部分8的发光测试装置。
图5是按照本发明的第一实施方案的平板显示器测试单元的测试部分的发光测试装置200的结构图。发光测试装置200包括具有方板形状的发光测试体110;置于发光测试体110一侧的第一板120a;置于发光测试体110另外一例的第二板120b;可附着到第一和第二板120a和120b或可从其中移除的子板130a、130a’和130b;可附着到第一板120a或第二板120b、或子板130a、130a’和130b上,或者可从其中移除的探针板140a和140b;以及用于将平板显示器面板180上的对准标记181与基准标记195对准,从而设定上述工作台的基准坐标值的位置设定装置。
上述位置设定装置位于探针板140a和140b的一个侧面,或者位于与探针板140a和140b连接的子板130a、130a’和130b的侧面。该位置设定装置包括摄影装置160a和160b以及控制器(未示出)。摄影装置160a和160b对平板显示器面板180的对准标记181进行拍照。控制器将摄影装置160a和160b拍摄的对准标记181与显示在监视器190(在图10的(c)中示出)上的基准标记195(在图10的(c)中示出)匹配,从而设定工作台182的基准坐标值,并且根据该基准坐标值驱动工作台182。
第一和第二板120a和120b的至少之一被安装成由安装在发光测试体110上的移动工具沿着发光测试体的一侧的长度方向移动。发光测试体110是具有四侧的方形板,其中形成有开口以提供用于探测平板显示器面板180的空间。第一板120a和第二板120b连接到发光测试体110的各侧。移动工具170a安装于发光测试体110,以移动第二板120b。
与能够使用铰接装置打开可旋转板的传统发光测试体不同,发光测试体110固定到平板显示器面板测试单元的测试部分。也就是说,为了根据平板显示器面板的尺寸来设定测试部分,第一和第二板120a、120b是被附着到发光测试体110或从其移除,而不是打开发光测试体110。
第一板120a安装在发光测试体110的四侧的第一侧处。也就是说,第一板120a安装在位于上侧处的第一侧,如图5所示。第一板120a固定到发光测试体110或者相对于发光测试体110可移动。与第一板120a不同,第二板120b在发光测试体110上可移动,且安装在邻近第一板120a的第二侧处。也就是说,第二板120a可移动地安装在邻近固定安装有第一板120a的侧的左侧处的第二侧。
如图6的(a)中所示,第二板120b和120c可分别安装在与安装有第一板120a的侧相邻的左侧和右侧处。如图6的(b)中所示,第二板120b、120c和120d可分别安装在安装有第一板120a的第一侧的左侧和右侧处以及可移动地安装在与安装有第一板120a的第一侧相对的侧处。如图6的(c)中所示,移动工具170d安装在安装有第一板120a的发光测试体110上,以将第一板120a在第一侧的长度方向上移动。也就是说,安装在发光测试体110的四侧上的第一板120a和第二板120b、120c和120d可由安装在发光测试体110上的四个移动工具170a、170b、170c和170d移动。
安装在除了固定安装有第一板120a的发光测试体110的一侧之外的三侧处的第二板120b、120c和120d可被安装在发光测试体110上的移动工具170a、170b和170c在各边的长度方向上移动。无疑,如图6的(c)中所示,如果在发光测试体110上进一步安装另外的移动工具170d,那么,第一板120a也可在该侧的长度方向上移动。在这种情况下,第一和第二板120a和120b的至少之一通过移动工具170a和170b可移动地安装在发光测试体110上。移动工具170a、170b、170c和170d置于发光测试体110上的预定位置处,如图5到图7所示。
置于安装有第一板120a和第二板120b、120c和120d的发光测试体110的各侧上的移动工具170a、170b、170c和170d包括一对引导部分171a、板状移动部分172a以及驱动部分177a。引导部分171a以侧向方向置于发光测试体110上。移动部分172a与引导部分171a一起移动。驱动部分177a使得移动部分172a在引导部分171a上以发光测试体110的侧向方向移动。
引导部分171a和移动部分172a以相互配合的方式通过线性运动(L/M)引导装置而移动。因此,移动部分172a包括一对引导结合单元173a,它们并排地置于移动部分172a的底面,以与引导部分171a结合。驱动部分177a应该设置为使得移动部分172a在发光测试体110的各侧的长度方向上移动。与移动部分172a固定连接的轴(未示出)以及用于为该轴提供动力的气缸(未示出)用来使移动部分172a移动。
但是,按照本发明,利用螺杆轴175a和伺服电机176a使移动部分172a安全和精确地移动。也就是说,如图7所示,螺母结合单元174a进一步置于移动部分172a的下侧面处。此外,移动部分172a包括通过螺纹相互结合的方式与螺母结合单元174a结合的螺杆轴175a,以及用于旋转螺杆轴175a的伺服电机176a。螺杆轴175a和伺服电机176a使移动部分172a能够在各侧的长度方向上安全移动。
因此,为了使用移动工具170a移动第二板120b,伺服电机176a由控制器(未示出)的控制所驱动,以旋转螺杆轴175a。因此,动力就被施加到与螺杆轴175a连接的螺母结合单元174a,以使得移动部分172a沿着引导部分171a移动。
一个或多个子板130a、130a’、130b、130c和130d可附着到安装在发光测试体110的各侧处的第一板120a和第二板120b、120c和120d或者从第一板120a和第二板120b、120c和120d移除,这种设置适合于多种不同尺寸的平板显示器面板。也就是说,为了在测试了特定尺寸的平板显示器面板之后测试较小尺寸的平板显示器面板,将子板130a、130a’、130b、130c和130d附着到第一板120a和第二板120b、120c和120d。为了测试较大尺寸的平板显示器面板,将子板130a、130a’、130b、130c和130d从第一板122a和第二板120b、120c和120d移除。如上所述,虽然要被测试的平板显示器面板的尺寸改变,但是只需要将子板130a、130a’、130b、130c和130d附着或者移除就能测试尺寸发生改变的平板显示器面板,而不用整个替换发光测试体110。
根据平板显示器面板改变的尺寸,子板130a、130a’、130b、130c和130d向发光测试体的开口111的中心方向相继与第一板120a和第二板120b、120c和120d结合。子板130a、130a’、130b、130c和130d的长度随着接近开口111的中心而减小。
图8示出了与第一板120a连接的子板130a和130a’的连接状态。下面描述的子板的连接状态应用于与第二板120b、120c和120d连接的子板130a、130a’、130b、130c和130d的连接状态。如图8的(a)中所示,一个子板130a可连接到第一板120a;如图8的(b)中所示,两个子板130a和130a’可相继连接到第一板120a;如图8的(c)中所示,用于对在平板显示器面板上显示的对准标记进行所拍的摄影装置160a置于连接到第一板120a的最外部的子板130a处。
图9示出了连接到第一板120a的探针板140a或连接到第一板120a的子板130a和130a’的连接状态。多个探针150a安装在连接到子板130a和130a’的探针板140a处。也就是说,探针板140可附着/可移除地连接到子板130a’,在相继连接到第一板120a或第二板120b的子板130a和130a’中,子板130a’与发光测试体110a的开口111的中心最接近。探针板140a可直接连接到第一板120a或第二板120b,而不与子板130a和130a’连接。
上面描述的连接状态应用于探针板140b和第二板120b,或连接到第二板120b的子板130b、130c和130d。如图9的(a)中所示,安装有探针150a的探针板140a可直接连接到第一板120a上;如图9的(b)中所示,将一个子板130a连接到第一板120a之后,探针板140a可连接到子板130a;如图9的(c)中所示,两个子板130a和130a’可相继连接到第一板120a,并且探针板140连接到第二子板130a’;如图9的(d)中所示,第一板120a或连接到第一板120a的探针板140a包括置于其一侧的摄影装置160a。也就是说,如图5或图6所示,摄影装置160a安装在子板130a’处,在可附着到第一板120a/可从第一板120a移除的子板130a和130a’中,所述子板130a’与发光测试体110a的开口111的中心最接近。另一个摄影装置160b安装在连接到子板130b的探针板140b的一侧,子板130b可附着到第一板120a/可从第二板120b移除。
具体地,如图5或图6所示,摄影装置160a分别安装在子板130a’的两端,而摄影装置160b只安装在与子板130a’不相邻的一侧。因此,安装了三个摄影装置以对平板显示器面板180上显示的对准标记181进行拍照。也就是说,摄影装置160a和160b的数目等于对准标记181的数目,摄影装置160a和160b被安装为与对准标记181的位置相对应。
置于探针板140b的一个侧面处或子板130a’的一个侧面处的摄影装置160a和160b可沿着X、Y和Z轴移动,并且对平板显示器面板180上显示的对准标记181进行拍照。被摄影装置160a和160b所拍的对准标记181显示在包含在控制器(未示出)中监视器190(见图10的(c)和(d))上。所拍的对准标记181和用于与对准标记181匹配的基准标记195显示在监视器190上。也就是说,基准标记195和对准标记181在监视器190上显示,而且摄影装置160a和160b沿着X、Y和Z轴移动,以将所拍的对准标记181与基准标记195对准。
摄影装置160a和160b对显示在工作台182上的标记183(不是对准标记181)进行拍照,以将标记183显示在监视器190上。也就是说,显示在工作台182上的标记183和基准标记195在监视器190上显示,摄影装置160a和160b被移动,以将所拍的标记183与基准标记195对准。
现在将参照图10描述一种用于执行平板显示器面板的发光测试的方法。
图10(a)中示出了用于测试具有特定尺寸的平板显示器面板180的设定状态。也就是说,为了测试具有特定尺寸的平板显示器面板180,两个子板130a和130a’连接到第一板120a,而探针板140a连接到最后的子板130a’。此外,子板130b连接到第二板120b,而探针板140b连接到子板130b。
为了在图10的(a)的设定状态下测试具有较小尺寸的平板显示器面板180,进一步连接可附着/可移除的子板130a”和130b’,以对应于平板显示器面板180的尺寸而改变具有探针的探针板140a的位置,如图10(b)中所示。也就是说,三个子板130a、130a’和130a”相继连接到第一板120a,探针板140a连接到子板130a”,子板130a”在子板130a、130a’和130a”中与发光测试体110的开口111的中心最接近。
两个子板130b和130b’相继连接到第二板120b,探针板140b连接到子板130b’,子板130b’在子板130b和130b’中与发光测试体110的开口111的中心最接近。
为了测试具有较小尺寸的平面测试面板180,只进一步连接可附着/可移除的子板130a”和130b’就执行了设定。也就是说,虽然要被测试的平板显示器面板180的尺寸改变,但仅附着/移除具有常规尺寸的子板就能简单地执行设定,而不需要整个替换发光测试体110。
为了测试尺寸改变的平板显示器面板180,在将子板130a、130a’、130a”、130b和130b’连接到探针板140a和140b之后,尺寸改变的平板显示器面板180的垫片(未示出)与安装在探针板140a和140b的多个探针150a和150b的测试尖端(未示出)对准。将探针150a和150b的测试尖端与平板显示器面板180上的垫片对准是使用显微镜(图4的9)来人工完成的。
现在将详细解释用于使用显微镜(图4的9)来将探针150a和150b的测试尖端与平板显示器面板180上的垫片对准的方法。置于探针板140a上的探针150a与平板显示器面板180的第一侧对准,其中,探针板140a与要置于发光测试体110的第一侧板处的第一板120a或子板130a和130a’和130a连接。置于测试本体110的第二侧板处的探针150b与平板显示器面板180的第二侧对准,其中,所述置于测试本体110的第二侧板与第二板120b或者连接到第二板120b的子板130b和130b’连接。
移动在其上置有平板显示器面板180的工作台182,以将探针板140a上的探针150a与平板显示器面板180的垫片对准,探针板140a与第一板120a或连接到第一板120a的子板130a”连接(如图10的(b)中所示)。这是因为第一板120a固定连接到发光测试体110的一侧。
如图6的(c)中所示,如果第一板120a配置为被移动工具170d移动,那么驱动移动工具170d将探针150a与平板显示器面板180的垫片对准,而不需要移动工作台。在通过移动工作台182或驱动移动工具170d将探针150a的测试尖端(未示出)与平板显示器面板180的垫片进行对准之后,探针150b的测试尖端(未示出)与平板显示器面板180的垫片对准。探针150b安装在与第一板120a或子板130连接的探针板140a上。探针150b安装在与第二板120b连接或与连接到第二板120b的子板130b’连接的探针板140b上,如图10的(b)中所示。这可通过驱动移动工具170a移动第二板120b来实现。
通过显微镜(图4的9)将安装在探针板140a和140b上的探针150a和150b与置于工作台上的平板显示器面板180对准之后,移动摄影装置150a和150b使在监视器190上显示的基准标记195与在平板显示器面板180上显示的对准标记181匹配。这样,完成了对摄影装置160a和160b的设定。
为了使得基准标记195与对准标记181匹配,在平板显示器面板180上显示的对准标记181由安装在与第一板120a连接的子板130a”上的、或安装在与子板130b’连接的探针板140b上的摄影装置160a和160b拍照。所拍的对准标记181在监视器190上显示。
作为一种选择,摄影装置160a和160b对在工作台182上显示的标记183而不是对准标记181拍照,以将所拍的标记183显示在监视器190上。也就是说,基准标记195和在工作台182上显示的标记183在监视器190上显示,摄影装置160a和160b被移动以将在工作台182上显示的所拍的标记183与基准标记195对准。
当被摄影装置160a和160b所拍的对准标记181在监视器190上显示时,所拍的对准标记181通常被显示为与在监视器190上显示的对准标记195未对准,如图10的(c)中所示。如果在监视器190上显示的对准标记195与对准标记181不匹配,那么摄影装置160a和160b沿着X、Y和Z轴移动,以使对准标记181与基准标记195匹配,如图10的(d)中所示。如果基准标记195与对准标记181匹配,那么固定摄影装置160a和160b的X、Y和Z轴的位置,这样就完成了对摄影装置160a和160b的初始设定。在由摄影装置160a和160b所拍的对准标记181的位置的基础上,得到工作台182的X、Y、Z和θ坐标值,以存储在控制器(未示出)的存储器(未示出)中。
虽然相同类型的平板显示器面板180被连续加载在工作台182上,但是工作台182根据基于工作台182的X、Y、Z和θ坐标值的控制器控制信号快速移动,以将平板显示器面板180与探针板140a和140b的探针150a和150b对准。也就是说,探针150a和150b的测试尖端(未示出)与平板显示器面板182的垫片(未示出)对准。
但是,即使在工作台182以存储在存储器中的X、Y、Z和θ坐标值移动时,基准标记195也可能不总是与加载在工作台182上的平板显示器面板180上显示的对准标记181匹配(图10的(c)的状态)。这是由以下情况导致的,即,平板显示器面板180安装在工作台182上时与工作台182偏离,或者在工作台182被驱动时产生的机械装置误差。
因此,需要对工作台182位置进行校正,以便在显示在平板显示面板180上的对准标记181与显示在监视器190上的基准标记185不匹配时,能够得到类似图10的(d)的状态。为了校正工作台182的位置,加载有平板显示器面板182的工作台382以上述X、Y、Z和θ坐标值移动。在平板显示器面板180上显示的对准标记181被摄影装置160a和160b拍照。对准标记181在监视器190上显示。计算显示的对准标记181和预显示的基准标记之间的差值,以发送给控制器。控制器将控制信号传递给工作台182,从而使得工作台182以上述差值移动。对各个平板显示器面板执行上述校正。
现在将在下面参照附图描述按照本发明第二实施方案的发光测试装置和方法。
图11是按照本发明第二实施方案的平板显示器面板测试单元的测试部分的发光测试装置的结构图。参照图11,发光测试装置300包括具有方板形状的发光测试体210、置于发光测试体210的一侧的第一板220a、置于发光测试体210另一侧的第二板220b、可移动地安装在第一板220a和第二板220b上的子板230a和230b、用于使得子板230a和230b垂直移动的垂直驱动部分250a和250b、可附着到子板230a和230b的表面并可从其中移除的探针板240a和240b、用于将在平板显示器面板180上的对准标记与基准标记195对准从而设定工作台的基准坐标值的位置设定装置。
位置设定装置置于探针板240a和240b的一个侧面,或者置于连接到探针板240a和240b的子板130a、130a’和130b的侧面。位置设定装置包括摄影装置260a和260b以及控制器(未示出)。摄影装置260a和260b对平板显示器面板180的对准标记281进行拍照。控制器使由摄影装置260a和260b所拍的对准标记281与在监视器290(图14的(c)中所示)上显示的基准标记295(图14的(c)中所示)匹配,从而设定工作台282的基准坐标值,并且根据该基准坐标值驱动工作台282。
第一和第二板220a和220b的至少之一被安装为由安装在发光测试体210上的移动工具在发光测试体的一侧的长度方向上移动。发光测试体210是具有四侧的方形板,其中形成有开口以提供用于探测平板显示器面板280的空间。第一板220a和第二板220b连接到发光测试体210的各侧。移动工具270a安装在发光测试体210的各侧,以移动第二板220b。
第一板220a安装在发光测试体210的四侧中的第一侧。也就是说,第一板220a安装在上侧处的第一侧,如图11所示。第一板220a可固定地或可移动地安装到发光测试体210。与第一板220a不同,第二板220b在发光测试体210上可移动,且安装在邻近第一板220a的第二侧处。也就是说,第二板220a可移动地安装在为左侧的、与安装有第一板120a的侧相邻的第二侧处,如图11所示。
如图12的(a)中所示,第二板220b、220c和220d可分别安装在与安装有第一板220a的侧相邻的左侧和右侧处。如图12的(b)中所示,第二板220b、220c和220d可安装在安装有第一板220a的一侧的左侧和右侧处以及可移动地安装在与安装有第一板的侧相对的一侧处。如图12的(c)中所示,移动工具270d安装在安装有第一板220a的发光测试体210上,以使得第一板220a在第一侧的长度方向上移动。也就是说,安装在发光测试体210的四侧上的第一板220a和第二板220b、220c和220d可被安装在发光测试体210上的四个移动工具270a、270b、270c和270d移动。另外,第一板220a可固定地安装在发光测试体210上。
安装在除了固定安装有第一板120a的发光测试体210的一侧之外的三侧处的第二板220b、220c和220d可被安装在发光测试体210上的移动工具270a、270b和270c在各边的长度方向上移动。无疑,如图12的(c)中所示,如果另外的移动工具270d进一步安装在发光测试体210上,那么第一板220a也可在该侧的长度方向上移动。在这种情况下,第一和第二板220a和220b的至少之一通过移动工具270a和270b可移动地安装在发光测试体210上。移动工具270a、270b、270c和270d置于发光测试体210上的预定位置处,如图11到图12所示。移动工具270a、270b、270c和270d分别具有与按照第一实施方案的移动工具170a、170b、170c和170d相同的结构,因此不再详细描述。
子板230a、230b、230c和230d可移动地安装在分别安装在发光测试体210于各侧的第一板220a和第二板220b、220c和220d。也就是说,子板230a、230b、230c和230d可被垂直驱动部分250a、250b、250c和250d在第一板220a和第二板220b、220c和220d上以垂直于各侧的长度方向的方向自动地移动,后面将详细描述。
如前所述,子板230a、230b、230c和230d在第一板220a和第二板220b、220c和220d移动。这种设置的目的在于适应平板显示器面板280的多种尺寸。
也就是说,为了在测试了特定尺寸的平板显示器面板280之后测试较小尺寸的平板显示器面板,附着的子板230a、230b、230c和230d向着发光测试体210的开口211的中心移动。如果在测试了特定尺寸的平板显示器面板280之后测试较大尺寸的平板显示器面板,那么子板230a、230b、230c和230d远离发光测试体210的开口211的中心移动。因此,可测试尺寸改变的平板显示器面板。如上所述,虽然要被测试的平板显示器面板的尺寸改变,但是只是以垂直于其各侧的长度方向的方向移动子板230a和230b,就能测试尺寸改变的平板显示器面板280。
在子板230a、230b、230c和230d上设置光学传感器、超声传感器和接触传感器中的一个以感应目标。光学传感器包括发送部分和接收部分,它们制造成一个整体。在在测试了特定尺寸的平板显示器面板之后测试较小尺寸的平板显示器面板时,子板230a和230b向着发光测试体210的开口211的中心移动。因为在子板230a、230b、230c和230d之间可能发生碰撞(collision),所以传感器235a、235b、253c和235d安装在子板230a、230b、230c和230d上的两端,以防止这种碰撞。
子板230a、230b、230c和230d通过安装在第一板220a和第二板220b、220c和220d的垂直移动部分250a、250b、250c和250d向着发光测试体210的开口211的中心移动。垂直移动部分250a、250b、250c和250d的结构在图13中示出。因为垂直移动部分250a、250b、250c和250d具有相同结构,因此现在只在下文中描述垂直移动部分250a。
如图13所示,垂直移动部分250a包括一对附着到第一板220a上的L/M引导装置251a、与L/M引导装置251a一起滑动的结合板252a以及用于使得结合板252a沿着L/M引导装置251a移动的动力发生器257a。两个L/M引导装置251a相互平行地安装在第一板22a上,并且垂直于发光测试体210的侧的长度方向。L/M引导装置251a与在L/M引导装置251a下方平行设置的要滑动的L/M结合单元253a相配合。
子板230a置于结合板252a上。因此,如果结合板252a被动力发生器257a移动,那么子板230a向着发光测试体210的开口中心移动。
必须设置动力发生器257a,以使得结合板252a在垂直于发光测试体210的各侧的长度方向的方向上移动。固定地与结合板252a结合的轴(未示出)以及用于向该轴提供动力的气缸(未示出)用来使结合板252a移动。但是,在本发明中,螺杆轴255a和伺服电机256a用来精确和安全地移动结合板252a。也就是说,如图13所示,螺母结合单元258a设置到结合板252a的下侧,驱动部分257a包括通过使用螺纹与螺母结合单元258a结合的螺杆轴255a,以及用于旋转螺杆轴255a的伺服电机256a。因此,结合板252a被驱动部分257a在各侧的长度方向上可靠地移动。
如前所述,为了使得子板230a能够由垂直驱动部分250a移动,伺服电机256a根据控制器(未示出)的控制被驱动,并且被驱动的伺服电机256a旋转螺杆轴255a。这样,动力施加给与螺杆轴255a结合的螺母结合单元258a,以使得结合板252a沿着L/M引导装置251a移动。如图11和图12所示,其上安装有多个探针245a和245b的探针板240a和240b可附着到子板230a、230b、230c和230d并可从子板230a、230b、230c和230d移除。
摄影装置260a和260b安装在子板230a、230b、230c和230d或探针板240a、240b、240c和240d的端部,如图11和图12所示。具体来说,摄影装置260a安装在子板230a的一端,摄影装置260b安装在探针板240b的一端。也就是说,如图11和图12所示,摄影装置260a安装在子板230a的两侧,摄影装置260b只安装在与子板230a不相邻的探针板240b处。为了为对准标记281拍照,摄影装置260a和260b设置为与在平板显示器面板上显示的对准标记281对应。置于探针板240a和240b的端部或置于子板230a和230b的端部的摄影装置260a和260b可向着X、Y和Z轴移动,并对在平板显示器面板280上显示的对准标记拍照。
被摄影装置280a和280b所拍的对准标记281在控制器(未示出)的监视器290(图14的(c)和(d)中示出)上显示。所拍的对准标记281和用于匹配对准标记281的基准标记295都被显示在监视器290上。
摄影装置260a和260b对在工作台282上显示的标记283(而不是对准标记281)拍照,以将被拍下的标记283显示在监视器290上。也就是说,基准标记295和显示在工作台282上的标记283显示在显示器290上,移动摄影装置260a和260b以将拍下的标记283与在监视器290上显示的基准标记295对准。
现在将参照图14描述按照本发明第二实施方案的平板显示器面板的发光测试方法。
在图14中的图(a)示出了用于测试具有特定尺寸的平板显示器面板的设定状态。如图所示,要被测试的尺寸改变的平板显示器面板与安装在探针板245a和245b处的探针245a和245b隔开。因此,它们没有相互对准。为此,需要新的设定操作,以测试尺寸改变的平板显示器面板280。
首先,合适的探针板240a和240b与子板230a和230b结合,以根据平板显示器面板280的尺寸来改变其中每一个都具有探针的探针板240a和240b的位置。因为探针板240a和240b的尺寸根据要被测试的平板显示器面板的尺寸而改变,所以符合平板显示器面板的探针板240a和240b必须与子板230a和230b结合。
接着,垂直驱动部分250a和250b根据平板显示器面板280的改变尺寸被驱动,以使得探针板240a和240b来回移动到平板显示器面板280的上侧。因此,探针板240a和240b根据平板显示器面板280的尺寸而改变位置。换句话说,探针板240a和240b以图14的(a)中所示的箭头方向移动,以置于平板显示器面板280的上侧处。这样,探针板240a和240b与平板显示器面板280粗略对准,如图14的(b)中所示。
在探针板240a和240b移动到平板显示器面板280的上侧同时,子板230a和230b的两端设置的超声传感器235a和235b用于判断安装在发光测试体的各侧处的探针板240a和240b之间是否发生碰撞。如果探针板240a和240b之间的距离减小,那么光学传感器检测到这种距离减少,并且通过将光学传感器产生的信号发送给控制器(未示出)来表示发生碰撞。在通过驱动垂直驱动部分250a和250b使探针板240a和240b移动到平板显示器面板280的上侧之后,通过显微镜(未示出)(图4的9)将置于探针板240a和240b上的探针245a和245b的测试尖端与平板显示器面板280上的垫片对准。
具体来说,置于与可移动地安装在第一板220a上的子板230a结合的探针板240a上的探针245a的测试尖端(未示出)与平板显示器面板280的垫片对准。之后,置于与可移动地安装在第二板220b上的子板230b结合的探针板240b上的探针245b的测试尖端(未示出)与平板显示器面板280的垫片对准。也就是说,移动其上设置有平板显示器面板280的工作台280,以将探针245a的测试尖端与平板显示器280的垫片对准。因为第一板220a固定附着到发光测试体210的一侧,所以需要移动在其上设置有平板显示器面板280的工作台282。
如图12的(c)中所示,如果第一板220a构建为被移动工具270d移动,那么驱动移动工具270d将探针245a与平板显示器面板280的垫片对准,而不需移动工作台282。在移动工作台282或者驱动移动工具270d使置于可移动地安装在第一板220a上的探针板240a上的探针245a的测试尖端(未示出)与平板显示器面板280的垫片对准之后,置于与可移动地安装在第二板220b上的子板230b结合的探针板240b上的探针245b的测试尖端(未示出)与平板显示器面板280的垫片对准。为了将探针245b的测试尖端与平板显示器面板280的垫片对准,通过驱动置于发光测试体210上的移动工具270a而使得第二板220b移动。
通过上面的操作,通过显微镜(图4的9)将安装在探针板240a和240b上的探针245a和245b与置于工作台上的平板显示器280对准之后,移动摄影装置使在监视器292上显示的基准标记295与在平板显示器面板上显示的对准标记281匹配。这样,完成了对摄影装置的设定。
为了使得基准标记295与对准标记281匹配,在平板显示器面板280b上显示的对准标记281被安装在子板230a(其可移动地安装在第一板220a上)的摄影装置260以及安装在探针板240b(其与可移动地安装在第二板220b上的子板230b结合)上的摄影装置进行拍照。所拍的对准标记281显示在监视器290上。通常,显示的对准标记281与在监视器290上显示的基准标记295没有对准,如图14的(c)中所示。
即使在基准标记295与在监视器290上显示的对准标记281没有相互对准的情况下,摄影装置260a和260b还是沿着X、Y和Z轴移动,以使得对准标记281与基准标记295匹配。如果基准标记295与对准标记281匹配,那么得到所拍的对准标记的位置,并将其作为坐标值。该坐标值存储在控制器(未示出)的存储器(未示出)中。
虽然相同类型的平板显示器面板280被连续加载到工作台282上,但是工作台282根据基于工作台282的X、Y、Z和θ坐标值的控制器控制信号快速移动,以将平板显示器面板280与探针板240a和240b的探针245a和245b对准。也就是说,探针245a和245b的测试尖端(未示出)与平板显示器面板282的垫片对准。
但是,即使在工作台282以存储在存储器中的X、Y、Z和θ坐标值移动时,基准标记295可能不总是与加载到工作台282上的平板显示器面板280中显示的对准标记281匹配,这成为图14的(c)的状态。这是由以下情况导致的,即,平板显示器面板280安装在工作台282上时与工作台282偏离,或者在工作台282被驱动时产生的机械装置误差。
因此,需要对工作台282位置进行校正,以便在显示在平板显示面板280上的对准标记281与显示在监视器990上的基准标记285不匹配时,能够得到类似图10的(d)的状态。为了校正工作台282的位置,其上加载有平板显示器面板282的工作台282以上述X、Y、Z和θ坐标值移动。在平板显示器面板280上显示的对准标记281被摄影装置160a和160b拍照。对准标记381在监视器290上显示。显示的对准标记281和预显示的基准标记之间的差值被计算出来并发送给控制器。控制器将控制信号传递给工作台282,从而使得工作台282以上述差值移动。这种用于各平面显示器面板280的校正完成。
现在将在下面参照附图描述按照本发明的第三实施方案的发光测试装置和方法。
图15是按照本发明第三实施方案的平板显示器面板测试单元的测试部分的发光测试装置的结构图。参照图15,发光测试装置400包括具有方板形状的发光测试体310、置于发光测试体310的一侧的第一板320a、置于发光测试体310另一侧的第二板320b、可附着/可删除地与第一和第二板320a和320b连接并具有符合平板显示器面板380的多种尺寸的探针板3300a和330b、用于将对准标记381与平板显示器面板380中的基准标记395对准从而设定工作台382的基准坐标值的位置设定装置。
位置设定装置置于探针板330a和330b的侧面并包括摄影装置350a和350b以及控制器(未示出)。摄影装置350a和350b对平板显示器面板380的对准标记381进行拍照。控制器使被摄影装置350a和350b所拍的对准标记381与在监视器390(图18的(c)中所示)上显示的基准标记395(图18的(c)中所示)匹配,从而设定工作台382的基准坐标值,并且根据该基准坐标值驱动工作台382。
第一和第二板320a和320b的至少之一被安装为由安装在发光测试体310预定部分的移动工具以发光测试体310的一侧的长度方向移动。发光测试体310是具有四侧的方形板,其中形成有开口以提供用于探测平板显示器面板380的空间。第一板320a和第二板320b连接到发光测试体310的各侧。设置移动工具360a用于移动第二板320b。
与能够通过铰接装置打开的传统发光测试体不同,发光测试体310固定到平板显示器面板测试单元。为了根据平板显示器面板的尺寸设定测试部分,连接到发光测试体310的第一板320a、第二板320b和探针板330a和330b可附着/移除,而不是打开发光测试体310。
第一板320a安装在发光测试体310的四侧中的第一侧。也就是说,第一板320a安装在为上侧的第一侧,如图15所示。第一板320a可固定或移动地安装到发光测试体310上。与第一板320a不同,第二板320b在发光测试体310上可移动,且安装在邻近第一板320a的第二侧处。也就是说,如图15所示,第二板320a可移动地安装在与安装有第一板320a的侧相邻的左侧的、第二侧处。
如图16的(a)中所示,第二板320b和320c可移动地安装与安装有第一板320a的侧相邻的左侧和右侧处。如图16的(b)中所示,第二板320b、320c和320d可移动地安装在安装有第一板220a的一侧的左侧和右侧处以及可移动地安装在与安装有第一板320a的侧相对的一侧处。如图16的(c)中所示,移动工具360d安装在安装有第一板320a的发光测试体310上,以使得第一板320a在该侧的长度方向上移动。也就是说,安装在发光测试体310的四侧上的第一板320a和第二板320b、320c和320d可被安装在发光测试体310上的四个移动工具360a、360b、360c和360d移动。另外,第一板320a可固定地安装在发光测试体310上。
安装在除了有第一板320a的发光测试体310的一侧之外的三侧处的第二板320b、320c和320d可被安装在发光测试体310上的移动工具360a、360b和360c在各边的长度方向上移动。无疑,如图16的(c)中所示,如果另外的移动工具360d进一步安装在发光测试体310上,那么第一板320a也可在该侧的长度方向上移动。在这种情况下,第一和第二板320a和320b的至少之一通过移动工具360a和360b在发光测试体310上移动。移动工具360a、360b、360c和360d置于发光测试体310上的预定位置处,如图15到图16所示。
在发光测试体310的安装有第二板320b、320c和320d的各侧处安装的移动工具360a、360b、360c和360d与第一和第二实施方案中描述的移动工具具有相同结构,因此不再详细描述。
具有不同尺寸的探针板330a和330b可附着/可移除地在安装在发光测试体310的各侧处的第一和第二板320a和320b处。多个探针340a和340b设置于探针板330a和330b处。摄影装置350a和350b附着到探针板330a和330b的侧面,以对在平板显示器面板380上显示的对准标记381进行拍照。探针板330a和330b具有与不同尺寸的平板显示器面板380对应的不同尺寸。也就是说,探针板330a和330b被预先制造为具有符合要被测试的平板显示器面板的尺寸的不同尺寸。
为了在测试了特定尺寸的平板显示器面板380之后测试较小尺寸的平板显示器面板380,用于测试特定尺寸的平板显示器面板380的探针板330a和330b被移除,然后较大尺寸的探针板330a和330b被附着到第一和第二板320a和320b,以与要被新测试的平板显示器面板380对应。为了在测试了特定尺寸的平板显示器面板380之后测试较大尺寸的平板显示器面板380,现有的探针板被移除,较小尺寸的探针板被附着到第一和第二板320a和320b,以与要被新测试的平板显示器面板380对应。如上所述,虽然要被测试的平板显示器面板380的尺寸改变,但只是探针板330a和330b被附着/移除,而不用整个替换发光测试体310就能测试尺寸改变的平板显示器面板380。
图17是具有符合不同的平板显示器面板380的不同尺寸的探针板连接到第一和第二板320a和320b的结构图。从图17的(a)到(c)中,平板显示器面板380、380’和380”的尺寸减小,而连接到第一和第二板320a和320b的探针板330a、330b、330a’、330b’、330a”和330b”的尺寸增加。例如,如图17的(a)中所示的探针板330a和330b具有的尺寸L1和L2足以测试50英寸的平板显示器面板380;如图17的(b)中所示的探针板330a’和330b’具有比尺寸L1和L2大的尺寸L3和L4,其足以测试40英寸的平板显示器面板380;探针板330a”和330b”具有比尺寸L3和L4大的尺寸L5和L6,其足以测试30英寸的平板显示器面板380。
也就是说,如果要被测试的平板显示器面板380的尺寸增加,那么安装在探针板330a、330b、330a’、330b’、330a”和330b”的探针340a和340b在尺寸就减少,如图17所示。另外,下列关系成立:L1<L3<L5,L2<L4<L6。
如图15到图17所示,摄影装置350a和350b置于探针板330a和330b处,以对在平板显示器面板380上显示的对准标记381进行拍照。此外,多个探针340a和340b安装在探针板330a和330b处。摄影装置350a和350b安装在可附着到第一板320a/可从第一板320a移除的探针板330a的两侧处,或者安装在可附着到第二板320b/可从第二板320b移除的探针板330b的一侧处。为了对要被摄影装置350a和350b所拍的平板显示器面板上的三个对准标记381正确拍照,安装在连接到第二板320b的探针板330b的一侧的摄影装置350b置于与连接到第一板320a的探针板330a不相邻的一侧处。
如上所述,安装三个摄影装置350a和350b对在平板显示器面板380上显示的对准标记381拍照。也就是说,摄影装置350a和350b具有与对准标记381相同的数量,并且与对准标记381的位置对应放置。
置于第一板320a的探针板330a的两侧处或连接到第二板320b的探针板330b的一侧处的摄影装置350a和350b可沿着X、Y和Z轴移动,并且对在平板显示器面板382上显示的对准标记381拍照。所拍的对准标记381在控制器(未示出)的监视器390(图18的(c)和(d)中示出)上显示。所拍的对准标记381和用于匹配对准标记381的基准标记395都在监视器390上显示。也就是说,基准标记395和对准标记381都显示在监视器390上,而且摄影装置350a和350b沿着X、Y和Z轴移动,从而将被摄影装置350a和350b所拍的对准标记381与基准标记395对准。
作为一种选择,摄影装置350a和350b对在工作台382上显示的标记383而不是对准标记381拍照,以将所拍的标记383显示在监视器390上。也就是说,基准标记395和在工作台382上显示的标记383在监视器390上显示,移动摄影装置350a和350b将在工作台382上显示的所拍标记383与基准标记395对准。
现在将在下面参照图18更完整地描述对准平板显示器面板的方法。
在图18中,图(a)示出了用于测试具有特定尺寸的平板显示器面板380的设定状态。也就是说,具有符合平板显示器面板380的特定尺寸的预定尺寸的探针板330a和330b连接到第一和第二板320a和320b,以测试平板显示器面板380。为了在图18的状态(a)下测试具有较小尺寸的平板显示器面板380,图18的(a)中示出的探针板330a和330b被移除,如图18的(b)所示,并且将比探针板330a和330b大的探针板330a’和330b’附着到第一和第二板320a和320b,以与要被新测试的平板显示器面板380的尺寸对应。
为了测试具有较小尺寸的平板显示器面板380,如图18的(a)中所示,具有宽度L7和L8的现有探针板330a和330b被移除,并且具有宽度L9和L10的较大的探针板330a’和330b’被附着到第一和第二板320a和320b。因此,设定被简单完成。虽然要被测试的平板显示器面板380的尺寸改变,但是如果与平板显示器面板380的尺寸对应具有不同尺寸探针板330a、330a’、330b和330b’被附着/移除,那么不需要整个替换发光测试体310就能简单地完成设定。也就是说,在设定重新完成时,附着到探针板330a、330a’、330b和330b’的探针340a和340b的数量减少,下列关系成立:L7<L9,L8<L10。
如上所述,为了测试尺寸改变的平板显示器面板380,将第一和第二板320a和320b连接到探针板330a”,以执行新的设定。之后,将尺寸改变的平板显示器面板380上的垫片与安装在探针板330a和330b’上的多个探针340a和340b的测试尖端(未示出)对准。将垫片与测试尖端对准是使用显微镜(图4的9)来人工完成的。
现在将详细描述使用显微镜(图4的9)将探针340a和340b的测试尖端与平板显示器面板380的垫片对准的方法。置于与第一板320a连接的探针板340a上的探针340a的测试尖端(未示出)与平板显示器面板380的垫片被对准。之后,置于与第二板320b连接的探针板330b上的探针340b的测试尖端(未示出)与平板显示器面板382的垫片对准。
移动在其上设置有平板显示器面板380的工作台382,以将与第一板320连接的探针板330a上的探针340a与平板显示器面板380的垫片对准。这是因为,第一板320a固定地附着到发光测试体310的一侧。
如图16的(c)中所示,如果第一板320a配置为被移动工具360d移动,那么驱动移动工具360d将探针340a的测试尖端(未示出)与平板显示器面板380的垫片对准,而不需要移动工作台。在移动工作台382或者驱动移动工具360d以将安装在与第一板320a连接的探针板330a上的探针340a的测试尖端(未示出)与平板显示器面板380的垫片对准后,安装在与第二板320b连接的探针板330b上的探针340b与平板显示器面板380的垫片对准。
为了将安装在与第二板320b连接的探针板330b上的探针340b与置于工作台382上的平板显示器面板380的垫片对准,第二板320b必须通过驱动安装在发光测试体310上的移动工具360a而移动。在安装在探针板330a和330b上的探针340a和340b与置于工作台382上的平板显示器面板380通过显微镜(图4的9)对准之后,摄影装置350a和350b被移动,以使得在监视器390上显示的基准标记395与在平板显示器面板380上显示的对准标记381匹配。这样,对摄影装置350a和350b的设定完成。
为了使得基准标记395与对准标记381匹配,在平板显示器面板380上显示的对准标记381被安装在与第一和第二板320a和320b连接的探针板330a和330b上的摄影装置350a和350b拍照。所拍的对准标记381在监视器390上显示。
当被摄影装置350a和350b所拍的对准标记381在监视器390上显示时,所拍的对准标记381通常被显示为与在监视器390上显示的基准标记395未对准,如图18的(c)中所示。如果在监视器390上显示的基准标记395与对准标记381不匹配,那么摄影装置350a和350b沿着X、Y和Z轴移动,以使得对准标记381与基准标记395匹配,如图18的(d)中所示。如果基准标记395与对准标记381匹配,那么摄影装置350a和350b的X、Y和Z轴的位置被固定,以完成对摄影装置350a和350b的初始设定。在被摄影装置350a和350b所拍的对准标记381的位置的基础上,得到工作台382的X、Y、Z和θ坐标值,以存储在控制器(未示出)的存储器(未示出)中。
虽然相同类型的平板显示器面板380被连续加载在工作台382上,但是工作台382根据基于工作台382的X、Y、Z和θ坐标值的控制器控制信号而快速移动,以将平板显示器面板380与探针板330a’和330b’的探针340a和340b对准。也就是说,探针340a和340b的测试尖端(未示出)与平板显示器380的垫片(未示出)对准。
但是,即使在工作台382以存储在存储器中的X、Y、Z和θ坐标值移动时,基准标记395可能不总是与在加载到工作台382上的平板显示器面板380上显示的对准标记381匹配,这成为图18的(c)中的状态。这是由以下情况导致的,即,平板显示器面板380安装在工作台382上时与工作台382偏离,或者在工作台382被驱动时产生的机械装置误差。
因此,需要对工作台382位置进行校正,以便当显示在平板显示面板380上的对准标记381与显示在监视器390上的基准标记385不匹配时,能够得到类似图18的(d)的状态。为了校正工作台382的位置,其上加载有平板显示器面板382的工作台382以上述X、Y、Z和θ坐标值移动。在平板显示器面板380上显示的对准标记381被摄影装置350a和350b拍照。对准标记381在监视器390上显示。显示的对准标记381和预显示的基准标记之间的差值被计算出来并发送给控制器。控制器将控制信号传递给工作台382,从而使得工作台382以上述差值移动。这种用于各平面显示器面板280的校正完成。
如同本文所述,虽然要被测试的平板显示器面板的尺寸改变,但是不需要替换发光测试装置的所有组件。因此,减少了用于维护的空间和用于测试尺寸改变的平板显示面板的设定时间。
另外,虽然要被测试的平板显示器面板的尺寸改变,但只需要简单附着/移除子板和探针板就能实现设定。因此,实现了精确对准,并且简化了对准过程,缩短了对准时间。
另外,在监视器上显示的基准标记与在平板显示器上的、被摄影装置所拍的对准标记匹配。因此,得到位置坐标值并将其存储,以简化对准。
另外,虽然相同类型的平板显示器面板被连续加载到工作台上,但是工作台根据基于工作台的X、Y、Z和θ坐标值的控制器控制信号快速移动,以缩短对准平板显示器面板与探针板的探针时所需的时间。
另外,虽然要被测试的平板显示器面板的尺寸改变,但探针板被自动移动到符合平板显示器面板尺寸的位置,以执行设定。因此,工人们可安全地进行工作,因为不需要更换发光测试装置的所有组件。
另外,虽然要被测试的平板显示器面板的尺寸改变,但只需要简单地附着/移除与不同类型的平板显示器面板对应的探针板就能执行设定。因此,工人们可安全地进行工作,因为不需要更换发光测试装置的所有组件。
虽然已经结合上面所述的具体实施方案对本发明进行了详细描述,但是许多替换、修改和变形对于本领域技术人员来说是显而易见的。因此,上面所述的本发明的实施方案仅为示例目的,而并不能限制本发明。可在不脱离由附加的权利要求定义的本发明的精神和范围的前提下,进行各种变化。

Claims (32)

1.一种平板显示器测试单元的测试部分的发光测试装置,用于测试从平板供应部分输送到工作台上的平板显示器面板的发光状态,所述发光测试装置包括:
发光测试体,其为方形板并在其中形成有开口;
第一板,安装在所述发光测试体的一侧;
第二板,其可移动地安装在所述发光测试体的与所述第一板相邻的一侧;
一个或多个子板,可附着地/可移除地与所述第一板和所述第二板结合,并且根据所述平板显示器面板的尺寸向所述发光测试体的所述开口的中心方向相继进行结合;
探针板,可附着地/可移除地与所述第一板、所述第二板或距离所述发光测试体的所述开口的中心最近的子板结合,其中,在所述探针板中安装有多个探针;以及
位置设定装置,用于将在所述平板显示器面板上显示的对准标记与实际的基准标记对准,以设定所述工作台的基准坐标值。
2.如权利要求1所述的发光测试装置,其中,所述第一板和所述第二板的至少之一安装成能够通过在所述发光测试体上安装的移动工具在所述发光测试体的侧边的长度方向上移动。
3.如权利要求1所述的发光测试装置,进一步包括:
第二板,安装在所述发光测试体面向所述第一板的侧边,并能够在所述发光测试体的所述侧边的长度方向上移动。
4.如权利要求2或3所述的发光测试装置,其中,所述移动工具包括:
一对引导装置,侧向地置于所述发光测试体上方;
移动部分,与所述引导装置一起移动,并且是与所述第二板结合的板状部分;以及
驱动部分,用于将所述移动部分向位于所述引导装置上的所述光测试本体的所述侧移动。
5.如权利要求4所述的发光测试装置,进一步包括:
螺母结合单元,置于所述移动部分的下侧处,
其中,所述驱动部分包括利用螺纹与所述螺母结合单元结合的螺杆轴,以及用于旋转所述螺杆轴的电机。
6.如权利要求1所述的发光测试装置,其中,所述位置设定装置包括:
摄影装置,用于对所述平板显示器面板的对准标记进行摄影;
控制器,用于使由所述摄影装置所拍摄的所述对准标记与在监视器上显示的基准标记相匹配,从而设定所述工作台的基准坐标值,并且用于根据所述基准坐标值驱动所述工作台。
7.一种平板显示器测试单元的测试部分的发光测试装置,用于测试从平板供应部分输送到工作台上的平板显示器面板的发光状态,所述发光测试装置包括:
发光测试体,其为方形板,并且其中形成有开口;
第一板,安装在所述发光测试体的一侧;
第二板,其可移动地安装在所述发光测试体邻近于所述第一板的一侧;
子板,其安装成可在所述第一板和所述第二板上移动,其中,所述子板根据所述平板显示器面板的尺寸向所述发光测试体的所述开口的中心移动;
垂直驱动部分,用于垂直移动所述子板;
探针板,可附着地/可移除地连接至所述子板,其中,在所述探针板上安装有多个探针;以及
位置设定装置,用于将在所述平板显示器面板上显示的对准标记与实际的基准标记对准,以设定所述工作台的基准坐标值。
8.如权利要求7所述的发光测试装置,其中,所述第一板和所述第二板的至少之一安装成能够通过在所述发光测试体的预定位置处安装的移动工具在所述发光测试体的一侧的长度方向上移动。
9.如权利要求7所述的发光测试装置,进一步包括:
第二板,安装在所述发光测试体面向所述第一板的侧处,并能够在所述发光测试体的所述侧的长度方向上移动。
10.如权利要求8或9所述的发光测试装置,其中,所述移动工具包括:
一对引导装置,侧向地置于所述发光测试体上方;
移动部分,其为与所述引导装置一起移动的板状部分;以及
驱动部分,用于使所述移动部分在所述引导装置上向着所述发光测试体的所述侧移动。
11.如权利要求10所述的发光测试装置,其中,在所述子板上的两侧安装有光学传感器、超声传感器以及接触传感器中之一,以检测目标。
12.如权利要求7所述的发光测试装置,其中,光学传感器、超声传感器和接触传感器中的一个安装在所述子板的两侧,以感应目标。
13.如权利要求7所述的发光测试装置,其中,所述垂直驱动部分包括:
一对L/M引导装置,安装在所述第一板和所述第二板上;
结合板,其与所述L/M引导装置一起滑动,并且与所述子板结合;
动力发生器,用于使所述结合板沿着所述L/M引导装置移动。
14.如权利要求13所述的发光测试装置,进一步包括:
螺母结合单元,置于所述移动部分的下侧处,
其中,所述驱动部分包括利用螺纹与所述螺母结合单元结合的螺杆轴,以及用于旋转所述螺杆轴的电机。
15.如权利要求7所述的发光测试装置,其中,所述位置设定装置包括:
摄影装置,用于对所述平板显示器面板的对准标记进行摄影;
控制器,用于使由所述摄影装置所拍摄的所述对准标记与在监视器上显示的基准标记匹配,从而设定所述工作台的基准坐标值,并且用于根据所述基准坐标值驱动所述工作台。
16.一种平板显示器测试单元的测试部分的发光测试装置,用于测试从平板供应部分输送到工作台上的平板显示器面板的发光状态,所述发光测试装置包括:
发光测试体,其为方形板,并且其中形成有开口;
第一板,安装在所述发光测试体的一侧;
第二板,其可移动地安装在所述发光测试体邻近于所述第一板的一侧;
探针板,可附着地/可移除地与所述第一板和所述第二板结合,并且具有与所述平板显示器面板的尺寸对应的不同尺寸,其中,多个探针安装在所述探针板处;以及
位置设定装置,用于将在平板显示器面板上显示的对准标记与实际的基准标记对准,以设定所述工作台的基准坐标值。
17.如权利要求16所述的发光测试装置,其中,所述第一板和所述第二板的至少之一被安装成能够通过在所述发光测试体的预定位置处安装的移动工具在所述发光测试体的一侧的长度方向上移动。
18.如权利要求16所述的发光测试装置,进一步包括:
第二板,安装在所述发光测试体面向所述第一板的侧处,并能够在所述发光测试体的所述一侧的长度方向上移动。
19.如权利要求17或18所述的发光测试装置,其中,所述移动工具包括:
一对引导装置,侧向置于所述发光测试体上方;
移动部分,其为与所述引导装置一起移动的板状部分;以及
驱动部分,用于使所述移动部分在所述引导装置上向着所述发光测试体的所述侧移动。
20.如权利要求19所述的发光测试装置,进一步包括:
螺母结合单元,置于所述移动部分的下侧,
其中,所述驱动部分包括利用螺纹与所述螺母结合单元结合的螺杆轴,以及用于旋转所述螺杆轴的电机。
21.如权利要求16所述的发光测试装置,其中,所述位置设定装置包括:
摄影装置,用于对所述平板显示器面板的对准标记进行摄影;
控制器,用于使由所述摄影装置所拍摄的所述对准标记与在监视器上显示的基准标记匹配,从而设定所述工作台的基准坐标值,并且根据所述基准坐标值驱动所述工作台。
22.一种平板显示器测试单元的测试部分的发光测试装置,用于测试从平板供应部分输送到工作台上的平板显示器面板的发光状态,所述发光测试装置包括:
发光测试体,其为方形板,并且其中形成有开口;
第一板,安装在所述发光测试体的第一侧;
第二板,其可移动地安装在所述发光测试体邻近于所述第一板的第二侧;
子板,连接到所述第一板和所述第二板,其中,所述子板具有多个探针;
位置改变装置,置于所述板和所述探针板之间,其中,所述位置改变装置被安装成根据所述平板显示器面板的尺寸,沿着所述平板显示器面板的方向改变所述探针板的位置;以及
位置设定装置,用于将在平板显示器面板上显示的对准标记与实际的基准标记对准,以设定所述工作台的基准坐标值。
23.一种平板显示器测试单元的测试部分的发光测试方法,用于测试从平板供应部分输送到工作台上的平板显示器面板的发光状态,所述发光测试方法包括:
(a)改变探针板的位置以与所述平板显示器面板的尺寸对应,所述探针板安装于所述发光测试单元的所述测试部分的发光测试体上,并且具有探针;
(b)使用显微镜将安装在所述探针板上的探针与置于所述工作台上的平板显示器面板上的垫片对准;
(c)通过移动摄影装置来设定所述摄影装置,以使得在监视器上显示的基准标记与在所述平板显示器面板上显示的对准标记匹配;
(d)将在其上设置有所述平板显示器面板的所述工作台的基准坐标值存储在存储器中;
(e)根据存储在所述存储器中的所述基准坐标值移动在其上加载下一个平板显示器面板的工作台;以及
(f)测试平板显示器面板。
24.如权利要求23所述的发光测试方法,其中,所述步骤(a)通过如下方式完成:向着所述发光测试体的所述开口的中心,在所述板和所述探针板之间相继附着/移除一个或多个子板。
25.如权利要求23所述的发光测试方法,其中,所述步骤(a)通过如下方式完成:驱动置于所述板和所述探针板之间的垂直驱动部分,以使得所述探针板来回地移动到达所述平板显示器面板的上侧。
26.如权利要求23所述的发光测试方法,其中,所述步骤(a)通过如下方式完成:在所述板处安装具有预定尺寸的探针板,使得所述探针板的所述探针置于所述平板显示器面板的上侧。
27.如权利要求23所述的发光测试方法,其中,所述步骤(b)包括:
(b1)将在所述发光测试体第一侧的板设置的探针板上包含的探针与所述平板显示器面板的第一侧对准;
(b2)将在所述发光测试体的第二侧的板设置的探针板上包含的探针与所述平板显示器面板的第二侧对准。
28.如权利要求27所述的发光测试方法,其中,所述步骤(b1)的对准通过移动加载有所述平板显示器面板的工作台来完成,所述步骤(b2)的对准通过驱动安装在所述发光测试体上的移动工具来完成。
29.如权利要求27所述的发光测试方法,其中,所述步骤(b1)和(b2)的对准通过驱动安装在所述发光测试体上的移动工具来完成。
30.如权利要求23所述的发光测试方法,其中,所述步骤(c)包括:
将安装于所述子板或所述探针板上的摄影装置所拍的所述对准标记进行显示,以将所拍的所述对准标记显示在所述监视器上;以及
通过移动所述摄影装置使得所述对准标记与基准标记匹配。
31.如权利要求23所述的发光测试方法,其中,在所述步骤(f)之前进一步包括:
(x)测试在所述平板显示器面板上显示的所述对准标记是否与所述基准标记匹配;
(y)如果所述对准标记与所述基准标记不匹配,则校正所述工作台的位置。
32.如权利要求31所述的发光测试方法,其中,所述步骤(y)包括:
通过所述摄影装置对加载到所述工作台上的所述平板显示器面板的所述对准标记进行拍照;
计算所述基准标记和由所述摄影装置所拍的所述对准标记之间的距离差值;以及
以所述差值移动所述工作台。
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Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102375252A (zh) * 2010-08-05 2012-03-14 塔工程有限公司 阵列测试装置和阵列测试方法
CN103713205A (zh) * 2012-09-28 2014-04-09 名硕电脑(苏州)有限公司 电容触摸屏自动测试方法
CN104715705A (zh) * 2015-03-30 2015-06-17 深圳市华星光电技术有限公司 一种用于液晶显示面板的检测装置
TWI498534B (zh) * 2012-03-16 2015-09-01 Apple Inc 成像感測器陣列測試設備
CN105277750A (zh) * 2015-11-30 2016-01-27 惠州市德赛自动化技术有限公司 一种显示屏检测设备
CN105527464A (zh) * 2014-09-28 2016-04-27 深圳市诚信佳美科技有限公司 一种面板测试点定位方法、装置和测试面板的方法、系统
CN105589275A (zh) * 2016-03-11 2016-05-18 武汉华星光电技术有限公司 用于tft-lcd显示面板的电性测试装置及其电性测试方法

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101303737B1 (ko) * 2006-12-05 2013-09-04 엘지디스플레이 주식회사 액정패널을 검사하기 위한 오토 프로브 장치
KR101035570B1 (ko) 2011-04-19 2011-05-19 (주)유비프리시젼 Lcd 검사 장비용 자동 프로브 유니트 교체장치

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102375252A (zh) * 2010-08-05 2012-03-14 塔工程有限公司 阵列测试装置和阵列测试方法
TWI498534B (zh) * 2012-03-16 2015-09-01 Apple Inc 成像感測器陣列測試設備
US9176004B2 (en) 2012-03-16 2015-11-03 Apple Inc. Imaging sensor array testing equipment
CN103713205A (zh) * 2012-09-28 2014-04-09 名硕电脑(苏州)有限公司 电容触摸屏自动测试方法
CN103713205B (zh) * 2012-09-28 2016-10-26 名硕电脑(苏州)有限公司 电容触摸屏自动测试方法
CN105527464A (zh) * 2014-09-28 2016-04-27 深圳市诚信佳美科技有限公司 一种面板测试点定位方法、装置和测试面板的方法、系统
CN104715705A (zh) * 2015-03-30 2015-06-17 深圳市华星光电技术有限公司 一种用于液晶显示面板的检测装置
CN105277750A (zh) * 2015-11-30 2016-01-27 惠州市德赛自动化技术有限公司 一种显示屏检测设备
CN105277750B (zh) * 2015-11-30 2018-03-27 惠州市德赛自动化技术有限公司 一种显示屏检测设备
CN105589275A (zh) * 2016-03-11 2016-05-18 武汉华星光电技术有限公司 用于tft-lcd显示面板的电性测试装置及其电性测试方法
CN105589275B (zh) * 2016-03-11 2018-11-23 武汉华星光电技术有限公司 用于tft-lcd显示面板的电性测试装置及其电性测试方法

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