CN1505268A - 逐次比较型ad变换器及微机 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种逐次比较型AD变换器及微机。用简单的结构提高逐次比较型AD变换器的变换精度。在具有在各连接部发生将模拟值变换成m位的数字值用的基准值的串联电阻体；以及依次比较上述模拟值及上述基准值中的某一者，输出数字值的比较器的逐次比较型AD变换器中，备有利用电容比分配上述基准值中的某一值的多个电容元件；以及上述比较器输出了m位的数字值时，将用上述比较器与上述模拟值进行比较的值从上述基准值切换到上述多个电容元件的分配值的控制部，将上述模拟值变换成(m+n)位的数字值。

Description

逐次比较型AD变换器及微机
技术领域
本发明涉及逐次比较型AD变换器及微机。
背景技术
逐次比较型AD变换器是这样一种变换器：有串联电阻体，用1/2近似法依次比较在该串联电阻体的各连接部上发生的基准值和模拟值，将模拟值变换成m位的数字值。上述的串联电阻体是根据逐次比较型AD变换器的变换精度(例如m位)，将2↑m个(↑是乘幂)电阻串联连接起来的电阻体。就是说，串联电阻体的个数随着逐次比较型AD变换器的变换精度(分辨率)的提高而以乘幂的单位形式增加。例如，如果使逐次比较型AD变换器的变换精度从8位提高到10位，则串联电阻体的个数从256个增加到1024个。因此，在上述的逐次比较型AD变换器中，由于串联电阻体的个数多，所以存在串联电阻体的配置面积大，同时成本增大的问题。另外，在内部安装了上述的逐次比较型AD变换器的微机中，存在芯片面积增大的问题。
因此，本案申请人申请以解决上述的问题为目的的逐次比较型AD变换器(例如，参照专利文献1)。该逐次比较型AD变换器通过将多个电容元件并联连接在输入基准值一侧的比较器的输入端和地之间，同时将多个电容元件的充电电压的平均值作为基准值，提高变换精度。
[专利文献1]
特开2001-53612号公报
可是，在专利文献1的逐次比较型AD变换器中，由于需要适当地控制能防止串联电阻体伴随变换精度的提高而增加的多个电容元件的充电时序，所以存在为此所需要的控制元件增加、而且为此所需要的控制变得复杂的问题。
发明内容
解决上述课题用的主要发明是逐次比较型AD变换器，它有：在各连接部发生将模拟值变换成m位的数字值用的基准值的串联电阻体；以及依次比较上述模拟值及上述基准值中的某一者、输出数字值的比较器；该逐次比较型AD变换器的特征在于：备有利用电容比分配上述基准值中的某一值的多个电容元件；以及上述比较器输出了m位的数字值时，将用上述比较器与上述模拟值进行比较的值从上述基准值切换到上述多个电容元件的分配值的控制部，将上述模拟值变换成(m+n)位的数字值。
作为本发明的上述以外的特征，根据本说明书及附图的记载就会明白了。
附图说明
图1是表示本发明的逐次比较型AD变换器的图。
图2是表示本发明的逐次比较型AD变换器的主要部分的图。
符号说明：
2-串联电阻体；4、6、14-传输门；8、10-电容器；12-比较器；16-寄存器；18-控制部。
具体实施方式
根据本说明书及附图的记载，至少会明确以下事项。
在具有在各连接部发生将模拟值变换成m位的数字值用的基准值的串联电阻体；以及依次比较上述模拟值及上述基准值中的某一者，输出数字值的比较器的逐次比较型AD变换器中，其特征在于：备有利用电容比分配上述基准值中的某一值的多个电容元件；以及上述比较器输出了m位的数字值时，将用上述比较器与上述模拟值进行比较的值从上述基准值切换成上述多个电容元件的分配值的控制部，将上述模拟值变换成(m+n)位的数字值。如果采用该逐次比较型AD变换器，则将用比较器与模拟值进行比较的值从串联电阻体的基准值切换成多个电容元件的分配值，求得m位以下的低位n位的数字值。因此，利用使用多个电容元件的分配值的简单结构，能可靠地提高逐次比较型AD变换器的变换精度。另外，即使提高逐次比较型AD变换器的变换精度，串联电阻体的个数也不增加。
另外，在这样的逐次比较型AD变换器中，上述多个电容元件用上述电容比分配在上述串联电阻体的规定的连接部发生的基准值的差。如果采用该逐次比较型AD变换器，则由于用电容比使串联电阻体的规定的基准值的差(最小单位的电位差)细分化，所以能可靠地提高逐次比较型AD变换器的变换精度。
另外，在这样的逐次比较型AD变换器中，上述多个电容元件由第一电容元件及第二电容元件构成，上述第一电容元件及上述第二电容元件被串联连接在上述基准值的某一值和地之间，上述第一电容元件及上述第二电容元件的连接部与上述比较器中不输入上述模拟值一侧的输入端连接。如果采用该逐次比较型AD变换器，则利用使用两个电容元件的简单结构，就能可靠地提高逐次比较型AD变换器的变换精度。
另外，在这样的逐次比较型AD变换器中，上述第一电容元件及上述第二电容元件的电容比对应于上述(m+n)位，为1∶(2的n次方-1)。如果采用该逐次比较型AD变换器，则通过将两个电容元件的电容比设定为上述的值，就能容易地改变逐次比较型AD变换器的变换精度。
另外，在这样的逐次比较型AD变换器中，有根据上述控制部的输出信号，使上述基准值被输入上述比较部的工作通断的开关电路。如果采用该逐次比较型AD变换器，则能可靠地切换串联电阻体的基准值和多个电容元件的分配值。
还有，微机的特征在于有上述的逐次比较型AD变换器。如果采用该微机，则能在小面积的芯片上形成具有高变换精度的逐次比较型AD变换器。
＝＝＝逐次比较型AD变换器的结构＝＝＝
参照图1，说明本发明的逐次比较型AD变换器的结构。图1是表示本发明的逐次比较型AD变换器的图。另外，在本实施方式中，逐次比较型AD变换器有10位的变换精度。另外，该逐次比较型AD变换器根据串联电阻体的基准值，求得8位的数字值，再根据多个电容元件的分配值，求得2位的数字值。
在图1中，串联电阻体2是在各连接部上发生与模拟电压(模拟值)进行比较的基准电压(基准值)的电阻体。就是说，串联电阻体2是将具有电阻值R的256(＝2↑8)个电阻串联连接在电源Vdd和地之间、发生各连接部的分压作为基准电压的电阻体。
传输门4与串联电阻体2的各连接部一一对应。就是说，在串联电阻体2的各连接部上发生的基准电压被供给各传输门4的一端。然后，某一个传输门4根据比较器(将在后面说明)的输出信号，用1/2近似法，通过依次进行导通，从传输门4的另一端获得适当的8电平的基准电压。在本实施方式的逐次比较型AD变换器中，根据该8电平的基准电压，求得8位(m位)的数字值D9(最高位MSB)～D2。
传输门6与串联电阻体2连接的4个连接部C1～C4一一对应。就是说，在串联电阻体2的连接部C1～C4上发生的基准电压V1～V4被供给各传输门6的一端。另外，在逐次比较型AD变换器求出数字值D9～D2的期间，与串联电阻体2的连接部C1对应的传输门6导通，从上述的传输门6的另一端只获得基准电压V1。然后，逐次比较型AD变换器求出数字值D9～D2后，传输门6通过根据上述的比较器的输出信号进行通断，从传输门6的另一端以适当的顺序获得基准电压V2～V4。在本发明的逐次比较型AD变换器中，根据该4电平的基准电压V1～V4，求得2位(n位)的数字值D1及D0(最低位LSB)。另外，传输门6也可以兼作传输门4的一部分用。另外，串联电阻体2的连接部C1～C4不限定于图1中的位置。如果是连续的4个连接部，则串联电阻体2的任何位置的连接部都可以。另外，也可以从与串联电阻体2不同的串联电阻体(图中未示出)获得基准电压V1～V4。
电容器8(第一电容元件)和电容器10(第二电容元件)有1∶3(1∶(2↑n-1))的电容比，被串联连接在传输门6的公用的另一端和地之间。电容器8、10通过按照适当的顺序使4个传输门6通断，用上述的电容比，对从4个传输门6的另一端获得的差压(变化)进行分压。因此，从电容器8、10的连接部能获得上述的差压的分压。例如，因为串联电阻体2的各电阻的电阻值R相等，所以各电阻的电位差为ΔV。这时，从传输门6的另一端获得差压ΔV、2ΔV，从电容器8、10的连接部获得将分压为ΔV/4、ΔV/2、3ΔV/4的一个电阻的电位差ΔV细分化了的电压。另外，后面将详细说明电容器8、10的工作情况。
比较器12的+(非反相输入)端子是输入模拟电压的端子。比较器12的-(反相输入)端子通过传输门14与传输门4的公用的另一端连接，同时与电容器8、10的连接部连接。就是说，比较器12在传输门14(开关电路)导通时，通过对模拟电压和通过传输门4的基准电压的大小进行比较，输出数字值D9～D2，然后，一旦传输门14截止，通过对模拟电压和电容器8、10的连接部的分压进行比较，输出数字值D1及D0。寄存器16保持从比较器12获得的10位的数字值D9～D0。
控制部18依次输入从比较器12获得的各位的数字值，根据该数字值及其逻辑(“1”或“0”)，控制传输门4、6、14的通断。控制部18在初始状态下，使传输门14导通，同时使与电源电压Vdd的中间电压Vdd/2对应的传输门4导通。因此，比较器12输出最高位的数字值D9。此后，控制部18根据从比较器12获得的1位高位的数字值的逻辑，用1/2近似法有选择地使传输门4的某一个导通。因此，比较器12输出数字值D8～D2。此后，控制部18根据从比较器12获得的数字值D2，使传输门14截止，同时根据从比较器12获得的1位高位的数字值的逻辑，用1/2近似法有选择地使传输门6导通。因此，比较器12输出数字值D1及D0。
＝＝＝逐次比较型AD变换器的工作＝＝＝
其次，参照图2说明本发明的逐次比较型AD变换器的工作。图2是表示本发明的逐次比较型AD变换器的主要部分的图。另外，比较器12输出数字值D9～D2用的工作与现有的逐次比较型AD变换器相同，所以将其说明省略。
首先，控制部18根据从比较器12获得的1位高位的数字值D3的逻辑，使与基准电压VM对应的传输门4导通。这时，电容器8、10的连接部的电压保持成基准电压VM。另外，比较器12根据模拟电压和基准电压VM的大小的比较结果，将数字值D2输出给控制部18。因此，上述的模拟电压存在于基准电压VM和基准电压VN的差压ΔV中。
控制部18由于被从比较器12供给数字值D2，所以使传输门4、14导通。即，切换串联电阻体2的基准电压和电容器8、10的分压。因此，在串联电阻体2的各连接部上发生的基准电压不供给比较器12的一端子。另外，控制部18使传输门6A截止，同时使传输门6C导通。这时，传输门6A～6D的另一端的差压为2ΔV(＝V3-V1)。电容器8、10用电容比1∶3对该差压2ΔV进行分压，获得分压ΔV/2。因此，从电容器8、10的连接部获得基准电压VM和基准电压VN的中间电压(VM+ΔV/2)作为新的基准电压。比较器12根据模拟电压和基准电压(VM+ΔV/2)的大小的比较结果，将逻辑为“1”或“0”的数字值D1输出给控制部1 8。
数字值D1的逻辑为“1”时，上述的模拟电压存在于基准电压(VM+ΔV/2)和基准电压VN的差压ΔV/2中。控制部18由于被从比较器12供给逻辑为“1”的数字值D1，所以使传输门6C截止，同时使传输门6D导通。这时，传输门6A～6D的另一端的差压变为ΔV(＝V4-V3)。电容器8、10用电容比1∶3对该差压ΔV进行分压，获得分压ΔV/4。因此，从电容器8、10的连接部获得基准电压(VM+ΔV/2)和基准电压VN的中间电压(VM+3ΔV/4)作为新的基准电压。比较器12根据模拟电压和基准电压(VM+3ΔV/4)的大小的比较结果，将逻辑为“1”或“0”的数字值D0输出给控制部18。
另一方面，数字值D1的逻辑为“0”时，上述的模拟电压存在于基准电压VM和基准电压(VM+ΔV/2)的差压ΔV/2中。控制部18由于被从比较器12供给逻辑为“0”的数字值D1，所以使传输门6C截止，同时使传输门6B导通。这时，传输门6A～6D的另一端的差压变为-ΔV(＝V2-V3)。电容器8、10用电容比1∶3对该差压-ΔV进行分压，获得分压-ΔV/4。因此，从电容器8、10的连接部获得基准电压VM和基准电压(VM+ΔV/2)的中间电压(VM+ΔV/4)作为新的基准电压。比较器12根据模拟电压和基准电压(VM+ΔV/4)的大小的比较结果，将逻辑为“1”或“0”的数字值D0输出给控制部18。
在控制部18中，由于被从比较器12供给最低位的数字值D0，所以将工作停止。因此，能根据模拟电压获得10位的数字值D9～D0。
以上，通过适当地设定两个电容器的电容比，能将逐次比较型AD变换器的变换精度可靠地从8位提高到10位。
＝＝＝应用于微机＝＝＝
本实施方式的逐次比较型AD变换器使用两个电容器的电容比，获得高的变换精度。因此，作为内部安装了逐次比较型AD变换器的微机，能在小面积的芯片上形成具有高变换精度的逐次比较型AD变换器。另外，由于用两个电容器的电容比，所以能设定数pF程度的能集成化的电容。
＝＝＝另一实施方式＝＝＝
以上，虽然说明了本发明的逐次比较型AD变换器及微机，但上述的发明的实施方式是为了容易理解本发明的实施方式，不是限定本发明的。本发明在不脱离其旨意的情况下，能进行变更、改进，同时不言而喻，其等效物也包含在本发明中。
《电容元件的电容比》
在本实施方式中，电容器8、10的电容比虽然为1∶3，但不限定于此。就是说，电容器8、10的电容比根据逐次比较型AD变换器的变换精度，按照1：(2↑n-1)设定即可。例如，将逐次比较型AD变换器的变换精度提高3位时，电容器8、10的电容比为1∶7。另外，将逐次比较型AD变换器的变换精度提高4位时，电容器8、10的电容比为1∶15。因此，通过适当的地设定电容器8、10的电容比、以及传输门6的个数，能容易地变更逐次比较型AD变换器的变换精度。
《电容元件的个数》
在本实施方式中，虽然电容器的个数为两个，但不限定于此。例如，也可以串联连接3个以上的电容器，从这些电容器的规定的连接部获得成为(2↑n-1)的分压。因此，能有效地灵活使用已有的电容器。
《开关电路》
在本实施方式中，开关电路虽然是双向输入的传输门14，但不限定于此。例如，也可以采用单向输入的双极晶体管或MOS晶体管。
(发明效果)
如果采用本发明，则能用使用多个电容元件的分配值的简单的结构，可靠地提高逐次比较型AD变换器的变换精度。

Claims (6)

1.一种逐次比较型AD变换器，它有：在各连接部发生将模拟值变换成m位的数字值用的基准值的串联电阻体；以及依次比较上述模拟值及上述基准值中的某一者，输出数字值的比较器，其特征在于：
备有：利用电容比分配上述基准值中的某一值的多个电容元件；以及
上述比较器输出了m位的数字值时，将用上述比较器与上述模拟值进行比较的值从上述基准值切换到上述多个电容元件的分配值的控制部；
将上述模拟值变换成(m+n)位的数字值。
2.根据权利要求1所述的逐次比较型AD变换器，其特征在于：
上述多个电容元件用上述电容比分配在上述串联电阻体的规定的连接部上发生的基准值的差。
3.根据权利要求2所述的逐次比较型AD变换器，其特征在于：
上述多个电容元件由第一电容元件及第二电容元件构成，
上述第一电容元件及上述第二电容元件串联连接在上述基准值的某一值和地之间，上述第一电容元件及上述第二电容元件的连接部与上述比较器中不输入上述模拟值一侧的输入端连接。
4.根据权利要求3所述的逐次比较型AD变换器，其特征在于：
上述第一电容元件及上述第二电容元件的电容比根据上述(m+n)位，为1∶(2的n次方-1)。
5.根据权利要求1至4中任一权利要求所述的逐次比较型AD变换器，其特征在于：
具有根据上述控制部的输出信号，使上述基准值被输入上述比较部的工作通断的开关电路。
6.一种微机，其特征在于：
具有根据权利要求1所述的逐次比较型AD变换器。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101179274B (zh) * 2006-11-08 2010-10-27 株式会社半导体理工学研究中心 实现高速操作的小尺寸顺序比较型模拟到数字转换器
CN101553985B (zh) * 2006-09-13 2013-03-13 爱德万测试株式会社 Ad转换器、ad转换方法、ad转换控制装置

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005142932A (ja) * 2003-11-07 2005-06-02 Sanyo Electric Co Ltd Ａｄコンバータ
KR100605726B1 (ko) 2004-12-21 2006-08-01 주식회사 대우일렉트로닉스 디지털 평판 디스플레이장치의 노이즈 제거 방법
JP4751122B2 (ja) * 2005-07-28 2011-08-17 株式会社東芝 Ａ／ｄ変換器
JP4884519B2 (ja) * 2009-12-03 2012-02-29 株式会社半導体理工学研究センター アナログ−デジタル変換器
JP5659950B2 (ja) * 2011-05-24 2015-01-28 富士通株式会社 Ａ／ｄ変換器
CN103618550B (zh) * 2013-10-29 2016-05-04 电子科技大学 电容阵列型的逐次逼近模数转换器及控制方法

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1001534A2 (en) * 1998-10-07 2000-05-17 Yozan Inc. Analog to digital converter
JP3857450B2 (ja) * 1999-01-19 2006-12-13 株式会社東芝 逐次比較型アナログ・ディジタル変換回路
JP4242973B2 (ja) * 1999-08-06 2009-03-25 三洋電機株式会社 逐次比較型ａｄコンバータ及びそれを組み込んだマイクロコンピュータ

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101553985B (zh) * 2006-09-13 2013-03-13 爱德万测试株式会社 Ad转换器、ad转换方法、ad转换控制装置
CN101179274B (zh) * 2006-11-08 2010-10-27 株式会社半导体理工学研究中心 实现高速操作的小尺寸顺序比较型模拟到数字转换器

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Publication number Publication date
TWI232029B (en) 2005-05-01
US20040130474A1 (en) 2004-07-08
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TW200412033A (en) 2004-07-01
CN1272909C (zh) 2006-08-30
JP4004390B2 (ja) 2007-11-07
US6847322B2 (en) 2005-01-25
JP2004180065A (ja) 2004-06-24
KR100536543B1 (ko) 2005-12-14

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