CN1650191A - 物体检测传感器和具有该传感器的ic卡输入机 - Google Patents

Abstract

本发明是一种物体检测传感器和IC卡输入机。该物体传感器有区分地配置通过卷绕装在芯体(11)的同一轴心上的励磁用线圈(13c、13d)和检测用线圈(12)，同时根据一对励磁用线圈(13c、13d)之间的均衡进行检测，从而又可用小型的芯体(11)又能以良好的线性高灵敏度地获得相互抵消含有直流电阻分量的阻抗后留下的变化量。该IC卡输入机将该物体传感器作为入口传感器，配置在IC卡插入方向上读取/写入位置上行方的适当位置，检测IC卡的接点端子部，从而检测出从插卡口插入装置内的卡是否正确，可不拘使用环境温度变动，对IC卡的有无进行稳定的检测动作。IC卡输入机还在插卡方向上读取/写入位置上行方的适当位置设置多个检测插入的卡的类别的入口传感器，通过用来自该入口传感器的检测信号，可在插入不能使用的卡时进行关闭遮挡手段等控制动作，能对卡的不正当行为防患于未然。

Description

物体检测传感器和具有该传感器的IC卡输入机

技术领域

本发明涉及形成能够检测有无被检测物体的结构的物体检测传感器以及具备该物体检测传感器，对插入到装置主体内的读取/写入位置的IC卡进行信息的记录和重现的集成电路卡输入机(IC card reader)。

背景技术

物体检测传感器一般在自动售货机、自动售票机、ATM等使用硬币的装置中硬币凹凸和材质的识别装置、电机旋转驱动控制装置等多种多样的装置中得到广泛应用。已有的物体检测传感器通常具有称为涡流型的结构，例如，如图10所示，对卷绕在形成棒状的芯体100上的线圈200通以电流，产生检测用的磁通φr后，在该检测用磁通φr形成的磁场中，使被检测体300与所述芯体100相对移动，对应于这时两者间的距离变化，所述被检测体300中产生的涡流的大小产生变化，使磁阻变化，从而将该变化量作为电感的变化量捕获，得到图11所示的检测输出。

然而，这种已有型的物体检测传感器中，所述芯体100与被检测体300之间介入空气的磁阻变化包含直流电阻分量，因而最终检测出的输出对应于阻抗变化。结果，已有型的物体检测传感器中，检测输出的灵敏度还不能说充分，而且还存在由于直流电阻分量和芯体导磁率的温度变化影响而得不到良好的温度特性的问题。

上述芯体100与被检测体300之间的空气中的磁阻变化与距离的平方成正比，因而检测输出的线性欠佳，而且如图12所示，实施利用3维磁通φr的变化加大变化量，因而存在装置总体大型化的趋势。又由于改变传感器放大器之间的电缆长度致使阻抗变动，也存在与此相对应，必须调整放大器的问题。

ATM、自动售货机、自动售票机等中，一般广泛采用对各种类型的卡的信息记录部进行规定的信息的记录、再现的卡输入机。在最近的卡输入机中进一步设置检测插入装置主体的卡的真假和表里用的入口传感器。这些磁卡输入机中，为了检测插入装置主体的卡的真假和表里，经常实施将入口传感器配置在插卡口的正后方或附近。即，通过用入口传感器检测插入装置主体内的卡的信息记录部等，用入口传感器检测出是否插入适当的卡，或者即使是适当的卡其表里是否不相反等，并且在不适当的卡时，保持关闭配置在所述入口传感器正后方或下行方的遮挡板不变，以对不正当行为防患于未然。

近年来，不断采用卡内插入集成电路(IC)的IC卡(集成电路卡)，并出现将IC接点配置成可对该IC卡的接点端子部接近、离开，以进行信息的读取/写入用的IC卡输入机。

对IC卡进行信息的读取/写入的IC卡输入机具有使卡插入装置主体内的插卡口、将通过该插卡口插入的卡引导到读取/写入位置的卡输送路径、以及使卡输送路径内的卡移动的输送驱动手段。由配置在插卡口附近的入口传感器检测插卡口中插入的卡的真假或表里，并且在检测出是适当的卡时，由输送驱动手段将卡输送到装设成可对IC卡的接点端子部接近、离开的IC接点的位置，进行信息的读取/写入。

一般在对作为广泛使用的卡的磁卡的磁条记录、再现信息的卡输入机的情况下，作为所述入口传感器，可用小型磁头做成简易结构，但使用作为最近的卡的IC卡时，对如何检测IC卡是否正确尚未做出具体建议。

判别IC卡时，用日本国专利公开平11-352108号公报揭示的涡流型传感器时，产生不能薄化的问题。即，涡流型传感器中，由于配置3个以上的励磁用的棒状芯，难免大型化，而且磁芯的导磁率因湿度而变化，相对于使用环境的温度特性变动大，因而必须将判断有无IC卡时的门限电平设定得高达温度特性的变动以上，在IC卡与入口传感器之间形成某程度以上的距离时，IC卡的检测有可能不能进行。

再者，使用所述最近的IC卡的卡输入机的情况下，对如何检测出卡的类别，尚未做出具体建议。

这样，已有的卡输入机中存在就存在不能判断插入装置主体内的卡的类别，不能判别当时用的卡是磁卡还是IC卡的问题。在IC卡的情况下，不能判别是接触型IC卡还是非接触型IC卡，因而当然也完全不能判别共用这两种类型的卡。因此，现状为：例如插入不能使用的卡等情况下，不能可靠地进行关闭遮挡板的控制动作，不能采取防止装置误动和损伤的措施。

使用上述IC卡的卡输入机中，由入口传感器适当检测出IC卡的真假或表里。因此，所述入口传感器的内部或入口传感器与信号处理电路之间产生断线等情况下，不能适当检测IC卡，产生不管IC卡适当与否，就误认为是不正当的卡而不能使用的问题。然而，一般使用IC卡的卡输入机存在不能事先检测出入口传感器断线等的问题。

因此，本发明目的为：提供一种利用简易结构，既能获得良好的检测灵敏度又能得到稳定的检测结果的物体检测传感器。

本发明又一目的为：提供一种利用简易结构能良好地进行IC卡检测的IC卡输入机。

本发明另一目的为：提供一种利用简易且小型的装置结构，能可靠且稳定地检测出插入的卡的类别、能良好地防止装置误动和损伤的IC卡输入机。

本发明再一目的为：提供一种能在检测卡的真假之前检测出入口传感器断线等以进行适当处理的IC卡输入机。

发明内容

为了达到上述目的，发明1的物体检测传感器通过分别卷绕，将励磁用线圈和检测用线圈装在芯体的同一轴心上，其中将所述励磁用线圈和检测用线圈的一方装在配置于所述芯体的轴心方向的大致中央的中央芯部，同时所述励磁用线圈和检测用线圈的另一方分别装在配置于所述芯体的轴心方向的两端部分的一对轴端芯部，使该一对轴端芯部中的一方与所述被检测体形成可相互面对的配置关系。

即，具有这种结构的物体检测传感器中，有区别地配置励磁用线圈和检测用线圈，而且根据一对励磁用线圈或一对检测用线圈之间的均衡进行检测，因而能直接测量磁通的变化量，与包含的直流电阻分量等无关，从而又用小型芯体又获得高灵敏度输出，而且不用以往那样的恒流电路，而用廉价的电路，就能形成稳定的检测动作，不拘环境温度变动。

发明2的物体检测传感器中，所述发明1记载的芯体由一块板状构件组成，因而可通过使芯体薄化，谋求进一步小型化。

发明3的物体检测传感器中，形成所述发明1记载的轴端芯部中与轴心方向正交的方向的宽度尺寸小于所述中央芯部的宽度尺寸。同时，发明4记载的的物体检测传感器中，将所述发明3记载的轴端芯部的宽度尺寸设定成中央芯部宽度尺寸的一半以下。

这样使靠近被检测体的轴端芯部宽度小，提高该轴端芯部的电流效率，产生更多磁通，从而能进一步提高检测灵敏度。

发明5的物体检测传感器中，在所述发明3记载的中央芯部与所述一对轴端芯部的各边界部分，分别设置往宽度方向伸出的卡定凸缘部，利用该卡定凸缘部将所述励磁用线圈和检测用线圈的卷绕处定位并限制在预定位置。

这样如果通过在中央芯部与轴端芯部的边界部分设置卡定凸缘部，可预先高精度定位各线圈卷绕处，则能减小相位偏差和输出偏差，同时获得大变化率。

发明6的物体检测传感器中，在所述发明3记载的一对轴端芯部中配置成可面对所述被检测体方的一侧的相反侧的轴端芯部，配置比较金属体，使其与该轴端芯部对置。这样，将来自被检测体的检测输出与来自比较金属体的检测输出的差额作为变化量进行检测，则通过改变比较金属体与轴端芯部的距离和比较金属体的材质等，可将被检测体需要的检测区间中的起始点位置设定为“0”，并进行使用。由此，获得输出变化大并可提高检测精度和分辨率，同时取得良好的线性。

发明7的物体检测传感器中，所述发明1记载的励磁用线圈具有一对线圈卷绕部，并将该一对线圈卷绕部配置成在所述同一轴心上形成对置的磁场。根据此手段，用一对励磁用线圈能获得成为差动状态的一个输出，从而可用更加高的灵敏度进行准确检测。

另一方面，为了达到上述目的，发明8的集成电路卡(IC卡)输入机中，在所述IC卡的插入方向上的所述读取/写入位置的上行方的适当位置，设置通过检测所IC卡的接点端子部而检测出插入的卡是否正确的入口传感器。根据具有此结构的IC卡输入机，利用检测IC卡的接点端子部的入口传感器，能方便且可靠地检测出卡是否正确。

发明9的IC卡输入机中，在所述发明8记载的装置主体设置插入所述集成电路卡的插卡口、将通过该插卡口插入的IC卡引导到所述读取/写入位置的卡输送路径、使该卡输送路径内的IC卡移动的输送驱动手段、以及在所述集成电路卡的插入方向上所述插卡口的下行方使所述卡输送路径通断的遮挡手段，同时将所述入口传感器配置在所述插卡口与遮挡手段之间。因此，通过在入口传感器检测从插卡口插入的IC卡，使遮挡手段为开通状态后，将该IC卡送入卡输送路径内。

发明10的IC卡输入机中，相对于所述接点端子部，以适当的位置关系配置所述发明8记载的入口传感器，使其可检测所述IC卡的表里。因此，除能检测卡是否正确外，还能方便且可靠地检测IC卡的表里。

发明11的IC卡输入机中，将所述发明9记载的入口传感器装在从卡输送路径引入的位置。因此，能良好地防止侵入IC卡和装置内的灰尘引起的入口传感器受损。

发明12的IC卡输入机中，所述发明8记载的IC卡的，为检测磁信息记录部而设置的磁头的缝隙中心与所述入口传感器之间的距离设定为大致等于从所述集成电路卡的插入方向的前端位置至接点端子部的距离。因此，能顺畅地进行具有磁信息记录部的卡的检测。

发明13的IC卡输入机中，将所述发明8记载的所述入口传感器做成在芯体的同一轴心分别卷绕励磁用线圈和检测用线圈以在其上安装的磁差动型结构，其中

将所述励磁用线圈和检测用线圈的一方装在配置于所述芯体的轴心方向的大致中央的中央芯部，同时所述励磁用线圈和检测用线圈的另一方分别装在配置于所述芯体的轴心方向的两端部分的一对轴端芯部上，

使该一对轴端芯部中的一方与所述被检测体形成可相互面对的配置关系。

即，用于具有这种结构的IC卡输入机的磁差动型入口传感器中，有区别地配置励磁用线圈和检测用线圈，而且根据一对励磁用线圈或一对检测用线圈之间的均衡进行检测，因而能直接测量磁通的变化量，与包含的直流电阻分量等的阻抗无关，从而又用小型芯体又获得高灵敏度输出，而且不用以往那样的恒流电路，而用廉价的电路，就能形成稳定的检测动作，不拘环境温度变动。

发明14的IC卡输入机中，所述发明13记载的芯体由一块板状构件组成，因而可使芯体薄化，谋求进一步小型化。

发明15的IC卡输入机中，形成所述所述发明13记载的轴端芯部中与轴心方向正交的方向的宽度尺寸小于所述中央芯部的宽度尺寸。同时，发明16的IC卡输入机中，将所述发明15记载的轴端芯部的宽度尺寸设定成中央芯部宽度尺寸的一半以下。

这样使靠近作为被检测体的IC卡的轴端芯部宽度小，提高该轴端芯部的电流效率，产生更多磁通，从而能进一步提高检测灵敏度。

发明17的IC卡输入机中，在所述发明15记载的中央芯部与所述一对轴端芯部的各边界部分，分别设置往宽度方向伸出的卡定凸缘部，利用该卡定凸缘部将所述励磁用线圈和检测用线圈的卷绕处定位并限制在预定位置。

这样通过在中央芯部与轴端芯部的边界部分设置卡定凸缘部，如果可预先高精度定位各线圈卷绕处，则能减小相位偏差和输出偏差，同时获得大变化率。

发明18的IC卡输入机中，在所述发明15记载的一对轴端芯部中配置成可面对所述被检测体方的一侧的相反侧的轴端芯部，配置比较金属体，使其与该轴端芯部对置。

这样，将来自作为被检测体的IC卡的检测输出与来自比较金属体的检测输出的差额作为变化量进行检测，则通过改变比较金属体与轴端芯部的距离和比较金属体的材质等，可将被检测体需要的检测区间中的起始点位置设定为“0”，并进行使用。由此，获得大的输出变化，提高检测精度和分辨率，同时取得良好的线性。

发明19的IC卡输入机中，所述发明13记载的励磁用线圈具有一对线圈卷绕部，并将该一对线圈卷绕部配置成在所述同一轴心上形成对置的磁场。根据此手段，用一对励磁用线圈能获得成为差动状态的一个输出，从而可用更加高的灵敏度进行准确检测。

另一方面，为了达到上述目的，发明20的IC卡输入机，在卡的插入方向上的读取/写入位置的上行方的适当位置，设置检测出插入的卡的类别的入口传感器。因此，通过使用来自该入口传感器的检测信号，可在插入不能使用的卡时进行关闭遮挡板等控制动作。

发明21的IC卡输入机中，所述发明20记载的入口传感器具有检测出磁卡的磁条的第1磁传感器、检测出接触型集成电路卡的接点端子部的第2磁传感器和检测出非接触型集成电路卡的天线部的第3磁传感器中的至少2种磁传感器。

因此，根据发明21，利用来自入口传感器的检测信号，能良好地检测出插入的卡是磁卡，还是接触型IC卡或非接触型IC卡，或者是共用其中任一种类型的卡。

发明22的IC卡输入机，在所述发明20记载的装置主体设置插入所述卡的插卡口、将通过该插卡口插入的卡引导到所述读取/写入位置的卡输送路径、使该卡输送路径内的卡移动的输送驱动手段、以及在所述卡的插入方向上所述插卡口的下行方使所述卡输送路径通断的遮挡板段；将所述入口传感器配置在所述插卡口与遮挡手段之间。

因此，根据发明22，从插卡口插入的卡通过由入口传感器检测，使遮挡手段形成开通状态后，被送入卡输送路径内。

发明23的IC卡输入机中，至少将所述发明20记载的入口传感器中的一个做成分别在芯体的同一轴心上卷绕励磁用线圈和检测用线圈以将其装在其上的磁差动型结构，其中将所述励磁用线圈和检测用线圈中的一方装在配置以所述芯体的轴心方向的大致中央的中央芯部上，同时所述励磁用线圈和检测用线圈的另一方分别装在配置于所述芯体的轴心方向的两端部分的一对轴端芯部上，使该一对轴端芯部中的一方与所述被检测体形成可相互面对的配置关系。

即，用于具有这种结构的IC卡输入机的磁差动型入口传感器中，有区别地配置励磁用线圈和检测用线圈，而且根据一对励磁用线圈或一对检测用线圈之间的均衡进行检测，因而能直接测量磁通的变化量，与包含的直流电阻分量等的阻抗无关，从而又用小型芯体又获得高灵敏度输出，而且不用以往那样的恒流电路，而用廉价的电路，就能形成稳定的检测动作，不拘环境温度变动。

发明24的IC卡输入机中，所述发明23记载的芯体由一块板状构件组成，因而可通过使芯体薄化，谋求进一步小型化。

发明25的IC卡输入机中，形成所述发明23记载的轴端芯部中与轴心方向正交的方向的宽度尺寸小于所述中央芯部的宽度尺寸。同时，发明26的IC卡输入机中，将所述发明25记载的轴端芯部的宽度尺寸设定成中央芯部宽度尺寸的一半以下。

这样使靠近作为被检测体的卡的轴端芯部宽度小，提高该轴端芯部的电流效率，产生更多磁通，从而能进一步提高检测灵敏度。

发明27的IC卡输入机中，在所述发明25记载的中央芯部与所述一对轴端芯部的各边界部分，分别设置往宽度方向伸出的卡定凸缘部，利用该卡定凸缘部将所述励磁用线圈和检测用线圈的卷绕处定位并限制在预定位置。

这样通过在中央芯部与轴端芯部的边界部分设置卡定凸缘部，可预先高精度定位各线圈卷绕处，则能减小相位偏差和输出偏差，同时获得大变化率。

发明28的IC卡输入机中，在所述发明25记载的一对轴端芯部中配置成可面对作为所述被检测体方的卡的一侧的相反侧的轴端芯部，配置比较金属体，使其与该轴端芯部对置。

这样，将来自作为被检测体的卡的检测输出与来自比较金属体的检测输出的差额作为变化量进行检测，则通过改变比较金属体与轴端芯部的距离和比较金属体的材质等，可将作为被检测体的卡所需要的检测区间中的起始点位置设定为“0”，并进行使用。由此，获得输出变化大并可提高检测精度和分辨率，同时取得良好的线性。

发明29的IC卡输入机中，所述发明23记载的励磁用线圈具有一对线圈卷绕部，并将该一对线圈卷绕部配置成在所述同一轴心上形成对置的磁场。根据此手段，用一对励磁用线圈能获得成为差动状态的一个输出，从而可用更加高的灵敏度进行准确检测。

另一方面，为了达到上述目的，在发明30的IC卡输入机中，将构成具有卷绕于磁芯的一对励磁用线圈和检测用线圈的磁差动型的入口传感器设置在所述卡输送路径的入口侧的位置上，入口传感器检测到IC卡的接点端子部时，由输送驱动手段将该卡引导到读取/写入位置，并具有断线诊断手段，在入口传感器未检测到IC卡的接点端子部时，使励磁用线圈励磁，利用检测用线圈输出的输出信号的电压值诊断入口传感器的断线等，从而事前检测入口传感器的断线等。

发明31的IC卡输入机中，将所述发明30记载的入口传感器构成通过分别卷绕把励磁用线圈和检测用线圈装在芯体的同一轴心上的磁差动型，其中将所述励磁用线圈和检测用线圈的一方装在配置于所述芯体的轴心方向的大致中央的中央芯部，同时，所述励磁用线圈和检测用线圈的另一方分别装在配置于所述芯体的轴心方向的两端部分的一对轴端芯部，使该一对轴端芯部中的一方与所述被检测体形成可相互面对的配置关系。

即，用于具有这种结构的IC卡输入机的磁差动型入口传感器中，有区别地配置励磁用线圈和检测用线圈，而且根据一对励磁用线圈之间的均衡由检测线圈进行检测，因而能直接测量磁通的变化量，与包含的直流电阻分量等的阻抗无关，从而又用小型芯体又获得高灵敏度输出，而且能形成稳定的检测动作，不拘环境温度变动。

发明32的IC卡输入机中，所述发明30记载的断线诊断手段在未检测到所述接点端子部时，使励磁用线圈励磁，由比较器对检测用线圈输出的输出信号的电压值和门限值进行比较，从而判断励磁线圈和检测线圈的断线等。

发明33的IC卡输入机中，所述发明30记载的断线诊断手段在检测用线圈的输出电平超过规定的门限电平时，诊断为一对所述励磁用线圈中的一方发生断线，因而能识别入口传感器等的断线处。

发明34的IC卡输入机中，所述发明30记载的诊断手段在对IC卡进行信息的读取/写入并从卡输送路径排出所述IC卡后，使所述励磁用线圈励磁，以诊断入口传感器的断线等，因而在接着检测IC卡的真假和表里前的期间，事先检测出入口传感器的断线。

发明35的IC卡输入机中，所述发明30记载的诊断手段在将IC卡插入卡输送路径的入口后、入口传感器检测出IC卡的接点端子部前，使励磁用线圈励磁，以诊断传感器的断线等，因而在入口传感器检测IC卡的真假或表里前，事先检测入口传感器的断线等。

发明36的IC卡输入机中，所述发明30记载的入口传感器非均衡地构成所述一对励磁用线圈或者一对轴端芯部，并且在使励磁用线圈励磁时，从所述检测线圈输出微小的待机电压，利用与微小待机电压比较，检测出一对励磁用线圈的双方或检测线圈的断线。

综上所述，发明1的物体检测传感器有区别地配置励磁用线圈和检测用线圈，根据一对励磁用线圈之间的均衡进行检测，从而又用小型芯体又以良好的线性高灵敏度地获得相互抵消直流电阻分量的阻抗后留下的变化量，同时不用以往那样的恒流电路，而用廉价的电路，就能形成稳定的检测动作，不拘环境温度变动。因此，可利用简易的结构，对有无被检测体取得良好的检测灵敏度，同时又取得稳定的检测结果，能使物体检测传感器的性能和可靠性提高。

发明2的物体检测传感器中，由一块板状构件形成芯体，使芯体薄化，因而除具有上述效果外，还能谋求进一步小型化。

发明3和发明4的物体检测传感器使靠近被检测体的轴端芯部宽度小，提高该轴端芯部的电流效率，产生更多磁通，进一步提高检测灵敏度，因而能进一步提高上述效果。

发明5的物体检测传感器的构成是，通过在中央芯部与轴端芯部的边界部分设置卡定凸缘部，可高精度定位各线圈卷绕处，减小相位偏差，同时获得大变化率，因而能进一步提高上述效果。

发明6的物体检测传感器的构成是，将来自被检测体的检测输出与来自比较金属体的检测输出的差额作为变化量进行检测，通过改变比较金属体与轴端芯部的距离和比较金属体的材质等，可将被检测体需要的检测区间中的起始点位置设定为“0”并进行使用，从而获得输出变化大，提高检测精度和分辨率，同时取得良好的线性。因此，能使上述效果进一步提高。

发明7的物体检测传感器通过利用一对励磁用线圈形成对置磁场，使输出为理想差动状态，能以更高的灵敏度进行准确的检测，因而可使上述效果进一步提高。

发明8的IC卡输入机的构成是，在IC卡的插入方向上的读取/写入位置的上行方的适当位置，设置通过检测IC卡的接点端子部而检测出插入的卡是否正确的入口传感器，利用检测IC卡的接点端子部的入口传感器，能方便且可靠地检测出卡是否正确，因而能使IC卡输入机的可靠性提高。

发明9的IC卡输入机中，在所述发明8记载的装置主体设置将通过插卡口插入的IC卡引导到所述读取/写入位置的卡输送路径，同时还设置使该卡输送路径通断的遮挡手段，并将入口传感器配置在该插卡口与遮挡手段之间，使从插卡口插入的IC卡在入口传感器得到检测后，被送入卡输送路径内。因此，除上述效果外，还能利用遮挡手段可靠地排除不正确的卡，同时可良好地维持装置主体内的清洁。

发明10的IC卡输入机的构成是，相对接点端子部以适当的位置关系配置所述发明8中的入口传感器，使其可检测出IC卡的表里，从而除检测出卡是否正确外，还方便且可靠地检测出IC卡的表里。因此，能使上述效果更加提高。

发明12的IC卡输入机的构成是，对所述发明8记载的IC卡的插入方向的前端位置至接点端子部的距离，设定成大致等于为检测磁信息记录部设置的磁头的缝隙中心与所述入口传感器之间的距离，能顺畅地进行具有磁信息记录部的卡的检测，因而对具有磁信息记录部的卡，也取得同样的效果。

发明13的IC卡输入机将磁差动型入口传感器用作所述发明8中的入口传感器，从而又用小型芯体，又获得高灵敏度，又可进行稳定的检测动作，不拘环境温度变动。因此，除取得上述效果外，还可利用良好的检测灵敏度稳定地进行IC卡检测，能获得小型且性能高的IC卡输入机。

发明14的IC卡输入机由一块板状构件形成所述发明13中的入口传感器的芯体，使芯体薄化，因而除具有上述效果外，还能谋求进一步小型化。

发明15和发明16的IC卡输入机使所述发明13和发明14中的入口传感器的轴端芯部宽度小，提高该轴端芯部的电流效率，产生更多磁通，进一步提高检测灵敏度，因而能进一步提高上述效果。

发明17的IC卡输入机的构成是，通过在所述发明15中的入口传感器的中央芯部与轴端芯部的边界部分设置卡定凸缘部，可高精度定位各线圈卷绕处，减小相位偏差，同时获得大变化率，因而能进一步提高上述效果。

发明18的IC卡输入机的构成是，将来自所述发明15中的入口传感器的IC卡的检测输出与来自比较金属体的检测输出的差额作为变化量进行检测，通过改变比较金属体与轴端芯部的距离和比较金属体的材质等，可将被检测体需要的检测区间中的起始点位置设定为“0”并进行使用，从而获得输出变化大，提高检测精度和分辨率，同时取得良好的线性。因此，能使上述效果更加提高。

发明19的IC卡输入机通过利用所述发明13中的入口传感器的一对励磁用线圈形成对置磁场，使输出为理想差动状态，能以更高的灵敏度进行准确的检测，因而可使上述效果更加提高。

另一方面，发明20的IC卡输入机在卡的插入方向上的读取/写入位置的上行方的适当位置，设置检测出插入的卡的类别的入口传感器，通过使用来自该入口传感器的检测信号，可在插入不能使用的卡时进行关闭遮挡板等控制动作，因而能对不正当行为防患于未然，并且可以提高IC卡输入机的可靠性。

发明21的IC卡输入机中，所述发明20记载的入口传感器具有检测出磁卡的磁条的第1磁传感器、检测出接触型集成电路卡的接点端子部的第2磁传感器和检测出非接触型集成电路卡的天线部的第3磁传感器中的至少2种传感器，利用来自入口传感器的检测信号，能良好地检测出插入的卡是磁卡，还是接触型IC卡或非接触型IC卡，或者是共用其中任一种类型的卡。因此，能可靠地获得上述效果。

发明22的IC卡输入机在所述发明20的装置主体设置将通过插卡口插入的卡引导到所述读取/写入位置的卡输送路径，同时还设置使该卡输送路径通断的遮挡手段，并将入口传感器配置在该插卡口与遮挡手段之间，使插入的卡在入口传感器得到检测后，被送入卡输送路径内。因此，除上述效果外，还能利用遮挡手段可靠地排除不正确的卡，同时可良好地维持装置主体内的清洁。

发明23的IC卡输入机将磁差动型入口传感器用作所述发明20中的入口传感器，从而又用小型芯体，又获得高灵敏度，又可进行稳定的检测动作，不拘环境温度变动。因此，除取得上述效果外，还可利用良好的检测灵敏度稳定地进行IC卡检测，能获得小型且性能高的IC卡输入机。

发明24的IC卡输入机由板状构件形成所述发明23中的磁差动型传感器的芯体，使芯体薄化，因而除具有上述效果外，还能谋求进一步小型化。

发明25和发明26的IC卡输入机使所述发明23和发明24中的磁差动型传感器的轴端芯部宽度小，提高该轴端芯部的电流效率，产生更多磁通，进一步提高检测灵敏度，因而能进一步提高上述效果。

发明27的IC卡输入机的构成是，通过在所述发明25中的磁差动型传感器的中央芯部与轴端芯部的边界部分设置卡定凸缘部，可高精度定位各线圈卷绕处，减小相位偏差，同时获得大变化率，因而能进一步提高上述效果。

发明28的IC卡输入机的构成是，将来自所述发明25中的磁差动型传感器的卡的检测输出与来自比较金属体的检测输出的差额作为变化量进行检测，通过改变比较金属体与轴端芯部的距离和比较金属体的材质等，可将被检测体需要的检测区间中的起始点位置设定为“0”并进行使用，从而获得输出变化大，提高检测精度和分辨率，同时取得良好的线性。因此，能使上述效果更加提高。

发明29的IC卡输入机通过利用所述发明23中的磁差动型传感器的一对励磁用线圈形成对置磁场，使输出为理想差动状态，能以更高的灵敏度进行准确的检测，因而可使上述效果更加提高。

另一方面，发明30的IC卡输入机将构成具有卷绕于磁芯的一对励磁用线圈和检测用线圈的磁差动型的传感器设置在所述卡输送路径的入口侧的位置上，入口传感器检测到IC卡的接点端子部时，由输送驱动手段引导到读取/写入位置，并具有断线诊断手段，在入口传感器未检测到IC卡的接点端子部时，使励磁用线圈励磁，利用检测用线圈输出的输出信号的电压值诊断入口传感器的断线等，从而能自己诊断入口传感器的断线等。因此，可大幅度提高作为IC卡的可靠性。

发明31的IC卡输入机将磁差动型入口传感器用作所述发明30中的入口传感器，从而又用小型芯体，又获得高灵敏度，又可进行稳定的检测动作，不拘环境温度变动。因此，除取得上述效果外，还可利用良好的检测灵敏度稳定地进行IC卡检测，能获得小型且性能高的IC卡输入机。

发明32的IC卡输入机中，所述发明30记载的断线诊断手段在未检测到IC卡的接点端子部时，判断入口传感器的励磁用线圈和检测线圈的断线等，因而能进行检测而不影响IC卡本来的动作。

发明33的IC卡输入机中，所述发明30的断线诊断手段在检测用线圈的输出电平超过规定的门限电平时，诊断为一对所述励磁用线圈中的一方发生断线，因而能识别入口传感器等的断线处。

发明34的IC卡输入机中，所述发明30的诊断手段在排出所述IC卡后，诊断入口传感器的断线等，因而能在接着检测IC卡的真假和表里前的期间，事先检测出入口传感器的断线。

发明35的IC卡输入机中，所述发明30的断线诊断手段在将IC卡插入卡输送路径的入口时，诊断入口传感器的断线等，因而能在入口传感器检测IC卡的真假和表里前，事先检测出入口传感器断线等。

发明36的IC卡输入机中，所述发明30的入口传感器在对励磁用线圈进行励磁时，从检测线圈输出微小的待机信号，因而通过比较此待机信号的电压值，能检测出检测线圈发生断线，并能检测出入口传感器的断线等。

附图说明

图1是表示本发明的一种实施方式的物体检测传感器的大致结构的侧视说明图。

图2是表示图1所示物体检测传感器的磁芯结构的外观立体图。

图3是将本发明的物体检测传感器的检测输出与已有传感器比较的线图。

图4示出将本发明的物体检测传感器用作检测有无硬币的传感器时的大致配置例，(a)是侧视说明图，(b)是俯视说明图。

图5是示出一例由图4的结构获得的输出的线图。

图6是表示本发明另一实施方式的物体检测传感器的大致结构的侧视说明图。

图7是表示图6所示物体检测传感器的检测区间的调整状态的线图。

图8示出芯体的另一立体形状实例，(a)和(b)分别是圆筒形状和棱柱形状的芯体的外观立体图。

图9是表示励磁用线圈的并联状连接例的电路说明图。

图10是表示普通物体检测传感器的大致结构的侧视说明图。

图11是图10所示普通物体检测传感器的检测输出的线图。

图12是表示普通物体检测传感器的大致结构的外观立体说明图。

图13是表示具有本发明的一种实施方式的物体检测传感器(入口传感器)的IC卡输入机的卡输送路径中将IC卡输送到读取/写入位置的状态的纵截面说明图。

图14是表示图13所示的IC卡输入机的卡输送路径中IC卡到达读取/写入位置的瞬间之前的状态的纵截面说明图。

图15是表示图13所示的IC卡输入机的卡输送路径中的插卡口部分的结构的侧视说明图。

图16是图15所示的插卡口部分的俯视说明图。

图17是图15所示的插卡口部分的正视说明图。

图18是表示一例图13中的IC卡输入机用的入口传感器的纵截面说明图。

图19是图18所示入口传感器的横截面说明图。

图20表示图18所示入口传感器的大致结构的侧视说明图。

图21是表示图20所示入口传感器的磁芯结构的外观立体图。

图22是表示本发明的入口传感器的温度特性测量结果的线图。

图23是表示测量入口传感器与IC卡的接点端子部之间的间隔和入口传感器的输出电压的关系的结果的线图。

图24是表示实际安装的入口传感器取得的检测输出电压的温度特性的线图。

图25是表示设在IC卡的接点端子部的位置的俯视说明图。

图26是图25中的A部放大图。

图27是表示设在IC卡的压纹区的位置的俯视说明图。

图28是表示将IC卡以表侧适当插入的状态的正视说明图。

图29是表示将IC卡以里侧不适当插入的状态的正视说明图。

图30(a)是表示本发明另一实施方式的入口传感器的大致结构的侧视说明图，(b)是表示(a)所示入口传感器的检测区间调整状态的线图。

图31是表示具有本发明的一种实施方式的物体检测传感器(入口传感器)的IC卡输入机的卡输送路径中将I C卡输送到读取/写入位置的状态的纵截面说明图。

图32是表示图31所示的IC卡输入机的卡输送路径中IC卡到达读取/写入位置的瞬间之前的状态的纵截面说明图。

图33是放大示出图31所示IC卡输入机的卡输送路径中的插卡口部分的侧视说明图。

图34是图33所示的插卡口部分的正视说明图。

图35是放大示出图34所示的插卡口部分的正视说明图。

图36是表示一例图31所示的IC卡输入机中用的磁差动型传感器的侧视说明图。

图37是图36所示的磁差动型传感器(入口传感器)的俯视说明图。

图38是表示测量磁差动型传感器与IC卡之间的间隔和磁差动型传感器的输出电压的关系的结果的线图。

图39是表示磁卡中的磁条位置标准的俯视说明图。

图40是表示设在非接触型IC卡的天线部与芯片的最小结合区的俯视说明图。

图41是示出作为本发明的断线诊断手段的控制电路部的电路框图。

图42是表示具有本发明的一种实施方式的物体检测传感器(入口传感器)的IC卡输入机的卡输送路径中将IC卡输送到读取/写入位置的状态的纵截面说明图。

图43是表示图41所示的IC卡输入机的卡输送路径中IC卡到达读取/写入位置瞬间之前的状态的纵截面说明图。

图44是表示图41所示的控制电路部的各状态型的信号的波形图。

最佳实施方式

首先，根据附图详细说明本发明物体检测传感器的实施方式。

图1和图2所示的实施方式的物体检测传感器10中，对一块薄板状构件组成的芯体11的中央芯部11a卷绕检测用线圈12，同时在所述中央芯部11a的图中所示的上下方向两侧，对分别通过卡定凸缘部11b连接成一体的一对轴端芯部11c、11d的各方分别卷绕励磁用线圈13c、13d。

然后，将所述一对轴端芯部11c、11d中配置在图中所示的上方的一个轴端芯部11c配置成可面对被检测体14。这时，本实施方式中，将通过所述中央芯部11a到达另一侧的轴端芯部11d的轴心CX的方向(图中所示的上下方向)设定成与所述被检测体14的移动方向大致正交的位置关系。于是，形成的结构为：使被检测体14相对于所述一个轴端芯部11c，沿与所述轴心CX大致正交的方向往复移动，从而使该一个轴端芯部11c和被检测体14又相互对置又相互接近、分离，并且该两个构件11c、14在适当距离范围内相互面对时，检测出所述被检测体14的存在(有被检测体)。也可构成所述被检测体14为固定的状态，而物体检测传感器10方运动。

具体而言，在所述轴心CX的延伸方向(图中所示的上下方向)上，将所述中央芯部11a配置在物体检测传感器10的大致中央部，并将与所述轴心CX正交的方向(图中所示的左右方向)上的宽度尺寸W1形成得较大。与此相反，将所述两个轴端芯部11c、11d各自的尺寸W2设定成小于所述中央芯部11a的宽度尺寸W1(W2＜W1)，本实施方式中形成后者的一半以下的尺寸(W2≤W1/2)。这时，所述中央芯部11a中的卷绕检测用线圈12的部位以宽度尺寸W3稍小的方式形成切口形状。

由连接为一体的连续线圈构件构成卷绕在所述两个轴端芯部11c、11d的一对励磁用线圈13c、13d，这些构件中卷绕在所述两个轴端芯部11c、11d的根部的内端部分由搭接线13e连接成一体，形成串联状态。另一方面，构成将从所述两个轴端芯部11c、11d的各前端方引出的各导线部13f、13g分别连接交流电源15的两个端子部，对所述两个轴端芯部11c、11d的各线圈卷绕部施加该交流电源15产生的正弦波或矩形波，从而在所述的同一轴心CX上形成反方向的对置磁场φ1、φ2。

这时，使设在所述中央芯部11a与一对轴端芯部11c、11d的各边界部分的各卡定凸缘部11b、11b形成往与所述轴心CX的方向大致正交的宽度方向凸出的伸出形状，并且在相对于这些卡定凸缘部11b的轴心方向的前后位置上，分别卷绕所述励磁用线圈13c和检测用线圈13d。即，由上述两个卡定凸缘部11b、11b定位各线圈13c、13d的卷绕处。

具有这种结构所本实施方式的物体检测传感器10中，从所述检测用线圈12获得的检测输出所根据的磁场相当于一对励磁线圈13c、13d产生的反方向的对置磁场φ1、φ2的和。因此，所述被检测体14不存在(无被检测体)或被检测体14处在离开物体检测传感器10充分远的地方(无限远)时，所述反方向的对置磁场φ1、φ2的绝对值相等(|φ1|＝|φ2|)，所述检测用线圈12的输出为“0”。反之，物体检测传感器10和被检测体14相对接近，成为存在于适当范围内(有被检测体)的状态时，对应于该两者之间的距离的变化，所述被检测体14产生的涡流也变化，因而所述反方向的对置磁场φ1、φ2的均衡破坏，例如φ1大，则φ2小。根据这时的对置磁场φ1、φ2的绝对值的差(|φ1|-|φ2|)，从所述检测用线圈12获得差动输出。

由这种差动状态获得1个输出，例如用下面的公式表示该输出。

输出＝dφ1/dt-dφ2/dt

其中，φ1＝Asinωt，φ2＝Bsinωt，同相位。

即，具有上述结构的物体检测传感器10中，有区别地配置励磁用线圈13c、13d和检测用线圈12，而且根据一对励磁用线圈13c、13d之间的均衡进行检测，因而能又用薄且小的芯体11又以良好的线性高灵敏度地获得磁通变化量，与基于直流电阻分量等的阻抗无关。而且，可以不用以往的恒流电路，而用廉价的电路对被检测体14的有无进行稳定的检测动作，不拘环境温度变化。

本实施方式中，使面对被检测体14配置的轴端芯部11c、11d中的宽度小，提高该轴端芯部11c、11d的电路效率，从而产生更多磁通。因此，能进一步提高检测的变化量，即对有无被检测体14的检测灵敏度。

本实施方式的物体检测传感器10中，通过在中央芯部11a与轴端芯部11c、11d的边界设置卡定凸缘部11b，可对各线圈12、13c、13d的卷绕处高精度定位，减小相位偏差或输出偏差，同时能获得大变化率。

本实施方式的物体检测传感器10中，使一对励磁用线圈13c、13d之间的输出均衡为差动状态，因而能以更高的灵敏度进行准确检测。又由于形成差动，温度特性也良好。

例如，作为励磁用线圈13c、13d，采用圈数20T的线圈，而作为检测用线圈12，采用圈数40T的线圈，并且将励磁频率设定为1MHz，励磁电流设定为20mA(0.65V)后，试将本发明的物体检测传感器10与已有品比较时，得到图3所示的结果。即，使被检测体14不存在或在充分远距离(无限远)处的情况下的所述检测用线圈12的输出为“1”时，所述被检测体14与物体检测传感器10之间的距离(图3的横轴；mm)所对应的输出变化率(图3的纵轴；％)在已有的物体检测传感器中(该图中的A线)只能得到约10％～20％的变化量，与此相反，本发明的物体检测传感器10(该图中的B线)能获得900％～950％的大变化量。

如图4(a)、(b)所示，将本发明的物体检测传感器10试用作检测有无500日元等硬币C的硬币传感器时，不管上述硬币C与传感器10的距离(间隙)G，能获得图5所述那样良好的测量结果。图5的结果是电流、放大器增益为固定状态下进行测量的。

另一方面，对与上述实施方式相同的组成物标注相同符号的、图6所示的实施方式中，将一对轴端芯部11c、11d中配置在图示上方的一个轴端芯部11c配置成与被检测体14对置，同时将配置在图示下方的另一个轴端芯部11d配置成与具有和所述被检测体14材质相同或导电率(被检测体14为非磁性体时是非磁性体)相同或导磁率(被检测体14为磁性体时是磁性体)相同的比较金属体20对置。例如，所述被检测体14为铝材、铜、铁氧体、坡莫合金等时，作为比较金属体20，也用与其材质相同的铝材、铜、铁氧体、坡莫合金，或者组合使用这些材料中的磁性材料或非磁性构件。

然后，所述被检测体14按图中所示的左右方向移动，朝向或离开物体检测传感器10，则所述一个轴端芯部11c朝向或离开所述被检测体14，这两个构件之间的间隔L1在有限值与无限值之间变化。这时，另一个轴端芯部11d构成对比较金属体20不改变间隔L2，维持规定的位置。

因此，所述检测用线圈12的输出为“0”的位置是所述比较金属体20与另一个轴端芯部11d的间隔L2等于一个轴端芯部11c与被检测体14的间隔LI的位置，因而如果将所述一个轴端芯部11c与进行被检测体14的检测的间隔L1设定在等于或小于比较金属体20与另一个轴端芯部11d的间隔L2的范围(0≤L1≤L2)，就可对有无被检测体14取出大检测输出。

这样，如果采用本实施方式的物体检测传感器10，则被检测体14的检测输出与比较金属体20的检测输出的差额形成变化量，因而通过改变比较金属体20与轴端芯部11c的距离L2和比较金属体20的材质等，可在图7中符号0～12所示的对所述被检测体14需要的检测区间任意改变并使用成为“0”的位置L2。结果，通过对有无被检测体14取得大输出，提高检测精度。

至此，具体说明了本发明人完成的发明的物体检测传感器的实施方式，但不言而喻，本发明不限于上述实施方式，在不脱离其要旨的范围内可作各种变换。

例如，上述有关物体检测传感器的实施方式中，将检测用线圈12夹在中央部分，两侧配置励磁用线圈13c、13d，但也可构成将励磁用线圈夹在中央部分，两侧配置检测用线圈。

上述有关物体检测传感器的实施方式中，使轴端芯部11c的宽度尺寸小于中央芯部11a的宽度尺寸(W1＜W2)，但也可使两者相等，或设定成相反的大小关系。上述实施方式的芯体11的中央芯部11a在卷绕检测用线圈12的部位设置下凹状切口部，但也可不设置此切口部，形成单纯的矩形。

上述有关物体检测传感器的实施方式中，将一块薄板状构件用作芯体，但即使是图8(a)、(b)所示的立体形状的芯体11’、11”，也同样能采用。这时，也可不形成设在轴向中央部分的切口状凹部11’a、11”a而构成单纯的矩形。

上述有关物体检测传感器的实施方式中，以串联状态将一对励磁用线圈13c、13d连接成连续、合成一体；但是，例如，如图9所示，也可将这些励磁用线圈13c、13d连接成对交流电源15为并联状态，以形成对置磁场。

上述有关物体检测传感器的实施方式中，单独设置一个励磁用电源，但也可每一励磁用线圈13c、13d分别配置分开的电源。这时，该电源的相位需要设定成同步。

另一方面，上述有关物体检测传感器的实施方式中，成对的两个轴端芯部11c、11d各自的宽度尺寸为W2，W2由于制作误差，相互微量(例如5μm)不同，因而可认为无被检测物时的差动输出不为“0”；但是，这时，通过调偏供给所述各励磁用线圈13c、13d的电流值使差动输出为“0”可容易地应付。

下面，根据附图详细说明有关具有上述物体检测传感器的IC卡输入机的本发明实施方式。

首先，图13和14、图31和32以及图42和43示出IC卡输入机，表示插入IC卡3，以读取/写入信息的形态。图31所示的实施方式中，“IC卡3”为“接触型IC卡3”。“物体检测传感器”为“入口传感器”或者“磁差动型传感器”。

在IC卡输入机的装置主体内，构成由配置成在大致水平方向上延伸的卡输送路径4引导通过设在图中所示右端的插卡口2插入的IC卡3，将其送入到装置后端，如图中所示。将该卡输送路径4构成夹在上侧框架4a与下侧框架4b之间，并由电动机(省略示出)旋转驱动配置在该卡输送路径4的较前方(图中的右方的位置)作为输送驱动手段的送卡辊5a和送卡导向板5b，从而将所述IC卡3引导到配置在后端(图中的右端)的卡读取/写入位置。

图42和图43所示的IC卡输入机中，在该卡输送路径4的大致中央的位置配置送卡辊5c和送卡导向板5d。送卡辊5a、5c或送卡导向板5b、5d由电动机(省略示出)旋转驱动，从而将所述IC卡3引导到配置在后端(图中的右端)的卡读取/写入位置。

更具体而言，从所述插卡口2输入到卡输送路径4的内部方的IC卡3，其前端3a与接卡构件6对接后，进一步被压入，使所述接卡构件6与该IC卡3一起往卡运行方向移动。于是，随着该接卡构件6的移动，使IC接点7移动到靠接点块8的作用与所述IC卡3的接点端子部3b对接的位置。

另一方面，所述接卡构件6具有对接IC卡3的前端3a的伸出部6a和支承IC卡3的背面方的支承手段6b。在接卡构件6的前端部分(图中的左端部分)，往下方地形成所述伸出部6a，配置成该伸出部6a的一部分往所述上侧框架4a和下侧框架4b所形成的卡输送路径4内伸出，使卡输送路径4中运行的IC卡3与该伸出部6a对接。

将所述接卡构件6装设成可在IC卡3运行的方向移动，但具有弹簧等(省略示出)加力，使其往IC卡3的后端的方向(即图中的右方靠自己一侧)还原，在使该接卡构件6移动到与IC卡3对接前，在后方位置(图中的右方位置)等待，如图14、图32和图43所示。然后，IC卡3往图中左方的卡读取/写入位置运行，该IC卡3的前端3a与接卡构件6的伸出部6a对接时，该接卡构件6与IC卡3一起往卡运行方向(即图中的左方内侧)移动，由此，所述接卡构件6到达图13、图31和图42所示的置卡位置，即对IC卡3进行信息读取/写入的位置。

另一方面，构成所述接点块8一面保持探针状的IC接点7，一面卡定到接卡构件6，与接卡构件6连动，以便往图中左方的前端侧移动，从图14、图32和图43的卡离开位置沿斜方向的凸轮槽8b下降，到达图13、图31和图42所示的卡对接位置。

装设配置在图中上方的传感器9，使其检测出设置在所述接卡构件6的缝隙6c和接卡构件6的后侧端面6d，通过用该传感器9检测缝隙6c，检测出使IC卡3的运行速度降低的定时，同时通过检测后侧端面6d，检测出IC卡3停止在读取/写入位置的时间。本实施方式中，将光传感器用作所述传感器9。但也可用其它手段，例如磁传感器或机械式传感器。

另一方面，具体如图14、图32和图43以及图15、图33和图16所示，在所述IC卡3的插入方向(图中的左方向)，所述卡读取/写入位置的上行方(更具体而言，所述插卡口2的图中左方正后侧的位置)设置检测所述IC卡3的接点端子部3b以检测出卡是否正确(卡是否IC卡)的磁差动型入口传感器10，使其面对卡输送路径4内。又在所述IC卡3的插入方向上，所述入口传感器10的下行方依次并行设置构成使用具有磁记录信息部的卡时的入口传感器的前置磁头20和使所述卡输送路径4通断的遮挡手段30。

图42和图43所示的IC卡输入机中，在IC卡3插入方向上，传感器10的上行方设置检测IC卡3的插入方向上的宽度以检测出是否适当的卡的卡检测器600。

所述磁差动型入口传感器10具有检测出从所述插卡口2插入的IC卡3的接点端子部3b的功能，插入适当的IC卡3时，根据其适当的检测信号，使上述遮挡板适当30为开通状态，但由于插入不正当的卡而检测不到IC卡3的接点端子部3b时，使所述遮挡手段30仍旧保持原来的遮断状态，从而对不正当卡的使用防患于未然。

另一方面，具体如图33、图34和图35所示，卡插入部分，即所述接触型IC卡3的插入方向(图中的左方向)上，在所述卡读取/写入位置上行方的位置设置检测插入的卡的类别用的3个入口传感器20、10、40。由检测磁卡的磁条的第1磁传感器20、检测接触型IC卡的接点端子部的第2磁传感器10和检测非接触型IC卡的天线部的第3磁传感器40构成这些入口传感器20、10和40。

其中的所述第2磁传感器10和第3磁传感器40分别由设置成面对所述卡输送路径4内的磁差动型传感器(入口传感器)构成(后文阐述详细结构)；本实施方式中，通过在所述插卡口2的图1左方后侧与卡运行方向大致正交的方向并行，将这两个传感器10、20配置成位置大致相同。

这里，所述第2磁传感器10具有检测出设在所述接触型IC卡3的接点端子部3b的功能，在从插卡口2插入接触型IC卡3时，该第2磁传感器10发出检测信号。又将所述第3磁传感器40配置成检测出非接触型IC卡上围绕四周配置成带状等的天线部，在从插卡口2插入非接触型IC卡时，从该第3磁传感器40发出检测信号。

另一方面，所述第1磁传感器20构成使用具有磁条的卡作为磁信息记录部时的前置磁头，配置在卡输送方向上所述第2和第3磁传感器10、40的略为下行方(内部方)，在从插卡口2插入磁卡等具有磁条的卡时，从该第1磁传感器20发出检测信号。

在所述第1磁传感器20的卡输送方向的下行方(内部方)配置使所述卡输送路径4通断的公知的遮挡手段30，插入适当的IC卡3时，根据其适当的检测信号，使所述遮挡手段30为开通状态，但插入不正当的卡时，即检测不到IC卡3的接点端子部3b时，使所述遮挡手段30仍旧保持原来的遮断状态，从而对不正当卡的使用等防患于未然。

上述图13、图32和图42等所示的IC卡输入机中，关于遮挡手段30的开关电路，由于与已有的公知电路相同，省略说明，但也可不设遮挡手段30，而利用电动机的驱动控制，使不正当的卡不输入到装置内。

所述入口传感器10(图31所示的实施方式中为入口传感器20、10、40)发出来自适当IC卡3的检测信号(IC卡3适当时的检测信号)，则根据该检测信号，驱动卡和输送驱动手段的电动机，从而旋转驱动所述送卡辊5a(图42所示实施方式中为送卡辊5a、5c)，使IC卡3通过所述遮挡手段30，并输送到卡输送路径4的内部。然后，把在卡输送路径4内运行的IC卡3的前端3a引导到所述接卡构件6的伸出部6a。该IC卡3的前端3a与伸出部6a对接后，送卡辊5a(图42所示的实施方式中为送卡辊5a。5c)继续受到旋转驱动，使IC卡3运行。因此，所述接卡构件6的伸出部6a被IC卡3的前端3a按压到卡运行方向，使接卡构件6与IC卡3合为一体地往卡运行方向(即图中左方的内侧)移动。

另一方面，构成随着所述接卡构件6往卡运行方向移动，与该接卡构件6结合的接点块8进行上下运动。即，所述接点块8利用凸轮槽8b进行下降，使IC接点7接触IC卡3的接点端子部3b。然后，IC卡3移动到进行信息读取/写入的位置，因而随着该移动，所述接点块8进一步下降。因此，随着IC卡3靠近卡读取/写入位置，相对于IC卡3的接点端子部3b进一步按压IC接点7。

这里，图31所示的实施方式中，由形成大致相同的结构的磁差动型传感器构成所述第2磁传感器10和第3磁传感器40，下面详细说明该磁差动型传感器的结构。如上文所述，所述两个传感器10、40结构相同，因而下面仅说明第2磁传感器10。

图42、43所示的实施方式中，将所述IC卡输入机构成能插入在一个方向形成由磁条组成的磁记录信息部的磁卡(未示出)，以读取/写入信息。即，在所述卡的插入方向上入口传感器10的下行方，配置构成磁卡的入口传感器的前置磁头20。于是，通过从插卡口2插入磁卡，首先前置磁头20检测磁卡的磁记录信息部。插入适当的磁卡时，根据其适当的检测信号，使遮挡手段30为开通状态，但由于插入不适当的卡而检测不到磁卡的磁记录信息部时，使遮挡手段30仍旧保持原来的遮断状态，从而对不正当卡的使用防患于未然。

然后，从前置磁头20输出适当的磁卡的检测信号时，根据该信号驱动输送驱动手段的电动机，对送卡辊5a、5c进行旋转驱动，使磁卡通过遮挡手段30，并输送到卡输送路径4的内部。

在送卡辊5a的下行方设置对磁卡的磁记录信息部的信息进行读取/写入的磁头80，使其面对卡输送路径4内。然后，由送卡辊5a输送的磁卡与磁记录信息部滑动接触，同时又受到输送，并且在进行信息读取/写入后，又被输送，使磁卡前端到达送卡辊5c。其后，磁卡的后端脱离送卡辊5a，到达磁头80时，传感器99检测出磁卡的后端。于是，在传感器99中检测到后端时，停止送卡辊5a、5c的旋转驱动，使磁卡的输送停止，同时检测出磁卡的读取/写入结束。

所述磁卡的卡读取/写入动作结束后，使送卡辊5a、5c的旋转驱动方向翻转，从而使卡输送路径4中的磁卡反向输送，以引导到插卡口2。然后，使磁卡的后端从插卡口2伸出，从而形成可取出的状态。

下面说明上述入口传感器10的结构。

首先，如图6和图7所示，将所述入口传感器10(具体为图13和图42所示的实施方式中的入口传感器)安装在壳体10a内，并且在省略示出的电路控制部连接设置成从该壳体10a大致水平伸出的各端子板10b。

同样，图36和图37所示的实施方式中的第2磁传感器10也由磁差动型传感器构成，但埋入安装在壳体10a的树脂体10b内，并且在省略示出的电路控制部连接从构成该第2磁传感器10的磁差动型传感器(下文称为磁差动型传感器10)延伸得往所述壳体10a的外部大致水平伸出的各端子板10b。

如图20所示，所述入口传感器(磁差动型传感器)10本身具有对一块薄板状构件组成的芯体11的中央芯部11a卷绕检测用线圈12的磁差动型的结构，并且对在所述中央芯部11a的图中所示上下方向两侧分别通过卡定凸缘部11b连接成一体的一对轴端芯部11c、11d，分别卷绕励磁用线圈13c、13d。

然后，将所述一对轴端芯部11c、11d中配置在图中所示下方的一个轴端芯部11c配置成可面对所述IC卡3的接点端子部3b(图31所示的实施方式中为上述接触型IC卡3的接点端子部3b或非接触型IC卡的天线部)。这时，本实施方式中，将通过所述中央芯部11a到另一个轴端芯部11d的轴心CX的方向(图中的上下方向)设定成与所述IC卡3的接点端子部3b(图31所示的实施方式中为上述接触型IC卡3的接点端子部3b或非接触型IC卡的天线部)的移动方向大致正交的位置关系。然后，形成的结构为：使IC卡3的接点端子部3b(图31所示的实施方式中为上述接触型IC卡3的接点端子部3b或非接触型IC卡3的天线部)相对于所述一个轴端芯部11c，沿与所述轴心CX大致正交的方向往复移动，从而如图28所示，该一个轴端芯部11c和IC卡3的接点端子部3b(图31所示的实施方式中为上述接触型IC卡3的接点端子部3b或非接触型IC卡的天线部)又相互对置又接近或离开，在这两个构件11c、3b(图31所示的实施方式中为两个构件)在适当距离范围内相互面对时检测出所述IC卡3的接点端子部3b(图31所示的实施方式中为上述接触型IC卡3的接点端子部3b或非接触型IC卡的天线部)的存在(有)。也可构成使所述(接触型)IC卡3的接点端子部3b(图31所示的实施方式中为上述接触型IC卡3的接点端子部3b或非接触型IC卡的天线部)为固定状态，而入口传感器(磁差动型)10方运动。

更具体而言，在所述轴心CX的延伸方向(图中所示的上下方向)上，将所述中央芯部11a配置在入口传感器(磁差动型传感器)10的大致中央部，并将与所述轴心CX正交的方向(图中所示的左右方向)上的宽度尺寸W1形成得较大。与此相反，将所述两个轴端芯部11c、11d各自的宽度尺寸W2设定成小于所述中央芯部11a的宽度尺寸W1(W2＜W1)，本实施方式中形成后者的一半以下的尺寸(W2≤W1/2)。这时，所述中央芯部11a中的卷绕检测用线圈12的部位以宽度尺寸W3稍小的方式形成切口形状。

由连接为一体的连续线圈构件构成卷绕在所述两个轴端芯部11c、11d的一对励磁用线圈13c、13d，这些线圈构件中卷绕在所述两个轴端芯部11c、11d的根部的内端部分由搭接线13e连接成一体，形成串联状态。另一方面，构成将从所述两个轴端芯部11c、11d的各前端方引出的各导线部13f、13g通过适当的电阻分别连接交流电源15的两个接点端子部，对所述两个轴端芯部11c、11d的各线圈卷绕部施加该交流电源15产生的正弦波或矩形波，从而在所述的同一轴心CX上形成反方向的对置磁场φ1、φ2。

这时，使设在所述中央芯部11a与一对轴端芯部11c、11d的各边界部分的各卡定凸缘部11b、11b形成往与所述轴心CX方向大致正交的宽度方向凸出的伸出形状，并且在相对于这些卡定凸缘部11b的轴心方向的前后位置上，分别卷绕所述励磁用线圈13c和检测用线圈13d。即，由上述两个卡定凸缘部11b、11b定位各线圈13c、13d的卷绕处。

具有这种结构的本实施方式的入口传感器(磁差动型传感器)10中，从所述检测用线圈12获得的检测输出所根据的磁场相当于一对励磁线圈13c、13d产生的反方向的对置磁场φ1、φ2的和。因此，所述IC卡3不存在(无)或IC卡3的接点端子部3b(图31的实施方式中为卡)处在离开入口传感器(磁差动型传感器)10充分远的地方(无限远)时，所述反方向的对置磁场φ1、φ2的绝对值相等(|φ1|＝|φ2|)，所述检测用线圈12的输出为“0”。反之，入口传感器(磁差动型传感器)10和IC卡3的接点端子部3b(图31的实施方式中为卡)相对接近，成为存在于适当范围内(有卡)的状态时，对应于该两者之间的距离的变化，所述IC卡3的接点端子部3b(图31的实施方式中为IC卡3方)产生的涡流也变化，因而所述反方向的对置磁场φ1、φ2的均衡破坏，例如φ1大，则φ2小。根据与这时的对置磁场φ1、φ2的绝对值的差(|φ1|-|φ2|)相当的磁场，从所述检测用线圈12获得差动输出。

由这种差动状态获得1个输出，例如用下面的公式表示该输出。

输出＝dφ1/dt-dφ2/dt

其中，φ1＝Asinωt，φ2＝Bsinωt，同相位。

即，具有上述结构的入口传感器(磁差动型传感器)10中，有区别地配置励磁用线圈13c、13d和检测用线圈12，而且根据一对励磁用线圈13c、13d之间的均衡进行检测，因而能又用薄且小的芯体11又以良好的线性高灵敏度地获得磁通变化量，与基于直流电阻分量等的阻抗无关。而且，可以不用以往的恒流电路，而用廉价的电路对IC卡3的接点端子部3b(图31的实施方式中为卡)的有无进行稳定的检测动作，不拘环境温度变化。

本实施方式中，使面对IC卡3的接点端子部3b配置的(图31的实施方式中为卡分)的轴端芯部11c、11d中的宽度小，提高该轴端芯部11c、11d的电路效率，从而产生更多磁通。因此，能进一步提高检测的变化量，即有无IC卡3的接点端子部3b(图31的实施方式中为卡方)的检测灵敏度。

本实施方式的入口传感器(磁差动型传感器)10中，通过在中央芯部11a与轴端芯部11c、11d的边界设置卡定凸缘部11b，可对各线圈12、13c、13d的卷绕处高精度定位，减小相位偏差或输出偏差，同时能获得大变化率。

本实施方式的入口传感器(磁差动型传感器)10中，使一对励磁用线圈13c、13d之间的输出均衡为差动状态，因而能以更高的灵敏度进行准确检测。又由于形成差动，IC卡不存在或无限远时，温度变化造成的φ1、φ2的变化量大致相同，输出仍旧为0。因此，温度特性也良好。

例如，作为励磁用线圈13c、13d，采用圈数20T(回卷？？)的线圈，而作为检测用线圈12，采用圈数40T(回卷？？)的线圈，并且将励磁频率设定为1MHz，励磁电流设定为20mApp(0.65V)后，试评价本发明的入口传感器10时，如以下所说明，能实现不拘环境温度变动，可进行稳定的检测动作的传感器。

即，实际测量一下具有上述结构的磁差动型的入口传感器10的基于温度变化的输出变动时，例如，如图22所示，相对于-40℃至+55℃之间的温度变化(图22的横轴)，该入口传感器10的输出电压(图22的纵轴)的变动只不过为0.018V。这是因为如上文所述，伴随温度变化的φ1、φ2的变化量相同。这里，在检测IC卡3所接点端子部3b时，可设定大于入口传感器10的输出电压温度变动的门限值(限幅电平)进行检测，但如上文所述，入口传感器10的输出电压的温度变动极小(0.018V)，因而能做成灵敏度良好的入口传感器10。本实施方式中，将入口传感器10的输出电压所对应的门限值(限幅电平)设定为上述输出变动的约10倍(0.18V)。

接着，观察一下上述那样设定门限值(限幅电平)时的入口传感器10的输出电压与入口传感器10和IC卡3的接点端子3b之间的间隔的关系。

首先，例如，如图23所示，所述入口传感器10的输出电压(图23的纵轴)与该入口传感器10和IC卡3的接点端子部3b之间的间隔(图23的横轴)大致成反比，但为了获得超过上述那样实际设定的门限值(限幅电平，0.18V)的检测输出，判明可将上述入口传感器10和IC卡3的接点端子部3b之间的间隔设定为例如“1.1mm”以下。

于是，入口传感器10和IC卡3的接点端子部3b之间的间隔实际设定为“1mm”，试进行入口传感器10的安装时，例如，如图24所示，相对于-40℃至+55℃之间的温度变化(图24的横轴)，入口传感器10的输出电压(图24的纵轴)在整个区域具有良好的对应关系，同时又能作为充分的输出获得。

因此，安装本实施方式的入口传感器10(图31所示所实施方式中为磁差动型传感器，即第2和第3磁传感器10、40)时，可将该入口传感器10(图31所示所实施方式中为该第2和第3磁传感器10、40)配置在从卡输送路径4引入的位置，实际上将上述入口传感器10(图31所示所实施方式中为该第2和第3磁传感器10、40)的图中所示的下表面配置在隔开所述卡输送路径4的上侧框架4a的壁面(图中的下表面)适当距离(例如，图15所示的实施方式中，a0.5mm)的引入位置，并设定成入口传感器10(图31所示所实施方式中为该第2和第3磁传感器10、40)不接触IC卡3的表面。利用这种结构，可将入口传感器10(图31所示所实施方式中为该第2和第3磁传感器10、40)安装得不会因与侵入IC卡3的表面和装置内部的灰尘等之间的摩擦而变形或受损。

图31所示的实施方式中，在检测接触型IC卡3的接点端子部3b或非接触型IC卡的天线部时，可设定大于所述入口传感器20、10、40的输出电压温度变动的门限值(限幅电平)进行检测，但磁差动型传感器10、40的输出电压温度变动极小，因而能做成灵敏度良好的磁差动型传感器。具体而言，试观察磁差动型传感器10、40的输出电压与磁差动型传感器10、40和卡之间的间隔的关系时，判明：例如，如图38所示，所述磁差动型传感器10、40的输出电压(图38的纵轴)与该磁差动型传感器10、40和卡之间的距离(图38的横轴)大致成反比，通过适当设定门限值(限幅电平)，可得良好的检测输出。

可将上述入口传感器1 0配置成能对应于图25、图26和图27所示的IC卡3的标准尺寸，检测IC卡3的表里。

即，首先图25所示的IC卡3的接点端子部3b例如，如图26所示，根据ISO7816等，核定离开卡上端(基准端)3s的位置。该图中的各尺寸为“mm”，同图中的“max”表示上限值，“min”表示下限值。

另一方面，所述IC卡3中，例如，如图27所示，规定形成凹凸字符等的压纹区。即，IC卡3上形成的压纹区如该图中各标准尺寸那样，具有第1区3c和第2区3d，并设置成各压纹区3c、3d不叠置上述IC卡3的接点端子部3b。

本实施方式中，根据此有关IC卡3的接点端子部3b的位置的各标准，将所述入口传感器10的中心位置设定在隔开IC卡3的卡上端(基准端)3s适当距离b(图17、图28和图29中的b＝23.7mm)以内，据此，检测IC卡3的表里。即，本实施方式中，构成如图28和图29所示，将入口传感器10的中心位置SC设定在对IC卡3的卡上端(基准端)3s离开20.08(＝b)mm的位置，从而如图28所示，例如将IC卡3以“表”正常插入时，入口传感器10可检测到该IC卡3的接点端子部3b，但如图29所示，将IC卡3以“里”的状态不适当地插入时，入口传感器10或由于远离入口传感器10检测不到IC卡3的接点端子部3b。

又构成对此入口传感器10，将所述前置磁头20的卡插入方向的间隙中心位置设定成大致等于所述IC卡3的插入方向前端3a至接点端子部3b的距离，因而磁记录部的检测位置与接点端子部3b的检测位置大致相同，能进行顺畅的检测动作。

另一方面，图3 1所示的实施方式中，将上述第1、第2和第3磁传感器20、10、40配置成对应于图39、图25、图27、图40所示的磁卡和IC卡的标准尺寸。即，首先将第1磁传感器20配置成对应于图39所示的磁卡50的磁条50a的位置标准(ISO07821-2)，如果从该第1磁传感器20获得检测信号，就能判断为插入具有磁条50a的卡。

其次，将第2磁传感器10配置成对应于图25和图27所示的接触型IC卡3的接点端子部3b的位置标准(ISO7816)C1～C2的至少一部分。但是，该第2磁传感器10的配置区中存在图40所示的非接触型IC卡60的天线部与芯片的最小结合区60a，因而也形成与该最小结合区60a的位置标准(ISO1443-2)对应的位置。因此，从该第2磁传感器10获得检测信号，则可判断为插入非接触型IC卡60或接触型IC卡3的任何一个。

进而，将所述第3磁传感器40配置在能检测出例如本实施方式中配置成四周围绕整个非接触型IC卡60的位置，例如对应于沿着非接触型IC卡的纵向延伸的一部分天线部的位置。此非接触型IC卡的天线部在ISO标准等中没有得到规定，各系统、卡分别另行规定，因而分别对应于这些天线部的位置适当配置所述第3磁传感器40。因此，从该第3磁传感器40获得检测信号，则可判断为插入非接触型IC卡60。

观察以上那样的来自第1磁传感器20、第2磁传感器10和第3磁传感器40的各检测信号，就能判断插入的卡的类别如下：

(1)仅获得第1磁传感器20的检测信号时，判断为插入“磁卡”；

(2)仅获得第2磁传感器10的检测信号、没有来自第3磁传感器40的检测信号时，判断为插入“接触型IC卡”；

(3)获得来自第2磁传感器10的检测信号和来自第3磁传感器40的检测信号两者时，判断为插入“非接触型IC卡”；

(4)获得来自第1和第2磁传感器20、10双方的检测信号、没有来自第3磁传感器40的检测信号时，判断为插入“磁传感与接触型IC的共用卡”；

(5)获得来自全部第1、第2和第3磁传感器20、10和40的检测信号时，判断为插入“磁传感与非接触型IC的共用卡”。

因此，插入不能使用的卡时，可进行关闭遮挡板手段30等控制动作。

另一方面，对与上述实施方式相同的组成物标注相同符号的、图30(a)(图31所示的实施方式中包含磁卡50、非接触型IC卡60)所示的实施方式将一对轴端芯部11c、11d中配置在图示下方的一个轴端芯部11c配置成与IC卡3的接点端子部3b(图31所示的实施方式中为卡方)对置，同时将配置在图示上方的另一个轴端芯部11d配置成与所述具有和IC卡3的接点端子部3b(图31所示的实施方式中为卡方)材质相同或导电率相同或导磁率相同的比较金属体70对置。

然后，所述IC卡3的接点端子部3b(图3 1所示的实施方式中为卡方)按图中所示的左右方向移动，朝向或离开入口传感器10(图31所示的实施方式中为磁差动型传感器10或40)，则所述一个轴端芯部11c朝向或离开所述IC卡3的接点端子部3b(图31所示的实施方式中为卡)，这两个构件之间的间隔L1在有限值与无限值之间变化。这时，另一个轴端芯部11d构成对比较金属体20不改变间隔L2，维持规定的位置。

因此，所述检测用线圈12的输出为“0”的位置是所述比较金属体70与另一个轴端芯部11d的间隔L2等于一个轴端芯部11c与IC卡3的接点端子部3b(图31所示的实施方式中为卡方)的间隔LI的位置，因而如果将所述一个轴端芯部11c与进行IC卡3的接点端子部3b(图31所示的实施方式中为卡方)的检测的间隔L1设定在等于或小于比较金属体70与另一个轴端芯部11d的间隔L2的范围(0≤L1≤L2)，就可对有无IC卡3的接点端子部3b(图31所示的实施方式中为卡)取出大检测输出。

这样，如果采用本实施方式的物体检测传感器10(图31所示的实施方式中为磁差动型传感器10(或40))，则被检测体14的检测输出与比较金属体20的检测输出的差额形成变化量，因而通过改变比较金属体20与轴端芯部11c的距离L2和比较金属体20的材质等，可在图30(b)中符号0～L2所示的对所述IC卡3的接点端子部3b(图31所示的实施方式中为卡方)需要的检测区间任意改变并使用成为“0”的位置L2。结果，通过对有无IC卡3的接点端子部3b(图31所示的实施方式中为卡)取得大输出，提高检测精度。

图42所示的实施方式中，所述入口传感器10(或图31所示的磁差动型传感器10、40)(下文作为“入口传感器10”)利用图41所示的控制电路部CC控制励磁用线圈13c、13d的励磁，同时处理检测用线圈12的检测信号，控制电路部CC根据检测用线圈12输出的检测信号检测IC卡3是否适当，同时由检测出入口传感器10断线的信号处理电路SPC和控制励磁用线圈13c、13d的励磁的励磁控制电路ECC组成。

信号处理电路SPC具有对检测用线圈12输出的输出信号进行放大的传感器放大器500、将该传感器放大器500的输出信号变换成直流电压的IC卡检测信号的检波电路510、比较检波电路510的输出电压和基准电压发生器530供给的门限电压的比较器520以及判断电路540，该判断电路540判断比较器520的输出信号，输出检测适当的IC卡3的IC卡检测信号，并且检测入口传感器10断线，输出断线判断信号。

励磁控制电路ECC具有检测出未输出所述IC卡检测信号的检测信号检测电路550、根据该检测信号检测电路550的输出信号决定对励磁用线圈13c、13d进行励磁的定时和时间长度的指令信号发生器560以及根据指令信号发生器560的输出信号对励磁用线圈13c、13d进行励磁的线圈励磁电路570。

如上文所述那样在插卡口2插入IC卡3时，设在IC卡3的插入方向上入口传感器10的上行方的微开关等组成的卡检测器600检测IC卡3的宽度。在IC卡3适当时，卡检测器600接通(ON)，发出检测信号。将该检测信号输出到指令信号发生器560，从而对线圈励磁电路570供给使励磁用线圈13c、13d励磁用的触发信号。如上文所述，线圈励磁电路570使例如励磁频率为1MHz的励磁电流对励磁用线圈13c、13d通电，以进行励磁。将这时的励磁电流设定为例如20mA(0.65V)。

然后，IC卡3的接点端子部3b接近入口传感器10时，如上文所述，IC卡3的接点端子部3b产生的涡流发生变化，使反方向的对置磁场φ1、φ2的均衡破坏，因而根据相当于对置磁场φ1、φ2的绝对值的差(|φ1|-|φ2|)的磁场，可从检测用线圈12取得差动输出。该输出信号由传感器放大器500放大后，由检波电路510变换成直流电压。对比较器520施加此直流电压，与第1门限电压SV1比较。根据该比较，来自检测用线圈12的差动输出适当时，从判断电路540输出IC卡检测信号，作为检测适当的IC卡3的结果。

随即IC卡3的接点端子部3b离开入口传感器10，则检测用线圈12的差动输出为0，IC卡检测信号也为0，因而检测信号检测电路550检测出此信号，利用指令信号发生器560的指令，使励磁用线圈13c、13d的励磁停止。

如上文所述，将入口传感器10构成磁差动型，在磁体11的中央芯部11a卷绕检测用线圈12，在连接成一体的一对轴端芯部11c、11d分别卷绕励磁用线圈13c、13d。把所述入口传感器10构成小型，因而用细线材卷绕所述检测用线圈12和励磁用线圈13c、13d。因此，在频繁使用的期间，有时任一个线圈断线。有时所述各线圈和中继连接电路控制部的各端子板10b的锡焊缺损或连接电路控制部和各端子部10b的导线也断线。用下面说明的诊断手段检测出这种入口传感器10等的断线。

由所述信号处理电路SPC和励磁控制电路EEC构成所述断线诊断手段。在入口传感器10不检测IC卡3的接点端子部3b的定时执行检测设在入口传感器10的各线圈的断线、连接入口传感器10的导线的断线或脱开等。作为此定时，将IC卡3的处理结束后返回插卡口2，并且IC卡3 通过(通り過 ぎ？？)卡检测器600之后过头时成为关断(OFF)的定时当作起动点，将信号供给指令信号发生器560。指令信号发生器560在规定时间段使线圈励磁电路570运作，对一对励磁用线圈13c、13d中通以励磁电流。

这时，在一对励磁用线圈13c、13d中的一个线圈或者连接这些线圈的导线断线或脱开的情况下，由于一个线圈没有受到励磁，所述对置磁场φ1、φ2中的一方未产生，使均衡受到破坏。结果，从检测用线圈12获得高电压的差动输出。此差动输出信号通过传感器放大器500和检波电路510变换成直流电压，加给比较器520。比较器520将其与第2门限电压SV2比较，来自检测用线圈12的差动输出高于第2门限电压SV2时，判断电路540检测出一对励磁用线圈13c、13d中的一个线圈等发生断线的事件，并输出判断信号。输出此判断信号时，使IC卡输入机产生告警后，控制成不让IC卡3插入插卡口2。

接着，在一对励磁用线圈13c、13d的两个线圈或者连接这些线圈的导线断线或脱开的情况下，由于不对两个线圈励磁，检测用线圈12的差动输出为0。因此，指令信号发生器560使线圈励磁电路570运作，不拘对一对励磁用线圈13c、13d励磁，由判断电路540判断为得不到检测用线圈12的差动输出，并输出判断信号。

入口传感器10的检测用线圈12或者连接此线圈的导线断线或脱开时，指令信号发生器560使线圈励磁电路570运作，不拘对一对励磁用线圈13c、13d励磁，使检测用线圈12的差动输出为0。然而，得不到检测用线圈12的差动输出的状态与上述一对励磁用线圈13c、13d的两个线圈等断线时相同，不能判断检测用线圈12等断线。

因此，该断线诊断手段中，添加判断检测用线圈12等发生断线的功能。即，构成磁差动型的入口传感器10在芯体11的中央芯部11a卷绕检测用线圈12，在连接成一体的一对轴端芯部11c、11d分别卷绕励磁用线圈13c、13d。于是，通过所述反方向的对置磁场φ1、φ2失衡，从检测用线圈12获得基于与对置磁场φ1、φ2绝对值的差(|φ1|-|φ2|)相当的磁场的差动输出。然而，分别卷绕励磁用线圈13c、13d的所述芯体11的一对轴端芯部11c、11d的尺寸精度多少存在偏差。因此，对置磁场φ1、φ2也产生差异，在不检测IC卡3的接点端子部3b的待机状态下，检测用线圈12也输出些许待机时的电压。

通常利用电位器VR改变对各励磁用线圈13c、13d中通电的励磁电流，将待机时的电压设定得接近0，但本发明中，将对励磁用线圈13c、13d进行励磁而产生的反方向对置磁场φ1、φ2设定成稍许不均衡，从而设定成即使在待机状态下检测用线圈12也输出些许待机时的电压。

因此，可根据待机时的电压为0判断检测用线圈12等发生断线。即，检测用线圈12等发生断线时，即使对励磁用线圈13c、13d进行励磁，检测用线圈12也不输出待机时的电压。将该待机时的电压加给比较器52，与第3门限电压SV3比较，所得结果低时，由判断电路54检测出检测用线圈12等发生断线，并输出判断信号。将所述第3门限电压设定成略为低于待机时电压的电压。

可用所述断线诊断手段，根据检测用线圈12的输出信号，检测出励磁用线圈13c和13d、检测用线圈12以及连接这些线圈的导线或者与端子的连接等传递路径的断线，而且可以确定大致断线部位。

作为入口传感器10的断线诊断定时，除上文所述那样在使IC卡3返回插卡口2时执行外，也可在插卡口2中插入IC卡3后至传感器10检测出接点端子部3b为止的期间执行。此外，只要是传感器10检测不到接点端子部3b的时间，任意的定时上都可执行。断线诊断除每次IC卡3插入或返回执行外，也可隔开5次或10次执行。

至此，已具体说明本发明人完成的发明的实施方式，但不言而喻，本发明不限于上述实施方式，可在不脱离其要旨的范围作各种变换。

例如，上述实施方式的卡输入机配置3个磁传感器，但根据装置的结构，有时用2个磁传感器也能获得同样的作用、效果。因此，本发明可至少具有2个磁传感器。

例如，上述实施方式的入口传感器10(磁差动型传感器10、40)中，将检测用线圈12夹在中央部分，两侧配置励磁用线圈13c、13d，但也可构成将励磁用线圈夹在中央部分，两侧配置检测用线圈。

上述实施方式的入口传感器10(磁差动型传感器10、40)中，使轴端芯部11c的宽度尺寸小于中央芯部11a的宽度尺寸(W1＜W2)，但也可使两者相等，或设定成相反的大小关系。上述实施方式的芯体11的中央芯部11a在卷绕检测用线圈12的部位设置下凹状切口部，但也可不设置此切口部，形成单纯的矩形。

上述实施方式的入口传感器10(磁差动型传感器10、40)中，将一块薄板状构件用作芯体，但即使是图8(a)、(b)所示的立体形状的芯体11’、11”，也同样能采用。这时，也可不形成设在轴向中央部分的切口状凹部11’a、11”a而构成单纯的形状。还可粘贴2块以上形状相同的薄板材。

上述实施方式中，以串联状态将一对励磁用线圈连接成连续、合成一体；但是，例如，如图9所示，也可将这些励磁用线圈13c、13d连接成对交流电源15为并联状态，以形成对置磁场。

上述实施方式中，单独设置一个励磁用电源，但也可每一励磁用线圈13c、13d分别配置分开的电源。这时，该电源需要设定成同步。

上述的实施方式中，成对的两个轴端芯部11c、11d各自的尺寸W2、W2由于制作误差，相互微量(例如5μm)不同，因而可认为无被检测物时的差动输出不为“0”；但是，这时，通过调偏供给所述各励磁用线圈13c、13d的电流值，可容易地应付。

作为入口传感器10(磁差动型传感器)，也不限于上述实施方式那样的磁差动型，涡流型传感器、光传感器等也同样能用。

再者，上述实施方式中，说明了自动输送IC卡的卡输入机，卡的输送为手动式的卡输入机中也能实施本发明。

生产事业上的可用性

综上所述，本发明可适用于多种多样的装置，其中以自动售货机、自动售票机、ATM等使用硬币的装置中硬币凹凸和材质的识别装置为首，包括电动机的旋转驱动控制装置等。

Claims (36)

1.一种物体检测传感器，构成面对规定处存在的被检测体产生输出，并根据该输出检测出有无所述被检测体，其特征在于，通过分别卷绕，将励磁用线圈和检测用线圈装在芯体的同一轴心上，其中

将所述励磁用线圈和检测用线圈的一方装在配置于所述芯体的轴心方向的大致中央的中央芯部，同时所述励磁用线圈和检测用线圈的另一方分别装在配置在所述芯体的轴心方向的两端部分的一对轴端芯部，

使该一对轴端芯部中的一方与所述被检测体形成可相互面对的配置关系。

2.如权利要求1中所述的物体检测传感器，其特征在于，所述芯体由一块板状构件组成。

3.如权利要求1中所述的物体检测传感器，其特征在于，形成所述轴端芯部中与轴心方向正交的方向上的宽度尺寸小于所述中央芯部的宽度尺寸。

4.如权利要求3中所述的物体检测传感器，其特征在于，将所述轴端芯部的宽度尺寸设定成中央芯部宽度尺寸的一半以下。

5.如权利要求3中所述的物体检测传感器，其特征在于，在所述中央芯部与所述一对轴端芯部的各边界部分，分别设置向宽度方向伸出的卡定凸缘部，

利用该卡定凸缘部将所述励磁用线圈和检测用线圈的卷绕处定位并限制在预定位置上。

6.如权利要求3中所述的物体检测传感器，其特征在于，在所述一对轴端芯部中配置成可面对所述被检测体方的一侧的相反侧的轴端芯部，配置比较金属体，使其与该轴端芯部对置。

7.如权利要求1中所述的物体检测传感器，其特征在于，所述励磁用线圈具有一对线圈卷绕部，

将该一对线圈卷绕部配置成在所述同一轴心上形成对向的磁场。

8.一种集成电路卡(IC卡)输入机，形成使集成电路(IC)接点接触插入装置主体内并被输送到读取/写入位置的集成电路卡的接点端子部，以进行对所述集成电路卡的信息记录、再现的构成，其特征在于，在所述集成电路卡的插入方向上的所述读取/写入位置的上行方的适当位置，设置通过检测所述集成电路卡的接点端子部以检测出插入的卡是否正确的入口传感器。

9.如权利要求8中所述的集成电路卡输入机，其特征在于，在所述装置主体设置插入所述集成电路卡的插卡口，将通过该插卡口插入的IC卡引导到所述读取/写入位置的卡输送路径、使该卡输送路径内的IC卡移动的输送驱动手段、以及在所述集成电路卡的插入方向上所述插卡口的下行方使所述卡输送路径通断的遮挡手段，同时

将所述入口传感器配置在所述插卡口与遮挡手段之间。

10.如权利要求8中所述的集成电路卡输入机，其特征在于，相对于所述接点端子部，以适当的位置关系配置所述入口传感器，使其可检测所述集成电路卡的表里。

11.如权利要求9中所述的集成电路卡输入机，其特征在于，将所述入口传感器装在从所述卡输送路径引入的位置上。

12.如权利要求8中所述的集成电路卡输入机，其特征在于，为检测磁信息记录部而设置的磁头的缝隙中心与所述入口传感器之间的距离设定为大致等于从所述集成电路卡的插入方向的前端位置至接点端子部的距离。

13.如权利要求8中所述的集成电路卡输入机，其特征在于，将所述入口传感器做成在芯体的同一轴心分别卷绕励磁用线圈和检测用线圈以在其上安装的磁差动型结构，其中

将所述励磁用线圈和检测用线圈的一方装在配置于所述芯体的轴心方向的大致中央的中央芯部，同时所述励磁用线圈和检测用线圈的另一方分别装在配置于所述芯体的轴心方向的两端部分的一对轴端芯部上，

使该一对轴端芯部中的一方与所述被检测体形成可相互面对的配置关系。

14.如权利要求13中所述的集成电路卡输入机，其特征在于，所述芯体由一块板状构件构成。

15.如权利要求13中所述的集成电路卡输入机，其特征在于，所述轴端芯部的与轴心方向正交的方向的宽度尺寸小于所述中央芯部的宽度尺寸。

16.如权利要求15中所述的集成电路卡输入机，其特征在于，将所述轴端芯部的宽度尺寸设定成小于中央芯部宽度尺寸的一半。

17.如权利要求15中所述的集成电路卡输入机，其特征在于，在所述中央芯部与所述一对轴端芯部的各边界部分，分别设置向宽度方向伸出的卡定凸缘部，

利用该卡定凸缘部将所述励磁用线圈和检测用线圈的卷绕位置定位并限制在预定位置上。

18.如权利要求15中所述的集成电路卡输入机，其特征在于，在所述一对轴端芯部中配置成可面对作为所述被检测体方的IC卡一侧的相反侧的轴端芯部上，配置比较金属体，使其与该轴端芯部对置。

19.如权利要求13中所述的集成电路卡输入机，其特征在于，

所述励磁用线圈具有一对线圈卷绕部，

将该一对线圈卷绕部配置成在所述同一轴心上形成对置的磁场。

20.一种集成电路卡输入机，形成对插入装置主体内并输送到读取/写入位置的集成电路卡的信息记录部进行所希望的信息的记录、再现的结构，其特征在于，

在所述集成电路卡的插入方向上的所述读取/写入位置的上行方的适当位置上，设置检测出插入的卡的类别的入口传感器。

21.如权利要求20中所述的集成电路卡输入机，其特征在于，所述入口传感器具有检测磁卡的磁条的第1磁传感器、检测接触型集成电路卡的接点端子部的第2磁传感器、和检测非接触型集成电路卡的天线部的第3磁传感器中的至少2种传感器。

22.如权利要求20中所述的集成电路卡输入机，其特征在于，

在所述装置主体设置插入所述集成电路卡的插卡口、将通过该插卡口插入的卡引导到所述读取/写入位置的卡输送路径、使该卡输送路径内的卡移动的输送驱动手段、以及在所述集成电路卡的插入方向上所述插卡口的下行方使所述卡输送路径通断的遮挡手段；

将所述入口传感器配置在所述插卡口与遮挡手段之间。

23.如权利要求20中所述的集成电路卡输入机，其特征在于，至少将所述入口传感器中的一个做成分别在芯体的同一轴心上卷绕励磁用线圈和检测用线圈以将其装在其上的磁差动型结构，其中

将所述励磁用线圈和检测用线圈中的一方装在配置以所述芯体的轴心方向的大致中央的中央芯部上，同时所述励磁用线圈和检测用线圈的另一方分别装在配置于所述芯体的轴心方向的两端部分的一对轴端芯部上，

使该一对轴端芯部中的一方与所述被检测体形成可相互面对的配置关系。

24.如权利要求23中所述的集成电路卡输入机，其特征在于，所述芯体由一块板状构件构成。

25.如权利要求23中所述的集成电路卡输入机，其特征在于，所述轴端芯部的与轴心方向正交的方向上的宽度尺寸小于所述中央芯部的宽度尺寸。

26.如权利要求25中所述的集成电路卡输入机，其特征在于，将所述轴端芯部的宽度尺寸设定为中央芯部宽度尺寸的一半以下。

27.如权利要求25中所述的集成电路卡输入机，其特征在于，在所述中央芯部与所述一对轴端芯部的各边界部分，分别设置向宽度方向伸出的卡定凸缘部，

利用该卡定凸缘部将所述励磁用线圈和检测用线圈的卷绕位置定位并限制在预定位置。

28.如权利要求25中所述的集成电路卡输入机，其特征在于，在所述一对轴端芯部中配置成可面对作为所述被检测体方的集成电路卡一侧的相反侧的轴端芯部，配置比较金属体，使其与该轴端芯部对置。

29.如权利要求23中所述的集成电路卡输入机，其特征在于，所述励磁用线圈具有一对线圈卷绕部，

将该一对线圈卷绕部配置成能够在所述同一轴心上形成对置的磁场。

30.一种集成电路卡输入机，配置装设成可对利用装置主体的输送驱动手段在卡输送路径内输送的集成电路卡的接点端子部离合的集成电路接点，对所述集成电路卡进行信息的读取/写入，其特征在于，具有

在所述卡输送路径的入口侧的位置上构成具有卷绕于磁芯的一对励磁用线圈和检测用线圈的磁差动型的入口传感器、

所述入口传感器检测到所述集成电路卡的接点端子部时，利用所述检测用线圈输出的检测信号，将所述集成电路卡引导到读取/写入位置的输送驱动手段、以及

在未检测到所述接点端子部时，使所述励磁用线圈励磁，并利用所述检测用线圈输出的输出信号的电压值诊断所述入口传感器等的断线的断线诊断手段。

31.如权利要求30中所述的集成电路卡输入机，其特征在于，将所述入口传感器做成分别在芯体的同一轴心上卷绕检测用线圈和一对励磁用线圈，以将其安装于所述轴心上的磁差动型结构，其中

将所述检测用线圈装在配置于所述芯体的轴心方向上的大致中央的中央芯部，同时将所述一对励磁用线圈分别装在配置于所述芯体的轴心方向的两端部的一对轴端芯部上，

使该一对轴端芯部中的一方与所述被检测体形成可相互面对的配置关系。

32.如权利要求30中所述的集成电路卡输入机，其特征在于，所述断线诊断手段具有未检测到所述接点端子部时供给使所述励磁用线圈励磁的指令信号的指令信号发生器、将所述检测用线圈的输出电平与规定的门限电平进行比较的比较器、以及产生作为所述门限值的基准电压的基准电压发生器，

利用所述励磁信号发生器输出的输出信号使所述励磁线圈励磁，同时在所述比较器上施加所述检测用线圈输出的输出信号，与所述基准电压比较，利用输出信号的电压值判断励磁线圈和检测线圈的断线等。

33.如权利要求30中所述的集成电路卡输入机，其特征在于，所述断线诊断手段在所述检测用线圈的输出电平超过规定的门限电平时，诊断为一对所述励磁用线圈中的一方发生断线。

34.如权利要求30、32或33中所述的集成电路卡输入机，其特征在于，所述诊断手段在对所述集成电路卡进行信息的读取/写入，并从卡输送路径排出所述集成电路卡后，使所述励磁用线圈励磁，以诊断传感器的断线等。

35.如权利要求30至33中所述的集成电路卡输入机，其特征在于，所述诊断手段在所述集成电路卡插入所述卡输送路径的入口后，所述入口传感器检测出所述集成电路卡的接点端子部前，使所述励磁用线圈励磁，以诊断传感器的断线等。

36.如权利要求30中所述的集成电路卡输入机，其特征在于，所述入口传感器非均衡地构成所述一对励磁用线圈或一对轴端芯部，并且在小于使励磁用线圈励磁时从所述检测线圈输出的待机电压时，诊断所述检测线圈的断线等。

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